Новые рентгенографические методы исследования поверхностных и объемных несовершенств в кристаллах и неоднородностей распределения плотности вещества в аморфных средах
Диссертация
Исследовано влияние неоднородности распределения плотности вещества на интерференционные картины рентгеновских лучей. Экспериментально показано, что при предварительном прохождении суперпозирующих рентгеновских волн через образцы, в которых плотность вещества распределена неоднородно, в этих волнах создаются нерегулярные фазовые сдвиги, в результате чего наблюдаемые интерференционные картины… Читать ещё >
Содержание
- ВВВДЕНИЕ
- ГЛАВА I. ИССЛЕДОВАНИЕ ПРИПОВЕРХНОСТНЫХ ДЕФОРМИРОВАННЫХ СЛОЕВ ТОЛСТЫХ СОВЕРШЕННЫХ КРИСТАЛЛОВ
- I. Д. Исследование структуры рентгеновских лауэ-пятен в зависимости от несовершенств приповерхностных слоев толстых совершенных кристаллов
- 1. 1. 1. Природа структуры лауэ-пятен, полученных от идеальных (совершенных) кристаллов
- 1. 1. 2. Природа структуры лауэ-пятен, полученных от кристаллов, содержащих дефекты
- 1. 1. 3. Зависимость контраста изображения дефектов от их ориентации относительно отражающих плоскостей
- 1. 1. 4. Влияние немонохроматичности первичного пучка на интенсивность изображений дефектов
- 1. 1. 5. Экспериментальное исследование расщепления лауэ-пятен в зависимости от поверх -ностных состояний и толщины кристаллов
- 1. 2. Влияние поверхностных дефектов кристаллов на интенсивность рассеяния рентгеновских лучей
- 1. 2. 1. Отражение рентгеновских лучей от толстых идеальных кристаллов с отшлифованными поверхностями
- 1. 2. 2. Рентгенодифракционное исследование приповерхностных деформированных слоев толстых совершенных кристаллов
- 1. 3. Рентгенографическое изображение деформированных приповерхностных частей
- I. Д. Исследование структуры рентгеновских лауэ-пятен в зависимости от несовершенств приповерхностных слоев толстых совершенных кристаллов
- 2. 1. Рентгеноинтерферометрическое исследование однородности распределения плотности вещества в образцах с помощью двухблочного интерферометра
- 2. 2. Рентгеноинтерферометрический метод исследования однородности веществ с помощью трехблоч ных интерферометров
- 2. 2. 1. Трехблочный интерферометр для исследования однородности распределения плотности вещества в образцах
- 2. 2. 2. Исследование однородности распределения вещества с помощью маятниковых полос, полученных в трехблочном интерферометре
- 2. 3. Способ выявления интерференционного происхождения распределения интенсивности в рентгеновских пучках
- 2. 3. 1. Экспериментальное исследование происхождения распределения интенсивностей в рентгеновских пучках
- 3. 1. Возникновение рентгеновских муаровых картин при симметричных отражениях в двухкристальных интерферометрах
- 3. 1. 1. Возникновение муарового распределения интенсивности рентгеновских плоских волн во втором кристалле двухкри стального интерферометра
- 3. 1. 2. Наблюдение муаровых картин
- 3. 1. 3. Наблюдение муаровых картин, вызванных поворотами атомных плоскостей вовдт оси, перпендикулярной к плоскости падения
- 3. 1. 4. Обнаружение поворотов атомных плоскостей вокруг вектора обратной решетки
- 3. 2. Возникновение рентгеновских муаровых картин при асимметричных отражениях в двухкристалъ-ных интерферометрах
- 3. 2. 1. Возникновение муаровых картин при асимметричных отражениях в двухблочных интерферометрах с идеальной геометрией
- 3. 2. 2. Случай асимметричного отражения, когда межплоскостные расстояния первого и второго хфисталла отличаются друг от друга
- 3. 2. 3. Случаи, когда плоскости второго кристалла повернуты относительно плоскостей первого кристалла
- 4. 1. Различные трактовки экстинкции рентгеновских лучей. ПО
- 4. 2. Новая трактовка экстинкции. Характер (природа) влияния экстинкции на интенсивность дифрагированных рентгеновских волн
- 4. 3. Экспериментальное определение направления потока энергии дифрагированных волн в зависимости от степени совершенства и толщины кристаллов основные вывода
Список литературы
- Безирганян П.А., Асланян В. Г. Влияние поверхностных дефек -тов на интенсивность рассеяния рентгеновских лучей. Известия вузов СССР. Физика, 1984, т.27, Jfe I, с.68−71.
