Помощь в учёбе, очень быстро...
Работаем вместе до победы

Метод уменьшения погрешности оптико-электронных спектральных приборов с многоэлементной фотоэлектрической регистрацией спектра

Диссертация: Метод уменьшения погрешности оптико-электронных спектральных приборов с многоэлементной фотоэлектрической регистрацией спектра
ДиссертацияПомощь в написанииУзнать стоимостьмоей работы

Ньютон в 1666 году первый провел обширные исследования разложения света призмой, которые привели его к выводу о том, что свет состоит из совокупности лучей разного цвета, отличающихся преломляющей способностью. Установка Ньютона была предшественницей современного спектрального прибора. В дальнейшем прибор Ньютона был усовершенствован Волластоном (1802г.) и Фраунгофером (1814г.), благодаря чему… Читать ещё >

Содержание

  • ГЛАВА 1. Приборы для спектрального анализа и их характеристики
    • 1. 1. Щелевые спектральные приборы для атомно-эмиссионного анализа
    • 1. 2. Основные характеристики щелевого спектрального прибора
      • 1. 2. 1. Линейная дисперсия
      • 1. 2. 2. Светосила спектрального прибора
      • 1. 2. 3. Разрешающая способность
    • 1. 3. Образование контура спектральной линии
      • 1. 3. 1. Аппаратная функция спектрального прибора
      • 1. 3. 2. Симметрично-ступенчатая аппроксимация аппаратной функции
      • 1. 3. 3. Измерение полуширины аппаратной функции
  • Выводы
  • ГЛАВА 2. Многоэлементные линейные фотоприемники и исследование возможности их применения для спектральных измерений
    • 2. 1. Отечественные линейные фотоприемники для спектральных измерений
      • 2. 1. 1. Устройство и работа фоточувствительного прибора с зарядовой связью ФППЗ-8л
      • 2. 1. 2. Работа ряда фоточувствительных элементов, секции накопления заряда и антиблуминга
      • 2. 1. 3. Работа считывающих и буферных регистров
      • 2. 1. 4. Работа входного устройства регистра
      • 2. 1. 5. Работа выходного устройства регистра
    • 2. 2. Исследование характеристик ПЗС-фотоприемников
      • 2. 2. 1. Стенд для исследования характеристик
      • 2. 2. 2. Относительные спектральные характеристики
      • 2. 2. 3. Шум ПЗС-фотоприемника и зависимость его от температуры
  • Выводы
  • ГЛАВА 3. Обоснование выбора ширины элемента фотоприемника и поиск наилучшего способа аппроксимации контура спектральной линии
    • 3. 1. Способы идентификации спектральных линий при расшифровке спектрограмм&bdquo
    • 3. 2. Способы аппроксимации контуров спектральных линий регистрируемых линейным многоэлементным фотоприемником
    • 3. 3. Сравнение способов аппроксимации контуров спектральных линии
    • 3. 4. Экспериментальное исследование влияние ширины элемента фотоприемника на точность измерения длины волны и интенсивности спектральной линии
    • 3. 5. Методика проведения экспериментальных исследований по оценке погрешностей измерений интенсивностей и длин волн спектральных линий
      • 3. 5. 1. Проверка гипотезы нормального распределения результатов измерения длины волны спектральной линии и оценка его среднего квадратического отклонения
  • Выводы
  • ГЛАВА 4. Многоканальный измерительный регистратор спектров
    • 4. 1. Многоканальная система регистрации оптического излучении с компенсацией темнового шума
    • 4. 2. Многоканальные анализаторы спектров
    • 4. 3. Программа «Анализатор отклонений»
  • Выводы

Метод уменьшения погрешности оптико-электронных спектральных приборов с многоэлементной фотоэлектрической регистрацией спектра (реферат, курсовая, диплом, контрольная)

В настоящее время оптический спектральный анализ стал настолько обыденным и привычным инструментом, что сейчас вряд ли можно найти область естествознания, в которой он не находил бы применения.

