Помощь в учёбе, очень быстро...
Работаем вместе до победы

Анализ ФИЭ с математической моделью G4. 2 на примере интегральной структуры G4. 2. 2 и ее сравнение с инжекционным инвертором G.4. 1. 2

РефератПомощь в написанииУзнать стоимостьмоей работы

Работает ФИЭ G4.2.2 следующим образом. Напряжение питания подается в область эмиттера инжектирующего р-л-р-транзистора, напряжение нулевого потенциала (1) — в минимальную по объему область я4, являющуюся эмиттером инвертирующего логического я-р-я-транзистора. Напряжение Е должно быть больше на напряжение открытого p-я-перехода, чем максимальное напряжение на выходе, тогда переход Р-п2… Читать ещё >

Анализ ФИЭ с математической моделью G4. 2 на примере интегральной структуры G4. 2. 2 и ее сравнение с инжекционным инвертором G.4. 1. 2 (реферат, курсовая, диплом, контрольная)

Улучшение показателей ИС наблюдается при переходе к модели G4.1.2 (табл. 7.1) с аналогичным инвертором G4.2.2 (табл. 7.2). ИИ со структурой G4.1.2 содержит инжектирующий р-п-р- и инвертирующий логический л-р-л-транзисторы. Интегральная структура ФИЭ G4.1.2, изображенная на рисунке 7.2, а, кроме ориентированного графа G4.1.2 может быть описана формулой:

Анализ ФИЭ с математической моделью G4.2 на примере интегральной структуры G4.2.2 и ее сравнение с инжекционным инвертором G.4.1.2.

где я2 — полупроводниковая область я-типа, на которую подается нулевой потенциал ±, содержащая две области p-типа. На одну из них (р,':) подается напряжение питания, на другую (р2") — входной сигнал. В последней содержится область л-типа (п*™), с которой снимается выходной сигнал. Скобки в приведенной только что формуле «говорят» о вложенности областей, причем открывающая скобка интерпретируется как знак «содержит», а запятая — как логическое И.

Правила описания интегральных структур

Как видно из приведенного выше примера, возможна запись структурных формул интегральных структур с использованием следующих правил:

  • • первый член формулы слева соответствует полупроводниковой области, содержащей весь элемент (корень находится в структурной формуле — ориентированном графе);
  • • элемент формулы определяет качественный состав части интегральной структуры (рили л-тип области для р-л-схемотехники);
  • • верхние индексы определяют систему функционального управления (Еу 1) и систему назначения входов и выходов интегрального элемента (FBX, FBbIX);
  • • нижние индексы соответствуют нумерации частей интегральной структуры и математической модели элемента; если нет дублирования номеров, а также их пропусков, то максимальное значение нижнего индекса определяет размерность ФИЭ;
  • • открывающая круглая скобка расшифровывается как «содержит» и соответствует внутреннему переходу структуры.

Если формула содержит только круглые скобки, то степень их вложения определяет количество операций диффузии. Открывающая квадратная скобка соответствует поверхностному переходу и расшифровывается как «имеет непосредственный контакт». Степень вложения квадратных скобок соответствует числу полупроводниковых слоев ФИЭ. При записи структурных формул, имеющих контуры, возможно дублирование элементов в формуле, записанной с помощью этих правил.

В интегральной структуре ФИЭ G4.1.2 областью, с которой снимается выходной сигнал, является область гс4, содержащаяся в области р3. Поэтому для реализации логической функции НЕ-И (ИЛИ-HE) при объединении выходных сигналов требуются шины металлизации (рис. 7.2, б), проходящие через каждый объединенный инвертор.

Недостатками интегральной структуры ФИЭ G4.1.2 являются:

  • • наличие металлизированных соединений, объединяющих изолированные выходы инверторов для реализации дополнительной логической функции; эта объединяющая металлизация составляет примерно 25−30% всей металлизации и уменьшает быстродействие, надежность и плотность компоновки СБИС;
  • • наличиеобластей между ИИ, используемых для увеличения коэффициента усиления по току (всего 1,5−2). Это ограничивает нагрузочную способность инвертора [42], а кроме того, увеличивает площадь элемента, длину соединений, что уменьшает плотность компоновки СБИС и их быстродействие.

