Рентгеноструктурный анализ кристаллов твердых растворов галогенидов металлов
Аналогичным образом была изучена рентгенограмма для кристаллов состава Ago9! iTl ()02Cl02nBr0 7SI0()2 (рис. 3.7, табл. 3.8). Рефлексы на этой дифрактограмме укладываются в область разрешенных рефлексов для решетки типа NaCl, что говорит о наличии только одной фазы. Экспериментальные кристаллографические данные для твердого растворасостава точки минимумаЛ"С1(| 2. Вгп 75. Рис. 3.7. Дифрактограммы… Читать ещё >
Рентгеноструктурный анализ кристаллов твердых растворов галогенидов металлов (реферат, курсовая, диплом, контрольная)
Кристаллы AgCl и AgBr обладают неограниченной взаимной растворимостью как в жидком, так и в твердом агрегатном состоянии. Поэтому на дифрактограмме твердого раствора состава точки минимума AgCl()2.Br0 75 (рис. 3.7), где растворенным веществом является AgCl, исчезают линии AgCl, и остаются с некоторым смещением в сторону больших углов линии, соответствующие AgBr. Было проведено индицирование рефлексов в соответствие с дифрактограммой AgBr. Правильность такого индицирования подтвердилась расчетом периода решетки для AgCl()25Br0 75 — разброс в значениях для каждого из семи пиков составлял менее 0,1% (см. табл. 3.7). Период решетки для AgCl0 25Br0 75 составил 5,711 А (по рефлексу с индексами hkl 420). Пики на рентгенограмме острые, высокие и тонкие, что говорит о хорошей однородности периода кристаллической решетки твердого раствора. О том, что это твердый раствор, говорит наличие пиков, присущих только чистому AgBr, и отсутствие пиков других фаз.
Аналогичным образом была изучена рентгенограмма для кристаллов состава Ago9!iTl()02Cl02nBr0 7SI0()2 (рис. 3.7, табл. 3.8). Рефлексы на этой дифрактограмме укладываются в область разрешенных рефлексов для решетки типа NaCl, что говорит о наличии только одной фазы.
При сравнении межплоскостных расстояний твердого раствора Ag09STl002Cl0 20Br0 78I(102 с межплоскостными расстояниями ТП, взятыми из справочника [10] (табл. 3.3), следует, что фаза T1I отсутствует, т. к. не наблюдается совпадений межплоскостных расстояний dIM. Период решетки для Ag0 9ST1002C10 20Вг0 781002 составил 5,767 А (по рефлексу с индексами hkl 420), что несколько больше, чем для AgCl0 25Br075 (табл. 3.7). Это объясняется несколько большим содержанием брома, чем в указанном твердом растворе, соответствующем точке минимума, а также наличием небольшого количества ТП, который увеличивает период решетки. Пики на рентгенограмме острые, высокие и тонкие, что говорит о хорошей однородности по периоду кристаллической решетки полученного твердого раствора.
Экспериментальные кристаллографические данные для твердого растворасостава точки минимумаЛ"С1(| 2.Вгп 75
Таблица 3.7.
№ линии. | 20AgClO 25Bro «, X = 1,54 056 А,. | Ш | а, А. | |
27,051. | 3,294. | 5,705. | ||
31,300. | 2,855. | 5,711. | ||
44,900. | 2,017. | 5,705. | ||
53,150. | 1,722. | 5,711. | ||
55,750. | 1,647. | 5,707. | ||
65,300. | 1,428. | 5,711. | ||
74,200. | 1,277. | 5,711. |
Экспериментальные кристаллографические данные для твердого раствора Ag0,8Tl0 02Cl020Br0 7810()2
Таблица 3.8
№ линии. | Углы 20, при Х= 1,54 178 А,. | hkl | а, А. | |
26,7726. | 3,329. | 5,767. | ||
31,0110. | 2,883. | 5,767. | ||
44,4274. | 2,039. | 5,767. | ||
52,6315. | 1,739. | 5,767. | ||
55,1656. | 1,665. | 5,767. | ||
64,6419. | 1,442. | 5,767. | ||
73,4206. | 1,289. | 5,767. | ||
81,8125. | 1,177. | 5,767. | ||
98,2475. | 1,019. | 5,767. | ||
106,6410. | 0,961. | 5,767. |
Рис. 3.7. Дифрактограммы твердых растворов галогенидов серебра, полученных методом ТЗКС