Помощь в учёбе, очень быстро...
Работаем вместе до победы

Аппаратно-программный комплекс для измерения параметров электрических цепей

ДиссертацияПомощь в написанииУзнать стоимостьмоей работы

Реализация результатов работы. Материалы диссертационной работы использованы в Научно-исследовательском и конструкторском институте радиоэлектронной техники («НИКИРЭТ») — филиале ФГУП «ПО «Старт» «(г. Заречный) при выполнении ОКР по договору № СТ 70/113−2008. Результаты исследований использованы в учебном процессе на кафедре «Радиотехника и радиоэлектронные системы» Пензенского государственного… Читать ещё >

Содержание

  • Глава 1. Задача автоматизированного измерения параметров ЭЦ и ее решение в современных условиях
    • 1. 1. Аппаратно-программный комплекс как средство автоматизированного измерения параметров ЭЦ
      • 1. 1. 1. Процесс автоматизированного измерения параметров ЭЦ с помощью аппаратно-программного комплекса
      • 1. 1. 2. Концепция построения аппаратно-программного комплекса
    • 1. 2. Выбор и обоснование средств реализации аппаратной части комплекса
      • 1. 2. 1. Функции и структурная схема аппаратной части
      • 1. 2. 2. Измерительная схема аппаратно-программного комплекса
      • 1. 2. 3. Реализация измерительной схемы
      • 1. 2. 4. Реализация ИОН, АЦП, схемы управления
    • 1. 3. Структура программного обеспечения комплекса и выбор средств его реализации
      • 1. 3. 1. Структура программного обеспечения комплекса
      • 1. 3. 2. Выбор средств реализации программной части комплекса
  • Выводы по главе
  • Глава 2. Разработка алгоритмов управления измерением
    • 2. 1. Организация работы микроконвертора АОиС
      • 2. 1. 1. Выбор режимов работы ЦАП и АЦП
      • 2. 1. 2. Исследование АЦП в режиме единичных отсчетов
      • 2. 1. 3. Временная диаграмма работы микроконвертора при проведе- 50 нии измерения
    • 2. 2. Разработка алгоритмов управления измерением и их реализация на микроконверторе
      • 2. 2. 1. Алгоритм работы программы микроконвертора
      • 2. 2. 2. Получение опорных напряжений прямоугольной и пилообразной формы
      • 2. 2. 3. Получение и обработка отсчетов выходного напряжения ИС
      • 2. 2. 4. Алгоритм конфигурирования ИС
  • Выводы по главе
  • Глава 3. Оценка погрешности измерения параметров ЭЦ
    • 3. 1. Исходные данные для разработки методики оценки погрешности измерения параметров ЭЦ
      • 3. 1. 1. Источники погрешности измерения параметров ЭЦ
      • 3. 1. 2. Разделение измерительного тракта при оценке погрешностей
    • 3. 2. Оценка влияния неидеальности ЦАП, ИС и вспомогательных цепей на погрешность измерения параметров ЭЦ
      • 3. 2. 1. Создание моделей опорного напряжения
      • 3. 2. 2. Моделирование измерительной схемы и вспомогательных цепей
      • 3. 2. 3. Оценка достоверности модели измерительного тракта до АЦП
      • 3. 2. 4. Примеры применения разработанных моделей
    • 3. 3. Оценка влияния неидеальности АЦП на погрешность измерения параметров ЭЦ
      • 3. 3. 1. Определение характеристик АЦП, влияющих на погрешность измерения параметров ЭЦ НО
      • 3. 3. 2. Разработка математической модели АЦП
      • 3. 3. 3. Оценка достоверности модели АЦП
    • 3. 4. Методика оценки погрешности измерения параметров ЭЦ
  • Выводы по главе
  • Глава 4. Разработка алгоритмов выбора режимов измерения и обработки его результатов
    • 4. 1. Методические основы автоматизации выбора режимов и обработки результатов измерения параметров ЭЦ
      • 4. 1. 1. Исследование зависимости погрешности измерения параметров ЭЦ от режимов измерения
      • 4. 1. 2. Уточнение условий измерения при широких диапазонах параметров ЭЦ
      • 4. 1. 3. Обобщенный алгоритм выбора режимов, проведения и обработки результатов измерения параметров ЭЦ
    • 4. 2. Разработка программного обеспечения комплекса
      • 4. 2. 1. Архитектура программного обеспечения комплекса
      • 4. 2. 2. Структура и реализация проблемно-ориентированных программных модулей
      • 4. 2. 3. Модуль управления (центральный модуль ПО)
  • Выводы по четвертой главе