Часть интегральных структур инжекционных инверторов с математической моделью G4.1.

Анализ ФИЭ с математической моделью G4.2 на примере интегральной структуры G4.2.2 и ее сравнение с инжекционным инвертором G.4.1.2.
Анализ ФИЭ с математической моделью G4.2 на примере интегральной структуры G4.2.2 и ее сравнение с инжекционным инвертором G.4.1.2.

Таблица 7.2.

Часть интегральных структур инжекционных инверторов с математической моделью G4.2.

Анализ ФИЭ с математической моделью G4.2 на примере интегральной структуры G4.2.2 и ее сравнение с инжекционным инвертором G.4.1.2.
Анализ ФИЭ с математической моделью G4.2 на примере интегральной структуры G4.2.2 и ее сравнение с инжекционным инвертором G.4.1.2.

Сравнительный анализ интегральных структур инжекционных инверторов.

Номер ФИЭИИ.

Распределение мест*.

Сумма мест.

Общее место.

Плотность компоновки.

Запасы помехоустойчивости.

Мощность.

Задержка.

положительной помехе.

отрицательной помехе.

G4.1.1.

G4.1.2.

G4.1.3.

5,6.

8.9.

G4.1.4.

3,4.

8,9.

G4.1.5.

1,2.

34,5.

G4.2.1.

6,7.

28,5.

G4.2.2.

5,6.

6.7.

2,3.

G4.2.3.

3,4.

12,5.

G4.2.4.

4,5.

27,5.

G4.2.5.

1,2.

4,5 7.

2,3.

Лучший параметр Переход к модели G4.2 позволяет увеличить плотность компоновки, быстродействие и надежность элемента (табл. 7.3). Преимущества структуры G4.2.2 достигаются за счет изменения систем функционального управления и назначения частей интегральной структуры инжекционного инвертора. Если нулевой потенциал подавать в область «4, а выходной сигнал снимать с области л2» то выходной областью будет полупроводниковая область, содержащая сам ИИ. Инвертирующий логический транзистор п-р-п-типа в этой структуре имеет нормальную, а не инверсную структуру, что приводит к значительному возрастанию коэффициента усиления по току и увеличению нагрузочной способности. Это положительно сказывается на параметрах схем, скомпонованных из этих элементов.

ИИ G4.2.2 содержится в полупроводниковой области, которая является «-коллектором инвертирующего логического транзистора л-р-л-типа, а эмиттером инвертирующего логического транзистора является область л4, минимальная по объему и расположенная внутри области р3. Объединение выходных сигналов для таких инверторов при реализации более сложных логических функций не требует металлиза;

Сравнение ФИЭ G4.1.2 и G4.2.2.

Рис. 7.2. Сравнение ФИЭ G4.1.2 и G4.2.2: а) интегральная структура ФИЭ G4.1.2, б) элемент НЕ-И (ИЛИ-HE) на ФИЭ G4.1.2. в) интегральная структура ФИЭ G4.2.2, г) элемент НЕ-И (ИЛИ-HE) на ФИЭ G4.2.2.

ции при объединении коллекторов п-р-п-транзисторов, так как коллектор (область п2) является общим для объединяемых инверторов. Совокупность таких объединенных инверторов, по сути, является новым логическим элементом ИЛИ-HE, и для использования его в СБИС требуется изоляция общего коллектора, в котором расположены инжекционные инверторы G4.2.2.

Для уменьшения сопротивления тела коллектора, необходимого для снижения напряжения логического нуля и увеличения запаса помехоустойчивости, возможны различные технологические приемы, в частности использование скрытого слоя под объединяемыми инверторами (рис. 7.2, в).

