Разработка и исследование микроканальных пластин с высоким пространственным разрешением для техники ночного видения
Диссертация
Внедрены в производство и серийно поставляются в течение ряда лет отечественным изготовителям ЭОП 2±3 поколений. Результаты применения этих МКП в составе ЭОП положительные. Образцы МКПО 18−8 были также испытаны в составе ЭОП 2+ поколения фирмой DEP (Нидерланды) с положительным результатом. Было отмечено, что эти пластины в целом соответствуют современному мировому уровню качества: в ЭОП с этими… Читать ещё >
Содержание
- 1. Особенности и проблемы мелкоструктурных микроканальных пластин
- 1. Л. Конструктивно-технологические особенности МКП
- 1. 2. Условия и режимы применения МКП в составе ЭОП
- 1. 3. Требования к параметрам МКП
- 2. Электронно-оптические и шумовые свойства МКП
- 2. 1. Особенности и характеристики электронного изображения МКП
- 2. 2. Шаговая модель усиления МКП и
- выводы из нее
- 2. 3. Шумовые характеристики МКП
- 2. 4. Работа МКП в режиме зарядового насыщения
- 3. Пространственное разрешение МКП в составе ЭОП
- 3. 1. Разрешающая способность структуры МКП
- 3. 2. Разрешающая способность бипланарной электронно-оптической системы
- 4. Конструктивно-технологические проблемы создания МКП. Исследования разрешающей способности
- 4. 1. Конструктивно-технологические проблемы создания МКП
- 4. 2. Исследование разрешающей способности мелкоструктурных
Список литературы
- Берковский А.Г., Гаванин В. А., Зайдель И. Н. Вакуумные фотоэлектронные приборы. — М.: Радио и связь. 1988.
- Шаген П. ЭОП с канальным электронным умножением // Достижения в технике передачи и воспроизведения изображений. М.: Мир. 1978. -Т.1.-С. 13−87.
- Айбунд М.Р., Поленов Б. В. Вторично-электронные умножители открытого типа и их применение. М.: Энергоиздат. 1981.
- Берковский А.Г. Электронные умножители // Итоги науки и техники. Серия «Электроника и ее применение». 1973. Т.5. — С.43−83.
- Дмитриев В.Д., Лукьянов С. М. и др. Микроканальные пластины в экспериментальной физике (обзор) // Приборы и техника эксперимента. 1982. -№ 2. -С.7−18.
- Брагин Б.Н., Меламид А. Е. Канальные электронные умножители и микроканальные пластины // Итоги науки и техники. Серия «Электроника и ее применение». 1977. Т.5. -С.102−133.
- Брагин Б.И., Меламид А. Е. Микроканальные электронно-оптические преобразователи. // Итоги науки и техники., Сер. «Электроника и ее применение», Т.11, ВИНИТК, -М., 1979, -С.35
- Соул Д. Электронно-оптическое фотографирование, пер. с англ. под ред. Базарова В. К. и Усольцева И. Ф., Военное изд. МО СССР.- М., 1972.
- Роуз А. Зрение человека и электронное зрение, пер. с англ. под ред. А. А. Гиппиуса, Мир.-М., 1977.
- Кулов С.К., Романов Г. П., Петровский Г. Т., Попов М. Н. Микроканальные пластины // Электронная промышленность. 1989. № 3. -С. 13−17.
- Manley В., Guest A., Holmshan R. Channel multiplier plate for imaging applications // Adv.Electr. and Electr. Phys. London. 1969. — V.28A. — P.471−486.
- Lampton M. The microchannal image intensifiers // Sci. Amer. 1981. V.245, № 5. — P.46−47.
- Саттаров Д.К. Основы физики МКП, их параметры и применение // Микроканальные пластины: Тез. докл. Всесоюз. научно-технич. конф. -М., 1983. -С.9−13.
- Bulkwill J.T. Manufacturing techniques for microchannel plates and their application in night vision image intensifiers. Pros. 24th Semp. Art glassflowing. Southfield, Mich, 1979, Toledo, Onio, 1979, P.68−78.
- Петровский Г. Т., Кулов С. К., Ягмуров В. Х., Канчиев З. И. О направлениях совершенствования конструкции и технологии МКП // Волоконная оптика: Тез. докл. Всесоюз. науч. конф. М., 1990. — С. 220 224.