Достаточно сказать, что методами оптического спектрального анализа с 1860 г. по 1932 г. Было открыто 25 элементов периодической системы, в том числе Сб, Шэ, 14 редкоземельных элементов, Те, ва, ЫГ и другие.

Именно методы оптического спектрального анализа наиболее полно удовлетворяют все возрастающим требованиям современного производства. Многоэлементность, экспрессность, низкие пределы обнаружения, возможность определения по малому количеству пробы, автоматизация процесса ведения анализа — всё это превратило спектральные методы анализа в эффективные методы аналитической химии.

Началом существования спектрального анализа считают 1860 год-год выхода работы Кирхгофа и Бунзена «Химический анализ с помощью наблюдения спектра». Но еще задолго до этого проводились наблюдения и исследования спектров.

Ньютон в 1666 году первый провел обширные исследования разложения света призмой, которые привели его к выводу о том, что свет состоит из совокупности лучей разного цвета, отличающихся преломляющей способностью. Установка Ньютона была предшественницей современного спектрального прибора. В дальнейшем прибор Ньютона был усовершенствован Волластоном (1802г.) и Фраунгофером (1814г.), благодаря чему удалось рассмотреть больше подробностей в спектрах, выделить из общего излучения отдельные спектральные линии, а таюке измерить их длину волны.

Направив спектроскоп на солнце в 1861 г. Кирхгоф составляет первый атлас солнечного спектра, сравнивает его со спектрами ряда элементов, доказывает присутствие в хромосфере солнца железа и высказывает достаточно обоснованное предположение о существовании в хромосфере элементов: Са, N3, N1, Сг.

В том же году Кирхгоф и Бунзен открывают два новых элемента — щелочные металлы Сэ и Ш>.

К настоящему времени данные о спектральных линиях практически всех химических элементов сведены в таблицы спектральных линий Гаррисона и отечественного издания Зайделя.

Для качественного определения элементов в анализируемом веществе достаточно удостовериться в наличии или отсутствии их линий в спектрах проб.

При количественном анализе проводят сравнение интенсивностей спектральных линий определяемых элементов с интенсивностями тех же самых линий в спектрах стандартных образцов, содержащих определяемые элементы в известных концентрациях.

Актуальность работы. Анализ продукции ведущих мировых производителей спектрального оборудования: Perkin Elmer, Shimadzu, Ocean Optics, Horiba Jobin.

Yvon Inc., Spectro A.I. GmbH, ARL (Applied Research Laboratories), LECO, а также российских предприятий: ВМК-Оптоэлектроника, ЗАО"Спектральная лаборатория",.

ОКБ «Спектр», ООО «МОРС», показывает, что большая часть номенклатуры выпускаемых изделий оснащена многоэлементными фотоприемниками.

Однако их применение вносит погрешности в спектрофотометрические измерения, обусловленные дискретностью светочувствительных элементов, которые снижают точность спектрального анализа. В спектральных приборах с многоэлементной фотоэлектрической регистрацией спектра отдельная спектральная линия регистрируется несколькими светочувствительными элементами, число которых определяется отношением ширины^ аппаратного контура спектрального прибора к ширине светочувствительного элемента, а также зависит от чувствительности и уровня шума системы фотоэлектрической регистрации. Поэтому для измерения длины волны и интенсивности спектральной линии необходимо как можно точнее восстановить ее контур. Анализ научно-технической литературы показывает, что теоретические исследования не получили должного внимания.

В связи с этим актуальна разработка метода уменьшения погрешностей спектрофотометрических измерений, связанных с определением интенсивности и длин волн спектральных линий при формировании их контуров на выходе многоэлементного фотоприемника. Кроме того, номенклатура выпускаемых в настоящее время многоэлементных фотоприемников достаточно велика, что обуславливает задачу научно-обоснованного выбора фотоприемника, обеспечивающего заданную погрешность конкретного спектрального прибора.

Объектом исследования являются спектральные приборы, регистрирующие спектры многоэлементным фотоприемником, а предметом исследованияпроцессы преобразования контуров спектральных линий при регистрации многоэлементным 4 фотоприемником и измерение их характеристик (полуширины контура, длины волны, интенсивности).

