Многоволновая и квазимноговолновая дифракция рентгеновских лучей в кристаллах парателлурита и лангатата
Интенсивное развитие физики конденсированного состояния, современного материаловедения, нанотехнологий, а также биотехнологий в значительной степени связано с прогрессом в области создания и совершенствования методов исследования на основе рассеяния рентгеновских лучей. В ряду указанных методов рентгенодифракционные занимают особое место в силу высокой чувствительности и информативности… Читать ещё >
Содержание
- Цели и задачи работы
- ГЛАВА 1. МНОГОВОЛНОВАЯ РЕНТГЕНОВСКАЯ ДИФРАКЦИЯ В
- КРИСТАЛЛАХ И ВОЗМОЖНОСТИ ЕЕ ИСПОЛЬЗОВАНИЯ ДЛЯ РАЗРАБОТКИ ФАЗОЧУВСТВИТЕЛЬНЫХ МЕТОДОВ ИССЛЕДОВАНИЯ
- 1. 1. Особеннос ти рассеяния рентгеновских лучей в условиях многоволновой дифракции
- 1. 1. 1. Основные уравнения динамической теории многоволновой дифракции
- 1. 1. 2. Экспериментальное наблюдение и применения многоволновой дифракции
- 1. 2. Высокоразрешающие фазочувствительные методы исследования на основе многоволновой дифракции
- 1. 3. Выводы к главе 1
- 1. 1. Особеннос ти рассеяния рентгеновских лучей в условиях многоволновой дифракции
- ГЛАВА 2. ОСОБЕННОСТИ ПОИСКА ПАР КОМПЛАНАРНЫХ РЕФЛЕКСОВ И ВОЗМОЖНОСТИ РЕГУЛИРОВКИ ИХ ВЗАИМНОГО ПОЛОЖЕНИЯ
- 2. 1. Расчет и поиск пар компланарных рефлексов
- 2. 2. Особенности изучения на лабораторном источнике. Регулировка взаимного положения пары рефлексов подстройкой азимутального угла Дф
- 2. 3. Особенности изучения с использованием синхротронного излучения. Регулировка взаимного положения пары рефлексов подстройкой по энергии (длине волны ДА,)
- 2. 4. Рентгеноакустические взаимодействия в кристаллах. Регулировка взаимного положения пары рефлексов с помощью модуляции межплоскостного расстояния М
- 2. 4. 1. Методика модуляции Ас1 на основе создания ультразвуковых деформаций в кристалле. Составной резонатор
- 2. 4. 2. Способы управления ультразвуковым градиентом деформации: с помощью изменения частоты колебаний, путем регулировки амплитуды колебаний
- 2. 5. Выводы к главе 2
- ГЛАВА 3. ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНАЯ УСТАНОВКА И ИССЛЕДУЕМЫЕ ОБРАЗЦЫ
- З.И Исследуемые образцы
- 3. 2. ЭкспериментальнаЯ (УСтановка
- 3. 2. 1. Общая шрентгенооптическая схемы экспериментальной установки
- 3. 2. 2. Специальные узлы схемы и их применение
- 3. 2. 3. Калибровка спектрометра ТРС и измерение двухкристальных кривых дифракционного отражения
- 3. 3. Выводы к главе 3
ГЛАВА 4. РЕЗУЛЬТАТЫ ИССЛЕДОВАНИЙ МНОГОВОЛНОВОЙ ДИФРАКЦИИ В КРИСТАЛЛАХ ПАРАТЕЛЛУРИТА ПРИ РАЗЛИЧНЫХ СООТНОШЕНИЯХ ИНТЕНСИВНОСТЕЙ ВЗАИМОДЕЙСТВУЮЩИХ РЕФЛЕКСОВ, РАЗЛИЧНЫХ ВЕЛИЧИНАХ ВКЛАДА ЭФФЕКТА ВИРТУАЛЬНОГО БРЭГГОВСКОГО РАССЕЯНИЯ.
4.1. Исследование трехволновой дифракции в схеме высокоразрешающей двухкристальной дифрактометрии.
4.1.1. Схема эксперимента.
4.1.2. Реализация трехволнового случая дифракции (110, 557).
4.1.3. Наблюдение трехволнового взаимодействия при наличии вклада эффекта виртуального брэгговского рассеяния для случая дифракции (220, 371).
