Исследование и разработка методов и средств проектирования микросистем высокой надежности
Диссертация
При проектировании и изготовлении современных СБИС все большее внимание уделяется совместимости внешних протоколов обмена информацией для микросхем различных производителей как на печатной плате, так и в составе более сложных систем РЭА. Интерфейс стандарта JTAG реализован в большинстве СБИС, изготовленных за рубежом, и предназначен для решения ряда важных задач. В частности, средства JTAG… Читать ещё >
Содержание
- 1. МЕТОДЫ ОБЕСПЕЧЕНИЯ ВЫСОКОЙ НАДЕЖНОСТИ МИКРОСИСТЕМ
- 1. 1. Конструкторские методы повышения надежности и выхода годных микросистем
- 1. 2. Математические модели для расчета надежности и выхода годных микросистем
- 1. 3. Модели расчета выхода годных межсоединений в микросистемах
- 1. 4. Методы повышения надежности с помощью средств самотестирования
- 1. 5. Влияние ионизирующего излучения на МОП-элементы
- 1. 6. Методы синтеза реконфигурируемых микросистем высокой надежности
- 1. 7. Выводы
- 2. РАЗРАБОТКА И ИССЛЕДОВАНИЕ МОДЕЛЕЙ И МЕТОДОВ МОДЕЛИРОВАНИЯ НАДЕЖНОСТИ И ВЫХОДА ГОДНЫХ РЕЗЕРВИРУЕМЫХ МИКРОСИСТЕМ
- 2. 1. Сравнительный анализ методов резервирования микросистем
- 2. 2. Разработка и исследование моделей надежности межэлементных соединений в микросистеме с учетом процесса электромиграции
- 2. 3. Выводы
- 3. РАЗРАБОТКА И ИССЛЕДОВАНИЕ МЕТОДОВ И СРЕДСТВ РЕКОНФИГУРАЦИИ МИКРОСИСТЕМ
- 3. 1. Разработка и исследование методов и средств перестройки и тестирования структуры микросистем
- 3. 1. 1. Разработка и исследование методов и средств перестройки и тестирования структуры микросистем с поэлементным резервированием
- 3. 1. 2. Разработка и исследование методов и средств перестройки и тестирования структуры микросистем со скользящим резервированием
- 3. 1. 3. Сравнительный анализ устройств самотестирования и реконфигурации шин со структурным резервированием
- 3. 2. Разработка и исследование метода повышения допустимой дозы ионизирующих излучений микросистем на основе КМОП-СБИС посредством структурного резервирования
- 3. 3. Выводы
- 3. 1. Разработка и исследование методов и средств перестройки и тестирования структуры микросистем
- 4. РАЗРАБОТКА И ИССЛЕДОВАНИЕ МЕТОДОВ СИНТЕЗА СТРУКТУРЫ ВЫСОКОНАДЕЖНЫХ МИКРОСИСТЕМ
- 4. 1. Разработка метода синтеза структуры микросистем с оптимальным резервированием
- 4. 2. Разработка и исследование алгоритма синтеза оптимизированной структуры резервируемых микросистем
- 4. 3. Выводы
- 5. ВНЕДРЕНИЕ И ИСПОЛЬЗОВАНИЕ РЕЗУЛЬТАТОВ РАБОТЫ
- ЗАКЛЮЧЕНИЕ
Список литературы
- Быстродействующие матричные БИС и СБИС. Теория и проектирование./Б.Н. Файзулаев, И. И. Шагурин, А. Н. Кармазинский и др.-Под общей редакцией Б. Н. Файзулаева и И. И. Шагурина. М.: Радио и связь, 1989,-304 с.: ил.
- Defect Reduction. The International Technology Roadmap for Semiconductors: 1999.
- Надежность технических систем: Справочник/Ю.К.Беляев, В. А. Богатырев, В. В. Болотин и др.- Под ред.И. А. Ушакова М.: Радио и связь, 1985.С.608., ил.
- Файзулаев Б.Н. Оценка средней длины трассировочной способности связей матричных БИС ЭВМ. Микроэлектроника, 1983, Т. 12, вып. 5, с. 457−463
- Файзулаев Б.Н. Предельное быстродействие и основные закономерности развития логических ЭВМ. Микроэлектроника и полупроводниковые приборы, 1984, вып. 8, с. 5−15.