Аппаратно-программный комплекс для измерения параметров электрических цепей (реферат, курсовая, диплом, контрольная)

Актуальность работы.

В научных исследованиях, промышленных измерениях и контроле, медицине, электрохимии и других областях науки и техники существует множество объектов, схемами замещения которых являются многоэлементные двухполюсные электрические цепи (ЭЦ) [5,12,22,85,86,88]. Задача совершенствования средств измерений параметров ЭЦ остается актуальной на протяжении длительного времени.

Значительный вклад в решение этой задачи внесен представителями научных коллективов, возглавляемых в разное время В. Ю. Кнеллером, Г. А. Штамберге-ром, Л. И. Волгиным, К. Л. Куликовским, В. М. Шляндиным, А. И. Мартяшиным и др.

Молено выделить два метода измерения параметров ЭЦ с числом элементов более двух — метод прямого преобразования и метод уравновешивания [30]. В первом случае параметры элементов исследуемой ЭЦ преобразуются в активную измеряемую величину — напряжение или ток — с ее последующим анализом [28,38,42]. Измерительные схемы (ИС), работающие по этому методу, в свою очередь классифицированы по способу обеспечения инвариантности преобразования параметров исследуемой ЭЦ на ИС селективной инвариантности и ИС доопределения [42]. При пользовании вторым методом информация о параметрах ЭЦ получается путем настройки параметров ее модели (уравновешивания) [28,43]. При использовании любого из этих методов может использоваться гармоническое или несинусоидальное опорное напряжение.

Требованиям высокого быстродействия и простоты реализации отвечают способы построения измерителей параметров ЭЦ, основанные на анализе переходного процесса в ИС, построенной на базе операционного усилителя (ОУ), при воздействии на нее несинусоидального опорного напряжения [4,52,55].

Несмотря на то, что к настоящему моменту в области построения измерительных преобразователей параметров ЭЦ такого типа накоплен значительный опыт, разработаны и исследованы преобразователи параметров двухи трехэлементных ЭЦ почти всех конфигураций (под конфигурацией понимается количество элементов, топология и характеры сопротивлений элементов ЭЦ), а также некоторых ЭЦ с большим числом элементов [55], многие проблемы остались нерешенными. В большинстве случаев используется ИС на основе ОУ с различными опорными элементами (резисторами, емкостями, катушками индуктивности), местами включения ЭЦ и оригинальным функциональным преобразователем, разработанным с учетом составляющих выходного напряжения ИС и того, какой из параметров ЭЦ подлежит измерению [7−11,38,42,55]. Эти устройства рассчитаны на работу с ЭЦ одной или нескольких конфигураций со схожей реакцией на опорное напряжение. С увеличением числа элементов ЭЦ становится все труднее подобрать режимы измерения ее параметров. Под режимами измерения понимаются: структура измерительного преобразователя, вид опорного напряжения, выбор моментов отсчетов выходного напряжения ИС для расчета параметров ЭЦ [55] и т. п. Уже из этого перечисления следует, что режимов измерения может быть множество.

Кроме того, несколько различных объектов могут быть представлены ЭЦ одной и той же конфигурации, и режимы измерения, выбранные для исследования одного из объектов, могут оказаться неприемлемыми или далекими от совершенства для других. Это происходит потому, что, во-первых, могут отличаться диапазоны параметров элементов схемы замещения. Во-вторых, неодинаковы требуемые точность и быстродействие измерения параметров ЭЦ (или одного из параметров).

