Алгоритм калибровки приборов спектрального анализа материалов, инвариантный воздействию влияющих факторов
Диссертация
Апробация работы. Положения диссертационной работы доложены на научно-технических конференциях и семинарах: VIII Международной научно-практической конференции «Теория, методы и средства измерений, контроля и диагностики» (г. Новочеркасск, 2007), Всероссийской научно-технической конференции «Приоритетные направления развития науки и технологий» (г. Тула, 2008), Международной научно-практической… Читать ещё >
Содержание
- 1. СРАВНИТЕЛЬНЫЙ АНАЛИЗ МЕТОДОВ И СРЕДСТВ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА МАТЕРИАЛОВ С ПРИМЕНЕНИЕМ СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА
- 1. 1. Сравнительные характеристики спектральных методов элементного анализа
- 1. 2. Спектральные приборы для проведения АЭСА с применением дугового источника возбуждения спектра
- 1. 3. Спектральные приборы с фотографической и фотоэлектрической регистрацией спектров
- 1. 4. Автоматизация способов обработки спектральной информации
- 2. ПОВЫШЕНИЕ ДОСТОВЕРНОСТИ КОНТРОЛЯ НОРМАТИВНЫХ ПАРАМЕТРОВ МАТЕРИАЛОВ
- 2. 1. Экспериментальные исследования законов распределения измеряемых величин
- 2. 2. Исследование влияния точности средств измерения на появление ошибок первого и второго рода
- 2. 3. Экспериментальные исследования точности средств контроля
- 2. 4. 0. пыт использования автоматизированных систем промышленного спектрального анализа
- 3. 1. Составляющие погрешностей АЭСА
- 3. 2. Исследование факторов, влияющих на результаты измерения интенсивностей при спектральном анализе материалов
- 3. 3. Планирование эксперимента при поиске оптимальных условий
- 3. 4. Статистический анализ экспериментальной информации и выбор метода ее обработки
- 4. 1. Метод построения градуировочных зависимостей спектральных приборов
- 4. 2. Критерии качества методов анализа
- 4. 3. Влияние внешних факторов на положение градуировочных графиков
- 4. 4. Разработка функции и алгоритма устойчивого градуирования
- 4. 5. Исследование устойчивых градуировочных графиков
- 5. 1. Внутрилабораторный контроль точности с помощью контрольных карт Шухарта по количественному признаку
- 5. 2. Основные показатели исполнения процесса контроля количественного состава материалов
- 5. 3. Внутрилабораторный контроль прецизионности измерений с использованием целевой функции
- 5. 4. Статистическое регулирование процесса контроля: численное определение вероятности брака и средней длины серии
Список литературы
- ПР 50.2011−94 «Порядок ведения государственного реестра средств измерений». М.: Издательство стандартов. 1995.
- Королев H. В. Опыт применения эмиссионного спектрального микроанализа для повышения надежности конструкционных материалов/ Н. В. Королев, Г. Г. Колчин, Б. С. Ермаков. Л.: ЛДНТП, 1987, 28 с.
- С. В. Boss, К. J. Fredeen Concepts, Instrumentation and Techniques in inductively Coupled Plasma Optical Emission Spectrometry. Perkin Elmer Instruments, 1997. 116p.
- ГОСТ 27 809–95. Чугун и сталь. Методы спектрографического анализа. М.: Издательство стандартов. 1995.
- ГОСТ 18 895–97 Сталь. Метод фотоэлектрического спектрального анализа. М.: Издательство стандартов. 1997.
- ГОСТ 27 611–88 Чугун. Метод фотоэлектрического спектрального анализа. М.: Издательство стандартов. 1988.
- Заякина С. Б. Высокая информативность прямого атомно-эмис'сионного спектрального анализа при применении МАЭС / С. Б.
- Заякина, Г. H. Аношин, Л. М. Левченко, В. Н. Митькин, А. Н. Путьмаков // Аналитика и контроль. 2004. Т8. № 3. с. 236−247
- Vasilyeva I. Е. Calibration model of simultaneous multielement atomicemission analysis using analytical line groups of each determined element/
- E. Vasilyeva, E. V. Shabanova //Fresenius J. Anal. Chem. 1998. V. 361. № 3. P. 280−282.
- Орлов А.И. Непараметрическое точечное и интервальное оценивание характеристик распределения / Журнал «Заводская лаборатория». 2004. Т.70. (5). с.65−70.