На рисунке 7.2 представлены: а) ФИЭ (ИИ G4.1.2); б) топология элемента, реализующего функцию НЕ-И с тремя входами на ИИ G4.1.2; в) ФИЭ (ИИ G4.2.2); г) топология элемента НЕ-И (ИЛИ-HE) на три входа на ФИЭ G4.2.2, где.

  • • Pi — область p-типа, являющаяся эмиттером инжектирующего р-я-р-транзистора;
  • п2 — область л-типа в ФИЭ G.2.2.2, являющаяся базой инжектирующего транзисторар-я-р-типа и коллектором инвертирующего логического транзистора я-р-я-типа, а в ФИЭ G4.1.2 — базой инжектирующего р-я-р-транзистора и эмиттером инвертирующего логического я-р-я-транзистора;
  • • р3 — область p-типа, являющаяся коллектором инжектирующего р-я-р-транзистора и базой инвертирующего логического я-р-я-транзистора;
  • • я4 — область я-типа, в ФИЭ G4.2.2 являющаяся эмиттером, а в ФИЭ G4.1.2 — коллектором инвертирующего логического п-р-п-транзистора.

Работает ФИЭ G4.2.2 следующим образом. Напряжение питания подается в область эмиттера инжектирующего р-л-р-транзистора, напряжение нулевого потенциала (1) — в минимальную по объему область я4, являющуюся эмиттером инвертирующего логического я-р-я-транзистора. Напряжение Е должно быть больше на напряжение открытого p-я-перехода, чем максимальное напряжение на выходе, тогда переход Р-п2 (эмиттер-база) инжектирующего р-я-р-транзистора всегда будет смещен в прямом направлении. Из области рх в область я2 инжектируются дырки. Электроны из области я2 поступают в область р3. Переход я23 открыт. При подаче на вход низкого уровня напряжения (0,1 В) с коллектора насыщенного п-р-п-транзистора управляющей схемы переход р34— (база-эмиттер) инвертирующего логического я-р-я-транзистора будет закрыт, и ток инжектирующего р-я-р-транзистора через вход пойдет в управляющую схему. На выходе будет высокий уровень напряжения, определяемый напряжением на переходе база-эмиттер закрытого я-р-я-транзистора нагрузочной схемы.

Если на вход подавать высокий уровень напряжения, откроется переход р3-п4у инвертирующий логический транзистор п-р-п-типа будет насыщен, и на его коллекторе (л2) по отношению к эмиттеру (л4) будет низкий уровень напряжения (0,1 В).

Ток инжектирующегосяр-п-р-транзистора потечет в шину нулевого потенциала, куда с выхода будет также поступать ток р-п-р-транзистора нагрузочной схемы.

Из приведенного описания можно сделать вывод, что данная интегральная структура выполняет функцию инверсии. С помощью вышеизложенных правил интегральная структура ФИЭ G4.2.2 может быть описана выражением:

Анализ ФИЭ с математической моделью G4.2 на примере интегральной структуры G4.2.2 и ее сравнение с инжекционным инвертором G.4.1.2.

Отличия от формулы ФИЭ G4.1.2 заключаются в том, что область с большей площадью перехода является не эмиттером, а коллектором. Кроме того, внешняя область п2 является выходной, а это позволяет:

  • • уменьшить объем и площадь ФИЭ за счет устранения низкоомных областей вокруг ИИ для увеличения нормального коэффициента усиления по току инвертирующего логического п-р-п-транзистора, а также устранения металлизированных соединений для реализации дополнительной логической функции;
  • • уменьшить суммарные паразитные емкости, что, в свою очередь, приводит к увеличению плотности компоновки, а также к росту быстродействия и надежности СБИС, построенных на ФИЭ с моделью G4.2.2.

Следует отметить очень важную особенность проектирования СБИС при использовании математической модели G4.2.2: меняется логический базис проектирования с НЕ-И на ИЛИ-НЕ [42].

Показать весь текст
Заполнить форму текущей работой