- Петровский Г. Т., Саттаров Д. К., Канчиев З. И., Кутасов В. А. Основные принципы технологии МКП // Микроканальные пластины: Тез. докл. научно-технич. конф. М., 1985. -41. — С.53−55.
- Кулов С.К. Проблемы и пути совершенствования МКП // Электронные приборы и системы в промышленности: Тез. докл. Республ. науч. конф. -Владикавказ, 1994. -С.133−135.
- Канчиев З.И., Кулов С. К., Кутасов В. А. и др. Новые направления технологии МКП // Оптический журнал. 1993. № 1. — С.64−69.
- Кулов С.К. Микроканальные пластины.-Владикавказ, 2000.
- Кулов С.К. Системные основы технологии МКП.-Владикавказ, 1999.
- Вейнберг В.Б., Саттаров Д. К. Оптика световодов. JL: Машиностроение, 1977.
- Кулов С.К. Технология микроканальных пластин. -4.2. Рабочие стекла МКПО.-Владикавказ, 2000.
- Гречаник JI.A., Зайдель И. И., Иванова JI.H. и др. Восстанавливающиеся стекла и микроканальные пластины для рентгеновского усилителя яркости изображения // Оптико-механическая промышленность, 1973, -№ 1, С.41−44.
- Гречаник JI.A., Терпогосова И. З., Кутепова Р. Х. Стекла для микроканальных пластин // Микроканальные пластины: Тез. докл. Всесоюз. научно-технич. конф. -М, 1983, -С. 13−16.
- Полухин В.Н., Лобанова Н. В., Тютиков A.M., Русан В. Г. Новые стекла для изготовления микроканальных пластин // Микроканальные пластины: Тез. докл. Всесоюз. Научно-технич. конф. М., 1983, — С. 1619.
- Тютиков A.M., Тоисева М. Н., Полухин В. Н. и др. Исследование стекол для МКП // Микроканальные пластины: Тез. докл. Всесоюз. научно-технич. конф., М., 1983, 41, С. 19−22.
- Гречаник Л.А., Терпогосова И. З., Кутепова Р. Х. и др. Растворимые стекла новый материал для изготовления деталей приборов электронной техники. // Электронная техника, Сер. Материалы, Вып.6(205), 1985, С.32−35.
- Гречаник Л.А., Терпогосова И. З., Козлевский С. Ф. и др. Изменение состава и свойств стекол в процессе изготовления микроканальных пластин // Электронная техника, Сер. Материалы, 1984, № 12, С.45−49.
- Татаринцев Б.В., Полухин В. Н. Дилатометрическое исследование процессов, происходящих при изготовлении МКП // Микроканальныепластины: Тез. докл. Всесоюз. научно-технич. конф. М., 1985, — 42, -С.34−36.
- Гречаник J1.A. Разработка нового комплекта стекол для МКП в монолитном обрамлении // Микроканальные пластины: Тез. докл. научно-технич. конф. М., — 41. 1985. -С.43−44.
- Полухин В.Н. К вопросу выбора стекла монолитного обрамления МКП // Микроканальные пластины: Тез. докл. научно-технич. конф. М., 41. 1985. С. 63−65.
- Алаев В .Я., Погодаев А. К. и др. Исследование пограничных явлений при спекании стекол, используемых для изготовления волоконных структур // Микроканальные пластины: Тез. докл. научно-технич. конф. М., 41. 1985. С. 69.
- Татаринцев Б.В., Шепурев С. Э. Разработка составов стекол для двуслойного монолитного обрамления микроканальных пластин // Волоконная оптика: Тез. докл. Всесоюз. науч. конф. М., 1990. С. 234.
- Татаринцев Б.В., Алаев В. Я. Диффузия щелочных ионов и кислорода на границе спеченных щелочнобариевоборатного и щелочносвинцовосиликатного стекол // Физика и химия стекла. 1990. Т. 16, № 2, С.228−233.
- Петровский Г. Т., Канчиев З. И., Саттаров Д. К. и др. Исследование неоднородности и совместимости пар стекол для коммутационных волоконных световодов и волоконно-оптических элементов // Журнал прикладной химии., 1980, Т.31, № 5, С.1210−1216.
- Татаринцев Б.В. Диффузия на границе между сердцевиной и оболочкой при вытягивании стекловолокна // Физика и химия стекла., 1984, Т. 10, № 4, С73−82.