4.1.4. Компьютерное моделирование. Сравнение экспериментальных и теоретических результатов.
4.1.5. Наблюдение сильного эффекта виртуального брэгговского рассеяния для трехволнового случая дифракции (220, 464).
4.1.6. Компьютерное моделирование. Сравнение экспериментальных и теоретических результатов.
4.2. Исследование трехволновой дифракции с использованием синхротронного излучения. Трехволновыесхемы (220, 371),
220, 464), (110, 557), (220, 370).
4.2.1. Схема эксперимента.
4.2.2. Проведение эксперимента. Результаты эксперимента.
4.2.3. Компьютерное моделирование. Сравнение экспериментальных и теоретических результатов. Обсуждение результатов.
4.3. Исследование трехволновой дифракции в (+ш1, -ш2, +п)-схеме высокоразрешающей дифрактометрии с двумя монохроматорами. Трехволновые случаи (220,371), (220,464).
4.3.1. Схема эксперимента.
4.3.2. Проведение эксперимента. Результаты эксперимента.
4.3.3. Сравнение экспериментальных и теоретических результатов. Обсуждение результатов.
4.4. Выводы к главе 4.
ГЛАВА 5. РЕЗУЛЬТАТЫ ИЗМЕРЕНИЙ ЛОКАЛЬНЫХ ЗНАЧЕНИЙ ПАРАМЕТРОВ РЕШЕТКИ В КРИСТАЛЛАХ ЛАНТАН-ГА Л ЛИЕВ ОГО ТАНТАЛАТА И ПАРАТЕЛЛУРИТА С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ ПАРЫ КВАЗИМНОГОВОЛНОВЫХ РЕФЛЕКСОВ.
5.1. Некоторые особенности локальных измерений параметров кристаллической решетки в кристаллах средних сингоний.
5.2. Пары компланарных рефлексов в кристаллах ЬвТ, Те02 для исследований.
5.3. Измерения микромасштабных неоднородностей параметра решетки кристаллов LGT.
5.3.1. Схема эксперимента. Методики измерений. yjp
5.3.2. Проведение экспериментов с пространственным разрешением не хуже 140 мкм. Результаты экспериментов. ?
5.3.3. Проведение экспериментов с пространственным разрешением не хуже 90 мкм. Результаты экспериментов.14g
5.4. Измерения микромасштабных неоднородностей параметра решетки кристалла Те02.
5.4.1. Схема эксперимента. Методики измерений.
5.4.2. Результаты эксперимента.
5.5. Реализация способа перестройки взаимного углового положения пары рефлексов в компланарной геометрии квазимноговолновой дифракции путем ультразвуковой модуляции межплоскостного расстояния m.
5.5.1. Схема эксперимента. Проведение эксперимента.
5.5.2. Результаты эксперимента./
5.6. Выводы к главе 5.
ВЫВОДЫ И ОСНОВНЫЕ РЕЗУЛЬТАТЫ РАБОТЫ.
- 3. 2. ЭкспериментальнаЯ (УСтановка
Список литературы
- P. P. Ewald, «Zur Begrundung der Kristalloptic, Teil 1», Ann. Phys., 1916, 49, 1−38
- P. P. Ewald, «Zur Begrundung der Kristalloptic, Teil 2», Ann. Phys., 1916, 49, 117−143
- P. P. Ewald, «Zur Begrundung der Kristalloptic, Teil 3», Ann. Phys., 1917, 54,519−597
- M. Laue, «Ergebnisse der Exakten Naturwissenschaften, vol. 10», Berlin, Springer, 1931, p. 133−158
- M. Laue, Rontgenstrahl-Interferensen, Academische Verlag, Frankfurt, 1960
- Afanas’ev A.M., Kagan Yu., The role of lattice vibrations in dynamical theory ' '1 ' of X-rays//Acta Cryst., 1967, V. A24, P. 163−170
- P. Penning, «Dynamical Theory for Simultaneous X-Ray Diffraction «, in: Advances in X-Ray Analysis, vol. 10, N.Y., Plenum Press, 1967, p.67−79
- P. Penning, «Dynamical Theory for Simultaneous X-ray Diffraction. Part 2. Application to the Three-Beam Case», Philips Res. Rep., 1968, 23, 12−24
- P. Penning, D. Polder, «Dynamical Theory for Simultaneous X-ray Diffraction. Part 1. Theorems Concerning the n-Beam Case», Philips Res. Rep., 1968, 23, 1−11
