Помощь в учёбе, очень быстро...
Работаем вместе до победы

Разработка интегральных полупроводниковых термочувствительных элементов для приборов неразрушающего контроля теплофизических свойств материалов

ДиссертацияПомощь в написанииУзнать стоимостьмоей работы

На основе полученной модели разработана методика проектирования ТЧЭ с заданными метрологическими характеристиками: диапазоном измеряемых температур, чувствительностью, линейностью и уровнем выходного сигнала. Исходными данными для проектирования являются: материал, концентрация примеси в материале, топологические размеры и потенциалы на входе, выходе и на управляющем электроде. По полученной… Читать ещё >

Содержание

  • 1. ОБЗОР И АНАЛИЗ ВОПРОСОВ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТЕПЛОФИЗИЧЕ СКИХ СВОЙСТВ МАТЕРИАЛОВ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ ТЕРМОЗОНДОВ, СОДЕРЖАЩИХ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ ТЕРМОЧУВСТВИТЕЛЬНЫЕ ЭЛ6ЕМЕНТЫ. ПОСТАНОВКА ЗАДАЧИ
    • 1. 1. Общая характеристика проблемы измерения теплофизических свойств материалов с использованием термозондов
    • 1. 2. Краткий обзор и анализ термочувствительных элементов (ТЧЭ), используемых в средствах контроля свойств материалов
    • 1. 3. Постановка задачи исследования влияния температуры на параметры ячейки полупроводникового интегрального ТЧЭ в термозондах
  • Выводы
  • 2. ИССЛЕДОВАНИЕ И АНАЛИЗ ВЛИЯНИЯ ТЕМПЕРАТУРЫ НА
  • ОСНОВНЫЕ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИЕ ПАРАМЕТРЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВОГО ТЧЭ
    • 2. 1. Изменение концентрации основных носителей заряда
    • 2. 2. Образование объемного заряда
    • 2. 3. Температурная зависимость подвижности носителей с учетом полевого и размерного эффекта
  • Выводы
  • 3. МАТЕМАТИЧЕСКАЯ МОДЕЛЬ ФИЗИЧЕСКИХ ПРОЦЕССОВ, ПРОИСХОДЯЩИХ В ПОЛУПРОВОДНИКОВОМ ТЧЭ ПОД ДЕЙ
  • СТВИЕМ ТЕМПЕРАТУРЫ
    • 3. 1. Построение математической модели
    • 3. 2. Параметрическое исследование математической модели
      • 3. 2. 1. Влияние физико-топологических параметров на выходную характеристику ТЧЭ
      • 3. 2. 2. Влияние конструкторско-топологических параметров на выходную характеристику ТЧЭ
      • 3. 2. 3. Связь электрических параметров ТЧЭ с выходной характеристикой
  • Выводы
  • 4. МЕТОДИКА ПРОЕКТИРОВАНИЯ ИНТЕГРАЛЬНОГО ПОЛУПРОВОДНИКОВОГО ТЕРМОЧУВСТВИТЕЛЬНОГО ЕЛЕМЕНТА
    • 4. 1. Общие вопросы реализации методики проектирования
    • 4. 2. Методика проектирования
      • 4. 2. 1. Определение динамического диапазона измерений
      • 4. 2. 2. Линейность выходной характеристики
      • 4. 2. 3. Получение заданной чувствительности
      • 4. 2. 4. Определение уровня выходного сигнала
    • 4. 3. Алгоритм проектирования
  • Выводы
  • 5. РАЗРАБОТКА ТЕРМОЗОНДА ДЛЯ НЕРАЗРУШАЮЩЕГО КОНТРОЛЯ ТЕПЛОФИЗИЧЕСКИХ СВОЙСТВ МАТЕРИАЛОВ
    • 5. 1. Технология изготовления термочувствительного элемента
    • 5. 2. Исследование влияния технологических операций на метрологические характеристики термочувствительного элемента
    • 5. 3. Разработка конструкций интегральных ТЧЭ и термозонда
    • 5. 4. Разработка микропроцессорной измерительной системы для НК ТФС материалов
    • 5. 5. Метрологический анализ разработанного ТЧЭ
  • Выводы

Разработка интегральных полупроводниковых термочувствительных элементов для приборов неразрушающего контроля теплофизических свойств материалов (реферат, курсовая, диплом, контрольная)

Многие физические характеристики материалов и качество готовых изделий из них можно определить с помощью теплофизических свойств этих материалов. Задача проектирования более качественных средств измерений с улучшенными метрологическими характеристиками соответствует наиболее актуальным задачам развития измерительной техники.