- Пчелинцев А. М. Экспертное исследование свинцовых сплавов методом количественного безэталонного эмиссионного спектрального анализа/А. М. Пчелинцев, В. А. Корнеев. Методическое пособие для экспертов. М.: ВНИСЭ. 1983. 21 с.
- Б. И. Заксас Многоканальный анализатор атомно-эмиссионных спектров / Б. И. Заксас, А. Б. Корякин, В. А. Лабусов, В. И. Попов, Н. П. Рязанцева, И. Р. Шелпакова //Заводская лаборатория. № 9, 1994. с. 20−22.
- Неразрушающий контроль. В 5 кн., Кн. 4 Контроль излучениями / Б. Н. Епифанцев, Е. А. Гусев, В. И. Матвеев, Ф. Р. Соснин-Под ред. В. В. Сухорукова. -М.: Высш. шк., 1992. 321 с.
- Taylor P., Schuster Р. / Spectrochim. Acta. 1986. V41B. P. 81−103.
- Sullivan J. J., QuimbyB. /Analyt. Chem. 1990. V62. P. 1034−1043.
- Лившиц A. M. Разработка спектральной аппаратуры на базе приборов с зарядовой связью // Оптика и спектроскопия. 1994. Т.76, № 2. с. 363−368.
- Лабусов В. А. Многоэлементные твердотельные детекторы излучения большого размера для атомно-эмиссионного спектрального анализа / В. А. Лабусов, В. И. Попов, А. В. Бехтерев, А. Н. Путьмаков, А. С. Пак. Аналитика и контроль № 2, Т.9, 2005. С.104−109.
- Пейс ах сон И. В. Оптика спектральных приборов. Ленинград. Машиностроение, 1970. 270 с.
- Шелпакова И. Р. Многоэлементные твердотельные детекторы и их использование в атомно-эмиссионном анализе. / И. Р. Шелпакова, В. Г. Гаранин, В. А. Лабусов / Заводская лаборатория. 1999. № 10. С. 3−16.
- Cho J. H., Gemperline P. J., Walker D. / Appl. Spectrosc. 1995. V. 49. № 12. P. 1841−1845.Sadler D. A., Littlejohn D. / J. Anal. Atom. Spectrom. 1995. V. 10. № 3. P.253−257.
- Sadler D. A., Littlejohn D., Riley R, Perkins С. V. / Appl. Spectrosc. 1996. V. 50. № 4. P. 504−510.
- V. G. Garanin, I. R. Shelpakova Spectrum shift fitting technique for atomic emission spectrometry / Spectrochimica Acta Part В 56 (2001) P.351−362.
- Райхбаум Я. Д. Физические основы спектрального анализа. M.: Наука. 1980. 158 с.
- Нагибина И. М. Фотографические и фотоэлектрические спектральные приборы и техника спектроскопии./ И. М. Нагибина., Ю. К. Михайловский / JL Машиностроение. 1981.246 с.
- Faber К., Kovalski В. R. / Journal of Chemometrics. 1997. № 11. P. 181−238.
- Айвазян С. А. Прикладная статистика. Основы моделирования и первичная обработка данных/ С. А. Айвазян, И. С. Енюхов, Л. Д. Мешалкин М.: Финансы и статистика. 1983. 471 с.
- Айвазян С. А. Прикладная статистика. Исследование зависимостей/ С. А. Айвазян, И. С. Енюхов, Л. Д. Мешалкин./ М.: Финансы и статистика. 1985. 487 с.
- Айвазян С. А. Прикладная статистика. Классификация и снижение размерностей/ С. А. Айвазян, И. С. Енюхов, Л. Д. Мешалкин /М.: Финансы и статистика. 1989. 607 с.
- Гаранин В. Г. Аналитические возможности многоканального анализатора эмиссионных спектров (МАЭС): дисс. канд. хим. наук. -Новосибирск. 2000. 120с.
- Болынов М.А. Некоторые современные методы элементного спектрального анализа и тенденции их развития (обзор) // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. № 9. Т.70. 2004. С. 3−13.
- Морозов И.А. Автоматизированные системы оптического спектрального анализа металлов и сплавов. / И. А. Морозов., В. А. Мельников, А. П. Никольский / Заводская лаборатория. № 6,1986, С. 20.