Цель исследования — повышение точности спектрального анализа, проводимого на спектральных приборах с многоэлементной фотоэлектрической регистрацией спектра, за счет уменьшения погрешности измерения длин волн и интенсивностей спектральных линий.

Задача исследования — научно-обоснованная техническая разработка метода уменьшения погрешности измерения длин волн и интенсивностей спектральных линий спектральных приборов с многоэлементной фотоэлектрической регистрацией спектра.

Поставленная задача научного исследования решается в следующих направлениях:

— анализ характеристик спектрального прибора с пространственным разделением монохроматических составляющих и регистрацией линейным многоэлементным фотоприёмником;

— исследование характеристик и параметров многоэлементных фотоприёмников с целью возможности их применения в спектрофотометрических измеренияхопределение взаимосвязи характеристик спектрального прибора с характеристиками многоэлементного' фотоприёмника для теоретически полного восстановления контуров спектральных линий, регистрируемых в фокальной плоскости спектрального прибора;

— поиск метода обработки результатов измерения спектра, регистрируемого отдельными светочувствительными элементами фотоприемника, обеспечивающего минимальную погрешность измерения длин волн и интенсивностей спектральных линий.

Научная новизна работы заключается в следующем:

1. Предложена симметрично — ступенчатая аппроксимация контуров спектральных линий для измерения их длин волн и интенсивностей, которая обеспечивает наименьшую погрешность измерений в сравнении с ранее известными способами аппроксимации контуров спектральных линий.

2. Впервые получено аналитическое выражение, связывающее полуширину аппаратной функции спектрального прибора с динамическим диапазоном и минимально необходимой шириной светочувствительного элемента линейного 5 многоэлементного фотоприёмника для полного восстановления контуров спектральных линий в соответствии с теоремой Котельникова.

3. Разработан метод обработки результата измерения спектра, регистрируемого отдельными светочувствительными элементами фотоприемника, позволяющий повысить точность измерения длин волн и интенсивностей спектральных линий.

Практическая ценность работы. Разработанный метод уменьшения погрешности позволяет проектировать оптико-электронные спектральные приборы с многоэлементной фотоэлектрической регистрацией с минимальной погрешностью спектрофотометрических измерений.

Реализация результатов работы. На основе внедрения результатов исследований, полученных в ходе выполнения работы, разработаны:

1. Многоканальный измерительный регистратор спектров МИРС с программным обеспечением для проведения качественного и количественного атомно-эмиссионного спектрального анализа. Изделие сертифицировано как средство измерений и допущено к применению в Российской Федерации. В настоящее время более 50 изделий используется в научно-исследовательских институтах и промышленных предприятиях различных отраслей народного хозяйства.

2. Программное обеспечение для лабораторий Бюро судебно-медицинских экспертиз, позволяющее определять привнесение химических элементов в зонах повреждения при различных видах травм и патологических состояниях методом относительного сравнения интенсивностей спектральных линий.

3. Разработана методика проведения экспериментальных исследований по оценке погрешностей измерений интенсивностей и длин волн спектральных линий при различных способах аппроксимации их контуров.

Методы исследования. В диссертационной работе использованы аналитические методы теории преобразования Фурье, теорема Котельникова о дискретной выборке непрерывных сигналов, численные методы решения алгебраических уравнений, методы математического программирования и экспериментальные исследования. Для решения алгебраических уравнений, обработки результатов измерений использовались программные пакеты MatLab.7, Photoshop.

Основные положения и результаты выносимые на защиту:

1. Способ аппроксимации контуров спектральных линий, регистрируемых многоэлементным фотоприемником, симметричноступенчатой функцией, обеспечивающий наименьшие погрешности измерения длин волн и интенсивностей спектральных линий.

2. Аналитическое выражение, связывающее полуширину аппаратной функции спектрального прибора с динамическим диапазоном и минимально необходимой шириной светочувствительного элемента многоэлементного фотоприемника для полного восстановления контуров спектральных линий в соответствии с теоремой Котельникова.

