Помощь в учёбе, очень быстро...
Работаем вместе до победы

Информационная система поддержки принятия решений при проектировании пьезосканеров

Диссертация: Информационная система поддержки принятия решений при проектировании пьезосканеров
ДиссертацияПомощь в написанииУзнать стоимостьмоей работы

Целью диссертационной работы является разработка элементов автоматизированной системы проектирования пьезосканеров, позволяющих сократить время их создания, производить оценку качества пьезосканеров по обобщенному критерию качества, решать многокритериальную задачу принятия решения при выборе оптимального пьезосканера, оценивать надежность системы, состоящей из многофункциональных модулей… Читать ещё >

Содержание

  • ГЛАВА 1. ОБЗОРНО-АНАЛИТИЧЕСКИЕ ИССЛЕДОВАНИЯ В ОБЛАСТИ САПР ПЬЕЗОСКАНЕРОВ
    • 1. 1. Пьезосканеры в приборостроении
    • 1. 2. Основные понятия и представления о проектировании пьезосканеров
    • 1. 3. Обобщенный критерий оценки качества пьезосканеров
    • 1. 4. Математическое моделирование в автоматизированных системах проектирования
    • 1. 5. Способы построение баз экспертных данных
  • Постановка задачи исследования
  • ГЛАВА 2. ТЕОРЕТИЧЕСКИЙ ПОДХОД К РЕШЕНИЮ ЗАДАЧ СОЗДАНИЯ ЭЛЕМЕНТОВ АВТОМАТИЗИРОВАННОЙ СИСТЕМЫ ПРОЕКТИРОВАНИЯ ПЬЕЗОСКАНЕРОВ
    • 2. 1. Структура информационной технологии проектирования пьезосканеров на этапах предварительной разработки
    • 2. 2. Модель многокритериальной задачи принятия решений
    • 2. 3. Сравнение вариантов на основе порядковой шкалы оценок и на основе интегральной шкалы полезности оценки по показателям
    • 2. 4. Основы методики выбора предпочтительного варианта пьезосканера по совокупности показателей
    • 2. 5. Математическая модель пьезосканера на основе пьезоэлектрического элемента
    • 2. 6. Крип-эффект и методика борьбы с ним
  • Выводы по главе 2
  • ГЛАВА 3. МЕТОДЫ ВЫБОРА ОПТИМАЛЬНЫХ ПО ПАРАМЕТРАМ ПЬЕЗОСКАНЕРОВ
    • 3. 1. Многоатрибутивный выбор и принятие решения
    • 3. 2. Оптимизация по параметрам пьезосканеров
    • 3. 3. Основные методы, с помощью которых происходит выбор наилучших пьезосканеров по параметрам
    • 3. 4. Оценка надежности систем из многофункциональных модулей
  • Выводы по главе 3
  • ГЛАВА 4. ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ ПЬЕЗОСКАНЕРОВ НА ЭВМ
    • 4. 1. Выбор основных параметров пьезосканера
    • 4. 2. Многоатрибутивный выбор пьезосканера
    • 4. 3. Расчет пьезосканера для нанотехнологии
    • 4. 4. Выбор оптимального профиля пьезосканера
  • Выводы по главе 4
  • ГЛАВА 5. СИНТЕЗ АЛГОРИТМОВ ПОИСКА ТЕХНИЧЕСКИХ РЕШЕНИЙ ПЬЕЗОСКАНЕРОВ
    • 5. 1. Алгоритмы поиска технических решений пьезосканеров
    • 5. 2. Разнообразие пьезоэлементов
    • 5. 3. Морфологическая таблица пьезокерамических материалов
    • 5. 4. Разработка технических решений пьезосканеров
  • Выводы по главе 5

Информационная система поддержки принятия решений при проектировании пьезосканеров (реферат, курсовая, диплом, контрольная)

Современные технологии замедляются не столько отсутствием научных достижений и инженерных идей, сколько сроками и не всегда удовлетворительным качеством их реализации при конструкторско-технологической разработке. Одним из направлений решения этой проблемы является создание и развитие элементов автоматизированных систем проектирования нанотехнологических объектов, в том числе таких объектов как пьезосканеры.