- Обзор по электронной технике: Многоуровневая металлизация интегральных микросхем и проблемы ее надежности/Л.С. Турулина, И. Н. Рубцов. М., 1983. — Вып. 6 (956). Сер. Полупроводниковые приборы. 32 с.
- Обзор по электронной технике: Влияние технологических факторов на интенсивность электромиграции в межсоединениях интегральных схем/И.А. Калябина. М., 1986. — Вып.18 (1238). Сер. Технология, организация производства и оборудование. — 26 с.
- Чернышев А.А. Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем,— М.: Радио и связь, 1988. 256 е.: ил.
- Коробков А.И., Шагурин И. И. Особенности самотестирования СБИС с применением JTAGZ/Всероссийская НТК с международным участием «Актуальные проблемы твердотельной электроники и микроэлектроники». Таганрог: ТРТУ, 1996.
- Ю.Архангельский Ф. Я., Гордеев Б. К. Анализ метода вероятностного расчета интегральных схем на максимум процента выхода./Под ред. Васенкова А. А. Микроэлектроника, вып. 8, 1975, с. 176.
- П.Коноплев Б. Г. Реализация многопроцессорных систем на основе суперкристаллов и СБИС пластин. Электроника. 1988. T.17.N 5, с.432−438.
- Степаненко И.П. Основы микроэлектроники: Учебное пособие для вузов. -М.: Сов. радио, 1980, с. 424.
- Надежность электронных элементов и систем. / Под общей редакцией X. Шнайдера М.: Мир, 1977, с. 258: ил.
- Мур У. Р. Обзор методов обеспечения отказоустойчивости, повышающих выход годных интегральных схем. ТИИЭР. Т.74., № 5, май 1988, с. 76−89.
- Поса Дж. Резервирование в полупроводниковых ЗУ большой емкости -путь к резкому повышению выхода годных приборов. Электроника, 1981, т. 54, № 15, с. 26−31.
- Эббот Р., Кокконен К., Канг Р., Смит Р. Практическая реализация резервирования для семейства полупроводниковых ЗУ. Электроника, 1981, т. 54, № 15, с. 41−46.
- T.J. Rogers. Redundancy in RAMs. in Proc. Int. Solid State Circuits Conf., Feb. 1982, pp. 228−229.18.3ак E. А., Лимэн P. С., Ю Чан Кил. Развитие идеи построения вычислительной машины на пластинке. ТИИЭР, 1964, т. 52, № 12, с. 1862- 1870.
- R. P. Cenker et al. A faul tolerant 64K dynamic random access memory. IEEE Trans. Electron Devices, vol. ED 26, № 6, June 1979, pp. 853 — 860.
- Смит P. Т. Ремонт СБИС ЗУ с помощью лазера. Электроника, 1981, т. 54, № 15, с. 46−51.
- Таруи.Я. Основы технологии СБИС: пер. с япон.-М.Радио и связь, 1985, с. 480.
- Рауль Сад, Ким Харди. Получение высокого выхода годных в сочетании с высоким быстродействием в статических ЗУПВ с резервированием. Электроника, 1981, № 15, с. 32−33.
- Смит Р.Т. Ремонт СБИС ЗУ с помощью лазера. Электроника, 1981, № 15, с. 46−51.
- Баринов В.В., Калинин А. В., Киреев В. Ю. Кластерное производство специализированных СБИС. Известия вузов. Электроника, № 4−5, 2000, с. 98−102.
- N.I. Davis, F.G. Gray, I.A. Wergner, S.E. Jawson, V. Murthy, T.S. White, Reconfiguring fault-tolerant two-dimensional array architectures.// IEEE Micro, 1994, pp.60−69.
- J.I. Raffel, A H. Anderson, G.H. Chapman, K.H. Konkle, B. Mathur, A.M. Soares, P.W. Wyatt. A wafer scale digital integrator using restructurable VSLI.// IEEE Journal of Solid — State Circuits, vol. sc-20, № 1, February, 1985, pp.399−407.
- Ming-Feng Chang and W. Kent Fuchs. Loop based Design and reconfiguration of wafer — scale linear arrays with harvest rates.// IEEE Journal of Solid — State Circuits, vol. 26, № 5, May, 1991, pp. 717−727.
- В.А. Головко. Методы обеспечения отказоустойчивости линейных систолических процессоров. Микроэлектроника, том 24, № 3, 1995, с. 229−240.