3. Метод обработки результата измерения спектра, регистрируемого отдельными светочувствительными элементами фотоприемника, позволяющий повысить точность измерения длин волн и интенсивностей спектральных линий.

Личный вклад автора. Автором предложен способ аппроксимации контуров спектральных линий, регистрируемых многоэлементным фотоприемником, симметрично-ступенчатой функцией и разработан метод для измерения полуширины, интенсивности и длин волн спектральных линий. Выведено аналитическое выражение, связывающее полуширину аппаратной функции спектрального прибора с динамическим диапазоном и минимально необходимой, шириной светочувствительного элемента многоэлементного фотоприемника для полного восстановления контуров спектральных линий в соответствии с теоремой Котельникова. Разработана методика проведения экспериментальных исследований по оценке погрешностей измерений интенсивностей и длин волн спектральных линий при различных способах аппроксимации их контуров. При определяющем научном руководстве автора разработан многоканальный измерительный регистратор спектров МИРС и проведена его сертификация как средства измерения.

Апробация работы. Основные результаты работы докладывались на 20-м.

Всесоюзном съезде по спектроскопии (г. Киев, 1988 г.), XI Международной конференции «Аналитика атомной спектроскопии» (г. Москва, 1990 г.), VI.

Тамбовской областной научно — технической конференции по спектроскопии (г.

Тамбов, 1983), VII Тамбовской областной научно — технической конференции по спектроскопии (г. Тамбов, 1985), 1-ом Отраслевом семинаре «Автоматизация оптических приборов» (г. Ленинград, 1987г), XIV Уральской конференции по 7 спектроскопии (г. Заречный, 1999 г.), XV Уральской конференции по спектроскопии (г. Заречный, 2001 г.), XVI Уральской конференции по спектроскопии (г. Екатеринбург, 2003 г.), XVII Уральской конференции по спектроскопии (г. Екатеринбург, 2005г).

Достоверность полученных научных результатов обеспечена применением классической теории преобразования Фурье и метода наименьших квадратов для решения алгебраических уравнений и подтверждается совпадением теоретических и экспериментальных результатов.

Структура и объем диссертации

Диссертация состоит из введения, четырех глав, заключения, списка литературы и двух приложений. Общий объем составляет: 148 страниц машинописного текста, 16 таблиц, 36 рисунков.

выводы.

1. Разработан многоэлементный измерительный регистратор спектров МИРС, производящийся ФГУП НПО «ГИПО» мелкосерийно по техническим условиям АД 2.850. 142 ТУ. МИРС сертифицирован как средство измерений и допущен к применению в Российской Федерации. В настоящее время более 50 изделий используется в научно-исследовательских институтах и промышленных предприятиях различных отраслей народного хозяйствах.

2. Разработано программное обеспечение изделий МИРС, позволяющее проводить модернизацию существующего парка спектрографов и квантометров в аналитических лабораториях, с характеристиками, не уступающими лучшим зарубежным приборам аналогичного назначения.

3. Характеристики МИРС и разработанное программное обеспечение позволили создавать методики измерения массовой доли химических элементов в различных объектах удовлетворяющих требованием Государственных стандартов.

4. Разработано программное обеспечение для определения привнесения химических элементов в зонах повреждения при различных видах травм и патологических состояниях методом относительного сравнения интенсивностей спектральных линий для лабораторий Бюро судебно-медицинских экспертиз.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

.

1. Проведен анализ характеристик спектрального прибора и предложена симметрично-ступенчатая аппроксимация контуров спектральных линий, регистрируемых многоэлементным фотоприемником. Экспериментально показано, что наименьшая погрешность измерения интенсивности и длины волны спектральной линии при регистрации спектра многоэлементной фотоэлектрической системой достигается при аппроксимации контуров спектральных линий симметрично-ступенчатой функцией.

2. Классифицированы многоэлементные фотоприемники для спектрофотометрических измерений, исследованы их относительные спектральные чувствительности, влияние температуры на темновой шум, и сделан выбор фотоприемников для использования в спектральных приборах.