Микроминиатюризация изделий и повышение качества во многих областях науки и техники поставили задачу обеспечения сверхточного позиционирования функциональных механизмов при выполнении установочных перемещений, в том числе по нескольким координатам одновременно. Сверхмалая с точки зрения механики длительность процессов в автоматизированном технологическом и исследовательском оборудовании (от 100 мс до 0,1 мс и менее) предъявляет жесткие требования и к динамическим параметрам модулей линейных перемещений. При этом во многих случаях эти модули должны работать в вакуумной среде, которая создает проблемы даже для обычных диапазонов позиционирования.

В нанотехнологии перемещение и позиционирование связано с малыми размерами. В современном технологическом и исследовательском оборудовании используются различные типы устройств прецизионных перемещений, в частности, устройств на пьезопреобразователях, пьезосканеры, отличительной чертой которых является их безынерционность. Принцип их действия основан на преобразовании электрической энергии в механическую.

Для пьезосканеров характерны: микроперемещения с погрешностью не более ±0.1 нм, высокая чувствительность и плавность перемещений, высокое быстродействие (постоянная времени пьезосканера не более 0.2 мс), возможность реверсивных перемещений. При работе пьезосканер не нагревается и тем самым не влияет на точность перемещения.

Широкое внедрение таких пьезосканеров сдерживается сложностью их проектирования и отсутствием способов оценки конструкции на отдельных стадиях проектирования.

Важным моментом применения пьезосканеров в нанотехнологическом оборудовании является линейная зависимость их перемещения от приложенного напряжения, то есть простота в управлении процессом перемещения.

Автоматизированная система проектирования пьезосканеров может играть роль мощного средства для создания пьезосканеров, эффективное применение которого невозможно без разработки комплекса методических указаний и инструкций, используемых на каждом этапе и регламентирующих их последовательность.

Создание автоматизированной системы проектирования пьезосканеров невозможно без создания информационной системы поддержки принятия решений на каждом этапе проекта.

Таким образом, разработка элементов автоматизированной системы проектирования пьезосканеров является задачей актуальной и своевременной.

Целью диссертационной работы является разработка элементов автоматизированной системы проектирования пьезосканеров, позволяющих сократить время их создания, производить оценку качества пьезосканеров по обобщенному критерию качества, решать многокритериальную задачу принятия решения при выборе оптимального пьезосканера, оценивать надежность системы, состоящей из многофункциональных модулей, рассчитывать параметры пьезосканеров при заданных исходных данных с учетом требований, предъявляемых к прецизионным системам перемещения и создавать новые виды пьезосканеров, удовлетворяющих требования, предъявляемые к прецизионному оборудованию и оборудованию точного приборостроения.

Для достижения поставленной цели необходимо выполнить следующий комплекс исследований:

1. Провести аналитические исследования в области САПР пьезосканеров для нанотехнологии.

2. Разработать модель многокритериальной задачи принятия решений при многоатрибутивном выборе пьезосканера.

3. Разработать теоретический подход к решению задач создания элементов автоматизированной системы проектирования пьезосканеров.

4. Разработать математическую модель формирования наноперемещений пьезосканера с учетом крип-эффекта.

5. Экспериментально исследовать зависимость значений параметров пьезосканера от его геометрии и нагрузок, приложенных к нему.

6. Создать алгоритмы и пакет прикладных программ, которые составляют основу элементов автоматизированной системы проектирования пьезосканеров.

7. Выполнить синтез алгоритмов поиска технических решений пьезосканеров и на их базе предложить технические решения пьезосканеров для нанотехнологии.

В качестве методов исследования в работе используются положения теории систем, теории множеств, теории принятия решений, морфологический анализ-синтез уже известных пьезосканеров в нанотехнологии. Общей методологической основой всех исследований является системный подход.

Научная новизна:

1. Предложена обобщенная математическая модель пьезосканера.

2. Метод снижения крип-эффекта в пьезосканерах, основанный на применении стратегии дополнительного энергопитания.

3. Разработана модель многокритериальной задачи принятия решений и произведен многоатрибутивный выбор пьезосканера для нанотехнологии.

4. Произведена оценка надежности системы из многофункциональных модулей и оценка качества пьезосканеров для нанотехнологии.

