Комплексная методика исследования полупроводниковых кремниевых детекторов и их применение в физике высоких энергий
Диссертация
Научная новизна и практическая ценность работы обеспечивается тем, что впервые рассмотрен последовательный подход к оценке параметров и методике исследования координатных КД. Разработаны система оценки параметров КД, позволяющая теоретически построить его физическую модель (и эквивалентную схему), и система тестов произведенного детектора, позволяющая получать реальные физические параметры… Читать ещё >
Содержание
- ГЛАВА 1. КООРДИНАТНЫЕ КРЕМНИЕВЫЕ ДЕТЕКТОРЫ
- 1. 1. Введение
- 1. 2. Основные типы ККД
- 1. 3. Детекторы с внутренним усилением
- ГЛАВА 2. МЕТОДИКА ОЦЕНКИ ПАРАМЕТРОВ ККД
- 2. 1. Статические характеристики P-N перехода
- 2. 2. Динамические характеристики P-N перехода
- 2. 3. Электрический пробой P-N перехода
- 2. 4. Моделирование свойств P-N перехода
- 2. 5. Оценка основных параметров детектора
- ГЛАВА 3. ИЗМЕРЕНИЯ И АНАЛИЗ ДАНШЖ
- 9. ¦ 1 ¦
- 3. 1. Измерение ВАХ
- 3. 2. Измерение ВФХ
- 3. 3. Измерение переходной характеристики
- 3. 4. Измерение параметров детекторов
- 3. 4. 1. Измерение напряжения полного обеднения и рабочего напряжения
- 3. 4. 2. Особенности исследования МКОД и МКДД
- 3. 4. 2. Измерение микрополосковых и межполосковых емкостей
- 3. 4. 4. Измерение параметров КДД
- 3. 5. Моделирование характеристик детектора с предусилителем
- 9. ¦ 1 ¦
- 4. 1. Система калибровки триггера множественности для эксперимента CERES/NA
- 4. 2. Система считывания для тестов КДД (ALICE) на основе SCA
- 4. 2. 1. Гибридная ИС PASA-SCA
- 4. 2. 2. Общее описание системы считывания и КДД
- 4. 2. 3. Результаты тестирования прототипа
- 5. 1. Отрицательная Обратная Связь в радиотехнике
- 5. 2. ООС в лавинных фотодиодах
- 5. 3. Вычисление коэффициента ООС
- 5. 4. Расчет переходной характеристики КЛФООС
- 5. 5. Применение лавинного усилителя в КДД
Список литературы
- J. Kemmer, N1., 169 (1980) р.499
- R. Hofman et al., NIM, 226 (1984) p. 196
- W.R.Th Ten Kate et al., NIM, A253 (1987) p.333
- M. Caccica et al., NIM A260 (1987) p. 124
- V. I. Astakhov et al., JINR Rapid Communication, N1 40] (1990) p.45
- E.H.M.Heijne et al, Nucl.Instr.&Meth, A253(1987) pp.325−332
- A.S.Grove, Phys.&Technol. of Semic. Devices, Jolm Wiley&Sons, N-Y, 1967
- W.R.Th.Ten Kate, Nucl.Instr.&Meth., A253(1987) pp.333−349
- J.Kemmer, Nucl.Instr.&Meth.226 (1984) pp.89−93
- J.B.Gunn, Solid-St.Electron., 7(1964), pp.739−742
- R.Sonnenblick et al., Nucl.Instr.&Meth., A310(1991) pp.189−191
- A.Castoldi, P. Rehak et al, Nucl.Instr.&Meth., A439(2000) pp.275−281
- J. Kemmer and G. Lutz., NIM, A273 (1998) pp.588
- B.S. Avset et Al., Preprint CERNEP/90-ll, Jan. 23, 1990
- E.Gatti, P.E.Manfredi et al, Nucl. Instr&Meth.221(1984) pp.536−542
- J.T.Walker, S. Parker et al., Nucl.Instr.&Meth.226(1984) pp.200−203
- P.Jarron, M. Goyot, Nucl.Instr.&Meth.226(1984) pp.156−162
- P.Eichinger, Nucl.Instr.&Meth., A253(1987), pp.313−318
- E.Schibli, A. G Milnes, Solid-State Electronics, Pergamon Press 1968, Vol.11 pp.323−334
- G.H.Glover, IEEE Trans, on El. Devices, Vol. ed-19/2, 1972, p. 138
- R. Bailey et al., NIM, 226 (1984) pp.56
- A. Litke et al., NIM, A265 (1998) pp.93
- E. Gatti P. Rehak. NIM, 225 (1984) pp.60 824. http://wa98.web.cern.cli/WA98/
- Esumi S. for NA45 Collaboration,! 5th Winter Workshop on Nuclear Dynamics, Park City, UT, USA, 9 -16 Jan 1999, pp.233−40
- J. Takahashi et al. NIM A439 (2000) pp. 497−506.