3. Выведено аналитическое выражение, связывающее полуширину аппаратной функции спектрального прибора с динамическим диапазоном и минимально необходимой шириной светочувствительного элемента, многоэлементного фотоприемника для полного восстановления контуров спектральных линий в соответствии с теоремой Котельникова.

4. Предложен метод измерения интенсивности и длин волн спектральных линий, обеспечивающий минимальную погрешность измерения длин волн и интенсивностей спектральных линий за счет симметрично-ступенчатой аппроксимации их контуров с учетом выведенного аналитического выражения.

5. Разработан многоканальный измерительный регистратор спектров (МИРС). Характеристики МИРС и разработанное программное обеспечение позволили создавать методики измерения массовой доли химических элементов в различных объектах удовлетворяющих требованием Государственных стандартов. МИРС сертифицирован как средство измерений и допущен к применению в Российской Федерации. В настоящее время более 50 изделий используется в научно-исследовательских институтах и промышленных предприятиях различных отраслей народного хозяйствах.

6. Разработано программное обеспечение для определения привнесения химических элементов в зонах повреждения при различных видах травм и патологических состояниях методом относительного сравнения интенсивностей спектральных линий для лабораторий Бюро судебно-медицинских экспертиз.

Показать весь текст

Список литературы

  1. А.П. Основы спектрального анализа./ М.:НаукаД965.-С.233.
  2. М.Ш. Полуколичественный спектральный анализ минерального сырья. Таблицы спектральных линий./ Л: изд-во ЛГУ, 1960.-С.112.
  3. А.И. Основы количественного спектрального анализа руд и минералов./ М.: Недра, 1978.-С.38.
  4. С.М. Спектральный анализ горных пород./ Л.: Недра, 1964.-С.134.
  5. Д.Н. Спектральный анализ почв./ М.: Полюс, 1974.-С.28.
  6. В.В., Фридман Г. И. Эмиссионная спектроскопия аэрозолей в металлургии./М.: Металлургия, 1974.-С.57.
  7. Я.П. Опыт спектрального анализа на медной основе./ Л.: Судпромгиз, 1955.-С.120.
  8. Л.И., Шаевич А. Б., Шубина С. Б. Спектральный анализ ферросплавов./М.: Металлургиздат, 1982.-С. 68.
  9. Ю.М. Атомно-эмиссионная спектрометрия металлов и сплавов./ Донецк, Донецкий Государственный университет, 2000.-С.254.
  10. А.Г. Спектральный анализ полупроводников./ Л: Наука, 1971.-С. 18.
  11. С.И. Атомный спектральный анализ нефтепродуктов./ М.: Химия, 1985.-С.74.
  12. Богнова .П., Шрейдер Е. Я. Спектральный анализ газовых смесей./ М.: ГИФМЛ, 1963 .-С. 104.
  13. В.Т., Петров A.A., Соловьев Л. А. Спектральный анализ неорганических газов./Л.: Химия, 1988.-С. 47.
  14. .Е. Спектральный эмиссионный анализ и его применение в криминалистике, судебной химии и судебной медицине./ Киев, ГИТЛ УССР, 1962.-С. 56.
  15. Г. Н., Макаренко Т. Ф. Методы спектрального анализа в судебной медицине./М.: МНПП «ЭСИ», 1994.-С.106.
  16. ВоуСе W.S. Swith W.E. Charge Coupled Semikonduktor Devises, BSTJ, 49,587−593(1970)
  17. К., Томпсет М. Приборы с переносом заряда./ М.: Мир, 1978.-С. 158 166.