- С ал мов В. Н. Об алгоритме построения градуировочных графиков в автоматизированных системах обработки результатов спектрального анализа. /
- B.Н. Салмов, Е. Б. Цой, К. К. Коваль / Заводская лаборатория. № 6, 1986,1. C. 27−29.
- Морозов Н. А. Совершенствование методов атомно-эмиссионного спектрального анализа металлов и сплавов с помощью ЭВМ. /Заводская лаборатория. № 8, 1991, С. 22.
- Петров JI. JI. Закономерности распределения результатов в аналитических интервалах методик выполнения измерений при количественных методах элементного анализа / Заводская лаборатория 2001, № 12, С.49
- Кусельман И. И. Алгоритм использования спектральной информации при аттестации стандартных образцов состава сплавов / И. И. Кусельман, JI.A. Малыхина / Заводская лаборатория, 1983, № 2, С. 34−35.
- Салмов В.Н. Система автоматизированной обработки результатов спектрального анализа проб металлов/В.Н. Салмов, А. И. Косенко А. И., В. А. Усов, В. Б. Джураев / Заводская лаборатория, 1986, № 2, С. 22−24.
- Коваленко М. Н.Разработка методики анализа алюминия с использованием атомно-эмиссионного спектрометра «Эмас-200Д» / М.Н. Коваленко, В. А. Чекан, JI.B. Маркова, В. В. Коледа, А. Ф. Ту рутин/ Заводская лаборатория. Диагностика материалов, 2000, № 1, с.22
- Козлов JI. П. Оптимизация параметров градуировочных функций для квантометров фирмы ARL.I Л. П. Козлов, В.А. Шеверда/ Заводская лаборатория. 1988, № 2, С. 40.
- Борбат А. М. Количественный эмиссионный спектральный анализ без сопровождающих эталонов. /А. М. Борбат, В.И. Слабеняк/ Журнал прикладной спектроскопии. 1984, Т. 40, № 5, с. 718−720
- Vasilyeva I. Е., Shabanova Е. V. / Fresenius Journal of Analytical Chemistry. 1998. V. 361. № 3.P.280−282.
- Morales J. A., van Veen E. H., de Los-Vollebregt M.T.C.f Spectrochimica acta. 1998. V.53 B. № 5. P.683−697.
- Шабанова E. В. Модели градуировки и оценка их применимости в многоэлементном атомно-эмиссионном анализе твердых образцов. / Е. В. Шабанова, И. Е. Васильева, И. JI. Васильев, А. И.
- Непомнящих. Заводская лаборатория. Диагностика материалов. № 2. 2005 С. 9−15.
- Буравлев Ю. М. Влияние структуры на результаты спектрального анализа сплавов. М.: Металлургиздат, 1963, 152 с.
- Никольский А. П. Автоматизированный экспресс-контроль состава материалов в черной металлургии/ А. П. Никольский, В. П. Замараев, Г. В. Бердичевский/М.: Металлургия, 1985. 104 с.
- Верховский Б. И. Автоматизация аналитического контроля в металлургии // Заводская лаборатория, 1982, № 2, С. 37−40.
- Юровицкая М. И. Спектрографический метод определения химического состава алюминиевых сплавов / М. И. Юровицкая, Т.М. Ковалева/ Заводская лаборатория, 1985, № 11, С. 93.
- Кабанова О. В.Нетрадиционный метод поиска параметров нелинейных моделей. / О.В. Кабанова, Р.И.Слободчикова/Заводская лаборатория. 1978, 44, № 3, С. 334−338.
- Карих Ф. Г. Сопоставление возможностей экспрессных фотографических методов анализа сплавов / Ф. Г. Карих, В.И. Лякишева/ Заводская лаборатория, 1985, № 3
- Automated multicomponent analysis with corrections for inferences and mattrix effects / J. H. Kalivas, B. R. Kowalski //Analytical chemistry, 1983, № 55, p. 532−535.
- Пат. 2 035 718 Россия, МКИ G01N21/67. Бюллетень. Способ определения массовых долей элементов в материалах и сплавах / Никитенко Б. Ф., Одинец А. И., Казаков Н. С., Кузнецов В. П., Кузнецов А. А. 1995. Бюллетень № 14.
- Никитенко Б. Ф., Казаков Н. С., Кузнецов А. А. Разработка и использование автоматизированных измерительных систем в спектральном анализе/Б.Ф. Никитенко, Н. С. Казаков, A.A. Кузнецов/ М., НТЦ «Информтехника», 1990. 80 с.