- И.Корен, Д. К. Прадхан. Избыточность как средство повышения надежности и выхода годных мультипроцессорных систем с интеграцией на уровнях кристалла и пластины.// ТИИЭР, т.74, № 5, май 1986, с. 93−106.
- М.Сами, Р. Стефанелли. Перестраиваемые архитектуры матричных процессорных СБИС. ТИИЭР, т. 74, № 5, май 1986, с.107−118.
- Ivo Dobbelaere, Mark Horowitz, Abbas El Gamal. Regenerative Feedback Repeaters for Programmable Interconnections.// IEEE Journal of Solid -State Circuits, vol. 30, № 11, November 1995, pp. 1246 1253.
- Реконфигурация защищенных от отказов двумерных архитектур. Экспресс-информация «Электроника», № 5,1995, с.7−13.
- Мангир Т.Э. Источники отказов и повышение выхода годных СБИС и восстанавливаемые соединения в СБИС и СБИС-пластинах: Часть II. Восстанавливаемые соединения в СБИС и СБИС-пластинах. // ТИИЭР, т. 72, № 12, 1984, с. 25−33.
- Гришечкин М. И. Влияние резервирования на выход годных микросхем на ЦМД- / Под ред. Васенкова А. А. и Федотова Я. А. Микроэлекторика, вып.8,1984, с.97−100.
- Пономарев М.Ф., Коноплев Б. Г. Конструирование и расчет микросхем и микропроцессоров: Учеб. пособие для вузов.-М.: Радио и связь, 1986, с. 176.
- Фролов А.Д. Теоретические основы конструирования и надежности радиоэлектронной аппаратуры. М.: Высшая школа, 1970, с. 488.
- Ермолаев Ю.П., Пономарев М. Ф., Крюков Ю. Г. Конструкции и технология микросхем. М.: Сов. радио, 1980, с. 256.
- Микроэлектроника. Учеб. пособие для втузов. В 9 кн./ Под ред. Л. А. Коледова. Кн.5. И. Я. Козырь, качество и надежность интегральных микросхем.-М.: Высш.шк., 1987, с. 144.
- Mano et al., A Fault Tolerant 256K RAM Fabricated with Molybdenum-Polysilicon Technology. // IEEE J. Solid-State Circuits, vol. SC-15, № 10, 1980, pp.865−872.
- Степпер Ч.Х. Статистические модели выхода годных интегральных схем. ТИИЭР, т. 71, № 4, апрель 1983, с. 6 25.
- Головко В. А. Статистические модели выхода годных для отказоустойчивых схем на кристалле. Микроэлектроника, т.21, вып. 1, 1992, с. 20−26.
- Головко В.А. Некоторые аспекты определения выхода годных для отказоустойчивых схем на кристалле. Микроэлектроника, т.21, вып. 5, 1992, с. 37−44.
- Файзулаев Б.Н., Павлычев B.A., Драбкин B.A. Оценка длины линий связи в логических цепях ЭВМ. Вопросы радиоэлектроники. Сер. Электронная вычислительная техника, вып. 16, 1982, с. 95 -99.
- Keyes R.W. The Evolution of Digital Electronics Towards VLSI. IEEE Journal of Solid-State Circuits, vol. 14,№ 2, Apr. 1979, pp. 193−201.
- Файзулаев Б.Н., Драбкин B.A., Богданов Д. П. Быстродействие межсоединений СБИС. Вопросы радиоэлектроники. Сер. Электронная вычислительная техника, вып. 7, 1985, с. 79 -82.
- Елинсон М.И., Суханов А. А. Проблемы межсоединений в современной микроэлектронике. Микроэлектроника, 1984, т. 13, с. 179- 195.
- Каменский В.В., Микитин В. М. Определение средней длины связи на печатных платах с большими интегральными схемами. Вопросырадиоэлектроники. Сер. Электронная вычислительная техника, вып. 16,1982, с. 100−105.
- Адамов Д.Ю. Расчет площади кристалла интегральных микросхем на арсениде галлия. Известия вузов. Электроника, № 3−4, 1997, с. 80−85.
- Ферри Д., Эйкерс JL, Гринич Э. Электроника ультроболыпих интегральных схем. М.: Мир, 1991, с. 268.