  18. И.М., Михайловский Ю. К. Фотографические и фотоэлектрические спектральные приборы и техника эмиссионной спектроскопии./ JL: Машиностроение, 1981.-С.9−29, 42−47,144−146.
  19. Ш. Инфракрасная спектроскопия высокого разрешения./ М.: Мир, 1972.-С. 352.
  20. К.И. Спектральные приборы./ Л.: Машиностроение, 1977.-С.38.
  21. Е.А. Основы полупроводниковой электроники./ Киев, Наукова Думка, 1988.-С. 99.
  22. К.И., А.А., Блох, П. С. Голандин, Н. Ф Косова Проектирование спектральной аппаратуры, под редакцией К.И. Тарасова/ Л., Машиностроение, 1980.-С. 214.
  23. Павлычева Н. К. Спекгральные приборы с неклассическими дифракционными решетками./ Казань, КГТУ им. А. П. Туполева, 2003.-С.7.
  24. А.П., Золотов Ю.А.Состояние отечественного аналитического приборостроения // Журнал аналитической химии, 1992 г., т. 47, № 12, С. 2072−2086.
  25. А.П., Горбачев С. Ф., Макаров В. Л.Автоматическая установка длины волны монохроматора// ОМП, 1986 г., № 3.- С. 20.
  26. Эриксон, Моннон/ Приборы для научных исследований, 1983 г., № в.- С. 40.
  27. JCP Information Newsletter, 1980, vol. 6, № 6.-р.237.
  28. А. П., Бажанов Ю. В., Тимиргазеева Л. К., ЧугуновЮ.П Малогабаритный монохроматор с вогнутой дифракционной решеткой // Оптический журнал, 2002, № 12.-С.53−55.
  29. А. П., Бажанов Ю. В., Тимиргазеева Л. К., Чугунов Ю. П. Монохроматор с автоматической установкой длины волны // Сборник материалов XV Уральской конференции по спектроскопии, Тезисы докладов, г. Заречный, 2001.-С.269−271.
  30. Spectru 2000, 1982, V. 10, N. 77.-р.30−36.
  31. И.В. Оптика спектральных приборов./ М.: Машиностроение, 1975.-С. 312.
  32. Sparrow C.M. On spectroscopic resolving power// Astroph. Journn. 1916, vol. 4.4, № 2.- p.76−80.
  33. С.Г. Реальные спектральные приборы.//УФН, 1958 г., т. 66, вып. 3.-С.475−515.
  34. Г. Г. Исследование аппаратурных искажений и методы их учета в инфракрасной спектроскопии./ в сборнике трудов ФИАН СССР и Исследования по молекулярной спектроскопии./ М: 1964 г., т. 23.-С.60−62.
  35. Е. JI. Шенноновский предел сверхразрешения и его достижение при восстановлении сигналов // Приборы и техника эксперимента, 1989, № 4.-С. 84−87.
  36. Delhayc М. et Bridoux М. La konvelle generation de Spectromaters optiques multicanaux./ Spectra 2000, 1982, v. 10, № 77. p.30−36.
  37. Show E.P. Self-scauning Photodiode Arrays for Spectroscopy, Research -Development, 1976, v. 27, № 4, — p. 18−22.
  38. Codding E.G., Jugle I.P., Stratton А.1/ Atomic absorption spectrometry with a photodiode array spectrometer./ Analytical Chemistry, 1980, v. 52, № 13.-p. 2133−2140.
  39. Lachmonu H. Simultauspectrometrie mitl inearen Diodenarrays./ Neuste Eutwichlung und deren Anwendungen in der Chemie, CelT, 1983, v. 27, № 3.-p. 170−172, 175−176, 178−179.
  40. Bubert H. Solisium Photodioden — Matvisen mit parallele Signalans-hopplung als Stahlungaempfunger in der ICP-AES. -Spectrochimica acta, 1982, B37, № 6. --p. 533−538.
  41. Burch Kenneth W., Benton Larry P. Multiplex method in atomic spectroscopy. -Analytical Chemistry, 1983, v. 55, № 3.-p.29.
  42. Kubota m., Fujishivo Y., Ichida R. Some characteristics of an intensified photodiode array spectrometer system for use in plusma emission spectrometry. -Spectrochimica acta, 1982, B37, № 10, — p 849−857.