Множество вариантов режимов измерения — одновременно и достоинство, и сложность рассматриваемого способа измерения параметров ЭЦ, т.к. при подборе режимов измерения необходимо анализировать и сопоставлять преимущества и недостатки различных вариантов. Для создания эффективного измерительного преобразователя требуется обширный опыт разработчика и значительные затраты времени.

Актуальной и решаемой в современных условиях представляется задача автоматизации исследования и разработки измерительных преобразователей с привлечением компьютерных технологий и программно управляемых цифровых и аналоговых устройств и построения на этой основе аппаратно-программного измерительного комплекса.

В аппаратно-программном комплексе возможность измерения параметров ЭЦ с числом элементов от одного до трех-четырех, различными конфигурациями (топологией ЭЦ и характерами сопротивлений каждого из элементов) и параметрами, изменяющимися в широких пределах, должна обеспечиваться его аппаратной частью. Программное обеспечение (ПО) необходимо для автоматизированного выбора режимов измерения и анализа результатов измерения, выполненного аппаратной частью.

Цель диссертационного исследования — разработка и реализация в аппаратно-программном измерительном комплексе алгоритмов автоматизированного измерения параметров ЭЦ и методики оценки погрешности измерения.

Для достижения цели были поставлены и решены следующие задачи:

1. Определение концепции построения аппаратно-программного комплекса для автоматизированного измерения параметров ЭЦвыбор и обоснование средств реализации аппаратной и программной частей.

2. Разработка программно управляемой аппаратной части измерительного комплекса, осуществляющей измерение параметров многоэлементных ЭЦ различных конфигураций.

3. Разработка методики оценки погрешности измерения параметров ЭЦ, необходимой при автоматизированном подборе режимов измерения.

4. Разработка и реализация алгоритмов автоматизированного выбора режимов, управления измерением и обработки результатов измерения параметров ЭЦ.

Методы исследования. Для решения поставленных задач применялись методы теории электрических цепей, математического анализа, аппарат преобразования Лапласа. Основные теоретические результаты проверены и подтверждены экспериментальными исследованиями, а также путем математического и схемотехнического моделирования.

Научная новизна:

1. Предложен аппаратно-программный комплекс для измерения параметров ЭЦ с программно управляемой аппаратной частью, осуществляющей преобразование в напряжение параметров ЭЦ различных конфигураций.

2. Разработана методика оценки погрешности измерения параметров ЭЦ, позволяющая определить влияние на погрешность измерения неидеальности устройств аппаратной части с помощью моделирования работы указанных устройств.

3. Разработан алгоритм автоматизированного измерения параметров ЭЦ, включающий процедуры выбора режимов измерения, управления измерением и обработки результатов измерения.

Практическая значимость. Полученные в работе результаты являются основой проектирования аппаратно-программных комплексов для измерения параметров ЭЦ. Такие аппаратно-программные комплексы могут использоваться как средства измерений параметров ЭЦ многих конфигураций, а также как средства исследования режимов работы специализированных измерительных преобразователей параметров ЭЦ конкретной конфигурации. Разработанные алгоритмы управления измерением, реализуемые на микроконтроллере, могут найти применение при разработке независимых от компьютера портативных измерительных устройств, предназначенных для работы с ЭЦ конкретной конфигурации.

Реализация результатов работы. Материалы диссертационной работы использованы в Научно-исследовательском и конструкторском институте радиоэлектронной техники («НИКИРЭТ») — филиале ФГУП «ПО «Старт» «(г. Заречный) при выполнении ОКР по договору № СТ 70/113−2008. Результаты исследований использованы в учебном процессе на кафедре «Радиотехника и радиоэлектронные системы» Пензенского государственного университета при проведении лекционных и лабораторных занятий по курсам «Техническая диагностика РЭС», «САПР в схемотехнике», «Основы компьютерного проектирования и моделирования РЭС».