5. Разработаны элементы автоматизированной системы проектирования пьезосканеров для нанотехнологии.

Практическая значимость.

1. Разработаны алгоритмы автоматизированного поиска технических решений пьезосканеров для нанотехнологии.

2. Выполнен синтез технических решений пьезосканеров для нанотехнологии, соответствующих критериям патентоспособной новизны, изобретательского уровня и промышленной применимости.

3. Создан программный продукт по расчету основных параметров пьезосканеров для нанотехнологии (Свидетельство об официальной регистрации программ для ЭВМ № 2 006 610 179).

4. Разработана база знаний по пьезосканерам, входящая в основу информационной системы поддержки принятия решений при проектировании пьезосканеров.

Достоверность проведенных теоретических исследований обеспечивается строгим математическим обоснованием предлагаемых подходов и методов, а также сравнением с теоретическими данными, известными в литературе и полученными автором.

Теоретические и практические результаты используются в учебном процессе МИЭМ и в практике системного конструирования для производства материалов и приборов электронной техники в НИИ микроэлектроники и информационно — измерительной техники, в НИИ систем управления волновых процессов и технологий.

Основные положения, выносимые на защиту.

1. Математическая модель пьезосканера, позволяющая учитывать и компенсировать крип-эффект на основе стратегии дополнительного энергопитания.

2. Математическая модель многокритериальной задачи принятия решений и методика применения этой модели при практической реализации элементов автоматизированной системы проектирования пьезосканеров для нанотехнологии.

3. Обобщенный критерий оценки качества пьезосканера.

4. Информационная система поддержки принятия решений при проектировании пьезосканеров для нанотехнологии.

5. Синтез моделей и алгоритмов автоматизированного поиска технических решений пьезосканеров для нанотехнологии.

6. Структура процесса автоматизированного проектирования пьезосканеров.

Основные результаты работы докладывались и обсуждались на научно-технической конференции МГИЭМ для молодых ученых и специалистов 2005, 2006; на Международных научно-технических конференциях «Опто-, наноэлектроника, нанотехнологии и микросистемы» и «INTERMATIK — 2006» .

По теме диссертации опубликовано 11 печатных работ, в том числе 4 патента РФ на полезные модели, 1 свидетельство об официальной регистрации программы для ЭВМ.

Диссертация состоит из введения, пяти глав, общих выводов, заключения, списка литературы и приложения.

Выводы по пятой главе.

В пятой главе были разработаны алгоритмы поиска технических решений пьезосканеров, которые являются элементами автоматизированной систему проектирования пьезосканеров.

Разобраны основные пьезоэлементы, имеющиеся на сегодняшний день, и применяющиеся в прецизионном оборудовании для обеспечения сверхточного перемещения.

Собрана и представлена морфологическая таблица пьезокерамических материалов.

На основе разработанных алгоритмов поиска технических решений были предложены пьезосканеры, на которые получены патенты РФ на полезную модель.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

.

В диссертации решена актуальная научная задача, имеющая существенное значение для повышения эффективности процессов проектирования пьезосканеров для приборостроения. В рамках информационной системы поддержки принятия решений при проектировании пьезосканеров выполнено следующее:

1. Разработаны элементы автоматизированной системы проектирования пьезосканеров, позволяющей рассчитывать параметры пьезосканеров при заданных исходных данных с учетом требований, предъявляемых к прецизионным системам перемещения, выбирать наилучшие варианты среди спроектированных и создавать новые виды пьезосканеров, удовлетворяющих требования, предъявляемые к прецизионному оборудованию и оборудованию точного приборостроения, при значительном сокращении времени проектных работ.

2. Для оценки качества пьезосканеров введен обобщенный критерий, учитывающий функциональные, экологические и экономические локальные критерии качества, которые входят в обобщенный критерий с их весовыми коэффициентами.

3. Разработанная обобщенная математическая модель, используемая при автоматизированном проектировании пьезосканера, не только учитывает крип-эффект, влияющий на точность позиционирования пьезосканера, но и предлагает способ его компенсации.

4. Предложена модель многокритериальной задачи принятия решений при многоатрибутивном выборе пьезосканера, учитывающая множество вариантов пьезосканеров, множество показателей, отображение множества вариантов в множестве векторных оценок, множество типов задач сравнения вариантов, систему предпочтений лица, принимающего решение, множество возможных правил выбора решения.