- Татаринцев Б.В., Полозок Н. В., Баранова И. О. Диффузия щелочных оксидов на границе между спеченными боратными и свинцовосиликатными стеклами // Физика и химия стекла, 1988, Т. 14, № 5, С.691−698.
- Степанов С.А., Подольская Т. М., Сорокина Т. Н. Исследование возможности снижения рабочего напряжения на МКП путем модификации состава стекла матрицы // Волоконная оптика: Тез. докл. Всесоюз. науч. конф., М., 1990, С. 232.
- Плетнева Н.И., Саттаров Д. К., Семенов Е. П. Микроканальные усилители яркости изображения // Оптико-механическая промышленность. 1976. -№ 1. -С.63−71.
- Pollehn Н.К. Image Intensifieres // Арр. Optics A. Optical engineering. 1980. V.6.- P.342−393.
- Fouassir M., Piaget C., Roaux E. Experimental and theoretical evacuations of 2nd and 3rd generation intensifiers viewing ranges // Photoelectric Imaging. -London. 1985. P. 9−12.
- Тютиков A.M., Кравчук Г. С. Микроканальные усилители яркости и методы их исследования // Приборы и техника эксперимента. 19. — № 9. -С. 193−196.
- Семенов Е.П. Электронно-оптические преобразователи и усилители яркости изображения // Оптико-механическая промышленность. 1987. -№ Ю. -С.48.
- Кесаев С.А., Кулов С. К., Макаров Е. Н., Платов Э. А., Сланова И. Р. Технологические проблемы создания МКП с высоким пространственным разрешением // Труды СКГТУ, вып.7, ч.2. -Владикавказ, 2000. -С. 105−111.
- Алкацева Т.Д., Кулов С. К. Влияние сопротивления каналов на сотовую структуру электронного изображения МКП // Электронные приборы и системы в промышленности: Тез. докл. Республ. науч. конф. -Владикавказ, 1994. С. 144−145.
- Алкацева Т.Д., Кулов С. К., Попова В. А., Козырев Е. Н. и др. Обработка каналов МКП под действием электронной бомбардлировки // НТК, посвященная 50-летию НИС СКГМИ (тезисы докладов). -Орджоникидзе, 1988.-С.23.
- Алкацева Т.Д., Кулов С. К. Требования к однородности каналов МКП с точки зрения исключения структурных шумов изображения // НТК, посвященная 60-летию НИС СКГТУ (сб.статей). -Владикавказ, 1999.-С.41−43.
- Макаров Е.Н., Алкацева Т. Д., Кесаев С. А., Кулов С. К. Влияние калибра каналов на характеристики МКП // Труды СКГТУ, вып.7, ч.2.~ Владикавказ, 2000.-С.90−96.
- Кесаев С.А., Кулов С. К., Макаров Е. Н., Платов Э. А., Сланова И. Р. Минимизация дефектов геометрической структуры МКП // Труды СКГТУ, вып.7, ч.2.-Владикавказ, 2000.-С.100−104.
- Кулов С.К. Шумы микроканальных ЭОП. -Владикавказ, 2000.
- Алкацева Т.Д., Гаврилов А. Ю., Кулов С. К., и др. Физика и поведение «сотовой структуры» электронного изображения МКП // Волоконная оптика: Тез. докл. Всесоюз. науч. конф. М., 1993. — С. 102−103.
- Алкацева Т.Д., Кулов С. К., Сланова И. Р. и др. Сотовая структура электронного избражения МКП (аналитический отчет), Владикавказ, 1998.
- Алкацева Т.Д., Кулов С. К., Кесаев С. А., Макаров Е. Н., Пергаменцев Ю. Л. Проблема сотовой структуры электронного изображения МКП // Микроканальные пластины (материалы научно-технических конференций), вып.1. -Владикавказ, 2002. -С. 110−115.
- Кулов С.К., Кесаев С. А., Пергаменцев Ю. Л. Частотно-контрастная характеристика бипланарной электронно-оптической системы МКП-экран // Вакуумная электроника на Северном Кавказе, региональная конференция, тезисы докладов. -Нальчик, 2001. -С.26−27.
- Кулов С.К., Кесаев С. А., Пергаменцев Ю. Л. Исследование разрешающей способности мелкоструктурных МКП //Вакуумная электроника на Северном Кавказе, региональная конференция, тезисы докладов. -Нальчик, 2001. -С.30−31.
