Контрольные вопросы и задания

• 1. Каковы основные закономерности взаимодействия электронов зонда с веществом? Поясните природу упругих и неупругих взаимодействий.
• 2. Каковы причины потери энергии электронами? Охарактеризуйте область взаимодействия электронов зонда с веществом мишени.

• 3. Приведите схемы устройства и принципа работы РЭМ. Как происходит формирование электронного зонда? Поясните понятия «кроссовер» и «конденсор».
• 4. Что представляют собой и как образуются вторичные электроны?
• 5. Что такое катодолюминесценция и каков механизм ее образования?
• 6. Как трактуется термин «оже-электроны»? Какова область применения оже-электронов в растровой электронной микроскопии?
• 7. Какой ток называется наведенным и где он применяется?
• 8. Какие применяются детекторы сигналов в РЭМ? Что собой представляет детектор Эверхарта — Торнли?
• 9. Охарактеризуйте принципы работы детекторов рентгеновского излучения (счетчик Гейгера, пропорциональный газовый детектор, сцинтилляционный детектор, полупроводниковый детектор).
• 10. Что представляет собой рентгеновский спектр? Чем отличаются непрерывная и характеристическая компоненты спектра? Поясните физический смысл коротковолновой границы спектра (граница Дуэна — Ханта).
• 11. Какое явление описывает закон Мозли? Какова область применения этого закона?
• 12. Охарактеризуйте методы регистрации рентгеновского спектра. Поясните утройство и принцип работы рентгеновского кристалл-дифракционного спектрометра для микроанализа.
• 13. Какие методы фокусировки рентгеновского пучка вы знаете? Для чего необходимо фокусировать рентгеновское излучение в рентгеновском анализаторе?
• 14. Каковы физические основы рентгеновского микроанализа?
• 15. Назовите основные поправки, вводимые при количественном анализе.
• 16. Каковы способы формирования контраста в РЭМ? Какие типы контраста в РЭМ вы знаете?
• 17. Что вам известно о методах обработки видеосигнала в РЭМ?
• 18. Охарактеризуйте два метода регистрации рентгеновских спектров в микроанализаторах.
• 19. Какие факторы влияют на точность рентгеновского микроанализа атомного состава материалов? Перечислите поправки, вводимые при данном анализе. В чем заключается метод эталонов?
• 20. Объясните причины, по которым при рентгеновском микроанализе необходимо вводить поправки на атомный номер.
• 21. Как влияет флуоресценция на точность рентгеновского микоанализа? Какие поправки на флуоресценцию вводят при рентгеновском микроанализе?

Рекомендуемая литература

• 1. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ / Дж. Голдстейн [и др.].; пер. с англ, под ред. В. И. Петрова. — М.: Мир, 1984.
• 2. Watt, I. The Priciples and Practice of Electron Microscopy / I. Watt. — New York: Cambridge University Press, 1985.
• 3. Castaing, R. Application des Sondes Electroniques a Une Methode D’analyse Ponctuelle Chimique at Crystallgraphique / R. Castaing; University of Paris. Unpublished Ph. D. thesis. —1951.

• 4. Locquim, M. V. Handbook of Microscopy / M. V. Locquim, M. Langeron. — London: Butterworths, 1983.
• 5. Пути повышения разрешения и контраста в сканирующей электронной микроскопии / Г. В. Спивак, Э. И. Рау, М. Н. Филлипов, А. Ю. Сасов // Современная электронная микроскопия в исследовании вещества. — М.: Наука, 1982.
• 6. Гуртовой, В. Л. Визуализация областей пленок YBa₂Cu₃0₇__x с различными Т_с в растровом электронном микроскопе / В. Л. Гуртовой, А. В. Черных, А. Б. Ермолаев // Сверхпроводимость: физика, химия, техника. — 1990. — Т. 3. —№ 1. —С. 45—48.
• 7. Weak-link Investigation of a YBaCuO Thin Film DC SQUID by SEM / V. L. Gurtovoi, A. B. Ermolaev, A. V. Chernykh, V. A. Goncharov // Supercond. Sci. Technol. — 1993. — Vol. 6. — P. 809—813.
• 8. Borodin, V. A. Structure and Related Mechanical Properties of Shaped Eutectic А1₂0з—Zr0₂(Y₂0₃) Composites / V. A. Borodin, M. Yu. Starostin, T. N. Yalovets //

J. Cryst. Growth. — 1990. — Vol. 104. — P. 148—153.

• 9. Growth of A1₂0₃—Zr0₂(Y₂0₃) Eutectic Composite by Stepanov Thechnique / V. A. Borodin et al. // J. Cryst. Growth. — 1987. —Vol. 82. — P. 177— 181.
• 10. Ono, A. Point to Ponder for Observation of Fine Surface Structure / A. Ono,

K. Ueno, J. Ohyama // Jeol News. — 1986. — Vol. 24E. — No 3. — P. 40—44.

11. Senkov, O. N. Grain Growth in a Superplastic Zn — 22% Al Alloy / O. N. Senkov, M. M. Myshlyev // Acta Met. — 1986. — Vol. 34. — No 1. — P. 97— 106.