Актуальность работы. В настоящее время существенно расширяется номенклатура используемых естественных и искусственных материалов и изделий из них при одновременном увеличении объема контролируемых параметров и соответствующем увеличении стоимости контроля. Особенно это касается новых конструкционных, электроизоляционных, теплохладостойких материалов, эксплуатация изделий из которых связана с протеканием тепловых процессов и необходимостью периодического или непрерывного контроля теплофизических свойств в течение всего периода работы. По этой причине получают распространение и развиваются тепловые методы неразрушающего контроля (НК) теплофизических свойств (ТФС) материалов, характеризующиеся оперативностью и экономичностью, возможностью применения в самых различных технологических процессах для контроля качества исследуемых объектов. Однако достоверность и точность результатов измерений этими методами зависят не только от выбора и контроля пространственно-временных параметров исследуемых объектов в процессе проведения теплофизического эксперимента, но и от массогабаритных размеров, чувствительности, инерционности, временной стабильности первичных измерительных преобразователей (ПИП), использующихся в термозондах таких приборов. В этой связи актуальной задачей является создание термочувствительных элементов термозондов на базе полупроводниковых технологий. Это позволит улучшить ряд параметров существующих приборов бесконтактного контроля ТФС материалов: увеличит чувствительность, уменьшит инерционность, позволит упростить аппаратуру и легче совместить с современными средствами вычислительной техники. Поэтому задача разработки приборов НК ТФС материалов и готовых изделий с полупроводниковыми термочувствительными элементами термозондов является актуальной.

Связь с государственными программами и НИР. Диссертационная работа выполнялась в рамках реализации следующих государственных программ: межвузовская научно-техническая программа Госкомобразования РСФСР «Неразрушающий контроль и диагностика», раздел 4 «Оптические, радиоволновые и тепловые методы неразрушающего контроля» на 1994 -1998 г. г.- программа Минвуза РФ «Комплексные системы измерений, контроля и испытаний в народном хозяйстве» на 1998 — 2000 гг.- программа министерства образования РФ «Инновации высшей школы и введение интеллектуальной собственности в оборот», раздел «Инновационные научно — технические проекты» 2000 г.- программа Миннауки РФ по финансированию научных исследований и экспериментальных разработок, проект «Создание микропроцессорных приборов оперативного неразрушающего контроля термосопротивления многослойных строительных конструкций с пенополиуретановыми теплозащитными покрытиями», шифр: «Теплогидрощит» на 2000;2001 гг.

Цель работы. Исследование электрофизических, конструкторско-топологических и технологических параметров полупроводниковых структур и на основе полученных результатов создание методики проектирования интегральных термочувствительных элементов термозондов с заданными метрологическими характеристиками для средств оперативного неразрушающего контроля. Для достижения поставленной цели необходимо решение следующих задач:

— анализ вопросов, связанных с разработкой термочувствительных элементов термозондов с заданными чувствительностью и диапазоном, высокой стабильностью и воспроизводимостью на базе полупроводниковых монокристаллических материалов и интегральных технологий;

— исследование влияния температуры на электрофизические параметры полупроводниковых структур на различных монокристаллических материалах с целью выявления возможности использования их в качестве термочувствительных элементов (ТЧЭ);

— разработка математической модели процессов в ТЧЭ, происходящих под воздействием температуры;

— исследование математической модели для оценки влияния основных параметров на выходную характеристику ТЧЭ и проверка ее адекватности;

— построение методики проектирования ТЧЭ с заданными метрологическими характеристиками на основе результатов исследования математической модели;

— выявить доминирующие операции процесса создания ТЧЭ, разработать термозонд с интегральными, полупроводниковыми ТЧЭ и провести экспериментальную проверку качества.