- Кулов С.К., Кесаев С. А., Пергаменцев Ю. Л. Влияние напряжения питания и входного тока на разрешающую способность мелкоструктурных МКП // Вакуумная электроника на Северном Кавказе, региональная конференция, тезисы докладов. -Нальчик, 2001. -С.31−32.
- Кулов С.К., Кесаев С. А., Пергаменцев Ю. Л. Исследование разрешающей способности МКП с диаметром каналов 6 мкм // Микроканальные пластины (материалы научно-технических конференций), вып.1. -Владикавказ, 2002. -С.190−195.
- Кулов С.К., Кесаев С. А., Пергаменцев Ю. Л. Влияние напряжения питания и входного тока на разрешающую способность мелкоструктурных МКП // Микроканальные пластины (материалы научно-технических конференций), вып. 1 .-Владикавказ, 2002. -С. 196 200.
- Кулов С.К., Кесаев С. А., Пергаменцев Ю. Л. Влияние пространственных и временных шумов на предел разрешения МКП // Микроканальные пластины (материалы научно-технических конференций), вып.1,-Владикавказ, 2002.-С.144−147.
- Кулов С.К., Кесаев С. А., Пергаменцев Ю. Л. Разрешающая способность бипланарной электронно-оптической системы МКП // Микроканальные пластины (материалы научно-технических конференций), вып.1. -Владикавказ, 2002, -С. 153−165.
- Кулов С.К., Кесаев С. А., Пергаменцев Ю. Л. Пространственное разрешение геометрической структуры МКП // Микроканальные пластины (материалы научно-технических конференций), вып.1,-Владикавказ, 2002.-С. 137−143.
- Кулов С.К. Разрешение МКП. -Владикавказ, 2000.
- Алкацева Т.Д., Кулов С. К., Попова В. А. Эффективность тренировки поверхности каналов МКП с помощью электронной бомбардировки // Волоконная оптика: Тез. докл. Всесоюз. науч.конф.- М., 1990. -С.278.
- Леонов Н.Б., Тютиков A.M. Снижение фактора шума микроканальных пластин // Оптико-механическая промышленность. 1983. № 2. — С. 1013.
- Леонов Н.Б., Тютиков A.M., Единова И. А. Собственные шумы микроканальных пластин // Оптико-механическая промышленность. 1989.-№ 3.-С.9−11.
- Леонов Н.Б., Тютиков A.M., Тоисева М. Н., Черезова Л. А. Исследование шумов микроканальных пластин // Микроканальные пластины: Тез. докл. Всесоюз. научно-технич. конф. М., 1983. — С.73−76.
- Евдокимов В.Н., Тютиков A.M., Флегонтов Ю. А., Шиманская А. Влияние разброса координат падения электронов входного потока на усиление и фактор шума микроканального умножителя // Радиотехника и электроника. 1989. № 3. — С.601−605.
- Трофимова JI.C., Саттаров Д. К., Конаева Г. Я. Электронно-оптические параметры МКП // Микроканальные пластины: Тез. докл. Всесоюз. научно-технич. конф. М., 1983. — С.69−72.
- Кравчук Г. С., Тютиков A.M., Леонов Н. Б. О возможных причинах формирования «сетки» на электронном изображении систем с МКП // Микроканальные пластины: Тез. докл. научно-технич. конф. М., — 42. 1985. — С.25−26.
- Трофимов Л.С., Дунаева Т. Н., Чебан Г. А. Сетка на электронном изображении МКП и ее связь с режимами работы пластины // Микроканальные пластины: Тез. докл. научно-технич. конф. М., — 42. 1985. -С.43−44.
- Кулов С.К. Исследование факторов, определяющих разброс усиления каналов по полю МКП // Микроканальные пластины: Тез. докл. научно-технич. конф. М., — 42. 1985. -С.68−70.
- Журавлева Н.В. Анализ причин появления сетки и ее элементов в процессе производства МКП // Микроканальные пластины: Тез. докл. Всесоюз. научно-технич. конф. М., 1983. — С.59−60.
- Кулов С.К., Макаров Е. Н., Еремина А. Ф. и др. Физические причины и технологические факторы сотовой структуры и светлых пятен на электронном изображении МКП // Волоконная оптика: Тез. докл. Всесоюз.,. науч. конф. М., 1990. — С.263−264.
- Кулов С.К., Пашков В. М., Попов М. Н. и др. Классификация и анализ причин дефектов электронного изображения МКП // Микроканальные пластины: Тез. докл. Всесоюз. научно-технич. конф. М., 4.2, 1985, С.15−16.