- Калябина И.А. Влияние технологических факторов на интенсивность электромиграции в межсоединениях интегральных схем. М., 1986. -Обзор по электронной технике. Вып. 18 (1238). Сер. Технология, организация производства и оборудование, с. 26.
- Турулина JI.C., Рубцов И. Н. Многоуровневая металлизация интегральных микросхем и проблемы ее надежности. Обзор по электронной технике. Сер. Полупроводниковые приборы. Вып. 6 (956), 1983, с. 32.
- Горлов М.И., Строгонов А. В. Геронтология интегральных схем: долговечность алюминиевой металлизации. Петербургский журнал электроники, № 1, 1997, с. 27−37.
- Гмурман В.Е. Теория вероятностей и математическая статистика. Учеб. пособие для вузов. Изд. 6-е, стер. М.: Высш. шк, 1998, 479 с.
- Щербакова К.Н., Мартынов Ю. Г., Миллер Ю. Г. и др. Надежность тонкопленочных проводников на основе алюминия- Электронная техника. Сер. Управление качеством, стандартизация, метрология, испытания, вып. 2, 1990, с. 26−29.
- Кузмицкий И.Ф., Манулик С. А., Сахащик А. Г. и др. Моделирование электромиграционных отказов металлизации ИС. Электронная техника. Сер. Управление качеством, стандартизация, метрология, испытания, вып. 1, 1992, с. 52−54.
- И.Крузе, Ж.Шавад. PAD: сопроцессор серии 6800 для обнаружения неисправностей в микрокомпьютерах. // ТИИЭР, т.74, № 5, 1986, с. 119 128.
- Угрюмов Е.П. Цифровая схемотехника. СПб.: БХВ — Санкт -Петербург, 2000, с. 528, ил.
- Nagle N.T.etc./Design for Testability and Build-in Self Testa Review. //IEEE Transactions on Industrial Electronics, vol.36, № 2, 1989.
- Narayanan S., Gupta R., Breuer M.A.Optimal Configuring of Multiple Scan Chains. //IEEE Transactions on Computers, vol.42, № 9, 1993, pp.1121−1131.
- B.H. Ярмолик, Г. P. Меметов, M. Николаидис. Проектирование самотестируемых ОЗУ. Микроэлектроника, т. 24, № 3, 1995, с.211−215.
- Brawmik S., Palchaudhuri P. DFT Expert: Designing Testable VLSI Circuits. // IEEE Des. Test. Oct., 1989, pp.8−19.
- Шагурин И.И., Меренков A.M. Самотестирование СБИС с помощью встроенного тест-процессора. // Микроэлектроника, т.22, № 1, 1993, с.72−79.
- Таруи Я. Особенности применения метода самотестирования при системном проектировании цифровых устройств. / Микроэлектроника, т. 21, № 5,1992, с.32−36.
- А.И. Коробков. Структурный синтез самотестируемых СБИС с использованием высокоуровневых описаний. // Микроэлектроника, т.24, N 5, 1995, с.360−366.
- W.Daehn and J.Mucha. A hardware approach to self-testing of lage programmable logic arrays. // IEEE Trans. Comput., vol. C-30, № 11, 1981, pp. 829−833.
- G.Grassl and H.J.Pfleider. A self-testing PLA. in Proc.1982. Int. Solid State Circuit Conf. (ISSCC-82), 1982, pp.60−61.
- G.Grassl and H.J.Pfleider. A function-independent self-test for large programmable logic arrays. Integration the VLSI, vol.1, 1983, pp.71−80.
- S.Z.Hassan and E.J.Mc.Cluskey. Testing PLAs using multiple parallel signature analyzers, in Proc. 13th Fault Tolerant Computing Symp.(FTCS-13) (Milan, Italy), 1983, pp.422−425.
- S.Yajima and T.Aramaki. Autonomously testable programmable logic arrays, in Proc. 11th Fault-Tolerant Computing Symp. (FTCS-11) (Portland, ME), 1981, pp.41−43.
- K.K.Saluja, K. Kinoshita and HFujiwara. An easily testable design of programmable logic arrays for multiple faults. // IEEE Trans. Сотр., vol. C-32, № 11,1983, pp. 1038−1046.
- H.Fujiwara. A new PLA design for universal testability.//IEEE Trans. Comput., vol. C-33, N 8,1984, pp.745−750.
- R.Treuer, H. Fujiwara and V.Agarwal. Implementing a built-in self-test PLA design. // IEEE Des. Test, 1985, pp.37−48.