- SeuUaa/ket Y., Su, mccto 1 Ргос. JUcctk Phjjs. Sot. (Jo.pe.iO, 133 i, 13, Hi.
- Coxk J. M- baue Pattexn-S {w Tlnick C-ujstaCb at Rest and OsciWatliaij, Рсего€^сЬьсаСеу. P^s. Rev., 1332, v. 42, V? 6, W-f5l.
- Джеймс P. Оптические принципы дифракции рентгеновских лучей. Изд.ИЛ., М., 1950, с. 572.
- Иверонова В.И., Ревкевич Г. П. Теория рассеяния рентгеновских лучей.- Изд. МГУ, 1972, с. 246.7. /АитсЬск С. С. Mu, frtipU Lau* Spots.-РЦъ.Яви-., 1934, v. hS,
- D
- Jamese fteot^ ef diffxa. ctlon,. 5оЫ State P^s., 1963, v. 15, 53−220.
- Авунджян В.И., Безирганян П. А., Аладжаджян Г. М. О расщеплении рентгеновских лауэ-отражений и образовании контраста изображений дефектов в кристаллах, — Известия АН Арм.ССР, Физика, 1979, т.14, вып. З, с.192−197.
- Авунджян В.И., Безирганян П. А. Рентгенотопографическое исследование механических напряжений в колебающихся кристаллах кварца.- Известия АН Арм. ССР, Физика, 1976, вып. II, с.56−61.
- Безирганян П.А. Зависимость маятниковой интерференции и эффекта Бормана от характера интерференции рентгеновских волн в кристаллах.- Препринт Е1У-ФТТ-6, 1976, с. 30.
- ЯтгоДО L.V., ХарСоиз R.} 3
- Авунджян В.И. Исследование влияния упругих (пьезоэлектрических) напряжений и дефектов в кристаллах на интенсивность рассеяния рентгеновских лучей.- Кандидатская диссертация, Ереван, 1975, с. 143.
- Р.Н., Astanijcurv V.&. А&оиЛ ^ featuv 0| X-Rcu^ А. ДОга, е? ьо"ьin D"wpex-fect Cx^btctU. atat. sot., 19S3, (a) 157−161.
- Асланян В.Г., Хзарджян А. А., Гаспарян Л. Г. Рентгенодифрак -ционное исследование приповерхностных деформированных слоев толстых совершенных кристаллов.- Межвузовский сборник научных трудов, Физика, 1984, № 3, с.108−112.
- V.Li,} James R.W., BoSa, a^u,&t С.Н.
- Re-f^xlon, Х-Rays ^ Rook-5aet. РадЛЛД. %и А^ъЪиХъо*, с^ Е Cac/t-bons а, юи*с{ tta in Sodi. иип^ cvyvci
- OWnx 4iom9. P) lit. May., i 921, v. № ZHb, 309−317 • 13li, v. Hi, d- 17> iW^-НЧ, 443.450.
- Vоцрлъ E., ttufimkampjf H. Dftteasitat Region, von, Ron-tge^vstT^k^rv rv-e-u Wa^-^iarv^ cuv KaAspat и, иЛ SteinsjL^. -Якиь. с/. Phys-, v. es, 369 -Ml3.
- So.ki.sa.kft. !Чоо. JUo/tK.-Р^б. Sot., Скрал), 19Ь0Т 1 г, 13.
- Ч<�аХо N. g-еоЦьса Bxcut^W, 196″, 14 — ЦЗ.
- Гинье А. Рентгенография кристаллов, — Физматгиз., М., 1961, с. 604.
- Батурин В.Е., Имамов P.M., Кочальчук М. В., Ковьев Э. К., Па-лапис В.Е., Семилетов С. А., Шилин Ю. Н. Способ исследования совершенства структуры монокристаллов.- А.с. СССР, JS 534 677, 1977.
- Афанасьев A.M., Буйко 1.Д., Имамов P.M., Ковальчук М. В., Кон В. Г., Лобанович Э. Ф. Способ определения профиля распределения структурных искажений в поверхностном слое монокристалла.- А.с. СССР, № 830 206, 1981.