- Якобсон A.M. Оценка коэффициента умножения вторично-электронного умножителя с непрерывным динодом //Радиотехника и электроника. 1986. T. I 1., № 10. — С. 1813−1825.
- Кравчук Г. С., Петрова И. Р., Тютиков A.M. и др. Оптимизация параметров электронно-оптических систем с каналовым усилением яркости // Оптико-механическая промышленность. 1988. № 7. — С. 1920.
- Guest A.J. A computer model of channal multiplier plate performance // Acta Electronics. 1971 .-V. 14, N? 1 .-P.79−98.
- Adams J., Manley B.W. The mechanism of channel electron multiplication // IEEE Trans. Nucl. Science. 1966, — № 5. P.88−99.
- Eschard G., Manley B.W. Principle and characteristics of channel electron multipliers // Acta Electronics. 1971. V. I 4, № 1.-P. 19−39.
- Loty C. Saturation effects in channel electron multiplier // Acta Electronics. 1971.-V.I 4, -P. 107−119.
- Soul P.B. Opnational properties of channel plate electron multipliers // Nuclear Instruments and Methods. 1971. V.97, № 3. — P.555−556.
- Гаврилов А.Ю., Кулов C.K., Козырев E.H. Исследование влияния технологических и внешних факторов на вторично-электронную эффективность каналов МКП // Волоконная оптика: Тез. докл. Всесоюз. науч. конф. М., 1993.-С. 100−101.
- Гаврилов А.Ю., Кулов С. К. Физическая модель вторичной электронной эмиссии резистивно-эмиссионного слоя каналов МКП // К 100-летию со дня рождения профессора Агеенкова В. Г.: Тез. докл. отчетной науч,-технич. конф СКГМИ. -Владикавказ, 1993.- С. 112.
- Гаврилов А. Ю, Кулов С. К. Состояние поверхности и вторичная электронная эмиссия восстанавливающихся свинцово-силикатных стекол // Электронные приборы и системы в промышленности: Тез. докл. Республ. науч. конф. Владикавказ, 1994. — С. 131−133.
- Гаврилов А.Ю., Кулов С. К., Козырев Е. Н. Вторичная электронная эмиссия стекол. МКП // Волоконная оптика: Тез. докл. Всесоюз. науч. конф. М., 1990. — С. 235−236.
- Чуйко Г. А., Файнберг Е. А., Сиприков И. В., Гречаник JI.A. Вторичная электронная эмиссия восстановленных в водороде высокосвинцовых стекол с повышенной поверхностной проводимостью. // Известия АНСССР, серия физическая, 1964, Т.28, № 9, С. 1516−1521.
- Улько Ю.Н., Файнберг Е. А. Исследование стабильности вторично-эмиссионных характеристик восстановленных в водороде свинцовосодержащих стекол при их прогреве на воздухе и в вакууме // Электронная техника, серия X, 1966, вып. 4, С.51−57.
- Улько Ю.Н., Файнберг Е. А. О влиянии термообработки свинцовосиликатных стекол в водороде на коэффициент вторичной электронной эмиссии // Неорганические материалы, 1998, Т.7, № 2, С.345−347.
- Улько Ю.Н., Файнберг Е. А. Исследование вторичной электронной эмиссии некоторых стекол // в кн. «Стеклообразное состояние», Ереван, 1970, С.186−189.
- Улько Ю.Н. Влияние состава на вторичную электронную эмиссию стекол // Электронная техника, сер. Материалы, 1975, вып.1, С.87−94.
- Authinarayanak A., Dudding R.W. Changes in secondary electron yield from reduced lead glass // Adv. Electr. And Electron Phys., 1976, V.40A, P.167−181.
- Браздниченко X.H., Пронин В. И., Тютиков A.M. и др. Вторично-эмиссионная эффективность свинцовосиликатных стекол // Тез. докл. по ЭОС и эффективным фотоэмиттерам IV Всесоюз. симп. По ВЭЭ и ФЭЭ, Л., 1981, С.32−33.
- Hill G.E. Secondary electron emission and compositional studies on channel plate glass surfaces. Adv.Electr. Electr. Phys., 1976, v. 40A, p. 153−165.
- Blasek G., Shmidt H. Secondary Electron Emission of Reduced Lead Glass. -Experimentelle Technik der Physik, 1979, № 1, p.65−69.