  43. А. П., Иванов В. П., Туркин В. В. Султанбеков Ф. Ф., Сибатов А. Г. Автоматизированный спектрометрический анализатор широкого применения // Сборник материалов XX Всесоюзного съезда по спектроскопии, ч.2, Тезисы докладов, г. Киев, 1988.-С.102.
  44. А. Я.ДПпомер А. В.,Якунин А. Г. Применение автоматизированного регистратора спектра на основе линейного ПЗС-фотодиодного приемника для спектрального анализа металлов// ЖПС, 1985, t. XLIII, № 3.-С.377−382.
  45. А.П., Арутюнов В. А., Горбачев С. Ф., Нагулин Ю. С. Многоканальная система регистрации спектра на базе линейного ПЗС-формирователя изображения// ОМП, 1986, № 1.-С. 34−36.
  46. А.П. Многоканальная система регистрации оптического излучения с компенсацией темнового шума // ПТЭ, 1988, № 6.-С.150−154.
  47. K.L., Paul S.L. // Applied Spectroscopy, 1979, v. 33, № 3. p. 240−245.
  48. Иванов В.В.//Приборы и техника эксперимента, 1986, № 5.- С. 63.
  49. Talmi Y., Simpson R.//Applied Optics, 1980, vl9, № 8.- p.1401−1414.
  50. Полупроводниковые формирователи изображения. Под редакцией Йесперса П., Ван де Виле Ф., Уайта М. М., Мир, 1979.-С.446−456.
  51. В.А., Лапук В. Б., Сорокин О. В. Способ управления фотодиодным прибором с зарядовой связью.// Заявка на изобретение № 4 389 528 с приоритетом 10.03.88.
  52. В.А., Сорокин О. В. Прибор с зарядовой связью.// Заявка на изобретение № 4 312 978 с приоритетом 06.07.87.
  53. В.А., Котов Б. А., Сорокин О. В. Повторители выходного напряжения для ПЗС и ФПЗС. //Электронная техника, серия 4, вып. 3 (102), с. 31−37, 1984.
  54. В.А., Котов Б. А., Сорокин О. В. Способ управления фотоприемным устройством на билинейном приборе с зарядовой связью.// Авт. свид. СССР № 1 336 871, заявл. 13.02.83, опубл. 08.05.87.
  55. В.А., Сорокин О. В. Способ измерения линейного размера изображения с помощью фотоэлектрического прибора с зарядовой связью. //Заявка на изобретение № 4 119 595 с приоритетом 23.06.86. положительное решение 31.12.87.
  56. .А., Сорокин О. В., Татаурщиков С. С. Метод исследования релаксации в МДП-конденсаторе по инжекционному току.// Микроэлектроника, 4, № 4, с. 355−361, 1975.
  57. А.П., Демин В. М., Горбачев С. Ф. Автоматизированный стенд для исследования характеристик многоканальных ПЗС-фотоприемников.// Тезисы 1 отраслевого семинара «Автоматизация оптических приборов», Ленинград, 1987.-С.5.
  58. А. Я., Госьков П. И., Якунин А. Г.// Микропроцессорные средства и системы. 1987, № 4.-С.43.
  59. А. П., Горбачев С. Ф. Оперативное запоминающее устройство с внешним скоростным каналом ввода-вывода информации в микро-ЭВМ «Электроника-60» // Микропроцессорные средства и системы. 1986, № 3.-С. 64.
  60. А. П., Харитонов Г. И. Отображение графической информации на алфавитно-цифровом дисплее // Микропроцессорные средства и системы, 1987, № 4.-С.43.
  61. Отчет по Договору 48-Ш, часть 2, ЛГУ, Ленинград 1979.
  62. Ю. Р., Шилин В. А. Основы физики приборов с зарядовой связью.- М.: Наука, 1986.-С.242−252.66. www.thenno.com67. www.specinst.com68. www.vmk.ru69. www. spectr-lab.spb.ru
  63. В.И. // Автометрия, 1988, № 1.-С.60−65.
