Помощь в учёбе, очень быстро...
Работаем вместе до победы

Автоматизированный сканирующий магнитополяриметрический комплекс

Диссертация: Автоматизированный сканирующий магнитополяриметрический комплекс
ДиссертацияПомощь в написанииУзнать стоимостьмоей работы

Традиционные методы исследования магнитных свойств, такие как баллистический, различные резонансные, индукционный, пондеромоторный и другие не являются локальными и позволяют определять только интегральные магнитные параметры образцов. Для изучения процессов перемагничивания микрои наноструктур нужны локальные магнитные измерения. Высокую степень локальности измерений, вплоть до субмикронных… Читать ещё >

Содержание

  • ГЛАВА 1. ОБЗОР ЛИТЕРАТУРЫ
    • 1. 1. Современные методы исследования локальных магнитных свойств тонких плёнок и наноструктур
      • 1. 1. 1. Сканирующая электронная микроскопия с поляризационным анализом
      • 1. 1. 2. Сканирующая зондовая микроскопия
      • 1. 1. 3. Метод на основе эффекта рассеяния света Мандельштама -Бриллюэна
      • 1. 1. 4. СКВИД-магнитометрия
      • 1. 1. 5. Метод ферромагнитного резонанса в тонких плёнках
      • 1. 1. 6. Метод на основе магнитооптического эффекта Керра
    • 1. 2. Магнитооптические явления и их природа
    • 1. 3. Выводы
  • ГЛАВА 2. МЕТОДИКА ИССЛЕДОВАНИЯ ЛОКАЛЬНЫХ МАГНИТНЫХ СВОЙСТВ ТОКНИХ ПЛЁНОК НА ОСНОВЕ МАГНИТООПТИЧЕСКОГО ЭФФЕКТА КЕРРА
    • 2. 1. Методика исследования распределения локальных магнитных свойств по поверхности
      • 2. 1. 1. Магнитная анизотропия тонких магнитных плёнок
      • 2. 1. 2. Методика определения локальных магнитных параметров плёнки и их распределения по поверхности
      • 2. 1. 3. Способ представления результатов исследования
    • 2. 2. Функциональная схема
    • 2. 3. Концепция
    • 2. 4. Оптическая система
    • 2. 5. Модель магнитополяриметра и оценка степени искажения формы петли гистерезиса
    • 2. 6. Выделение МО-сигнала от одной составляющей намагниченности
    • 2. 7. Выводы
  • ГЛАВА 3. КОНСТРУКЦИЯ АВТОМАТИЗИРОВАННОГО МАГНИТОПОЛЯРИМЕТРИЧЕСКОГО КОМПЛЕКСА
    • 3. 1. Блок-схема магнитополяриметра
    • 3. 2. Система фокусировки лазерного луча
    • 3. 3. Система намагничивания образца
    • 3. 4. Система позиционирования образца
    • 3. 5. Детекторы — основной и опорный
    • 3. 6. Модулятор «Ячейка Фарадея»
    • 3. 7. Основные технические характеристики и особенности АМК
    • 3. 8. Выводы
  • ГЛАВА 4. ПРОГРАММНЫЙ КОМПЛЕКС АВТОМАТИЗИРОВАННОГО МАГНИТОПОЛЯРИМЕТРА
    • 4. 1. Среда программирования
    • 4. 2. Измерительный программный комплекс
      • 4. 2. 1. Режим статического намагничивания
      • 4. 2. 2. Режим динамического намагничивания
      • 4. 2. 3. Алгоритм исследования образца
      • 4. 2. 4. Интерфейс измерительного программного комплекса
    • 4. 3. Вычислительный программный комплекс
      • 4. 3. 1. Алгоритм обработки результатов исследования
      • 4. 3. 2. Интерфейс модуля обработки результатов сканирования
    • 4. 4. Выводы
  • ГЛАВА 5. ИЗУЧЕНИЕ ЛОКАЛЬНЫХ МАГНИТНЫХ СВОЙСТВ ТОНКИХ НАНОСТРУКТУРИРОВАННЫХ ПЛЁНОК
    • 5. 1. Метрологические характеристики АМК
      • 5. 1. 1. Форма и размер лазерного пятна
      • 5. 1. 2. Измерение магнитного поля
      • 5. 1. 3. Юстировка начального положения образца
      • 5. 1. 4. Точность позиционирования образца
      • 5. 1. 5. Погрешности установки образца
    • 5. 2. Исследование локальных магнитных свойств тонких слоев, полученных методом ионно-лучевого синтеза
      • 5. 2. 1. Методика ионно-лучевого синтеза ферромагнитных слоёв
      • 5. 2. 2. Результаты магнитооптического исследования ионно-синтезированных ферромагнитных слоёв
    • 5. 3. Сравнительные измерения
      • 5. 3. 1. Методика проведения сравнительных измерений
      • 5. 3. 2. Результаты сравнительных измерений
    • 5. 4. Оценка чувствительности АМК
    • 5. 5. Выводы