- Тютиков A.M., Королев H.B., Тоисева M.H. и др. Исследование состава поверхностного слоя и коэффициента вторичной электронной эмиссии свинцово-силикатных стекол // Оптико-механическая промышленность. 1980, № 4, С. 11−13.
- Леонов Н.Б., Тютиков A.M. и др. Влияние структуры свинцово-силикатных стекол на коэффициент вторичной электронной эмиссии // Физика и химия стекла, 1984, Т. 10, № 5, С.686−690.
- Леонов Н.Б., Волков А. С., Подольская Т. М. и др. Исследование связи вторично-эмиссионных параметров стекол со свойствами МКП // Микроканальные пластины: Тез. докл. Всесоюз. научно-технич. конф. -М., Ч1, 1985, С. 24.
- Ю5.Симеонова Ю. М., Куртев И. С. О вторичной электронной эмиссии восстановленного свинцово-силикатного стекла // Доклады Болгарской академии наук, 1988, Т.41, № 11, С.57−58.
- Гусаров А.И., Машков В. А., Тютиков A.M. Об аддитивности вторичной электронной эмиссии свинцово-силикатных стекол // Физика и химия стекла, 1987, Т. 13, № 1, С.34−38.
- Леонов Н.Б., Волков А. С., Мурашов С. В. и др. Влияние структуры свинцовосиликатных етекоп на их коэффициент вторичной электронной эмиссии // Физика и химия стекала, 1988, Т. 14, № 5, С.686−690.
- Артамонов A.M., Елисеев С. А., Мулар О. Е. и др. Строение поверхности и механизм вторичной эмиссии восстановленных свинцово-силикатных стекол // Волоконная оптика: Тез. докл. Всесоюз. науч. конф. М., -1990.-С.237.
- Гусаров А.И., Машков В. А., Мурашов С. В. и др. Современные представления о механизме вторичной эмиссии кварца и стекол МКП // Волоконная оптика: Тез. докл. Всесоюз. науч. конф. М., 1990. — С.231.
- ПО.Шахмин А. Д., Подольская Т. М., Сорокина Т. Н. и др. Вторичная электронная эмиссия и электронная структура свинцовосиликатных стекол // Волоконная оптика: Тез. докл. Всесоюз. науч. конф, М., 1993, С. 112.
- Кулов С.К., Кесаев С. А. Расчет фактора шума МКП методом производящих функций // Микроканальные пластины (материалы научно-технических конференций), вып.1. -Владикавказ. 2002.-С.201−206.
- Яноши JI. Теория и практика обработки результатов измерений, пер. с англ., -М.: Мир, 1968.
- Fraser G.W. The Gain Characteristics of MCP for X-Ray photon counting // IEEE Tr. on Nucl. Science. 1983. V. NS-30. № 1. C. 455−460.
- Родионов И. Д., Тремсин А. С., Рембеза А. И., Райкунов Г. А. Математическая модель КЧД на МКП- ВЦММ РАН, М., 1992.
- Кулов С.К., Кесаев С. А. О работе МКП в режиме зарядового насыщения // Микроканальные пластины (материалы научно-технических конференций), вып.1.-Владикавказ, 2002. -С. 175−181.
- Кулов С.К., Вторичная электронная эмиссия восстановленных свинцовосиликатных стекол. -Владикавказ, 2000.
- Саттаров Д.К., Печорская К. П., Канаева Г. Я. и др. Методы контроля стеклянных матриц МКП // Волоконная оптика, вып. З, т.2, -М.: ВИМИ, 1975,61−74.
- Лисица, М.П., Бережинский Л. И., Валах М. Я. Волоконная оптика.-Киев: Наукова Думка, 1968.
- Зиновьев А.Л., Филипов Л. И. Введение в теорию сигналов и цепей. -М.: ВШ, 1968.
- Барб Д., Кэман С. Редукция пространственной частоты и ЧКХ многоэлементных фотоприемников, в кн. Полупроводниковые формирователи сигналов изображения, пер. с англ., М.: Мир, 1979.
- Валюс Н.А. Растровая оптика.-М.: ГИТТЛ, 1949.
- Басяева Л.И., Плетнева Н. И., Семенов Е. П. ЧКХ ЭОС с микроканальным каскадом усиления // ОМП. 1972.-№ 1, 8−11.