- A. M. Afanasev, V. G. Kohn, «On the Theory of Simultaneous X-Ray Diffraction», Acta Cryst. A., 1976, 32, 308−310
- R. Hoier, A. Aanestad, «Three-beam effects in Pendellosung fringes», Acta Cryst. A, 1981,37, 787−794
- R. Hoier, K. Marthinsen, «Effective structure factors in many-beam X-ray diffraction use of the second Bethe approximation», Acta Cryst. A, 1983, 39, I854.860
- К. Marthinsen, R. Hoier, «Many-Beam Effects and the Phase Information in Electron Channeling Patterns», Acta Cryst. A., 1986, 42, 484−492
- Colella R., Multiple diffraction of X-rays and the phase problem. Computational procedures and comparison with experiment// Acta Cryst., 1974, v. A30, p.413−423
- Kohn V.G., On the theory of the Bragg reflection in the case of multiple x-ray diffraction// Phys. Status Solidi (a), 1979, v.54, p. 375−384
- Chang Sh.-L., // Acta Cryst., 1979, v. A3 8, p.543
- Kohn V.G., A theory of multiple Bragg diffraction of x-rays in multilayer crystal systems// J. Moscow Phys. Soc., 1991, v. l, N 4, p.425−434
- Huang H.-H., Chang Sh.-L., Theoretical consideration on two-beam and multi-beam grazing-incidence x-ray diffraction: Nonabsorbing case// Acta Cryst., 1989, v. A45, p.823−833
- Пинскер З.Г. Рентгеновская кристаллооптика// M.: Наука, 1982
- Чжан Ш. Многоволновая дифракция рентгеновских лучей в кристаллах. Пер. с англ. М.:Мир, 1987
- S. A. Stepanov, А. P. Ulyanenko, «A New Algorithm for Computation of X-ray Multiple Bragg Diffraction», Acta Cryst. A, 1994, 50, 579−585
- Y. P. Stetsko, S.-L. Chang, «An Algorithm for Solving Multiple-Wave Dynamical X-ray Diffraction Equations», Acta Cryst. A, 1997, 53, 28−34
- Y. P. Stetsko, S.-L. Chang, «Three-wave X-ray diffraction: an analysis scheme of the sensitivity in determining triplet phase invariants», Acta Cryst. A., 1999, 55, 683−694
- Y. P. Stetsko, S.-L. Chang, «Three-wave grazing-incidence X-ray diffraction from thin crystal surface layers: determination of triplet phase invariants», Acta Cryst. A., 1999, 55, 457−465
- Y. P. Stetsko, H. J. Juretschke, Y.-S. Huang, C.-H. Chao, C.-K. Chen and S.-L. Chang, «The phenomenon of polarization suppression of X-ray Umweg multiple waves in crystals», Acta Cryst. A., 2000, 56, 394−400
- Y. P. Stetsko, H. J. Juretschke, Y.-S. Huang, Y.-R. Lee, T.-C. Lin, S.-L. Chang, «Polarization-resolved output analysis of X-ray multiple-wave interaction», Acta Cryst. A, 2001, 57, 359−367
- Y. P. Stetsko, Y.-R. Lee, M.-T. Tang, S.-L. Chang, «Phase-dependent polarization aspects of three-wave X-ray diffraction: an iterative Bom approximation», Acta Cryst. A, 2004, 60, 64−74
- M.-S. Chiu, Yu. P. Stetsko and S.-L. Chang,' «Dynamical calculation for X-ray 24-beam diffraction in a two-plate crystal cavity of silicon», Acta Cryst. A, 2008, 64, 394−403
- G. Mayer, «Uber Aufhellungen in Rontgenspektrogrammen», Z. Kristall. A, 1928,66, N.5/6, 585−636
- M. Reninger, «Umweganregung, eine bisher unbeachtete Wechselwirkungserscheinung bei Raumgitterinterferenzen», Z. Phys., 1937, 106, N.¾, 141−176
- M. Reninger, «Verstarkung schwacher und Vortauschung Verbotener Rontgenreflex durch Umweganregung «, Z. Naturwissensch., 1937, 25, N.3, 43
- M. Reninger, «Rontrenometrische Beitrage zur Kenntnis der Ladungsverteilung im Diamantgitter», Z. Kristall. A., 1937, 97, N. l/2, 107 121
- Keating D., Nunes A., Batterman B., Hastings J., Forbidden (222) neutrin reflection in silicon. Anharmonicity and the bonding electrons,// Phys. Rev. B, 1971, v.6,N.8, p.2472−2478i,