Методы и методики исследования. Результаты исследований, включенные в диссертацию, базируются на теоретических основах физики полупроводников, математическом моделировании, основах интегральных полупроводниковых технологий, физическом эксперименте с использованием опытных образцов, а также на экспериментальных исследованиях, проведенных на кафедре «Материалы и технологии» ТГТУ, в межкафедральной лаборатории «Энергоинформационные технологии, диагностика и приборы» ТГУ, в межвузовской лаборатории «Теплофизические измерения и приборы», регионального отделения «Российское общество по не-разрушающему контролю и технической диагностике» (РОНКТД) и в ряде промышленных и научно-исследовательских организаций.

Научная новизна диссертационной работы заключается в разработке математической модели физических процессов, происходящих под действием температуры с учетом основных электрофизических и конструктор-ско-топологических параметров полупроводниковых интегральных ТЧЭ термозондов для НК ТФС твердых материалов. На основе полученной модели создана новая методика разработки ТЧЭ термозондов с заранее заданными диапазоном и чувствительностью, высокой стабильностью и воспроизводимостью. По полученной методике разработана новая конструкция термозонда с использованием ТЧЭ с заданными метрологическими характеристиками.

Практическая ценность работы в том, что на основе созданной методики разработан и внедрен в производство термочувствительный элемент термозонда приборов НК ТФС материалов, что позволило увеличить точность теплофизических измерений и контролировать ТФС широкого класса материалов и готовых изделий в лабораторных и промышленных условиях. Результаты работы приняты к использованию в ОАО «Электроприбор» г. Тамбов, а также в учебном процессе ТГТУ.

Апробация работы. Основные научные и практические результаты исследований по теме диссертации докладывались на Всероссийской научно-технической конференции «Прогрессивная технология и вопросы экологии в гальванотехнике и производстве печатных плат» (г.Пенза, 1999 г.), на П-ой Международной конференции «Микромеханизмы пластичности, разрушения и сопутствующих явлений» (г.Тамбов, ТГУ, 2000 г.), на III-ей научно-технической конференции ТГТУ (г.Тамбов, 1996 г.).

Структура работы. Диссертация содержит введение, 5 глав, заключение и 4 приложения, изложенные на 140 страницах машинописного текста, 21 рисунках.

Список литературы

включает 72 наименования.

Выводы.

1 Проведенный на аналитической основе с использование математической модели метрологический анализ позволил выявить доминанты, влияющие на точность выходного параметра в общей погрешности.

2 На основе проведенного метрологического анализа выявлены доминирующие этапы технологии, оказывающие наибольшее влияние на точ.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

.

1 Проведены теоретические и экспериментальные исследования физических процессов, протекающих в полупроводниковой полевой структуре в результате изменения температуры. На основе проведенных исследований получены аналитические зависимости, устанавливающие связь между основными электрофизическими параметрами разработанной структуры и температурой. Выведенные зависимости являются теоретической основой для создания математической модели физических процессов.

2 На основе полученных зависимостей построена математическая модель, описывающая физические процессы в разработанном ТЧЭ, которые происходят под влиянием изменения температуры. Математическая модель учитывает необходимые физико-топологические, конструкторско-топологические и электрические параметры полупроводникового ТЧЭ. Модель позволяет исследовать процессы в разных полупроводниковых материалах с известными электрофизическими параметрами.

3 Проведено исследование модели, на основе которого установлена связь между основными исходными параметрами и метрологическими характеристиками разработанного полупроводникового ТЧЭ.

4 На основе полученной модели разработана методика проектирования ТЧЭ с заданными метрологическими характеристиками: диапазоном измеряемых температур, чувствительностью, линейностью и уровнем выходного сигнала. Исходными данными для проектирования являются: материал, концентрация примеси в материале, топологические размеры и потенциалы на входе, выходе и на управляющем электроде. По полученной методике можно проектировать ТЧЭ на различных полупроводниковых материалах с известными электрофизическими параметрами.

5 Проведены экспериментальные исследования технологии изготовления полупроводникового ТЧЭ. Экспериментально определены абсолют.