- Зайдель А.Н. Таблицы спектральных линий/ А. Н. Зайдель, В. К. Прокофьев, С. М. Райский, В. А. Славный, Е.Я. Шрейдер/ М.-Наука, 1969.784 с.
- Еханин М. В. Применение математического планирования эксперимента при моделировании процессов цветной металлургии/ М. В. Еханин, О. В. Кабанова/ М.: ЦНИИ цветмет экономики и информации, 1984, вып. 4. 48 с.
- Дуймакаев Ш. И. Использование рассеянного, первичного излучения при РСА методом теоретических поправок. // Заводская лаборатория 1984. № 11. С. 20−23.
- Никитенко Б.Ф. Информационно-измерительные системы в атомно-эмиссионном спектральном анализе, 4.1, «Автоматизированный метод контрольного эталона для всего диапазона анализа» / Б. Ф. Никитенко, Н.С. Казаков/Дефектоскопия, № 10, 1998, с. 64−88.
- Никитенко Б.Ф. Информационно-измерительные системы в атомно-эмиссионном спектральном анализе, ч.2, «Автоматизированный метод контрольного эталона для всего диапазона анализа» / Б. Ф. Никитенко, Н.С. Казаков/ / Дефектоскопия, № 11, 1998, с. 58−78.
- Пат. 18 286 966 Россия, МКИ G01N21/67. Способ определения массовых долей элементов в материалах и сплавах / Б. Ф. Никитенко, Н. С. Казаков, А. И. Одинец, В. П. Кузнецов, A.A. Кузнецов // Бюллетень. 1994. № 4.
- Пат. 2 035 718 Россия, МКИ G01N21/67. Способ определения массовых долей элементов в материалах и сплавах / Б. Ф. Никитенко, Н. С. Казаков, А. И. Одинец, В. П. Кузнецов, A.A. Кузнецов // Бюллетень. 1995. № 14.
- Арнаутов JI В. Квантометрический анализ металлов и сплавов/ JI.B. Арнаутов, А. Д. Кире ев/Новосибирск: Наука, 1990. 164 с.
- Малышев В. И. Введение в экспериментальную спектроскопию. М.: Наука, 1979. 420 с.
- Буравлев Ю. М. Фотоэлектрические методы спектрального анализа металлов и сплавов. М.: Металлургия, 1984. 225 с.
- Ротман А. Е. Методы спектрального анализа. JI: Машиностроение, 1975. 330 с.
- Дрейзин В. Э. О статистическом подходе к решению многопараметрических задач неразрушающего контроля. // Дефектоскопия 1984. № 3. С. 5−14.
- Ибрагимов X. И. Работа выхода электрона в физико-химических исследованиях расплавов и твердых фаз на металлической основе. / X. И. Ибрагимов, В. А. Корольков /М.: Металлургия. 1995. 272 с.
- Арсеньев П. П. Металлические расплавы и их свойства/ П. П. Арсеньев, JI.A. Ко л е дов/М. Металлургия. 1976.375 с.
- Одинец А. И. Разработка новых способов определения структурных особенностей материалов спектральными методами анализа / А. И. Одинец, A.A. Кузнецов, Д. С. Шишкин / Омский научный вестник № 1. 2005. С. 100 104.
- Кузнецов А. А. Комплексные методы диагностирования промышленных изделий и узлов подвижного состава средствами атомно-эмиссионной спектроскопии. М.: Спутник +, 2005. 198 с.
- Пытьев Ю. П. Математические методы интерпретации эксперимента. М.: Изд-во МГУ, 1990. 352 с.
- Жиглинский А. Г. Оптимальные условия наблюдения корреляционных связей в спектре искрового разряда // Журнал прикладной спектроскопии 1978, т. 28. С. 381 387.
- Петров А. А. Корреляционный спектральный анализ веществ./ A.A. Петров, Е. А. Пуш к ар ев а/С.-Петербург. Химия. 1993. 343 с.
- Алтынцев М. П. Новые методы автоматизированного спектрального анализа: Тезисы докл. 15-й Российской н.-т. конф. «Неразрушающий контроль и диагностика» / М. П. Алтынцев, Ю. М. Вешкурцев, A.A. Кузнецов/Росс. общ. неразр. конт. М., 1999.
