Емкостный метод определения однородности физических свойств электротехнологических материалов
Диссертация
В этом направлении перспективны разработки электрических методов контроля, которые по характеру взаимодействия физических полей или проникающих веществ в объект контроля разделяются на электрический, трибо-электрический и термоэлектрический, по первичному информационному параметру — на электропотенциальный и электроемкостный, по способу получения первичной информации — на электростатический… Читать ещё >
Содержание
- 1. Классификация неразрушающих электрических методов контроля параметров материалов
- 1. 1. Электроемкостный метод
- 1. 2. Электропотенциальный метод
- 1. 3. Метод электрического сопротивления
- 1. 4. Другие методы электрического контроля
- 1. 5. Выводы
- 2. Электроемкостный метод исследования распределений плотности заряда и параметров диэлектриков, полупроводников и композитов
- 2. 1. Общие вопросы теории метода
- 2. 2. Аппаратная функция и ее определение
- 2. 3. Погрешности преобразования зарядового и потенциального распределения в электрический сигнал с помощью электроемкостных систем
- 2. 4. Многопараметровые электроемкостные системы
- 2. 5. Выводы
- 3. Экспериментальная установка для исследования однородности электрических свойств диэлектрических, полупроводниковых и композиционных слоистых структур
- 3. 1. Обобщенная структурная схема
- 3. 2. Особенности конструкции основных элементов
- 3. 3. Методические аспекты применения
- 3. 3. 1. Оценка распределения поверхностной плотности электрического заряда вдоль траектории сканирования
- 3. 3. 2. Оценка диэлектрической проницаемости
- 3. 4. Тестовые структуры
- 3. 4. 1. Потенциальные тесты
- 3. 4. 2. Тесты по диэлектрической проницаемости
- 3. 4. 3. О чувствительности емкостных систем
- 3. 5. Выводы
- 4. Экспериментальные результаты
- 4. 1. Электризация неоднородных слоев в поле коронного разряда
- 4. 2. Исследование однородности электрических свойств несовершенных диэлектриков при создании продольного электростатического поля
- 4. 3. Исследование однородности электрических свойств низкоом-ных полупроводниковых и композиционных материалов
- 4. 4. Принципиальные вопросы дефектоскопии диэлектрических, высокоомных полупроводниковых и композиционных слоев
- 4. 5. Выводы
Список литературы
- А.К. Гурвич, И. Н. Ермолов, С. Г. Сажин. Неразрушающий контроль. Кн. 1. Общие вопросы. М.: Высшая школа. 1992. 242 с.
- Неразрушающий контроль рельсов при их эксплуатации и ремонте / Под ред. А. К. Гурвича. М.: Транспорт. 1983. 318 с.
- Д.С. Шрайбер. Ультразвуковая дефектоскопия. М.: Металлургия. 1965.301 с.
- В.Г. Герасимов, А. Д. Покровский, В. В. Сухоруков. Электромагнитный контроль. М.: Высшая школа. 1990. 317 с.
- А.И. Потапов. Контроль качества и прогнозирование надежности конструкций из композиционных материалов. Л.: Машиностроение. 1980. 260 с.
- В.П. Пронин. Электроемкостные системы в электрофизике. Саратов: СГСХА. 1997. 311 с.
- В.П. Пронин. Одновременное определение электростатического заряда и параметров диэлектрических слоев // ЖТФ. 1984. т. 54. № 8. С. 1479−1487.
- В.П. Пронин, В. И. Шевченко. Многопараметровый электроемкостный контроль диэлектрических слоев на проводящей подложке // Дефектоскопия. 1988. № 2. С. 117−123.
- В Л. Грищенко, В. П. Пронин. Экспериментальное определение дефектов и релаксации заряда в высокоомных полупроводниковых слоях // Дефектоскопия. 1981. № 5. С. 79−84.
- B.J1. Грищенко, В. П. Пронин. Исследования дефектности термопластических поливинилкарбазоловых слоев // Бессеребряные и необычные фотографические процессы. Черноголовка. 1984. С. 206−207.