- Roberto J. B., Batterman B.W., Keating D., Diffraction studies of the (222) reflection in Ge and Si: Anharmonicity and the bonding electrons// Phys. Rev. B, 1974, v.9, N.6, p.2590−2599
- Mills D., Batterman B.W., Synchrotron-radiation measurements of forbidden reflections in silicon and germanium// Phys. Rev. B, 1980, v.22, N.6, p.2887−2893
- Tischler J.Z., Batterman B.W., Determination of magnitude, phase and temperature dependence of forbidden reflection in silicon and germanium// Phys. Rev. B, 1984, v.30, N.12, p.7060−7066
- Tischler J.Z., Batterman B.W., Determination of phase using multiple-beam effects// Acta Cryst., 1986, v. A42, p.510−514
- Lipscomb W.N., Relative phases of diffraction maxima by multiple reflection// Acta Cryst., 1949, v.2, p. 193−194
- Patterson A.L. A direct method for the determination of the components of interatomic distances in crystals. Zs. Kristallogr. 1935. V. A90. P.517.
- Woolfson M.M. Direct methods in crystallography. Oxford: Oxford University Press. 1961.
- Perutz M.F. Proc. Roy. Soc. London. 1954. V. A225. P.264.
- Rossman M.G., Hodgkin D.C. The molecular replacement method, ed. Ross-man M.G. New York: Gordon and Breach. 1972.
- Okaya Y., Pepinsky R. Computing methods and the phase problem in X-ray crystal analysis, ed. Pepinsky R., Robertson J.M. and Speakman J.C. Oxford: Pergamon. 1961.P.273.
- Caticha-Ellis S. Anomalous dispersion of X-rays in crystallography. Cardiff: University College Press. 1978.
- Karle J. The relative scaling of multiple-wavelength anomalous dispersion data. Acta Cryst. 1983. V. A39. P. 1.
- Post B. The intensities of multiple diffraction effects. Acta cryst. 1969. V. A25. P.94.
- Hummer K., Billy H.W. Theoretical considerations on phase determination by three-beam interference. Act Cryst. 1982. V. A38. P.841.
- Post B. The experimental determination of the phases of X-ray reflections. Acta Cryst. 1983. V. A39. P.711.
- Кшевецкий С. А., Стецко Ю. П., Шелудько С. А., Многоволновой ди-фрактометрический метод определения фазовых инвариантов// Кристаллография, 1987, т. 32, вып. 2, с. 308−310
- Chang S.-L. Multiple diffraction of X-rays in crystals. Springer-Verlag, Berlin-Heidelberg-New York-Tokyo. 1984.
- Chang S.-L. Solution to the X-ray Phase Problem Using Multiple Diffraction. Crystallography Reviews. 1987. V.l. P.87.
- Hummer K., Schwegle W., Weckert E. Experimental determination of reflection phases by three-beam diffraction and its applications. Acta Physica Polo-nica. 1992. V. A82. JVsl. P.83.
- Weckert E., Schwegle W., Hummer K. Direct phasing of macromolecular structures by three-beam diffraction. Proc. R. Soc. Lond. 1993. V. A442. P.33.
- Weckert E., Hummer K. Multiple-beam X-ray diffraction for physical determination of reflection phases and its applications. Acta cryst. 1997. V. A53. P.108.
- Shen Q., Colella R., Phase determination in an organic crystal (benzil: C14H1002) using long-wavelength X-rays// Acta Cryst., 1988, v. A44, p.17−21
- Chang Sh.-L., H.E.King, M.-T. Huang, Y. Gao, Direct phase determination of large macromolecular crystals using three-beam x-ray interference// Phys.Rev.Lett., 1991 v.67, N 22, pp.3113−3116
- Huang M.-T., Wang C.-M. and Chang S.-L. Direct phase determination for macromolecular crystals using the multiple-diffraction technique and an in-house X-ray source. Acta Cryst. 1994. V. A50. P.342.