- Борбат А. М.Количественный спектральный анализ без сопровождающих эталонов / A.M. Борбат, В.И. Слабеняк/ Журнал прикладной спектроскопии. 1984. Т.40. № 11. С. 718 722.
- Морозов Н. А. Методы оптического спектрального анализа алюминиевых сплавов с применением ЭВМ.- Заводская лаборатория, 1986, № 9. С. 21 -28.
- Поль Р. В. Оптика и атомная физика. М., 1966. — 552 с.
- Райхбаум Я. Д. Физические основы спектрального анализа. -М.: Наука, 1980, 158 с.
- Жуковский Ю. М. Автоматизированная обработка результатов эмиссионного спектрального анализа // Заводская лаборатория. 1988. № 9. С. 47−48.
- Карманов Н. С. Автоматизированная система обработки фотографических спектров: тез. докл. III региональной конференции «Аналитика сибири-90» / Н. С. Карманов, С. Ф. Перелыгин, Т.И. Казанцева/Иркутск, 1990. с. 278.
- Йорданов Ю. X. Автоматизированная система обработки спектрограмм при спектральном анализе / Ю. X. Йорданов, С. М. Беличев, И. В. Цапов, Р.К. Злажев/ Заводская лаборатория. 1987. № 8. С. 30−32.
- Taylor B.L., Birks F. //Analyst. 1972. V. 97, № 1158, P. 681−690.
- С ал mob В. H. Система автоматизированной обработки результатов спектрального анализа проб металлов / В. Н. Салмов, А. И. Косенко, В. А. Усов, В. Б. Джураев //Заводская лаборатория. 1986. — № 2. — С. 22−24.
- Львовский Е. Н. Статистические методы построения эмпирических формул. М.: Высшая школа, 1988. 239 с.
- Новицкий П. В. Оценка погрешностей результатов измерений./ П. В. Новицкий, И.А. Зограф/Л.: Энергоатомиздат. 1985.248 с.
- Михеев B.C. Точностный расчет при проектировании измерительных приборов.//Измерительная техника. № 12, 2000
- Кондратов С. В. Многоканальные фотоэлектрические системы SKCCD : Тезисы докл. XVI Уральской конф. по спектроскопии / С. В. Кондратов, A.M. Жадобин, В. Л. Мусихин, В.И. Власов/ Уральский гос. техн. ун-т. Екатеринбург, 2003. С. 221 222.
- V. G. Garanin, I. R. Shelpakova. Spectrum shift fitting technique for atomic emission spectrometry / Spectrochimica Acta Part В 56 (2001) 351—362
- Gilbert Strang & Truong Nguyen. Wavelets and Filter Banks. Wellesley: Cambridge Press, 1996.
- Бендат Дж., Пирсол А. Прикладной анализ случайных данных. М.: Мир, 1989.
- Бендат Дж., Пирсол А. Приложения корреляционного и спектрального анализа . М.: Мир, 1982.
- David Livingstone A practical scientific data analysis/John Willy &Sons.LTD, 2001
- Бендат Дж., Пирсол А. Измерение и анализ случайных процессов. М.: Мир, 1974.101.3айдель А. Н. Погрешности измерения физических величин. Л.: Наука, 1986. 431 с.
- ГОСТ Р ИСО/МЭК 17 025−2006. Общие требования к компетентности испытательных и калибровочных лабораторий.
- МИ 2335−95. Внутренний контроль качества результатов химического анализа.
- Shewhart W.A. (Deming W.E., ed.). Statistical method for the view point of quality control. Pennsylvania: Lancaster Press, 1999.
- Налимов В.В. Статистические методы планирования экстремальных экспериментов/ В. В. Налимов, Н. Л. Чернова М.: Физматгиз, 1965. — 340 с. 106. 1 у.е.51ёагс13.О., вгоЛ Т. //СИп.Скет. 1981. V. 27. Р. 1536−1545.
- Дворкин В.И. Метрология и обеспечение качества химического анализа. М.: Химия. 2001 г. 263 с.
- Мердок Дж. Контрольные карты. М.: ФиС, 1986. 150 с.
- Дворкин В. И. Внутрилабораторный контроль точности результатов измерений по стандартам ГОСТ Р ИСО 5725−1 и ГОСТ Р ИСО 5725−6-2002 //Партнеры и конкуренты, 2003 г., № 1. С. 26−39
- ГОСТ Р ИСО 5725−1-2002. Точность (правильность и прецизионность) методов и результатов измерений. Часть 1. Основные положения и определения.