На защиту выносятся следующие положения:

1. Концепция построения аппаратно-программного комплекса для автоматизированного измерения параметров ЭЦ.

2. Программно управляемая аппаратная часть комплекса, осуществляющая преобразование в напряжение параметров ЭЦ различных конфигураций.

3. Методика оценки погрешности измерения параметров ЭЦ, основанная на моделировании устройств аппаратной части.

4. Алгоритмы автоматизированного подбора режимов, проведения и обработки результатов измерения параметров ЭЦ, реализованные в программном обеспечении и аппаратной части комплекса.

Апробация работы. Основные положения и результаты диссертационной работы были представлены для обсуждения на международных научно-технических конференциях «Измерения-2004», «Измерения-2006» (Пенза, 2004, 2006 гг.) — Международном симпозиуме «Надежность и качество» (Пенза, 2005;2007 гг.) — VI Международной научно-практической конференции «Образовательные, научные и инженерные приложения в среде Lab VIEW и технологии National Instruments» (Москва, 2007 г.).

Публикации. По теме диссертации опубликовано 12 работ, из них 1 — в издании, рекомендованном ВАК.

Структура и объем диссертации

Работа состоит из введения, четырех глав, заключения, списка литературы из 118 наименований и четырех приложений. Объем работы: 165 страниц основного машинописного текста, включающего 9 таблиц, 8 формул и 57 рисунков.

Выводы по четвертой главе.

1. Сформулированы рекомендации по выбору режимов измерения с учетом ограниченных возможностей аппаратной части.

2. Предложены методики исследования зависимости погрешности результатов измерения от режимов измерения (при фиксированных параметрах ЭЦ), а также зависимости погрешности результатов измерения от параметров ЭЦ (при фиксированных режимах измерения). В основу методик положено схемотехническое моделирование ЦАП и измерительной схемы и математическое моделирование АЦП. Разработанные методики используются при выборе режимов измерения параметров ЭЦ.

3. Предложен алгоритм автоматизированного измерения параметров ЭЦ, положенный в основу программного обеспечения комплекса. Планирование, проведение и обработка результатов измерения параметров ЭЦ объединяются в циклический процессколичество повторений цикла зависит от ширины диапазонов параметров ЭЦ, указанных пользователем перед началом работы, требуемой точности результатов измерения, количества возможных вариантов режимов измерения (конфигураций ИС, параметров опорного элемента, моментов отсчетов).

4. Обоснована архитектура программного обеспечения аппаратно-программного комплекса, ориентированная на отдельные конфигурации ЭЦ, т.к. процессы подбора режимов измерения и анализа результатов измерения индивидуальны для каждой конфигурации ЭЦ. Ориентация на отдельные конфигурации ЭЦ обеспечивает «прозрачность» алгоритмов и кодов программного обеспечения и легкость дополнения и развития ПО.

5. Разработаны программные модули, реализующие интерфейс с пользователем, обмен данными с аппаратной частью комплекса, а также один ЭЦ-ориентированный программный модуль. Показан способ интеграции PSpice с программным обеспечением комплекса.

Заключение

.

1. Сформулированы основные положения концепции построения аппаратно-программного комплекса для измерения параметров ЭЦ:

— аппаратная часть комплекса обеспечивает программно управляемое изменение режимов преобразования параметров ЭЦ в напряжение в зависимости от конфигурации и параметров исследуемой ЭЦ и приоритетных требований пользователя;

— программное обеспечение комплекса позволяет: выбирать режимы измерения на основе оценки погрешности измерения параметров ЭЦ по результатам моделирования работы устройств аппаратной частисоставлять задание для аппаратной части на измерение в выбранном режимеосуществлять математическую обработку и представление пользователю результатов измерения.

Предложены и обоснованы структуры аппаратной и программной частей комплексаобоснован выбор элементной базы для реализации аппаратной части.

