Дифракционные методы исследования сверхрешеток
Курсовая
Заключение. Обработка экспериментальных данных. Рентгеновская диагностика сверхрешёток2. 1. Рентгеновская рефлектометрия. Рентгеновское малоугловое рассеяние (SAXS). Рентгеновская рефлектометрия (XRR). Теоретические аспекты методов рентгеновской диагностики сверхрешеток1. 1. Рентгеновская дифрактометрия (XRD). Список литературы. Введение. Читать ещё >
Содержание
- Введение
- 1. Теоретические аспекты методов рентгеновской диагностики сверхрешеток
- 1. 1. Рентгеновская дифрактометрия (XRD)
- 1. 2. Рентгеновская рефлектометрия (XRR)
- 1. 3. Рентгеновское малоугловое рассеяние (SAXS)
- 2. Рентгеновская диагностика сверхрешёток
- 2. 1. Рентгеновская рефлектометрия
- 2. 2. Обработка экспериментальных данных
- Заключение
- Список литературы
Список литературы
- Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии / Под ред. Д. Бриггса, М. П. Сиха. — М.: Мир, 1987. — 600 с.
- Афанасьев А.М., Имамов Р. М., Пашаев Э. М. Чуев М.А. и др. Рентгенодифракционные исследования границ раздела слоев сверхрешетки AlAs-Ga1-xAlxAs. Кристаллография. 1998. Т. 43. № 1. С. 1−5.
- Афанасьев А.М., Имамов Р. М., Пашаев Э. М. и др. Исследование верхних слоев сверхрешеток методом стоячих рентгеновских волн. Кристаллография. 1993. Т. 38. Вып. 3. С. 58−62.
- Вакуумная технология: Лабораторный практикум по курсу «Технология электронного машиностроения» /Под. Ред. проф. Докт. Физ.-мат. Наук С. Г. Овчинникова. — Красноярск: САА, 1994. — 85 с.
- Вудраф Д., Делчар Т. Современные методы исследования поверхности. — М: Мир, 1989. — 564 с.
- Еловиков С.С. Электронная спектроскопия поверхности и тонких пленок: Учеб. пособие. — М.: Изд-во МГУ, 1992. — 94 с.
- Зайцев А.А., Карцев А. Т., Пашаев Э. М. Особенности формирования границ раздела многослойных изоморфных гетерокомпозиций на основе соединений AIIIBV. Поверхность. 2001. № 2. С.52−56.
- Зайцев А.А., Мокеров В. Г., Пашаев Э. М. и др. Исследование особенностей формирования гетероструктур с квантовыми точками методами рентгеновской диагностики. Микроэлектроника. 2004. Т. 33. № 1. С. 35−41
- Зенгуил Э. Физика поверхности. — М.: Мир, 1990. — 536 с.
- Имамов Р.М., Пашаев Э.М, Чуев М. А. и др. Достижения высокоразрешающей рентгеновской дифракции в характеризации многослойных гетероструктур. Поверхность. 1999. № 12. С. 11−20.
- Колпаков, А. В. Дифракция рентгеновских лучей в сверхрешетках: Учебное пособие / А. В. Колпаков, Прудников. — М.: МГУ, 1992. — 128 с.
- Молекулярно-лучевая эпитаксия и гетероструктуры /Под ред. Л. Ченга, К. Плога. Ц М.: Мир, 1989. — 584 с.
- Пашаев Э.М., Якунин С. Н., Зайцев А. А. и др. Характеризация селективно-легированных многослойных гетероструктур на основе GaAs с квантовыми точками InAs. Микроэлектроника. 2002. Т. 31. № 5. C. 367−375.
- С.И. Желудева, М. В. Ковальчук, Н. Н. Новикова и др. Новые возможности метода стоячих рентгеновских волн для характеризации ультратонких слоев, составляющих многослойные структуры. Поверхность. 1999, № 1, с. 28−36.
- Синхротронное излучение / Под ред. К. Кунца. М.: Мир, 1981. 600 c.
- Уманский Я. С., Скаков Ю. А., Иванов Л. Н., Расторгуев Л. Н. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия. М.: Металлургия, 1982. 631 с.
- Фельдман Л., Майер Д. Основы анализа поверхности и тонких пленок. — М: Мир, 1989. — 344 с.
- Физические основы, аппаратура и методы электронной спектроскопии: Метод. указания к лабораторным работам / Сост. Паршин А. С. — Красноярск: САА, 1993. — 28 с.
- Херман М. Полупроводниковые сверхрешетки. Ц М.: Мир, 1989. — 240 с.
- Чуев М.А., А.А. Зайцев, Пашаев Э. М. Влияние d-легированного слоя на формирование кривой дифракционного отражения. Поверхность. 1999. № 2. С. 110−113.
- Эмиссионная электроника: Метод. указания к лабораторным работам / Сост. Паршин А. С. — Красноярск: САА, 1994. — 38 с.