- Ф.Соменци, С.Гай. Обнаружение неисправностей в программируемых логических матрицах. // ТИИЭР, т.74, № 5, 1986, с.41−57.
- I.E.Smith. Measures of the effectiveness of fault signature analysis. // IEEE Trans. Comput., vol. C-29, № 6, 1980, pp.510−514.
- B.Koenemann, I. Mucha and G.Zwiehoff. Built-in logic block observation techniques, in Proc. Test Conf., Cherry Hill, № 1, 1979, pp.37−41.
- Блохина В.Б., Коноплев Б. Г. Повышение надежности микросистем с использованием BIST-методов. Известия ТРТУ. Таганрог: ТРТУ, 1998, № 3, с. 145.
- Каляев А.В. Однородные коммутационные регистровые структуры. -М.:Сов. радио, 1978.-336 с.
- Микроэлектроника: учебное пособие для втузов. В 9 кн./Под ред. Л. А. Коледова. Кн. 3. Базовые матричные кристаллы ипрограммируемые логические матрицы/М.Ф.Пономарев, Б. Г. Коноплев. М.: Высш. шк., 1987. -94 с.
- Rose J., Gamal A., and Sangiovanni-Vincentelli A. Architecture of field-programmable gate arrays.//Proc. IEEE. 1993. — Vol. 81, № 7. — pp. 1013 -1029.
- Систолические структуры: Пер. с англ./Под ред. У. Мура, Э. Маккейба, Р.Уркхарта. М.: Радио и связь, 1993. — 416 е.: ил.
- Каляев А.В. Многопроцессорные системы с программируемой архитектурой. М.: Радио и связь, 1984. — 240 с.: ил.
- Першенков B.C., Попов В. Д., Шальнов А. В. Поверхностные радиационные эффекты в элементах интегральных микросхем. М.: Энергоатомиздат, 1988, с. 256.
- Действие проникающей радиации на изделия электронной техники. /В.М. Кулаков, Е. А. Ладыгин, В. И. Шаховцев и др.М.: Советское радио, 1980, с. 223, ил.
- Коршунов Ф.П., Богатырев Ю. В. Вавилов В.А. Воздействие радиации на интегральные микросхемы. Минск: Наука и техника, 1986, с. 254.
- Синтез алгоритмов сложных систем: Межвувед. тем. науч. сб., вып. 8 / м-во науки, вш. и техн. политики РФ, ТРТИ, Таганрог, 1992, с. 46.
- Синтез управляющих и вычислительных систем: Межвуз. сб., Свердловск, 1980, с. 160.
- Корячко В.П. Теоретические основы САПР: Учебник для вузов/ В. П. Корячко, В. М. Курейчик, И. П. Норенков. М.: Энергоатомиздат, 1987, с. 400, ил.
- Гудман С., Хидетниеми С. Введение в разработку и анализ алгоритмов. -М.: Мир, 1981, с. 368.
- Ивченко В.Г. Применение языка VHDL при проектировании специализированных СБИС: Учебное пособие. Таганрог: Изд-во ТРТУ, 1999, с. 80.
- Пономарев М.Ф. Конструкции и расчет микросхем и микроэлементов ЭВА. М.: Радио и связь, 1982. — 288 с.
- Рындин Е.А. Сравнительный анализ методов структурного резервирования микросистем. Известия вузов. Электроника, № 5, 1999, с. 75−80.
- Разработка высокопроизводительных вычислительных микросистем высокой надежности и живучести на основе суперкристаллов, (промежуточный отчет), инв. № 2 986 003 418, рук. темы Б. Г. Коноплев, исполнитель В. Б. Блохина Таганрог: ТРТУ, 1997, 130с.
- Разработка и исследование методов проектирования цифровых систем высокой надежности и живучести на основе суперкристаллов (заключительный отчет), инв. № 02.9.60.11, рук. темы Б. Г. Коноплев, исполнитель В. Б. Блохина Таганрог: ТРТУ, 1998, 38 с.
- Разработка и исследование методов проектирования цифровых систем высокой надежности и живучести на основе суперкристаллов, (промежуточный отчет), инв. № 02.9.80 000 669., рук. темы Б. Г. Коноплев, исполнитель В. Б. Блохина Таганрог: ТРТУ, 1997, 51 с.