- G.Dellacasa, et al., «Inner tracking System ALICE Technical Design Report», CERN/LHCC 99−12, ALICE TDR 4
- J. Kemmer et al., NIM A253 (1987) pp.378
- K. Yamamoto et al., NIM, A253 (1987) pp.542
- J. Sonsky et al., IEEE Trans. On Nucl. Sci., Vol.2 (1999)
- E.Laegsgaard, Nucl. Instr&Meth. 162(1979) pp.93−111
- N.J.Hansen, D.J.Henderson, R.G.Scott, Nucl.Instr.&Meth. 105(1972) pp293
- A.Litke et al., Nucl.Instr.&Meth., A265(1988), pp.93−98
- J.Kemmer, G. Lutz, nucl.Instr.&Meth., A273(1988), pp.588−598
- A.H.Walenta, Nucl.Instr.&Meth., A253(1987), pp.558−571
- J.W.Mayer, IRE Trans.Nucl.Sci.NS-7(1960), pp. 178−180
- P.U.Calzolari, S. Graffi, Solid-St.Electro.l5(1972), pp.1003−1011
- J.Kemmer, Nucl.Instr.&Meth. 169(1980), pp.499−502
- W.Fichtner et al., IEEE Trans.Electr.Dev. ed-30(1983), pp.1018−1030
- B.W.Battershall et al., IEEE J. Solid-St.Circuits SC-3(1968), pp.107−112
- R.F.Fowler et al., Nucl.Instr.&Meth., A450(2000), pp.75−87
- A.R.Frederickson, A.S.Karakashian, J.Appl.Phys., Vol.77(4), 1995, p. 1627
- O.B. Константинов, О. А. Мезрин, Физика и техника полупроводников, т. 18, вып. 12, стр.2166
- S.M.Sze, Phys. of Semic. Devices, John Wiley&Sons, N-Y, 1969
- P.J.Van Wijnen, W.R.Th.Ten Kate, Nucl.Instr.&Meth., A253(1987), p.351
- G.Vansraelen et al., Nucl.Instr.&Meth., A288(1990), pp. 48−53
- J.R.Hauser, P.M.Dunbar, Solid-St.Electorn. 18(1975), pp.715−716
- W.M.Bullis, Nat. Bureau of Standards, Tech.Rep.AFML-TR-68−108,1968
- D.T.Stevenson, R.J.Keyes, J.Appl.Phys.26(1995), pp. 190−19 550. «Photodetectors and Fiber Optics», Academic Press, pp. 307−368 (2001)
- G.E.Stillman, C.M.Wolfe, in Semiconductors and Semimetals vol.12: Infared Detectors II, R.K.Willardson, Academic press, 1977, p.330
- R.J.McIntyre, IEEE Trans.Electron.Dev ED-13, 164(1966)
- В. Гольбрайг, Г. А. Сокол, В. E. Шубин., Квантовая электроника (1975) стр. 2624
- Akindinov А. V. et al., NIM, А 387 (1999) pp.231−234
- SadygovZ. Ya. SuleimanovM. K. BokovaT. Yu., hep-ex/9 909 017, 13 Sep 1999.
- J.Kemmer et al., IEEE Trans.Nucl.Sci. NS-29(1982), pp.733−737
- M.Byczkowski et al., J.Appl.Phys. 28(1957), pp.878−881
- Ю. А. Тхорик, «Переходные процессы в импульсныхполупроводниковых диодах», Изд. Киев 1968, стр. 147
- S.R.Forrest et al., Appl.Phys.Lett. 36, 580(1980)
- K.G.McKay, Phys.Rev.94, 877(1954)
- A.Lacaita et al., Physics Research A: Nucl.Instr.&Meth. A326, 290(1993)
- M. Шур «Физика полупроводниковых приборов», том 1, Изд. Москва1. Мир> 1992, стр 191
- Ф. Бубенеч и др. «Моделирования СБИС»., М <Энергия> 1994
- P.Rehak, «User manual for POSIBIN symulation» June-199 766. «User manual for SPICE symulation» BNL-1993
- K.Yamamoto, K. Yamamura, Nucl.Instr.&Meth., A326(1993), pp.222−227
- M.Caccia et al., Nucl.Instr.&Meth., A260(1987), pp.124−131
- E.Barberis, N. Cartiglia et al., IEEE Trans, on Nucl. Science, Vol.41(4), 1994, p.785
- Z.Li, Nucl.Instr.&Meth., A403(1998), pp.399−416
- J.C.Lund, F. Olschner, Nucl.Instr.&Meth., A288(1990), pp.31−34
- E.Gatti et al, Nucl.Instr.&Meth., A253(1987), pp.393−399