- Безирганян П.А., Асланян В. Г., Семерджян О. С. Рентгеноин -терферометрический метод исследования однородности веществ.-Известия АН Арм. ССР, Физика, 1982, т.17, вып.5, с.273−277.
- Безирганян П.А., Асланян В. Г., Семерджян О. С. Способ исследования плотности материалов.- А.с. СССР, № 1 078 296, 1984.
- Асланян В.Г., Семерджян О. С. Рентгеноинтерферометрический метод исследования однородности веществ. II.- Ученые записки Е1У, естественные науки, 1983, № 3, с.53−56.
- Асланян В.Г. Способ выявления интерференционного происхож -дения распределения интенсивности в рентгеновских пучках.-Молодой научный работник, ЕГУ, 1982, № 2, с.91−96.
- Борн М., Вольф Э. Основы оптики.- Изд. Наука, М., 1970, с. 855.
- Дичберн Р. Физическая оптика.- Физматгиз., М., 1965, с. 631.
- Ландоберг Г. С. Оптика.- Изд.техн.лит., М., 1957, с. 759.
- Я иЛК, 1? т, ft. Co"vtxast a. Stocking oyi X-Rcu^ Topodjaapli*, Р^ь. btat. sot., 19fc2>, Vtl, 77−73.
- Безирганян П.А., Аветисян Г. Г. Механизм возникновения полос смещения рентгеновских волн в двухблочных интерферометрах. -Препринт ИГИС-3, Ереван, 1981, с. 38.
- Ьоаье П., НалЛ Л. JU X-Hcuj ПгъЬьг^гюгъЛгъ. flppE. ЬеЛЛ"хь, 1365, у. б, V? S3 155−156.
- Аоиге ^^txlOtutoOKv of X-Ra^ Veuves Ln, bivvptal |еготг?"г&. -P^s. state sot., 1953, (a) 78,
- Безирганян П.А., Асланян В. Г. Возникновение и наблюдение дарового распределения интенсивности рентгеновских волн в двухкристальных интерферометрах.- Кристаллография, 1984, вып.5.
- Безирганян П.А., Асланян В. Г. Рентгеноинтерферометрический способ определения искажений атомной решетки монокристалла. Положительное решение на авторское свидетельство СССР от 24.11.83 г. на заявку № 3 595 515/18−25 (80 489).
- Безирганян П.А., Асланян В. Г. Возникновение рентгеновских муаровых картин при асимметричных отражениях в двухблочных интерферометрах.- Кристаллография, 1984, вып.5.
- Hcus^vlmoto Н., Hcuvrubm-l A., Mukl Т.rvcuHitaC- Ц. ЕОы&чоуъебL-f-fx^c-'tLorv |oa. i&e fLfecXtorv Mlctoscopbo Gu^etaCb (x^tlcc.b. \. tJmag-e a| Su, pei, posed Gt^sta-^S (Aolxe Pait-Ctrv). -pKie.Txarvs. Ko^.Soc., 1961, A 2,53, № 1033, 490−516.
- G-evets Я. ^^гиьу^соХ M0ixe FгЬп^-е. PattexKis. -ы. 196 у.е.аг (1720.
- Ha, 4, t Л. An, aft^btrb иг гиЛг. В tit. J, flppt. Р^ь., 1968, v/. 4, set. 1405 — 14
- Ldn, g Д.Я., MUlsoov V. p. $ Scafe. сбЬьрОлаг. т&уъ'Ь'э Rev-eaEed
- X Ray, Ао1гё ЗородгарЬ*. — #pp6. PUs. betters, 1965″, v. v?&,
- СкЬксЫа, i. Ofeset*xiiort o (Matte Pa, itetn,& V/i-th Su, pei-posed CcJS Cn^sta&s. ДррС. Pbus. tattets, v. Ate ^ 193−195.
- CU"wa, J. MoLue /Wsn, neme"vt 0{ Sr"a€C UtiUae. Vitt^toPns io <2>opec{ Jn^uctli^. Lku Col S. Ptoc. ОпПг. Cen<{. Qriоьо-Ь (Boston.) 136G, W-ЗЯЗ.
- Баа^^гг. J., Ьалд. АЛ. -Ho-tit C^st., 196M24, 24*.