- В.П. Пронин. Электростатические индукционные системы преобразования информации // Новые физические методы преобразования информации. М. 1975. сер. 10.1 (50). С. 93−99.
- В.П. Пронин, В. И. Шевченко. Многопараметровый электроемкостный контроль диэлектрических слоев // Дефектоскопия. 1988. № 7. С. 19−26.
- V.P. Pronin. Electric capacitance Method of Multiparametric Panoramic Examination of Dielectric and Semiconductor Lagers. Journal of Advanced Materials. 1995.2 (2). P. 162−170.
- Э.А. Танеев, В. П. Пронин. Электроемкостная дефектоскопия диэлектриков // Труды Всероссийского электротехнического конгресса. М. 1999. Т. 2. С. 472174.
- И.Г. Матис. Электроемкостные преобразователи для неразрушающего контроля. Рига.: Зинойне. 1982. 302 с.
- Д.В. Мамин, В. П. Пронин. Неразрушающие исследования однородности электрических свойств низкоомных композиционных материалов / Перспективные материалы. 2001. № 2. С. 93−98.
- Д.В. Мамин, В. П. Пронин, М. В. Шаталина. Устройство для определения однородности композиционных материалов. Свидетельство на полезную модель № 17 994 от 10.05.2001.
- Д.В. Мамин, В. П. Пронин. Исследование однородности электрических свойств низкоомных материалов // Труды межд. конф." Кристаллы." г. Александров, ВНИИСИМС. 2001. С. 464−476.
- Э.А. Танеев, Д. В. Мамин, А. В. Плыкин и др. Экспериментальные методы исследования распределений электрического заряда // Труды межд. конф. «Кристаллы.» г. Александров: ВНИИСИМС. 2001. С. 139−142.
- Неразрушающий контроль. Кн. 3. Электромагнитный контроль / В. Г. Герасимов, А. Д. Покровский, В. В. Сухоруков. М.: Высшая школа. 1992. 312 е.- ил.
- Э.В. Кузьмин. Емкостный односторонний датчик для исследования твердых диэлектрических материалов. А.С. № 273 336. 1970.
- Приборы для неразрушающего контроля материалов и изделий. Под ред. В. В. Клюева. Кн. 1. и кн. 2. М.: Машиностроение. 1976. 328 с.
- Ю.А. Скрипник. Повышение точности измерительных устройств. Киев.: Техника. 1976. 264 с.
- Э.И. Арт, JI.A. Красин. Метод автоматизации измерений частотных характеристик параметров диэлектриков. Автометрия. 1966. № 3. С. 32−36.
- P.J. Hudc. Wide-frequency-range dielectric spectrometer. Proc. IEE. 1970. v. 117. № 9. p. 1891−1901.
- В.П. Пронин. Одновременное определение потенциала и ортогональных компонентов напряженности трехмерного поля // ЖТФ. 1971. Т. 41. № 2. С. 285−291.
- В.Г. Пустынников. Общий принцип формирования многомерного сигнала в устройствах для многочастотного контроля. Изв. вузов. Электромеханика. 1965. № 9. С. 1056−1062.
- В.Я. Решетник, А. Б. Розенбат. Минимизация погрешностей автоматического контроля состава многокомпонентных веществ. Измерительная техника. 1969. С. 62−64.
- Г. А. Гринберг. Избранные вопросы математической теории электрических и магнитных явлений. M.-JI. 1948. 728 с.
- И.Е. Тамм. Основы теории электричества. М.: Наука. 1966. 500 с.
- Ю.Я. Иоссель и др. Расчет электрической емкости / Ю. Я. Иосиль, Э. С. Кочанов, М. Г. Струнский. М.: Энергия. 1969. 240 с.