- Блохина В.Б. Оценка выхода годных микросистем на кремниевых пластинах. Известия ТРТУ. Таганрог: ТРТУ, 2000, № 3, с. 163 -167.
- Кононенко О.В., Матвеев В. Н. Энергия активации электромиграции в алюминиевых проводниках, испытанных методом «скорости дрейфа». Микроэлектроника, т.29, № 5, 2000, с. 358−366.
- Горлов М.И., Королев С. Ю. Физические основы надежности микросхем. Воронеж: Издательство Воронежского университета, 1995, с. 61−62.
- Кухлинг X. Справочник по физике: Пер. с нем. 2-е изд. М.: Мир, 1985. — с. 520.
- Чернышев А.А., Голотюк О. Н., Попов Ю. А., и др. Радиационная стойкость интегральных схем, применяемых в специализированных ЭВМ. // Зарубежная электронная техника, 1984, № 8, с.87−112.
- Р.Т.Дэйвис. Повышенная радиационная стойкость высококачественных МОП ИС. // Электроника, № 23,1982, 46−50.1.l
- Валиев К.А., Кармазинский А. Н., Королев М. А. Цифровые интегральные схемы на МДП-транзисторах. М.: Советское радио, 1971, с. 384.
- Блохина В.Б. Синтез высоконадежных систем по критерию качества Известия ТРТУ.-Таганрог: ТРТУ, 2001, № 1, с.99−100.
- Блохина В.Б. Синтез высоконадежных систем по критерию качества.// Тез. докл. Третьей международной научно-техническая конференции «Электроника и информатика-XXI век „- Москва: МИЭТ, 2000.-с219−300.
- Блохина В.Б. Алгоритм оптимального резервирования микросистем высокой надежности Известия ТРТУ. Таганрог: ТРТУ, 2000, № 3, с. 160−163.
- Блохина В.Б. Определение оптимального метода и кратностирезервирования высоконадежных микросистем. // Тезисы докладов Пятой
- Всероссийской научной конференции студентов и аспирантов
- Техническая кибернетика, радиоэлектроника и системы управления“
- КРЭС-2000). Таганрог, 2000. с. 227−228.// // // 11 // // // // // // //-------------------------------------------------------------------
- Определение основных переменных, обеспечивающих работу основного // управляющего алгоритма и основных подпрограмм.
- АЛГОРИТМ НАИЛУЧШЕГО ХОДА» SUBSYSTEM:
- FILE: SINTEZ. H + SINTEZ. CPP1. AUTHOR: Veron1. OVERVIEW
- Исходные тексты алгоритмического ядра проектаchar char
- ExePath256.- // ПУТЬ для исполнительного модуля Data Path[256]- // ПУТЬ для данных проектов
- Для СИСТЕМЫ т. е. для всех Доменов, входящих в проектdouble double
- YA11SYSTEM- // Выход годных S All SYSTEM- // Площадь
- Переменные для учета УРОВНЕЙint GPCount- // Количество
- TGroopPatt *(GPArr20.) — // Массив указателей— //
- Основные переменные СИНТЕЗАdouble double intint int
- YTask- SMaxS qMkm- NCycesMax-1. KritTypeDom- KritTypeStp-------
- Структура определения оптимального выбора
- Требуемое значение Y // В кв.мКм. // Максимальноке кол-во циклов попыток
- Используемый критерий (индекс) для ДОМЕНА // Используемый критерий (индекс) для ШАГАdefine TYPEFULL 1 #define TYPE SLID 2
- Тип резервирования // Тип резервированияполный скользящийdefine TBLINDGRPATT 100 // TableIndx для ЭЛЕМЕНТОВ
- Структура описания оптимального выбора по КРИТЕРИЮ struct Sel Descrdoubleintintintdouble double1. Kmax-s trmaxindx- typmax-1. TableIndx-1. Y- S-
- Значение критериального коэффициента ВЫБОРА // Индекс строки ВЫБОРА // Тип ВЫБОРА1. Индекс таблицы ВЫБОРА1. Выход годных // Площадь--------------------------struct vocabularyRE {char Name16.-double Se-int N Lit-1. Элемнт словаря РЭ
- НАИМЕНОВАНИЕ Элемента // Площадь Элемента / / Число литографий------------------struct SysParameters D-float float1. Dlt -1. ОбщеСистемныеи параметры1. Плотность дефектов1. Миним. литогр. размер.