- Lee H., Colella R., Chapman L.D., Phase Determination of X-Ray Reflection in a Quasicrystal. Acta Cryst., 1995, v. A51, p. 367
- Afanas’ev A.M., Zozulya A.V., Koval’chuk M.V. and Chuev M.A. Phase problem in three-beam X-ray diffraction. JETP Letters. 2002. V.75. N.7. P. 309−313.
- Chapman L.D., Yoder D.R., Colella R., Virtual Bragg scattering: A practical solution to the phase problem in diffraction// Phys. Rev. Lett., 1981, v.46,p.1578−80
- Schmidt M.C., Collela R., Phase determination of forbidden X-ray reflections in V3Si by virtual Bragg scattering// Phys. Rev. Lett., 1985, v.55, p.715−717
- Кон В.Г. // Кристаллография. 1988. T. 33. С. 567.
- A. Kazimirov, V. G. Kohn, «High-resolution study of dynamical diffraction phenomena accompanying the Renninger (222/113) case of three-beam diffraction in silicon», Acta Cryst. A., 2010, 66, 451−457
- A. Kazimirov, V. G. Kohn, High-resolution study of (222, 113) three-beam diffraction in Ge, Acta Cryst. A., 2011, 67, 409−414
- Bruning R., Durfresne E., Goldman A.M., Lograsso T.A., Dynamical X-ray diffraction from an icosahedral quasicrystal// Phys.Rev.B, 1993, v.48, N 5, p.3544−3547
- Shen Q., Finkelstein K.D., Solving the Phase Problem with Multi-Beam Dif-.. fraction. and Elliptically Polarized XrRays.//Phys. Rev. Lett, 1990, v.65, N26, p.3337−3340 ¦
- Finkelstein, Shen Q., // Phys.Rev.B, 1989, v.45, p.5075
- Дейген M.И., Слабые нарушения симметрии в кристаллах и много волновая рентгеновская дифрактометрия., В’кн.: Методы структурного анализа. М.: Наука, 1989, .
- Isherwood B.J., X-ray multiple diffraction as a tool for studying heteroepitaxial layers. 1. Coherent, on-axis layers// J. Cryst. Growth, 1981, v.54, p.449−460? ' ¦ '. ' -. '» ' ¦ ' - :
- Morelhao S., Cardoso L., Sasaki J., Carvalho M., Hybrid multiple^ diffraction in Renninger scan for heteroepitaxial layers// J.Appl.Phys., 1991, v.70, N 5- p.2589−2593
- Morelhao S.L., Avanci L.H., Hayashi M.A., Cardoso L.P., and Collins S.P. ' Observation of coherent hybrid reflection with synchrotron radiation. AppL, Phys. Lett. 1998.V.73.N. 15.P.2194. -
- Brown B.R., Iialliwell M.A., Isherwood B.J., The characterization of distortions in heteroepitaxial structures-by multiple diffraction//. J. Mictoscopy, 118(3) (1980) pp.375−381
- Isherwood B.J., Brown B.R., Halliwell A.G. X-ray multiple diffraction as a ' tool for studying heteroepitaxial layers.I. Coherentj off-axis lay-'ers//J: Cryst. Growth, 1982, v.60, N. I, p.33−42, ,
- Chang S: L. Simultaneous Bragg diffraction from liquid-phase epitaxial thin films// Acta Cryst., 1981, V. A37, p.876−889 '
- Salles de Costa, Cardoso L., Mazzocchi V., Parente С., Simulation of Renninger scans for heteroepitaxial layers// J.Appl.Cryst., 1992, v.25, p.366−371
- Post В., Accurate lattice constants from multiple diffraction measurements. I. Geometry, techniqies and systematic errors// J. Appl. Cryst., 1975, v.8, p.452−456
- Horn T., Kiszenick W., Post В., Accurate lattice constants from multiple diffraction measurements. II. Lattice comstants of germanium, silicon and diamond, J. Appl. Cryst., 1975, v.8, p.457−458
- Bond W.L. // Acta Cryst. 1960. V.13. P.814.
- Зозуля A.B., Лидер B.B., Ковальчук M.B. Использование компланарной многоволновой дифракции для прецизионного определения параметров кристаллической решетки. Поверхность. 2002. № 12. С. 28.
- Greiser N., Materlik G. Three-beam X-ray standing wave analysis: a two dimensional determination of atomic positions. Z. Phys. B. 1987. V.66. P.83.