- ГОСТ Р ИСО 5725−2-2002 Точность (правильность и прецизионность) методов и результатов измерений. Часть 2. Основной метод определения повторяемости и воспроизводимости стандартного метода измерений.
- ГОСТ Р ИСО 5725−3-2002 Точность (правильность и прецизионность) методов и результатов измерений. Часть 3. Промежуточные показатели прецизионности стандартного метода измерений.
- ГОСТ Р ИСО 5725−4-2002 Точность (правильность и прецизионность) методов и результатов измерений. Часть 4. Основные методы определения правильности стандартного метода измерений.
- ГОСТ Р ИСО 5725−5-2002 Точность (правильность и прецизионность) методов и результатов измерений. Часть 5. Альтернативные методы определения прецизионности стандартного метода измерений
- ГОСТ Р ИСО 5725−6-2002 Точность (правильность и прецизионность) методов и результатов измерений. Часть 6. Использование значений точности на практике.
- Голубев Э. А. Стандарт 5725 изложение и комментарии // Заводская лаборатория. Диагностика материалов, 2003, №№ 6−10.
- Панева В. И.Внедрение лабораторно-информационной системы путь к повышению достоверности аналитических измерений / В.И. Панева, И. В. Дюмаева/ Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2004, № 2, С. 58−66.
- Нежиховский Г. Р. Опыт метрологической экспертизы методик количественного химического анализа // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 1999, № 12, С. 50.
- Абраменко Ю. М. Метрологическая экспертиза методик количественного химического анализд. Опыт проведения и проблемы / Ю. М. Абраменко, H.H. Здориков, О. В. Карпов, С. Д. Успенский / Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 1999, № 12, С. 51−55.
- Р 50.2.003−2000. Рекомендации по метрологии. ГСИ. Внутренний контроль качества результатов измерений. Пакет программ QControl. ИПК Издательство стандартов, 2000.
- ГОСТ 8.315−97. ГСИ. Стандартные образцы состава и свойств веществ и материалов. Основные положения.
- Буйташ П. Обеспечение качества результатов химического анализа/П. Буйташ, Н. М. Кузьмин, JI. Лейстнер/М:Наука. 1993.С.42.
- Семенко Н. Г. Нормативная база по созданию и применению стандартных образцов // Измерительная техника, № 7, 2003. С. 63−65.
- ГОСТ 8.532−2002. ГСИ. Стандартные образцы состава веществ и материалов. Межлабораторная метрологическая аттестация. Содержание и порядок проведения работ.
- Пономарева О. Б. Межлабораторные сравнительные испытания форма проверки технической компетентности лабораторий / ОБ. Пономарева, СБ. Шпаков/Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2005, № 4, С. 56−61.
- Калмановский В. И. Проблемы аттестации методик количественного химического анализа // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2004, № 12, С.59−62.
- Нуцков В. Ю. Лабораторно-информационные системы. Критерии выбора. /В. Ю. Нуцков, И. В. Дюмаева/ Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2004, № 10 С.55−59.
- Смагунова А. Н. Алгоритмы получения оценок систематической составляющей погрешности результатов анализа проб / А. Н. Смагунова, Л. И. Белых, E.H. Коржова, В.А. Козлов/ Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2003, № 4, С. 56.
- Васильева И. Е. Оптимизационные задачи при выборе методических условий анализа вещества / И. Е. Васильева, Е. В. Шабанова, И.Л. Васильев/ Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2001, № 5, С. 60−64.
- Онищенко А. М. Анализ погрешностей приборов контроля состава и свойств веществ / А. М. Онищенко, А.Ю. Онищенко/ Автометрия. № 2,2001 С. 112−114.
- Булатицкий К. К. Особенности метрологических характеристик методик количественного химического анализа как методик выполнения косвенных измерений // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2001, № 6, С. 59.
- Тришкина М. В. Методы контроля качества результатов испытаний продукции, применяемые в ОАО «Уралэлектромедь» // Сб. трудов XVII Уральской конференции по спектроскопии. Екатеринбург. 2005. С. 173−175.
- РД 153−34.0−11.117−2001 «Основные положения. Информационно -измерительные системы. Метрологическое обеспечение».