  64. .В., Кленов В. Т., Костюков Е. В. // Электронная промышленность, 1982, № 7.-С.7.
  65. Е.В., Павлова З. В., Пресс Ф. П. // Электронная промышленность, 1987, № 3.-С.48.
  66. В.А., Котов Б. А., Сорокин О. В. // Электронная промышленность, 1981, № 9.-С.23.
  67. В.А. / Теория потенциальной помехоустойчивости, М.: Госэнергоиздат, 1956.-С.94.
  68. Г., Корн Т. Справочник по математике для научных работников и инженеров, Пер. с англ. под редакцией И. Г. Абрамовича./ М.: Наука, 1984. -С. 575.
  69. Pias P. S.C. // Spectrochimica Acta/ Adaptation of an Existing Algorithm for Automated Continuum Correction in Inductively Coupled Plasma-Atomic Emission Spectrometry Using a Photodiode., 1987, v. B42, № 8.- p. 1027−1038.
  70. А.П., Нагулин Ю. С. Выбор ширины элемента многоэлементного линейного фотоприемника для регистрации линейчатых спектров // ОМП, 1990, № 9.-С.36−38.
  71. И.А. Основы статической радиотехники, теории информации и моделирования. /М.: Сов. радио, 1978.-С.96−101.
  72. Е.И., Трифонов А. П. Оценка параметров сигналов на фоне помех./ М.: Сов. радио, 1978.-С.199−208.
  73. Д.П., Емельянов И.В.// ЖПСД990, т. 52, № 2.-С.38.
  74. Т., Мика И., Гегуш Э. Эмиссионный спектральный анализ./ М.: Мир, 1982.-С.256.
  75. Устройство для обработки спектрограмм.//Авторское свидетельство 333 414. СССР МКИ GOI J/04.
  76. Антонов Г. В Применене математических методов и ЭВМ при обработке информации. // Материалы XII уральской конференции, г. Свердловск, 1978.-С.78.
  77. Horlik G// Appl. Spectr.-1975.-Vol.29, № 2, — p. 167−170.
  78. Hewes С. R., Brodersen R. W.//Proc. IEEE, 1979, v87, № 5.-p.73.
  79. А. П., Султанбеков Ф. Ф.Способ определения длины волны спектральных линий.//Авторское свидетельство 1 603 202. Бюл. Изобр. -1990.-№ 40.-С.170.
  80. И.Н., Семендяев И. А. Справочник по математике./ М.: Наука, 1986.-С.521.
  81. А. П., Султанбеков Ф. Ф., Яндуганова О. Б.Методы определения длины волны спектральных линий, регистрируемых многоэлементным фотоприемником // Оптический журнал, 1992, № 3.-С.60−63.
  82. Н. К., Кит И. Е. Спектрограф для спектрального анализа в геологии // ОМП, 1988, № 6.-С.27−29.
  83. А. П., Павлычева Н. К., Горбачев С. Ф., Кит И. Е. Малогабаритный светосильный спектрометр на область спектра 200.1300нм // Оптический журнал, 1996, № 11.-С.61−62.
  84. А. П., Нагулин Ю.С, Нагулин К. Ю. Малогабаритный полихроматор для обдасти спектра 190.1100нм // Оптический журнал, 1994, № 4.-С. .175 178.
  85. Н. В.//Техника средств связи. Сер. Техника телевидения, 1980, вып.5.-С.35.
  86. И. Р., Гаранин В. Г., Лабусов В. А. Многоэлементные твердотельные детекторы и их использование в атомно-эмиссионном спектральном анализе//Заводская лаборатория, 1999, т.65, № 10.-С. 3−16.
  87. А. П., Филиппов В. Л., Балоев В. А., Пеплов А. А., Многоканальный измерительный регистратор спектров МИРС // Сборник материалов XVII Уральской конференции по спектроскопии, Тезисы докладов, г. Екатеринбург, 2005.-С.177.
  88. А. П., Павлычева Н. К., Пеплов А.А Малогабаритный спектрометр широкого применения // Оптический журнал, 2007, № 3.-С.29−32.
Заполнить форму текущей работой

Пора сдавать?