- Lang. A. R. Y. Ra^ Мр1ге Зоро^арК^. '-'aiticfi c#e|ects in QluaVtz. -УаЛиге, 196S, v. 2.20^ - 657.
- Пинскер З.Г. Современные представления о природе дифракционного муара.- Проблемы современной 1фисталлографии, под редакцией Вайнштейна Б. К., 1975, с. 172−186.
- Исходя из этих выводов, мы экспериментально исследовали характер дифракции, вернее, зависимость направления потока энергии дифрагированных волн в кварцевых и кремниевых кристаллах.
- Фотоснимки рентгенограмм, полученные от вышеуказанных об -разцов, приведены на рисунке 4.II.
- Из рисунка 4,11(1−2) четко видно:
- В толстых совершенных кристаллах кремния устанавливается
- Безирганян П.А., Аладжаджян Г. М. Исследование отклонения от закона Вульфа-Брэгга в общем случае, — Известия АН Арм.ССР, Физика, 1976, т, П, вып.4, с.273−279,
- Безирганян П.А., Асланян В. Г. К вопросу первичной экстинкции рентгеновских волн, — Известия вузов СССР, Физика, т.26, вып. II, деп. в ВИНИТИ от 13.04.83 г., per. № 1961−83.
- Безирганян П.А., Асланян В. Г. Вопросы экстинкции рентгеновских лучей, — Известия АН Арм.ССР, Физика, 1984, т.19,вып, 5.
- ЗъъА’ип, C.Gr. 5W SWufl X-Rcufl R^&xiorv. -PV.ie.Mfti., 19й, 27, 315 333.57. с^лгО w C. Gr. Золоту o^ X Rcuj Rt^&xlovb. Peat И. -Phil./Uj., ifli4, 14, 6*5 — 630.
- MirtiYi e.Gr. 7U R^f^r uOП/ oSf X «•tOM 3rrv, p C-^staCs. PKi i. Ma^., 1312, v. 43, Ve 257, 800−88.3.
- Lft, w. e Л. Etgelaexcuat MttuT^bSs, 1331, 10, 153.
- Lcua. h. Roaigeastaabe ЗпЛеъ^аегъг^п,. -2-te1. G"est and Poxtlg,
- X Gr., bftLpal^, 194 $, p. 410.
- Lcv, M€ Ron, ttjen, 5"t- ЗпЛег^чьгьгеп/. -JjkaotarrUscb-e V-e^^^-eseetsoKa-ft, Frcwtk^i/t /U /Ww, 1360, p.
- ZcwAaAo&iGvv V/. H- J^e-o^uj. X-Ra-у, n, Ci^staCs. -/VeiO Yo-ък, J. V/оЦ a*ot Sons, 1945, p. 255.
- Та, лгтдА/1а,, !K
- Нал/t M., fitn.4 fl. ей flGso? u, t» Meo.su.'ujm^n/t o| Ь^гиойст-е Fo/C/toxb Ufctvig, ct A/eiO л^аа/куи-саб 9-егСп-с^ Ej^-feot,-floU c-uf&t., 19−70, ггз-^аз.
- Безирганян П.А., Безирганян К. Н. К вопросу первичной экстинкции.- Ученые записки ЕГУ, естественные науки, Физика, 1975, № 3, с.39−47.
- Безирганян П.А. К методу определения размеров кристаллов с использованием первичной экстинкции рентгеновских лучей.-ДАН Арм. ССР, I960, т.32, № 4, о.81−83.
- Безирганян П.А., Заргарян Е. Г., Асланян В. Г. Особенности дифракции рентгеновских лучей в кварцевых кристаллах.- Известия АН Арм. ССР, Физика, 1984, т.19, вып.1, с.35−41.
- Безирганян П.А., Заргарян Е. Г., Асланян В. Г. Рентгенографический способ исследования структурного совершенства монокристаллов.- Положительное решение от 06.03.84 г. на заявку № 3 643 773/24−25 (136 676).
- Б-ен bX^cwvLjCLn ?М ^аа^гуали E. G-., V. Gr. P^ou&a'titUs о$ X ч.ам. Жь^пасАьоуъ иг (Хиа-т/Ь? /Aon-oc^stoXs. — Ci^sta? Res. Ь TecMrwZ., ШЦ^ v. IS, p. 617−62.5.