Показать весь текст

Список литературы

  1. К. Измерительные преобразователи. М.: «Энергоатомиздат», 1991. — 143 с.
  2. Е. А. Технология лабораторного эксперимента. -СПб.: «Политехника», 1994. 647 с.
  3. И. П., Удалов Н. П. Полупроводниковый диод как датчик температуры. «Автоматика и телемеханика», т.24, № 5, 1963. — 324 с.
  4. Н. П. Полупроводниковые датчики. М.: «Энергия», 1965.-435 с.
  5. Авторское свидетельство SU № 1 388 703, 1988. Термозонд для определения толщины пленочных покрытий./ В. Н. Чернышев, А. П. Пудовкин, Ю. Л. Муромцев, И. В. Самойлов.
  6. Авторское свидетельство RU № 2 101 674 С1, 1998. Термозонд для неразрушающего контроля толщины пленочных покрытий./ В. Н. Чернышев, A.B. Терехов.
  7. Авторское свидетельство RU № 2 123 179 С1, 1998. Термозонд для неразрушающего контроля теплопроводности материалов./ В.Н. Чер-нышов, М. В. Макаров, Т. И. Чернышова, A.B. Селезнев, A.B. Терехов.
  8. Зи С. Физика полупроводниковых приборов М.: «Мир», 1984. — 455 с.
  9. Ч. М. Полупроводниковые приборы. М.: «Энергоатомиздат», 1990. — 576 с.
  10. А.Н. Моделирование интегральных микротехнологий приборов и схем. М: «Высшая школа», 1990. — 320 с.
  11. О. О. Технология микросхем. М.: «Высшая школа», 1986.-320 с.
  12. Никифорова Денисова С. Н., Любушкин Е. Н. Технология полупроводниковых приборов и изделий микроэлектроники. Термические процессы. — М: «Высшая школа», 1989. — 96 с.
  13. А.И., Юдин В. В. Технология производства полупроводниковых приборов и интегральных схем. М.: «Высшая школа», 1979.
  14. H.A. Основы микроэлектроники. М.: «Радио и связь», 1991.-287 с.
  15. И .Я. Горбунов Ю. И. Технология полупроводниковых приборов и изделий микроэлектроники. М.: «Высшая школа», 1989. -222 с.
  16. П.В., Зограф H.A., Лабунец B.C. Динамика погрешностей. Л.: «Энергоатомиздат», 1990. — 188 с.
  17. Г. Т. Справочник по математике для научных работников и инженеров М.: «Наука», 1974. 832 с.
  18. К.Г. Метрологическая обработка результатов технологических измерений- Справочное Пособие. Киев.: «Техника», 1987.128 с.
  19. Журнал «АВОК» № 5/6. 1993.
  20. Л.А. Технология и конструкции микросхем и микропроцессоров и микросборок. Учебник для вузов. М.: «Радио и связь», 1989. — 400 с.
  21. Р., Кейминс Т. Элементы интегральных схем. М.: «Мир», 1989. — 630 с.
  22. В.И. Физические основы надежности контактов металл-проводник в интегральной электронике. М.: «Радио и связь», 1987.-256 с.
  23. Л. Лекции по электрическим свойствам материалов. М.: «Мир», 1991. — 504 с.
  24. B.B. Полупроводниковые приборы. М.: «Высшая школа», 1981. — 431 с.
  25. Ю.Д. Физико-химические основы технологии микроэлектроники. М.: «Металлургия», 1979. — 408 с.
  26. Бонч-бруевич В.Л., Калашников С. Г. Физика полупроводников. М.: «Наука», 1990. — 688 с.
  27. В.Н. Технология производства интегральных микросхем и микропроцессоров. М.: «Радио и связь», 1987. 464 с.
  28. .Я., Антошо Е. М., Душен Е. М. Основы метрологии и электрические измерения. Л.: «Энергоатомиздат», 1987. — 480 с.
  29. М.В. Технологические измерения и приборы для химических производств. М.: «Машиностроение», 1983. — 424 с.
  30. A.M., Новицкий П. В., Левшина Е. С. электрические измерения не электрических величин. Л.: «Энергия», 1975. — 576 с.
  31. И.П., Бейлин В. М. Сплавы для термопар. М.: «Металлургия», 1983. — 360 с.
  32. С.К., Сведе-Швец Н.И. Высокотемпературные термопары. М: «Металлургия», 1977. — 232 с.