5. На основе модели многокритериальной задачи принятия решений, теоретических и экспериментальных исследований параметров работоспособности пьезосканеров предложены морфологические таблицы пьезосканеров и материалов, которые обеспечивают эвристический подход к их проектированию с использованием известной и дополнительной базы знаний элементов автоматизированной системы проектирования.

6. На основе разработанных элементов автоматизированной системы проектирования пьезосканеров предложены технические решения пьезосканеров для приборостроения, удовлетворяющие требованиям, предъявляемым к прецизионным устройствам перемещения и соответствующие критериям патентоспособной новизны, изобретательского уровня и промышленной применимости.

7. Разработанная информационная система поддержки принятие решений и база экспертных данных при проектировании пьезосканеров обеспечивает рациональный выбор технических решений таких пьезосканеров из множества полученных в результате решения многокритериальной задачи.

Таким образом, основным результатом диссертационной работы можно считать создание информационной системы поддержки принятия решений при проектировании пьезосканеров для приборостроения, имеющей существенное значение при разработке системы автоматизированного проектирования пьезосканеров. Предложенная информационная система позволяет принимать научно обоснованные, технически целесообразные, экономически и технологически выгодные разработки.

Показать весь текст

Список литературы

  1. Rebecca Howland, Lisa Benatar. A Practical Guide to Scanning Probe Microscopy// Project Editor and Booklet Designer: Christy Symanski/ Copyright 1996 by Park Scientific Ihsnruments.76 s.
  2. B.A. Приборы и методы сканирующей зондовой микроскопии для исследования и модификации поверхностей. Дисс. на соиск. уч. ст. д.т.н., — M.: ГНЦ НИИ физических проблем имени Ф. В. Лукина, 2000 — 393 е., ил.
  3. Я. Экспериментальные методы в фотохимии и фотофизике// В 2 -X томах. Т. 1. Пер. с англ. М.: Мир, 1985. — 608 е., ил.
  4. Е.Г., Фельдман Н. Б. Пьезоэлектрическая керамика. М.: Изд-во «Советское радио», 200 стр. 1971.
  5. В.П. Автоматизация управления процессами сверхточного позиционирования линейных модулей реологического типа. Дисс. на соиск. уч. ст. д.т.н. ~М.: МГТУ им Н. Э. Баумана, 2003 — 291 е., ил.
  6. К., Лазанн А. Растровый туннельный микроскоп на основе концентрических трубчатых пьезоэлементов. // ПНИ. 1988.
  7. К., Мори И., Тобзе Т., Ито Т., Табста М., Сйнодзаки Т. Пьезоэлектрический столик с двумя поступательными и одной вращательной степенями свободы для субмикронных литографических систем. // ПНИ. -1989.
  8. Расчет и конструкция деталей аппаратуры САУ. Учебник для техникумов/ В. П. Савостьянов, Г. А. Филатова, В. В Филатов М.: «Машиностроение», 1982. — 328 е., ил.
  9. А.П., Панич А. Е. Применение пьезокерамических материалов ПТЭ в низкотемпературных сканирующих туннельных микроскопах. / ПТЭ. -1989.
  10. Д., Рорер Г. Растровый туннельный микроскоп // В мире науки. 1985
  11. В.П. Комплексные автоматизированные производства. Методические указания по проведению курсовых и дипломных работ. Учебное пособие. МГИЭМ. М., 2006. — 77 с.
  12. В.П. Методическое обеспечение САПР в машиностроении. Ленингр. отделение, 1989 г. 255 с.
  13. Г. Наука об искусственном. М.: Мир, 1972. 147 с.
  14. Kehneman D., Slovik P., Tvrsky A. Judgmen under uncertainty: heuristics and biases. Cambridge: Univ. Press. 1982. 555 p.