- Неразрушающий контроль. В 5 кн. кн. 4. Контроль излучениями / Б. Н. Епифанцев, Е. А. Гусев, Ф. Р. Соснин, В. М. Матвеев. Под ред. В.В. Сухору-кова. М.: Высшая школа. 1992.
- В.Г. Герасимов, В. В. Клюев, В. Е. Шатерников. Методы и приборы электромагнитного контроля промышленных изделий. М.: Энергоатомиздат. 1983. 272 с.
- Неразрушающий контроль. В 5 кн. кн. 2. Акустический контроль / Н. Н. Ермолов, Н. П. Алешин, А. И. Потапов. Под ред. В. В. Сухорукова. М.: Высшая школа. 1991. 310 с.
- Неразрушающий контроль. В 5 кн. кн. 4. Контроль излучениями / Б. Н. Епифанцев, Е. А. Гусев, Ф. Р. Соснин, В. М. Матвеев. Под ред. В. В. Сухорукова. М.: Высшая школа. 1992. 328 с.
- A.J1. Дорофеев, Ю. Г. Казаманов. Электромагнитная дефектоскопия. М.: Машиностроение. 1980. 232 с.
- В Смайт. Электростатика и электродинамика. М.: ИЛ. 1954. 604 с.
- Ф.М. Морс, Г. Фешбах. Методы теоретической физики. М.: ИЛ. 1958. Т. 1.930 с.
- Методы расчета электростатических полей / Н. Н. Миролюбов, М. В. Костенко, М. А. Левинштейн, Н. Н. Тиходеев. М.: Высшая школа. 1963. 500 с.
- Jen С. On the induced current and energy balance in electronics / Proc. IRE, 1941. v. 29. P. 345−348.
- Jen C. On the energy equation in electronic at ultrahigh frequencies / Proc. IRE. 1941. v. 29. P. 464−468.
- Semenoff N., Walther A. Veber eine methode dev erfovsthung von elec-trisehen wechselfelden / Zeit. f. Phyb. 1923. № 19. P. 136−140.
- Weber E. Electromaguetic fields therry and applications mapping of fields. New Jork. 1950. 402 p.
- Г. М. Герштейн. Моделирование полей методом электростатической индукции. М.: Наука. 1970. 316 с.
- И.А. Матвеева и др. К теории измерения поверхностных зарядов методом электростатической индукции / И. А. Матвеева, В. П. Пронин, Л.А. Шехт-ман. ЖТФ. 1977. Т. 47. № 7. С. 1389−1395.
- Корн Г., Корн Т. Справочник по математике. М.: Наука. 1974. 831 с.
- В.Л. Грищенко, И. А. Матвеева. Контрастно-частотные характеристики оптоэлектрических систем с индукционным преобразованием / Автометрия. 1983. № 5. С. 76−81.
- И.А. Матвеева. Метрологические свойства зондовых систем для измерения поверхностных зарядов / Радиотехника и электроника. 1982. № 4. С. 804−812.
- В.Л. Грищенко, И. А. Матвеева. Применение электростатической индукции для определения потенциала и плотности заряда диэлектрических и полупроводниковых структур. Саратов: Изд-во Сарат. Гос. Университета. 1990. 134 с.
- В.П. Пронин, В. И. Шевченко. Многопараметровый электроемкостный контроль диэлектрических слоев на проводящей подложке // Методы и средства контроля полупроводниковых и диэлектрических структур. Сер. 8. М.: ЦНИИ «Электроника». 1986. вып. 2 (232). С. 49.
- B.J1. Грищенко, И. А. Матвеева. Преобразование поверхностных распределений заряда и потенциала методом электростатической индукции // Вопросы электроники СВЧ. Саратов.: Изд-во СГУ. 1983. С. 16−24.
- Параметры емкостных преобразователей поверхностного электрического потенциала ЭФС // Э. Монтримас, К. Мотеюнас, К. Сакалаускас, В. Ти-шукас // Состояние и перспективы развития электрофотографической копировальной техники. Вильнюс. 1985. С. 99−102.