2. Разработана и экспериментально исследована аппаратная часть комплекса, обеспечивающая возможность программирования конфигурации ИС, формы опорного напряжения и моментов отсчетов выходного напряжения ИС.

3. Предложена методика оценки погрешности измерения параметров ЭЦ, основанная на моделировании работы устройств аппаратной части. Методика позволяет оценить влияние неидеальности ЦАП, ИС и АЦП (как вместе взятых, так и по отдельности) на погрешность измерения параметров ЭЦ, а также исследовать зависимость погрешности измерения от режимов измерения (при фиксированных параметрах ЭЦ) и зависимость погрешности измерения от параметров ЭЦ (при фиксированных режимах измерения). Разработанная методика встроена в алгоритм подбора режимов измерения параметров ЭЦ, реализованный в программном обеспечении комплекса.

4. Разработаны и реализованы в аппаратно-программном комплексе алгоритмы подбора режимов измерения, формирования задания для аппаратной части, управления измерением, приема и математической обработки результатов измерения.

5. Разработанные алгоритмы использованы при построении аппаратно-программного комплекса с микроконвертором в аппаратной части.

Список сокращений, принятых в работе иАЯТ — универсальный асинхронный приемопередатчик.

АЦП — аналого-цифровой преобразователь.

ИОН — источник опорного напряжения.

ИНУН — источник напряжения, управляемый напряжением.

ИС — измерительная схема.

ИТУН — источник тока, управляемый напряжением.

МК — микроконтроллер

ОС — обратная связь.

ОУ — операционный усилитель.

ПАИС — программируемая аналоговая интегральная схема.

УВХ — устройство выборки и хранения.

ХП — характеристика преобразования.

ЦАП — цифро-аналоговый преобразователь.

ЭЦ — электрическая цепь.