  15. Feigenbaum I.A., McCorduck P. The 5th generation/ Addison Wesley. Mass. 1983.266 p
  16. Углеродные нанотрубки. Материалы для компьютеров XXI века, П. Н. Дьячков // Природа № 11, 2000 г.
  17. В.А. Микроскопия вчера, сегодня, завтра. материал для конференции, Москва.
  18. Д.В. Информационная технология проектирования гидромашин на стадиях предварительной разработки. Дисс. на соиск. уч. ст. к.т.н. М.: Ковровская государственная технологическая академия, 2003 — 214 е., ил.
  19. И.П. Основы автоматизированного проектирования.: Учеб. для вузов. М.: Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2002 — 360 с.
  20. Р.И. Автоматизация проектирования систем автоматического управления.: Учеб. для вузов по специальности «Автоматика и управление в технологических системах». М.: Высш. шк., 1991. — 335 с.
  21. Автоматизированное проектирование машиностроительного гидропривода./ И. И. Бажин, Ю. Г. Беленгард, М. М. Гайцгорн и др.- Под. общ. ред. С. А. Ермакова. М.: Машиностроение, 1988 — 312 с.
  22. Автоматизированное проектирование следящих приводов и их элементов. / Под. ред. В. Ф. Казмиренко. М.: Энергоиздат. 1984
  23. Ю.Х. Основы автоматизации проектирования. М.: Радио и связь, 1988.-280 с.
  24. А.И. Основы инженерного творчества.: Учеб. пособие для студентоввтузов. -М.: машиностроение, 1988. 368 с.
  25. В.М., Степанов А. И. Автоматизированное проектирование гидро- и пневмоприводов. Конструкторское проектирование. Учеб. пособие / МАДИ.-М., 1987−218 с.
  26. . Автоматизированное проектирование и производство.: Пер. с англ. М.: Мир, 1991.-296 с.
  27. Автоматизированное проектирование радиоэлектронных средств.: Учеб. пособие для вузов / О. В. Алексеев, A.A. Головков, И. Ю. Пововаров и др.- Под. ред. О. В. Алексеева. -М.: Высшая шк., 2000. 479 с.
  28. И.М., Статников Р. Б. Выбор оптимальных параметров в задачах со многими критериями. -М.: Наука, 1981.
  29. .Г. Основы теории технических систем. М.: МИЭМ, 1991. -136 с.
  30. Е.В., Львов Б. Г., Митрофанов С. А. Стратегия построения концептуальной модели технического объекта./ Межвузовский сборник «Методы моделирования и оптимизации в САПР конструкторско-технологических работ». М.: 1989
  31. М.Ю., Царев Р. Ю. Компьютерная поддержка многоатрибутивных методов выбора и принятий решения при проектировании корпоративных информационно-управляющих систем. СПб.: Инфо-да, 2004.223 с.
  32. В. В. Ногин В.Д. Парето-оптимальные решения многокритериальных задач. М.: Наука, 1982
  33. В. В. Об относительной важности критериев в многокритериальных задачах принятия решения.// В кн.: Многокритериальные задачи принятия решений. М.: Машиностроение, 1978, с. 48−82
  34. В.М., Граф М. Г. Методология решения многокритериальных задач// Многокритериальные задачи принятия решений. М.: Машиностроение, 1978. С. 14−17.
  35. А.Г. Проектирование АСУ. М.: Высш. шк., 1987, 304с.
  36. B.C., Волкович B.JI. Вычислительные методы исследования и проектирования сложных систем.// М.: Наука, 1982, 286 с.
  37. B.JI. Миронов. Основы сканирующей зондовой микроскопии. Учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений. Российская академия наук, Институт физики микроструктур, г. Нижний Новгород, 2004 г.-110 с.
  38. М., Мако Д., Такахара А. Теория иерархических многоуровневых систем. -М.: Мир. 1973.
  39. E.H., Семенкина О. Э., Терснов В. А. Методы оптимизации в управлении сложными процессами: Учебное пособие. -Красноярск: Сибирский юридический институт МВД России, 2000 г. 254 с.