- Kohn V.G. X-ray standing waves under the conditions of multiple diffraction. Phys. stat. Sol.(a). 1988. V.106. P.31.
- Kazimirov A.Yu., Kovalchuk M.V., Kohn V.G., Kharitonov I.Yu., Samoilova L.V., Ishikawa T., Kikuta S., Hirano K. Multiple diffraction in X-ray standing wave method: photoemissionmeasurements. Phys. Stat. Sol.(a). 1993. V.135.P.507.
- V.G. Kohn, L.V. Samoilova. On the Possibility of Layer-by-Layer Analysis of Near-Crystal Structure by the Method of Three-Beam X-ray Diffraction. Phys. Stat. Sol. 1992. V. 133A. P. 9 16.
- S. Takagi. Acta. Crystallographies 1962. V. 15. P. 1311.
- Report- 1991. V. 9 P. 238.: ., 1 ' ' ' • .1., i.. ¦ 1
- A.Yu. Kazimirov- M.V. Kovalchuk,' V.G. Kohn et all Photon Factory Activity
- Report. 1991. V. 9 P. 239-
- Казимиров А.Ю., Ковальчук M-B., Кон В. Г. Исследование многоволновой дифракции- рентгеновских лучей в совершенных кристаллах с помощью синхротронного излучения. Кристалло^афия- 1994. Т. 39i G. 258'
- Ковьев Э.К., Андреев А. В., Дейген М. И., Новые возможности метода стоячих рентгеновских волн// ФТТ, 1984, т. 26, в. 10, с. 3201−3202
- Kovev Е.К., Andreev A.V., Deigen M.I., Gorshkov V.E., Polar scanning in multi-beam diffractometry// Phys. Stat. Sol., (a), 1985, v.92, p.391−398
- Ковьев Э.К., Симонов В. И., Экспериментальное определение фаз структурных, амплитуд//Письма вЖЭТФ, 1986- т. 43, в., 5- с.244−24 794.' В. Post, J. Nicolosi, J. Ladell. Acta Crystallogr. 1984. V. 40. P. 684.
- A. Yu. Kazimirov, M.V. Kovalchuk, I. Yu. Kharitonov, et al. Rev. Sci. Instrum. 1992. V. 63. NV I. P- 1019−1023.
- Зозуля A.B., Ковальчук М. В., Лидер В. В., Самойлова Л. В. Экспериментальное осуществление многоволновой компланарной дифракции на примере кристалла KDP. Поверхность. 2001. № 7. С. 6.
- Зозуля A.B., Ковальчук М. В. Экспериментальное наблюдение усиления интерференционного эффекта в условиях компланарной трехвол-новой рентгеновской дифракции. Поверхность. 2002. № 12. С. 25.
- Stepanov S.A., Novikov D.V., Kondrashkina Е.А., X-ray surface back diffraction//Nuclear Instruments and Methods, 1991, V. A301, p.350−357
- Kottwitz D.A., High-resolution monochromator of neutrons and X-Rays by multiple Bragg reflection// Acta Cryst., 1971, v. All, p.391−392
- G. Borrmann, W. Hartwig, «Die Absorption der Rontgenstrahlen im Dreistrahlfall der Interferenz», Z. Kristall., 1965, 121, 401
- T. Joko, A. Fukuhara, «Simultaneous Diffraction and Borrmann Effect», J. Phys. Soc. Japan, 1967, 22, 597−604
- Afanasev A.M., Kohn V.G., Borrmann effect in the three-wave case of X-ray diffraction//Phys.Stat.Sol. a, 1975, v.28, N1, p.61−70
- Бородина Т. И., Иверонова В. И., Кацнельсон А. А., Трехволновая дифракция рентгеновских лучей в Се// Кристаллография, 1974, т.19, в.5, с.1140−1147
- Авдюхина В.М., Гусева Е. В., Иверонова В. И., Кацнепьсон А. А., Трехволновая дифракция рентгеновых лучей в кристаллах со структурой типа сфалерита// Кристаллография, 1980, т. 25, в. 6, с. 702−707
- Кон В. Г., К теории многоволновой дифракции рентгеновских лучей. Угловая зависимость аномального прохождения в шестиволновом случае// ФТТ, 1976, т. 18, в.9, С.2538−2545