Показать весь текст

Список литературы

  1. Ю.Р., Бобылев Д. А., Кнеллер В. Ю. Виртуальные измерители-анализаторы параметров импеданса // Датчики и системы. 2004. — № 1.-е. 14−18.
  2. Ю.Р., Бобылев Д. А., Кнеллер В. Ю. Измеритель-анализатор параметров комплексных сопротивлений на основе персональной ЭВМ // Измерительная техника. 1996. — № 6. — С. 56 — 60.
  3. А.Н., Казаков В. А., Светлов A.B. Макромодель операционного усилителя для моделирования измерительных цепей с импульсными сигналами // Измерительная техника. 1999. — № 9.
  4. А.Н., Казаков В. А., Светлов A.B., Светлов Д. А. Определение параметров двухполюсников по значениям дискретных отсчетов выходного напряжения измерительной схемы // Измерительная техника. 1999. — № 8. -С. 19−22.
  5. B.C. Кондуктометрические методы и приборы в биологии и медицине. -М.: Медицина, 1973. 335 с.
  6. И.Е., Смирнов А. Б., Смирнова E.H. MATLAB 7. СПб.: БХВ-Петербург, 2005. — 1104 с.
  7. А. с. 938 199 СССР. Преобразователь параметров четырехэлементных двухполюсников в напряжение / А. И. Мартяшин, В. М. Чайковский, П. П. Чураков // Открытия. Изобретения. 1982. — № 23. — С. 237.
  8. А. с. 938 201 СССР. Преобразователь параметров электрометрического датчика / А. И. Мартяшин, В. М. Чайковский, П. П. Чураков // Открытия. Изобретения. 1982. — № 23. — С. 237.
  9. А. с. 1 140 028 СССР. Преобразователь параметров емкостного контактного датчика / А. И. Мартяшин, П. В. Машошин, В. Ф. Рябов // Открытия. Изобретения. 1985. — № 6. — С. 137.
  10. А. с. 1 308 939 СССР. Устройство для измерения статических параметров кварцевых резонаторов / Ю. С. Гаевский, А. И. Мартяшин, A.B. Светлов, Б.В.
  11. Цыпин I ! Открытия. Изобретения. 1987. — № 17. — С. 151, 152.
  12. А. с. 1 541 534 СССР. Устройство для измерения статических параметров кварцевых резонаторов / В. А. Казаков, А. И. Мартяшин, A.B. Светлов // Открытия. Изобретения. 1990. — № 5. — С. 188.
  13. М.А. Измерение влажности. М.: Энергия, 1973- 400с.
  14. Буч Г. Объектно-ориентированный анализ и проектирование с примерами приложений на С++. Спб.: Невский Диалект — 2001. — 560с.
  15. Быстродействующие интегральные микросхемы ЦАП и АЦП и измерение их параметров / Под ред. А.-Й.К.Марцинкявичюса и Э.-А.К.Багданскиса. -М.:Радио и связь, 1988. 224с.
  16. А. Генераторы тактовых сигналов для прецизионных АЦП // Электронные компоненты. 2005. — № 5. — с. 110−113.
  17. И., Сингхал К. Машинные методы анализа и проектирования электронных схем. М.: Радио и связь, 1988. — 560 с.
  18. Г. Генератор сигналов произвольной формы // Схемотехника. -2001. № 3. — с.2−3.
  19. Г. И. Схемотехника аналоговых и аналого-цифровых электронных устройств. М.: До дека, 2007. — 528с.
  20. Герконовые реле фирмы «Cosmo Electronics» // Датчики и системы. 2002. -№ 7. -с.55−56
  21. Ю.Р. Справочник по цифро-аналоговым и аналого-цифровым преобразователям / Пер. с англ.- Под ред. Ю. А. Рюжина. М.: Радио и связь, 1982. -552с.
  22. ГОСТ 30 606 98. Преобразователи цифрового кода в напряжение или ток измерительные. Основные параметры. Общие технические требования. Методы испытаний. — М.: Изд-во стандартов, 2004. — 8с. .
  23. К.В. Неинвазивный импедансный метод определения параметров костной ткани: Автореф. дис.. канд. техн. наук. Пенза: Изд-во Пенз. гос. техн. ун-та, 2007. — 24 с.
  24. И. Операционные усилители: Пер. с англ. / Под ред. М. В. Гальперина. -М.: Мир, 1982.-512с.
  25. В.М. Организация и проектирование систем автоматизации научно-технических экспериментов. Киев, Наукова думка, 1978. — 232с.
  26. Дж. Виртуальные приборы // Control Engineering Россия. — 2006. — № 6.
  27. В.Ю., Агамалов Ю. Р., Десова A.A. Автоматические измерители комплексных величин с координированным уравновешиванием. М.: Энергия, 1975.- 168с.
  28. В.Ю., Боровских Л. П. Определение параметров многоэлементных двухполюсников.-М.: Энергоатомиздат, 1986. 144с.