  40. А.Н. др. Системный анализ: Проектирование, оптимизация и приложения.: Учебное пособие. В 2-х томах. Том 2. -Красноярск: Сибирская аэрокосмическая академия, 1996. -290с.
  41. И. П. Манигев В.Б. Основы теории и проектирование САПР.: Учеб. для втузов. -М.: Высш. шк., 1930 335 е., ил.
  42. К., Ушаков И. А. Оценка надежности систем с использованием графов.// М.: Радио и связь. 1988.
  43. Д.Б., Горяшко А. П., Немировский A.C. Математические методы оптимизации устройств и алгоритмов АСУ. М.: Радио и связь, 1982, 288 с.
  44. П. Теория полезности для принятия решений.// М.: Наука, 1978.
  45. М.Г. Принятие решений при многих критериях.// М.: Знания, 1979.
  46. В.А. и др. Введение в системный синтез// Под ред. JI.A. Петросяна. Л.: ЛГУ, 1988, 232 с.
  47. С., Хидетниеми С. Введение в разработку и анализ алгоритмов//Пер. с англ. М.: Мир, 1981, 366 с.
  48. JI. Теория массового обслуживания // М.: Машиностроение. 1979.
  49. Научно образовательный центр физики твердотельных наноструктур ННГУ. Исследование топографии поверхности твердых тел методом атомно-силовой микроскопии в неконтактном режиме. Описание лабораторной работы. — Н. Новгород: НГУ им. Н. И. Лобачевского. 2003.
  50. В.К. Физические основы туннельно-зондовой нанотехнологии. Учебное пособие. -М.: МИЭТ. 2000.
  51. П.Н. Углеродные нанотрубки материал для компьютеров XXI века // Труды научного семенара «Математическое моделирование нанотехнологических процессов и наноструктур».-М.: МИФИ, 2002
  52. В. И., Лускинович П. Н. Нанотехнология и наноэлектроника // Электронная промышленность. -1991.
  53. И.П., Силин А. П. Вакуумная туннельная микроскопия- новый метод изучения поверхности твердых тел // УФН. 1984. '
  54. B.C. Сканирующая туннельная микроскопия // Прибор и техника эксперимента. -1989.
  55. Описание установки Луч 2, — М.: Нанотехнологический центр российского фонда конверсии, 2001.
  56. Zvyagin A., Ohtsu M. Near-field optical microscope for true surface topography: Theoretical study. // Optics Communications/ 1997.
  57. M.C., Трояновский A.M., Эдельман B.C., Пудалов В. И., Семенгинский Е. Г. Сканирующая туннельная микроскопия границы раздела Si- Si02 в МДП структуре. // Письма в ЖЭТФ. — 1986.
  58. П.А., Толстихина А. Л. Атомно-силовая микроскопия в задачах проектирования приборов микро- и наноэлектроники. Часть II. Микроэлектроника, том 29, № 1. 1999.
  59. И.В. Работы ученых МГУ в области туннельного спектроскопии и наноэлектроники. Электронная промышленность. — 1993.
  60. Ю.Н., Панов В. И., Савинов C.B., Яминский И. В. Атомно -силовая микроскопия поверхности. // Электронная промышленность, 3.-1991.
  61. С.Ф., Галлямов М. О., Потемкин В. В., Степанов A.B., Яминский И. В. Сканирующий туннельный микроскоп измерительное средство наноэлектроники. — ИТ, (4). — 1998.
  62. A.A., Овчинников Д. В., Бухараева A.A. Диагностика поверхности с помощью сканирующей силовой микроскопии. // Заводская лаборатория. -1997.
  63. И.В. Сканирующая туннельная микроскопия. // Электронная промышленность. 1993.
  64. Kawasaki Т., Jiang L., Iyoda T., Araki T., Hashimoto К., Fujishima A. AFM molecular images during tip induced surface modification on the surface of a KCP (Br) singl crystal. II J. Phys. Chem. — 1997.
  65. Валиахметов, В. В. Звездин, B.B. Заморский. Модель привода точной подстройки на основе пьезоэлектрического элемента. Камский государственный политехнический институт. Материалы конференции.