- Маркова Е. В. Метрологические особенности количественного химического анализа / Е. В. Маркова, Ю.В. Грановский/ Заводская лаборатория/, 1999, № 12, С. 48−49.
- Калмановский В. И. Единство измерений и количественный химический анализ / Заводская лаборатория, 1999, № 12, С. 49−52.
- Бегунов А. А. Особенности разработки и метрологической аттестации аналитических методик / A.A. Бегунов, А.П. Пацовский/ Заводская лаборатория, 1999, № 12, С. 52−53.
- Зажирко /В.Ф. Капустьян, А. А. Кузнецов/Омская гос. акад. путей сообщения. Омск, 1996 / Омский ин-т инж. ж-д. транспорта. Омск.
- Адлер Ю. П. Планирование эксперимента при поиске оптимальных условий/Ю.П.Адлер, Е. В. Маркова, Ю. В. Грановский, М.: Издательство «Наука», 1976. 279 с.
- Рожков Н.Ф. Планирование и организация измерительного эксперимента/ Н. Ф. Рожков Омск. ОмГТУ. 2009.106 с.
- МЗ.Ахназарова C.JI. Методы оптимизации эксперимента в химической технологии/ C.JI. Ахназарова, В.В. Кафаров/М.: Издательство «Высшая школа», 1985. 328 с.
- Карпов Ю.А. Метрологические проблемы сертификации партий веществ и материалов по химическому составу (обзор)/ Ю. А. Карпов, И. А. Майоров, JT.H. Филимонов/ Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2001. № 2. С. 52−64.
- Каплан Б.Я. Метрология аналитического контроля производства в цветной металлургии./ Б. Я. Каплан, JI.H. Филимонов, И. А. Майоров/ М.: Металлургия, 1989. 196 с.
- Рубичев Н. А. Достоверность допускового контроля качества / Н. А. Рубичев, В.Д. Фрумкин/М.: Издательство стандартов, 1990.171 с.
- Скворцов А. В. Расчет надежности, достоверности диагностирования и контроля технических систем с несколькими контролируемыми параметрами/ A.B. Скворцов, М. С. Уколов / Измерительная техника. 2006. № 6. С.9:11
- ГОСТ Р 50 779.42−99 «Статистические методы. Контрольные карты Шухарта». М., 2004. 36 с. (ИПК Издательство стандартов)
- ГОСТ 1583–93 «Сплавы алюминиевые литейные. Технические условия».
- Jose А. С. Broekaert. Analytical Atomic Spectrometry with Flames and Plasmas. Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. 2002. 347p.
- Лабусов В. А., Попов В. И., Путьмаков А. Н., Бехтерев А. В. Анализаторы МАЭС и их использование в качестве систем регистрации и обработки атомно-эмиссионных спектров / Аналитика и контроль. Т.9. № 2. 2005. С. 110−115.
- Лабусов В. А., Попов В. И., Бехтерев А. В., Путьмаков А. Н., Пак А. С. Многоэлементные твердотельные детекторы излучения большого размера для атомно-эмиссионного спектрального анализа / Аналитика и контроль. Т.9. № 2. 2005. С. 104−109.
- Универсальный генератор с электронным управлением УГЭ-4. М.: Машприборинторг. 1990. 133 с.
- Змитревич А. Г., Пупышев А. А. Атомно-эмиссионный анализ спектральный анализ ферросплавов: монография / Екатеринбург: УГТУ-УПИ, 2009. С.134−143.
- Орлов А.И. Современная прикладная статистика. Журнал «Заводская лаборатория». 1998. Т.64. No.3. с. 52−60.
- Мешкова О. Б Minimization of probability checking error for quantitative material composition. (Минимизация вероятностей ошибок контроля количественного состава материалов) / А. А. Кузнецов, О.Б.
- Мешкова // Материалы международной научно-практической конференции «Современные проблемы и пути их решения в науке, транспорте, производстве и образовании 2008»: том-I. Транспорт. Одесса:2008-С. 100−102.
- Мешкова О.Б. Модернизация спектрального оборудования для диагностирования и ремонта подвижного состава / А. А. Кузнецов, О. Б. Мешкова // Транспорт Урала. 2009. № 2 (21). С. 86−89.