  33. O.A., Федоров В. Г. Техника теплотехнического эксперимента. Киев: «Hayкова думка», 1964. — 161 с.
  34. Ю.Д., Райнова Ю. П. Физико-химические основы технологии микроэлектроники. М.: «Металургия», 1979. — 408 с.
  35. Р., Кейминс Т. Элементы интегральных схем. М.: «Мир», 1989.-630 с.
  36. Плазменная технология в производстве СБИС. Под ред. Айнспрука Н. Брауна Д. М.: «Мир», 1987. — 469 с.
  37. Зи С. Технология СБИС, т.1. М.: «Мир», 1986. — 404 с.
  38. Зи С. Технология СБИС, т.2. М.: «Мир», 1986. — 453 с.
  39. Ю. Т., Мунин П. И., Шер Ю. А. Методы проектирования индуктивных и резонансных пленочных элементов. М.: «МИЭТ», 1977. — 52 с.
  40. А. С., Мочалкина О. Р. Технология и конструирование интегральных микросхем. М.: «Радио и связь», 1983. — 232 с.
  41. И., Мерей Дж. Физические основы микротехнологии: Пер. с англ./ Под ред. А. В. Шальнова. М.: «Мир», 1985. — 494 с.
  42. К. А., Раков А. В. Физические основы субмикронной литографии в микроэлектронике. М.: «Радио и связь», 1984. — 350 с.
  43. Г. Я., Блинов Г. А., Газаров А. А. Монтаж микроэлектронной аппаратуры. М.: «Радио и связь», 1986. — 175 с.
  44. А. П. Технология интегральных схем. Минск: «Вышэйшая школа», 1982. — 206 с.
  45. И. Е., Козырь И. Я., Горбунов Ю. И. Микроэлектроника. Физические и технологические основы, надежность. М.: Высшая школа, 1986.-464 с.
  46. Конструирование и расчет больших гибридных интегральных схем, микросборок и аппаратуры на их основе / Под ред. Б. Ф. Высоцкого. М.: «Радио и связь», 1981. — 216 с.
  47. Конструирование и технология микросхем. Курсовое проектирование /Коле-дов Л. А., Волков В. А., Докучаев Н. И. и др.- Под ред. Л. А. Коледова. М.: «Высшая школа», 1984. — 231 с.
  48. И. А. Технология производства микроэлектронных устройств. М.: «Энергия», 1980. — 448 с.
  49. Э.А. Конструкции и технология микросхем. Минск: «Вышэйшая школа», 1986. — 207 с.
  50. Э.А., Крыжановский Д. В. Справочное пособие по конструированию микросхем. Минск: «Вышэйшая школа», 1982. — 224 с.
  51. П.В., Шаньгин В. Ф., Горбунов В. Л. и др.- Микропроцессоры. Под ред. Л. Н. Преснухина. М.: «Высшая школа», 1986. — 495 с.
  52. Микроэлектронная аппаратура на бескорпусных интегральных микросхемах/ И. Н. Воженин, Г. А. Блинов, Л. А. Коледов и др.- Под ред. Воженина И. Н. М.: «Радио и связь», 1985. — 264 с.
  53. С. Системное проектирование сверхбольших интегральных схем/ Пер. с англ. под ред. В. М. Кисельникова. М.: «Мир», 1985.- 579 с.
  54. . В., Белов Б. И., Норенков И. П. Машинный расчет элементов ЭВМ. М.: «Высшая школа», 1976.
  55. А., Дин П. Светодиоды: Пер. с анг./Под ред. А. Э. Юнови-ча. М.: «Мир», 1979.-686 с.
  56. В. А. Электронные приборы. М.: «Высшая школа», 1980.-383 с.
  57. Т. М. Интегральные микросхемы. М.: «Энергоатомиэдат», 1983. — 464 с.
  58. В. А. Тиристоры малой и средней мощности. М.: «Советское радио», 1971.
  59. В. А., Тугов Н. М. Динамические режимы эксплуатации мощных тиристоров. М.: «Энергия», 1977.
  60. Ю. Р., Петросянц К. О., Шилин В. А. Математические модели элементов интегральной электроники. М.: «Советское радио», 1976.-304 с.
  61. Ю. Р. Оптоэлектроника. М.: «Советское радио», 1989. -359 с.
  62. В. В., Чиркин Л. К. Полупроводниковые приборы. -М.: «Высшая школа», 1987. 479 с.
  63. И. П. Основы теории транзисторов и транзисторных схем. М.: «Энергия», 1977. — 423 с.
  64. И. П. Основы микроэлектроники. М.: «Советское
Заполнить форму текущей работой