- Переменные определенные в классе TFrmREdefine MaxRE 500 // Предельна длина словаряvocabularyRE REArrMaxRE.- // Массив элементов словаря РЭint RE Nmbr- // Количество актуальных элементов массива РЭ
- FilHdrRE char char //-------fhRE- // Заголовок файла «СЛОВАРЬ РЭ»
- VocName128.- // Имя словаря (полный путь без расширения)
- Расширенная структура ТАБЛИЦЫ ЭЛЕМЕНТОВ
- Вычесленн. зн. Y для строки с учетом РЕЗЕРВА // Вычесленн. зн. S для строки с учетом РЕЗЕРВА
- Текущее число резервных ОБЩЕ // Текущее число резервных СКОЛЬЗЯЩЕЕ----doubledoubledouble double
- YSum, YResDOM- SSum, SResDOM-1. YA11D0M- S All DOM-
- TablGrPattAdd TGP1000.- int TablLng-—1. Tabl Links Add T LNK100.-int int1. TablLng-
- Суммарное // Для всего ДОМЕНА // Суммарное // Для всего ДОМЕНА
- Для ДОМЕНА т. е. для Физического и // всех логических уровней
- Массив строк таблицы // Длина таблицы
- TLinks *(LinksArr20.) — II !!!1.struct { char TablLinks1. UnName10.- //int N- //char Parent10.- //char TypeUKKF10.- //int ResMaxFull- //char TypeUKKS 10. — //int ResMaxSlid- //ll Структура ТАБЛИЦЫ СВЯЗЕЙ
- N рп" Максимальное число резервных ОБЩЕЕ «Тип Укк» — СКОЛЬЗЯЩЕЕ
- TStringGrid *pStrGTE = FrmTE→StringGridTE- // Указ. на ТАБЛ ТЭ
- YSum=l- YResDOM=l- // Y Суммарное (для справки) и уходящее на ДОМЕН
- SSum=0- SResDOM=0- // S Суммарное (для справки) и уходящее на ДОМЕН int IndxUkkFull- // Индекс УКК в его ТАБЛ для ПОЛНОГО рез-я int IndxUkkSlid- // Индекс УКК в его ТАБЛ для СКОЛЬЗЯЩЕГО рез-я
- FrmTE→CalcYSTEUKK (false) — // Рассчитать параметры ТЭ FrmUKK→CalcYSTEUKK (false) — // Рассчитать параметры УКК
- TabtoMemArr () — // Обновить ТАБЛИЦУ в ОЗУ ПЭВМ !!—for (int i = l- i
- MessageBox (Handle, Wstr,"БЕЗ РЕЗЕРВА", MBOK) —
- TGPi-1.tgp.TypeUKKS) — MessageBox (Handle, Wstr,"ОШИБКА поиска UKK", MBOK) — return-
- FrmUKK→YSlidReserve (IndxUkkSlid, YReserv, SReserv, N,
- TGPi-1., NResSlid, &YReserv, &SReserv, StepCoiran)-if (StepComm) // Комментировать шаг? {sprintf (Wstr, «Строка %in TypeUKKS = %s NResSlid = %i», i, TGPi-l.tgp.TypeUKKS, TGP[i-1], NResSlid) — MessageBox (Handle, Wstr,"Типы УКК и Кратность рез", МВОК) —
- FrmUKK→YFullReserve (IndxUkkFull, YReserv, SReserv, N,
- YResDOM *= YReserv- // Запомнить, отнеся на ДОМЕН1. SResDOM += SReserv- //else
- YSum *= YReserv- // Подсчитать просто для контроля1. SSum += SReserv- //sprintf (Wstr, «YSum = %1.7f SSum=%l.lfnYResDOM = %1.7f SResDOM=%l.If
- YSum, SSum, YResDOM, SResDOM) — MessageBox (Handle, Wstr,"Результирующие значения», MBOK)-bool fastcall TGroopPatt: CalculateOneString (int i, bool StepComm, int ResMode, double *pY, double *pS)
- TStringGrid *pStrGTE = FrmTE→StringGridTE- // Указ. на ТАБЛ ТЭint IndxUkkFull- // Индекс УКК в его ТАБЛ для ПОЛНОГО рез-яint IndxUkkSlid- // Индекс УКК в его ТАБЛ для СКОЛЬЗЯЩЕГО ре-