- Кон В. Г., Об эффекте аномально слабого поглощения рентгеновских лучей в монокристалле в условиях 12-волновой дифракции// Кристаллография, 1987, т. 32, вып. 4, с. 844−851
- Post В., Chang Sh.L., Huang Т.С., Simultaneous four-beam Borrmann diffraction// Acta Cryst., 1977, v. A33, N1, p.90−97
- Кацнельсон А. А., Иверонова В. И., Поляков Н. А., Трехволновой эффект Бормана в германии // Кристаллография, 1969, т. 14', вып. 6, с.965−968
- Иверонова В. И., Кацнельсон А. А., Рунова Т. К., Экспериментальное обнаружение многоволнового эффекта Бормана в кремнии // Кристаллография, 1978 т. 22*, вып. 2, с. 398
- Козьмик В. Д., Кшевецкий С. А., Кшевецкая M.JL, Михайлюк И. П., Ос-тапович М.В., Усиление эффекта Бормана при четырехволновой дифракции рентгеновских лучей в Ge. Конфигурация (220, 400, 220) // Кристаллография, 1976, т.21, вып. 5, с.899−906
- Chang Sh.L., Coherent’interactions of multiple diffraction X-rays in crystals// Z.Naturforsh., 1982, v.37a, N 5, p.501−504
- Кшевецкий С. А., Михайлюк И. П., Усиление аномального прохождения рентгеновских лучей, при шестиволновой дифракции// Кристаллография, 1976, т. 21, вып. 2, с. 381−382
- Kazimirov A.Yu., Kovalchuk M.V., Kohn V.G., Ishikawa T., Kikuta S., Hi-rano K., Direct Measurenments of X- Ray Anomalous Transmission in Six-Beam Laue Diffraction. Europhys.Lett., 1993, v.24, N 3, p.211−216
- A.Yu. Kazimirov, M.V. Kovalchuk, I.Yu.Kharitonov, L.V.Samoilova, T. Ishikawa, S. Kikuta, New possibilities of the X-ray standing wave method in multiple diffraction of synchrotron radiation // Rev.Sci.Instrum., 1992, v.63, p.1019−1023
- Bubakova R., Pacherova O., Many beam cases of X-ray diffraction in the Bragg case// Acta Cryst., 1978, v. A34, N S4, p.5233
- Gabrielan Ts., Kohn V.G., A new type of monochromator for synchrotron Radiation with the three-beam diffraction// Phys. Stat Sol. (a), 1980, v.59, p.697−700
- Кшевецкий С. А., Лескова Г. В., Стецко Ю. П., Некомпланарный рентгеновский монолитный монохроматор// УФЖ, 1986, т. 11, N 22, с.1397−1400
- Isomae S., Kishino S., Takagi et al // J.Appl.Cryst. 1976. V.9. P.342.
- М.П. Шаскольская. Кристаллография. Учебник для втузов. М., «Высш. школа». 1976.
- Лидер В .В. // Кристаллография. 1994. Т.39. № 3. С. 406.
- Лидер В.В. //Заводская лаборатория. 2007. № 12. Т.73. С. 25.
- Благов А.Е., Ковальчук М. В., Кон В.Г., Писаревский Ю. В. // ЖЭТФ. 2005. Т. 128. С. 893.
- Tucoulou R., Bergevin F., Mathon О., Roshchupkin D. V. // Phys. Rev. В 2001. V. 64. P. 134 108−1 134 108−9.
- Благов A.E., Ковальчук M.B., Кон В.Г., Писаревский Ю.В.// Кристаллография. 2006. Т. 51. № 5. С. 1.
- Носик В. Л., Ковальчук М. В.// Поверхность. 2000. Т. 1. С. 91.
- Liss К., Magerl A., Remhof A., Hock R. // Acta Cryst. А. 1997. V. 53. P. 181.
- Smither R.K., Saleem К.A., Roa D.E. et al. // Exp. Astron. 2005. V. 20. P. 201.
- Благов A. E., Просеков П. А., Грищенко Ю. В., Занавескин М. Л., Рощин Б. С., Буташин А. В., Федоров В. А., Каневский В. М., Асадчи178ков В. Е. //Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и 11|Гп|ии| —ни исследования, 2009, № 6, с. 30−33.
- Интернет ресурс: http://www.kcsr.kiae.rU/stations/k6.6.php.