  29. В.Ю., Павлов A.M. Средства измерений на основе персональных ЭВМ // Измерения, контроль, автоматизация. 1988. — № 3(67). — с. З — 14.
  30. В.Ю. Средства измерений параметров цепей переменного тока: тенденции развития и актуальные задачи // Приборы и системы управления. — 1998. -№ 1. с. 64−68.
  31. В.Г. Цифровые измерительные устройства: теоретические основы цифровой измерительной техники: Учеб. пособие. СПб.: изд-во Санкт-Петербургского государственного политехнического университета, 2002. -144с.
  32. E.H. Структурные методы повышения точности измерения параметров электрических цепей: Автореф. дис. .д-ра техн.наук. Пенза: Изд-во Пенз. гос. ун-та, 2007. — 33с.
  33. В.И. Разработка и исследование универсальных преобразователей параметров многоэлементных двухполюсных электрических цепей в унифицированные сигналы: Автореф. дис.. канд. техн. наук. Пенза: Пенз. политехи, ин-т, 1987. 18 с.
  34. А. Программное обеспечение для сбора и обработки данных при измерениях и испытаниях // Компоненты и технологии — № 6, № 7 2000г, № 1 -2001г.
  35. С.К. Измерительные преобразователи параметров комплексных сопротивлений и проводимостей с использованием меандровых сигналов // Приборы и системы управления. 1999. — № 2. — с.40 — 42.
  36. С.К. Разработка и исследование методов и средств преобразования параметров сложных электрических цепей: Автореф. дис.. канд. техн. наук.- Пенза: Пенз. политехи, ин-т, 1980. 20 с.
  37. С. Эволюция SPICE совместимых моделей операционных усилителей // Современная электроника. — 2005. — № 4. — с.58 — 67, 2005. — № 5. -с.56 — 65, 2005. — № 6. — с.38 — 47.
  38. А.И., Шахов Э. К., Шляндин В. М. Преобразователи электрических параметров для систем контроля и измерения. М.: Энергия, 1976. — 392с.
  39. Метрология. Основные термины и определения. Минск: 2003. — 38с.
  40. В.А. Аналого-цифровые и цифро-аналоговые преобразователи: Справочник. СПб.: КОРОНА принт- М.: Альтекс — А, 2003. — 224 с.
  41. П.В., Зограф И. А. Оценка погрешностей результатов измерений.- JL: Электроатомиздат, 1985.-248с.
  42. Основы инвариантного преобразования параметров электрических цепей / А. И. Мартяшин, K.JI. Куликовский, С. К. Куроедов, JI.B. Орлова- Под ред. А. И. Мартяшина. М.: Энергоатомиздат, 1990. — 216 с.
  43. Г. И. Мостовые цепи с импульсным питанием. М.: Энергоатомиздат, 1988.- 192с.
  44. А.Б., Юрагов Е. А. Компонентное моделирование и программирование на языке UML: практическое руководство по проектированию информационно-измерительных систем. М.: NT Press, 2005. — 664с.
  45. В.Д. Система проектирования OrCAD 9.2. М.: Солон — Р, 2003. -528с.
  46. Разрешение, точность и погрешности систем // Control engineering Россия -2006. — № 3
  47. В. Как работают аналого-цифровые преобразователи и что можно узнать из спецификации на АЦП // Компоненты и технологии. 2005. — № 3. -с.116−121.
  48. Г. Г., Тарасенко А. П. Методы и средства измерений. М.: Академия, 2003.-336 с.
  49. П.И., Шиляев С. Н. Один компьютер вся измерительная лаборатория. Осциллографы // Приборы и системы управления. -1999. — № 3. — с. 22,23.
  50. П. Средства измерения параметров цепей переменного тока (приборы) // Электронные компоненты. 2005. — № 5. — с. 138 — 141.
  51. М.Р., Сарваров JI.B. Определение параметров трехэлементных двухполюсников по переходному процессу // Датчики и системы. 2002. -№ 4. — с. 10 -12.
  52. A.B. Измерительные преобразователи параметров многоэлементных двухполюсных электрических цепей: Дис.. д-ра техн. наук. Пенза, 1999. -381с.
  53. A.B. Моделирование процесса установления выходного напряжения в схемах на операционных усилителях // Иформационно-измерительная техника: Межвуз. сб. науч. тр. Пенза: Изд-во Пенз. гос. техн. ун-та, 1999. -Вып. 24. — С.