- W.R.Th.ten Kate, IEEE Trans.Nucl.Sci. NS-34(1987)
- E.Belau et al., Nucl.Instr.&Meth., 214(1983), pp.253−260
- W.Seibt, Nucl.Instr.&Meth., 113(1973), pp.317−324
- I.Duerdoth, Nucl.Instr.&Meth., 203(1982), pp.291−297
- W.R.Th.ten Kate, Nucl.Instr.&Meth., A253(1987), pp.333−349
- H.W.Kraner et al., IEEE Trans.Nucl.Sci., NS-30(1983), pp.405−414
- C.T.Sah et al., proc. IRE 45(1957) pp. 1228−1243
- J.van der Spiegel, G.J.Declerck, Solid-St.Electron.24(1981), pp.869−877
- D.K.Schroder, IEEE trans.Elect.Dev. ed-29(1982), pp.1336−1338
- B.Ross, ASTM Spec.Tech.Publ.STP-712, 1980, pp. 14−28
- W.R.Runyah, Texas Instr.El.series, McGraw-Hill, N-Y, 1975, pp. 105−129
- A.M.Goodman, J.Appl.Physics, Vol.34(2), 1963, p.329
- B.B. Батавин и др.," Измерение параметров полупроводников материалов и структур", М., Радио и связь, 1985, стр. 83
- M.A.Frautschi, 1995, cdf/doc/secvtx/cdfr/2546
- N. Randazzo et al., NIM A420 (1999) pp.279−287
- J.Kemmer, D. Hauff, Nucl.Instr.&Meth., A439(2000), pp. 199−207
- W.R.Dawes, Nucl.Instr.&Meth., A288(1990), pp.54−61
- Л.С.Бергман, А. А. Лебедев, «Емкостная спектроскопия полупроводников», М <Энергия> 1974, стр.17
- P.J. Van Wijen at al., NIM A253 (1987) pp.351−359
- T.W. Jung at al., IEEE Trns, Electr. Dev., ED-31 (1984) pp.588−595
- Kouchpil V.V., Kouchpil S.A., Rapid JINR communication, 3(95), 1999
- S.Roe, T.J.Sumner, Nucl.Instr.&Meth., A310(1991), pp. l92−196
- J.Kemmer, G. Lutz, Nucl.Instr.&Meth., A253(1987), pp.365−377
- J.Cazaux et al., IEEE Trans. on el. devices, Vol.35(8), 1988, p. 122 397. http: //hp. uj f. cas. cz/alice/sdd/detectorsel. htm
- A.Litke et al., Nucl.Instr.&Meth., A260(1987), p.124
- K.Yamamoto et al., Conference Record of the 1991 IEEE, p.294
- C.Haber et al., IEEE Trans.Nucl. sci NS-37(1990), p. l 120
- H.Ikeda et al., KEK preprint 91−122(1991)
- K.Yamamoto et al., presented at the Sexth Symposium on Semiconductor Detector, Milano, 1992
- M. Edwards, D.R.Perry, Rutherford Appleton Laboratory Report, RAL-90−065(1990)
- A.Rashevsky et al. NIM A461 (2001) pp.133−138.
- E.Gatti et al., Nucl.Instr.&Meth., 188(1981), pp.327−346
- R.Hofmann et al., Nucl.Instr.&Meth., 226(1984), pp.196−199
- Ch.Adolphsen et al., Nucl.Instr.&Meth., A253(1987), pp.444−449
- Golutvin I. A et al., CERNE14−95−97. March 1995.
- V. Bonvicini et al. NIM A439 (2000) pp.476−482
- D.Lynn et al. NIM A447 (2000) pp.264−273 111. «Application Manual for TLC5510», Texas Instruments, 1 998 112. http://www.softcircuits.com/swtools.htm
- Sadygov Z. Y. et. al.: NIM A383 (1996) pp. 263
- Webb P.P. et al., RCA Rev. 35 (1974) p.234
- V.V. Kushpil: Czech. J. Phys. Vol. 47 (1997) No. 9, p 905.
- Czech. J. Phys. Vol. 48 (1998), Suppl. Sl, 97−103
- V.V. Kushpil at al., Nucl.Phys.Proc.Suppl.44:402−405,1995
- V.V. Kushpil at al., Nucl.Instrum.Meth.A367:212−214,1995
- V.V. Kushpil at al., Nucl.Phys.Proc.Suppl.44:397−401,1995
- Kouchpil V.V., Kouchpil S.A., Rapid JTNR communication, 3(95), 1999
- Sonsky J., Hollander R.W., van Eijk C.W.E., Sarro P.M.- Kouchpil V., IEEE Trans. Nucl. Sci. 48(3-part 1), June 2001, pp. 258−261.