- Ю.П. Гущо. Фазовая рельефография. М.: Энергия. 1974. 137 с.
- Г. Сесслер. Электреты. М.: Мир. 1983. 488 с.
- В.И. Шевченко. Многопараметровые электроемкостные исследования диэлектрических слоев. / Дисс. на соиск. уч. степ. к. т. н. МЭИ, 1991 г.
- Экспериментальное определение дефектов и релаксации заряда в вы-сокоомных полупроводниковых слоях / Ю. Д. Арсентьев, B.JI. Грищенко, В. А. Марцинкявичус, JI.M. Науменко, В. П. Пронин // Дефектоскопия. 1981. № 5. С. 79−84.
- А.С. 921 322 СССР, МКИ G-01 R 29/24. Устройство для измерения заряда электретов / В. П. Пронин (СССР) № 2 984 331/18−24. Заявл. 25.09.80. Опубл. 14.12.81. Бюл. № 36.
- В.П. Пронин. Прибор для панорамного исследования процессов накопления и релаксации электрических зарядов. // ПТЭ. 1987. № 5. С. 184−186.
- Г. Е. Леонтьев и др. Малошумящий предусилитель / Г. Е. Леонтьев, В. П. Армонавичус, Г. Е. Миколайтис. ПТЭ. 1984. № 1. С. 126−127.
- В.П. Пронин. Потенциальные тесты для бесконтактных емкостных методов дефектоскопии // Дефектоскопия. № 8. 1985. С. 88−93.
- В.Л. Грищенко, И. А. Матвеева, В. П. Пронин. Определение метрологических характеристик зондов для измерения заряда и потенциала // Тез. докл. Всесоюзн. семинара «Эффективность машинных методов решения краевых задач» М. 1982. С. 26−27.
- Г. И. Сканави. Физика диэлектриков (область слабых полей). М.: Физ-матгиз. 1949. 500 с.
- А.А. Харькевич. Спектры и анализ. М.: Физматгиз. 1962. 236 с.
- А.С. 868 525 СССР, МКН3 G-01 № 27/24 Способ определения дефектов полупроводниковых слоев и диэлектриков / В. П. Пронин (СССР) № 2 870 659/8−25. Опубл. 30.09.81. Бюл. № 36.
- Д.В. Мамин, В. П. Пронин. Исследование однородности электрических свойств низкоомных материалов / Тез. докл. V-й международной конференции «Кристаллы.». 2001. г. Александров. ВНИИСИМС. С. 131−133.177
- В.П. Пронин. Н. А. Полулях, А. В. Плыкин, Д. В. Мамин. Панорамная дефектоскопия диэлектриков / Тез. докл. V-й международной конференции «Кристаллы.». 2001. г. Александров. ВНИИСИМС. С. 134−136.
- В.П. Пронин, Д. В. Мамин. Термостимулированный заряд в кристаллах кварца / Тез. докл. V-й международной конференции «Кристаллы.». 2001. г. Александров. ВНИИСИМС. С. 138−139.
- Д.В. Мамин, В. П. Пронин. К вопросу теории акустического зондирования диэлектриков / Тез. докл. V-й международной конференции «Кристаллы.». 2001. г. Александров. ВНИИСИМС. С. 133−135.
- УТВЕРЖДАЮ" Проректор СГАУ имени Н. И. Вавилова научной/работе, .н., ррофессор1. А. В. Голубеввнедрения законченной н ауЧнй^дселедовательской работы
- Научный руководитель НИР зав. каф физики СГАУ, профессор1. В.П. Пронин
- Внедрение результатов НИР позволило повысить качество продукции и увеличить гарантийные сроки.
- Замечания и предложения по внедрению. Целесообразно на основе данного образца прибора выполнение ОКР с целью создания средств, обеспечивающих быструю диагностику качества покрытия всей поверхности кузова машины.
- Научный руководитель НИР Технический директор1. Мы, нижеподписавшиесяпредставитель1. Саратовского