  54. A.B. Принципы построения преобразователей параметров многоэлементных двухполюсных электрических цепей. Пенза: изд-во ПГУ, 1999. — 144с.
  55. A.B., Светлов Д. А. Макромодель операционного усилителя, учитывающая асимметрию скорости нарастания его выходного напряжения // Информационно-измерительная техника: Межвуз. сб. науч. тр. Пенза: Изд-во Пенз. гос. техн. ун-та, 1999. — Вып. 24.
  56. A.B. Синтез алгоритмов преобразования параметров многоэлементных двухполюсников // Информационно-измерительная техника: Межвуз. сб. науч. тр. Пенза: Изд-во Пенз. гос. ун-та, 1998. — Вып. 23. — С. 125 — 128.
  57. .Л. Структурно-алгоритмические методы синтеза средств инвариантного измерения параметров электрических цепей: Автореф. дис. .д-ра техн.наук. Пенза: Изд-во Пенз. гос. ун-та, 2004. — 47с.
  58. .Л. Способы построения инвариантных средств измерений параметров электрических цепей // Методы и средства измерения в системах контроля и управления. Сб. научн. тр. — Пенза, 2002. — С. 79, 80.
  59. В.И. Виртуальные приборы на основе индуктивных датчиков // Датчики и системы. 2001. — № 1.
  60. В.И., Сергеев В. А., Абакумов В. И., Ильин М. Г. Специализированная сенсорная плата расширения // Приборы и системы управления. 1999. -№ 10.
  61. B.C. Программное обеспечение современных систем сбора и обработки измерительной информации // Приборы и системы управления. 1998. -№ 1.-с.55 -63.
  62. В., Саченко А., Дапонте П., Аумала О. Метрологическое автосопровождение в интеллектуальных измерительных системах // Датчики и системы. 2002. — № 7. — с.66 — 71.
  63. Суранов А.Я. Lab VIEW 7: Справочник по функциям. М.: ДМК Пресс, -2005.-512с.
  64. И.В. Аппаратно-программный комплекс для измерения параметров электрических цепей / А. В. Светлов, И. В. Ушенина // Известия высших учебных заведений. Поволжский регион. Технические науки 2008. — № 1. -С.81 — 89.
  65. И.В. Моделирование процедуры измерения параметров двухполюсных электрических цепей / И. В. Ушенина, Д. А. Ушенин // Надежностьи качество. Сб.тр. международного симпоз. — Пенза: Изд-во Пенз. гос. унта, 2005.-С. 385.
  66. И.В. Обработка выходных сигналов датчиков с помощью программируемых аналоговых интегральных схем // Датчики и системы 2008 — № 6
  67. И.В. Преобразователь индуктивности в напряжение / A.B. Светлов, И. В. Ушенина, Д. А. Ушенин // Надежность и качество: Сб.тр. международ. симпоз. Пенза: Изд-во Пенз. гос. ун-та, 2005. — С. 376.
  68. У., Таликов Д. Современные методы автоматизации измерительных и технологических процессов // Современная электроника. 2006. — № 4.- с. 64 67.
  69. М.Е. Программирование на Delphi глазами хакера. СПб.- БХВ-Петербург, 2004. — 368с.
  70. А. Д., Хофман В. Э. Самоучитель Delphi СПб.: БХВ-Петербург- 2005. 576с.
  71. В.М. Измерители параметров МДП структур на несинусоидальном сигнале: Автореф. дис.. канд. техн. наук. Пенза: Изд-во Пенз. гос. техн. ун-та, 1996. — 20 с.
  72. Чуа JI.O., Пен-Мин Лин. Машинный анализ электронных схем. М.: «Энергия», 1980. -640с.
  73. П.П., Свистунов Б. Л. Инвариантные измерители параметров катушек индуктивности. Пенза: Изд-во Пенз. гос. ун-та, 1998. — 180 с.
  74. П.П. Синтез и обработка сигналов в устройствах измерения параметров электрических цепей. Автореф. дис.. д-ра техн. наук. Пенза, 1998.-40 с.
  75. Baker В. Operational Amplifier Macromodels: a comparison //.Application bulletin AB-046. Burr Brown Corporation, 1993
  76. Downing S., Brannon B. How ADIsimADC models an ADC // AN- 737 Application Note, Analog Devices, http://www.analog.com/UploadedFiles/ApplicationNotes
  77. Kester W. ADC Architectures // www.analog.com
  78. Kester W. High speed DACs and DDS Systems// The Analog Devices Guide for Designing with DACs and DDS. Section 6. Analog Devices. 2000.
  79. Kester W., Bryant J., Jung W. Amplifiers for signal conditioning// http://www.analog.com/library/analogDialogue
Заполнить форму текущей работой