  66. Т.Д., Алексперов С. Д. Модификация поверхности твердых тел с помощью сканирующего туннельного микроскопа. // Физ. Основы функционирования микроэлектроники. 1989Р.Р.
  67. С.И., Савинов C.B., Яминский И. В. Методы изготовления острий для сканирующего туннельного микроскопа. // Электронная промышленность, 3.-1991
  68. А.О. Голубок, Д. Н. Давыдов, В. А. Тимофеев, С. Я. Типисев. Авторское свидетельство «Пьезоэлектрическое устройство перемещения» № 1 541 741 от 8 октября 1989 г.
  69. E.H., Павлов А. Ю. Стереометрическое устройство для наноперемещений. Патент РФ на ПМ № 36 924. Опубликован 27.03.2004 Б.И. № 9.
  70. E.H., Павлов А. Ю., Пискарев Д. А., Степанов М. В. 57. Устройство для формирования наноструктур. Патент РФ на ПМ № 40 537. Опубликован 10.09.04, Б.И. № 25.
  71. E.H., Павлов А. Ю., Пискарев Д. А., Степанов М. В. Привод для нанотехнологии. Патент РФ на ПМ № 40 538. Опубликован 10.09.04, Б.И. № 25.
  72. E.H., Павлов А. Ю., Пискарев Д. А., Реутова М. В., Степанов М. В. Колебательный контур для наноэлектроники. Патент РФ на ПМ № 40 539. Опубликован 10.09.04, Б.И. № 25.
  73. E.H., Павлов А. Ю., Пискарев Д. А., Степанов М. В. Зондовое устройство для нанотехнологии. Патент РФ на ПМ № 40 540. Опубликован 10.09.04, Б.И. № 25.
  74. E.H., Павлов А. Ю., Пискарев Д. А., Степанов М. В. Устройство перемещения для нанотехнолгии. Патент РФ на ПМ № 4052. Опубликован 10.09.04, Б.И. № 25.
  75. Л.Д., Лифшиц Е. М. Теория упругости. М.: Наука, 1987.
  76. О.В. Разработка автоматизированной системы проетирования вакуумных пьезоэлектрических приводов. Дисс. нЁ соиск. уч. ст. к.т.н. — М.:МГИЭМ, 2003 ~ 158 е., ил.
  77. В.П. САПР оборудования и технологии производства СБИС. Учебное пособие. МГИЭМ. М., 2003. — 180 с.
  78. В.А., Иконников A.B., Кацур С. Ф., Еремченко М. Д., Саунин С. А., Шикин С. А. Сканирующий туннельный микроскоп и головка для него (варианты)// Патент РФ № 2 069 056. Приоритет от 18 апреля 1994 года.
  79. А.Н. Новое в сканирующей зондовой микроскопии. // ПТЭ, № 6. 1998.
  80. Д.В., Савинов С. В., Яминский И. В. Высоковольтный усилитель для пьезоманипулятора сканирующего туннельного микроскопа. -Электронная промышленность. 1993.
  81. В.В., Козлитин А. И., Пилевин A.B., Сретенов В. Н. Метрологическое обеспечение измерений сверх малых размеров с использованием теоретических моделей, мер и природных констант. Измерительная техника. 1996.
  82. В.Г., Розов Б. С. Савельев В.И. Прецизионные цифровые системы автоматического управления.- М.: Машиностроение, 1984.
  83. В. А. Микромеханика для сканирующей зондовой микроскопии и нанотехнологии. Микросистемная техника. 2000.
  84. E.H., Павлов А. Ю. Исследование пьезосканеров в СЗМ. РИО. МГИЭМ, 2005, 32с, ил.
  85. А.Ю. Моделирование пьезомеханических систем перемещения в нанотехнологии. Сборник докладов научно-технической конференции аспирантов и молодых специалистов МИЭМ. -М.: МИЭМ, 2005.
  86. E.H., Павлов А. Ю. Расчет резонансных частот и перемещений пьезосканера для нанотехнологии. Свидетельство об официальной регистрации программы для ЭВМ № 2 006 610 179. Зарегистрирована 10.01.06 г.
  87. E.H., Павлов А. Ю. Прецизионные перемещения на пьезоэффекте. Сборник докладов VII Международной научно-технической конференции «Опто-, наноэлектроника, нанотехнологии и микросистемы». Ульяновск, 2005.
  88. А.Ю. Учет крип-эффекта при автоматизированном проектировании пьезосканеров. Сборник докладов научно-технической конференции аспирантов и молодых специалистов МИЭМ. Тезисы докладов. -М.: МИЭМ, 2006.
Заполнить форму текущей работой

Пора сдавать?