- Сень Ю.В., Леонов Н. Б., Кравчук Г. С., Тютиков A.M., Флегонтов Ю. А. Методика измерения ЧКХ ЭОС // ОМП, 1983,-№ 11, 4−6.
- Гусельников B.C. Разрешающая способность ЭОС, образованной плоскопараллельным электростатическим полем// Труды конф. по электронной техн., 111 Всесоюзная НТК по ЭЛП и ФЭУ, 1969, т.4, 137 142.
- Семенов Е.П. Зависимость разрешающей способности иммерсионных электростатических линз от величины напряженности электрического поля у фотокатода // РиЭ, 1968, № 2, 334−339.
- Косида, Хособути. Энергетические спектры электронов, вылетающих из микроканальной пластины // Приборы для научных исследований (пер. с англ.) 1985. № 7. — С.23−26.
- Косида. Влияние конструкции выходного электрода на энергетический спектр электронов, вылетающих из МКП // Приборы для научных исследований (пер. с англ.). 1986. № 3, -С.30−34.
- Тютиков A.M., Цой Л.Б. Распределение электронов, выходящих из микроканальных пластин, по энергиям и направлениям// Оптико-механическая промышленность. 1976.- № 2. С. 20.
- Бронштейн И.М., Евдокимов А. В., Стожаров В. М., Тютиков A.M. Дифференциальные вторично-эмиссионные характеристики микроканальных пластин // Радиотехника и электроника. 1979. Т.24, № 4. — С.871−874.
- Евдокимов В.Н., Кудря А. А., Тютиков A.M. и др. О распределении плотности тока в изображении канала мультидина // Радиотехника и электроника. 1984, — Т.2, № 2.- С. 390.
- Петровский Г. Т., Саттаров Д. К., Державин С. В. Изменение параметров МКП при термоводородном восстановлении // Микроканальныепластины: Тез. докл. Всесоюз. научно-технич. конф. М., 1983, С. 103 105.
- Канчиев З.И., Татаринцев, Б.В. Дилатометрические исследования процессов восстановления и термостабилизации МКП // Волоконная оптика: Сб. тезисов научн. конфер., 1993, С. 122−123.
- Кулов С.К., Кесаев С. А., Макаров Е. Н., Попугаев Б.Г.,. Пути снижения газовыделения и повышения термовакуумной устойчивости МКП // Вакуумная электроника на Северном Кавказе, региональная конференция, тезисы докладов. -Нальчик, 2001. -С.27−28.
- Кулов С.К. Газосодержание и газовыделение МКП. -Владикавказ: СКГТУ, 2000.
- Технические условия АБ 37−88 на МКП 10−34.
- Техническое задание на ОКР «Горизонт», 28.06.1991.
- Техническое задание на ОКР «Уровень», 26.01.1993.
- Техническое задание на ОКР «Микро», 26.10.1995.
- Техническое задание на ОКР «Мираж-1», 12.2.1996.
- Техническое задание на ОКР «Маска-2Б», 15.2.1999.
- Техническое задание на ОКР «Лава-1», 27.4.2000.
- Microhannel Plate Specification for 25 mm Image Intenifer, Doc.№ 47A0005, 51 298, 600C00849 (Ni-Tec), 600C00340 (Varian), 600C00763 (Galileo), 9.2.1985.
- Техническая спецификация на МКПО H33SE диаметром 32,7 мм, диаметром каналов 12 мкм, углом наклона каналов 11°, Philips, Doc: H33SE.590, 15.06. 1990.
- Техническая спецификация на МКПО L25 диаметром 24,8 мм, диаметром каналов 10 мкм, Philips, Doc: L25.590, 23.02.1990.
- Техническая спецификация на МКПО-18, DEP, 120−0152АО, 1995.
- Техническая спецификация на МКПО-18 диаметром каналов 10 мкм, Galileo, 28 719, 4 900 033, Rev. G 1/8/93.153
- Техническая спецификация на МКПО-18, диаметром каналов 10 мкм, Proxitronic, 1В9 168, 1994.
- Ni-Tec 18 mm and 25 mm MCP SPECIFICATIONS, 1995
- Пат. 2 187 166 РФ, МПК 7 Н 01 J 9/02, С23 С 14/24. Способ изготовления микроканальной пластины / С. К. Кулов, Ю. Л. Пергаменцев, С. А. Кесаев, Э. А. Платов. Заявлено 15.08.2000- Опубл. 10.08.2002, Бюл. 22.