- Мешкова О.Б. Об определении показателей достоверности и возможностей контроля количественного состава материалов / А. А. Кузнецов, О.Б. Мешкова// Омский научный вестник. 2009. № 3. С.180−184
- Мешкова О.Б. Методы и средства измерений, испытаний и контроля / A.A. Кузнецов, О. Б. Мешкова, Т.А. Тигеева/ Учебное пособие. Омск: изд-во ОмГУПС, 2009. 138 с.
- МешковаО.Б. О возможностях уменьшения неопределенности в практике атомно-эмиссионного спектрального анализа / A.A.
- Кузнецов, О.Б. Мешкова /Материалы II международной научно-практической конференции «Измерения в современном мире-2009» / СПбГПУ, Санкт-Петербург. 2009.С. 126−128
- Мешкова О.Б. Внутрилабораторный контроль точности результатов спектрального анализа с применением контрольных карт / А. А. Кузнецов, О. Б. Мешкова // Известия Транссиба, 4(4), 2010.С.16−22.
- Analytical Atomic Spectrometry with Flames and Plasmas. Jose A. C. Broekaert Copyright 2002 Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGA ISBN: 3−52 730 146−1 (Hardback) — 3−527−60 062−0 (Electronic).
- Applied Chemometrics for Scientists Richard G. Brereton University of Bristol, UKCopyright John Wiley & Sons Ltd, The Atrium, Southern Gate, Chichester, West Sussex P019 8SQ, England 2007.
- Pure component spectral recovery and constrained matrix factorizations: concepts and applications Klaus Neymeyra, Mathias Saw alia and Dieter Hessb Published online in Wiley Interscience: 8 January 2010 Journal of Chemometrics.
- MODERN SPECTROSCOPY Fourth Edition J. Michael Hollas University of ReadingCopyright by John Wiley & Sons Ltd, The Atrium, Southern Gate, Chichester, West Sussex P019 8SQ, England 2004.
- Inductively Coupled Plasma Spectrometry and its Applications Edited by Steve J. Hill School of Earth, Ocean and Environmental Sciences University of Plymouth Plymouth, UK.
- A Practical Guide to Scientific Data Analysis David Livingstone ChemQuest, Sandown, Isle of Wight, UK This edition first published 2009 John Wiley & Sons, Ltd.
- R. Hippler, H. Kersten, M. Schmidt, K.H. Schoenbach (Eds.) Low Temperature Plasmas Fundamentals, Technologies and Techniques 2008 ISBN: 978−3-527−40 673−9.
- R. d’Agostino, P. Favia, Y. Kawai, H. Ikegami, N. Sato, F. Arefi-Khonsari (Eds.) Advanced Plasma Technology 2008 ISBN: 978−3-527−40 591−6.
- B.M. Smirnov Physics of Ionized 2001 ISBN: 978−0-471−17 594−0.
- Vladimir N. Ochkin Spectroscopy of Low Temperature Plasma WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2009 WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim.
- Van Veen, E.H. Quantitative survey analysis by using the full inductively coupled plasma emission spectra taken from a segmented charge coupled device detector: feasibility study. Spectrochimica Acta Part B Atomic Spectroscopy 52(3) (1997).
- Andrade, J. M. (2008) A tutorial on multivariate calibration in atomic spectrometry techniques. Journal of Analytical Atomic Spectrometry 23(1).
- Министерство транспорта России Федеральное агентство железнодорожного транспорта Омский государственный университет путей сообщения
- ТЕХНИЧЕСКИЙ ОТЧЕТ по Договору № 88/09на тему: «Внедрение и методическое сопровождение эмиссионного спектрометра «АРГОН-5СФ». 1. СОГЛАСОВАНО:
- Главный инженер ОАО «Омское машиностр инструкторское бю.
- РАЗРАБОТАНО: Проректор по научной работе Омского государственного 1верситета путей сообщения
- Т. Черемисин «С??геТк^ 2009 г. 1. Омск 2009
- Руководитель работы -д-р техн. наук, доцент
- В отчете приводятся данные по внедрению и методическому сопровождению спектрометра эмиссионного типа «Аргон-5СФ», выпускаемого ООО «Спектрософт», г. Троицк, Московской обл.
- Методическое обеспечение содержит пять методик для контроля низколегированных и хромоникелевых сплавов, медных, алюминиевых и титановых сплавов в широком диапазоне изменения легирующих элементов.
- Методики входят в состав программного обеспечения спектрометра «Аргон-5СФ» № 058, установленного в спектральной лаборатории ОАО «Омское машиностроительное конструкторское бюро».