Автоматизированный сканирующий магнитополяриметрический комплекс (реферат, курсовая, диплом, контрольная)

Актуальность работы. Тонкие плёнки — это слои вещества толщиной от долей нанометров до нескольких микрометров, обладающие рядом особенностей атомно-кристаллической структуры, магнитных, электрических и других физических свойств. Магнитные материалы в виде тонких магнитных плёнок или слоев на твердотельных подложках широко используются в качестве сред для хранения информации [1], в устройствах микрои наноэлектроники, в спинтронике [2, 3] и др. На их основе создаются разнообразные миниатюрные датчики, чувствительные к магнитным и электрическим полям, к температуре и другим физическим величинам [4, 5, 6].

Существует большой класс научных и практических задач, в процессе решения которых требуется изучать магнитные свойства тонких плёнок и слоёв. В последние годы бурно развиваются такие направления научных и технологических исследований, как нанотехнологии. Разработкой и созданием новых материалов, а также методов их получения занимается множество научных коллективов. Без знания локальных магнитных характеристик полученных наноструктурированных материалов нельзя судить о возможностях их применения в конкретных устройствах. Кроме технологического интереса к тонким наноструктурированным слоям возникает также и большой интерес к изучению низкоразмерных систем в целом. Это связано с решением целого ряда фундаментальных проблем физики, в частности физики магнитных явлений. Исследования в этой области стимулируются как открытием новых интересных физических явлений, таких как гигантское магнитосопротивление [7, 8], спиновая диффузия через мультислойные структуры, квантовые размерные эффекты [9], так и появлением принципиально новых технологий получения низкоразмерных структур.

Традиционные методы исследования магнитных свойств, такие как баллистический, различные резонансные, индукционный, пондеромоторный и другие [10, 11] не являются локальными и позволяют определять только интегральные магнитные параметры образцов. Для изучения процессов перемагничивания микрои наноструктур нужны локальные магнитные измерения. Высокую степень локальности измерений, вплоть до субмикронных размеров, позволяет получить магнитооптический (МО) метод [12]. МО-средства позволяют измерить большинство локальных магнитных параметров поверхностных слоев образцов любой конфигурации и исследовать доменную структуру [13, 14]. Находят своё развитие МО-методы и в связи с исследованием наноструктур [15].

Степень магнитных неоднородностей планарных структур, а также характер распределения их по поверхности являются важными факторами, влияющими на предельно достижимые параметры и надёжность работы многих устройств на их основе [16]. Поэтому большой практический интерес вызывает исследование влияния различных факторов на пространственные неоднородности магнитных свойств. г

Учитывая вышесказанное, а также научный и технологический бум в области нанотехнологий, можно. сделать вывод о том, что разработка и конструирование приборов для изучения тонких плёнок и наноструктур является в настоящее время одной из актуальных задач материаловедения. Одним из наиболее перспективных методов для исследования низкоразмерных структур является МО-метод.

Цель работы. Разработка методики исследования распределения локальных магнитных свойств по поверхности и создание автоматизированного комплекса для изучения магнитных характеристик поверхностей и тонких плёнок.

Постановка задачи. Для достижения поставленной цели были определены и решены следующие задачи:

На основе анализа существующих методов измерений параметров тонких магнитных плёнок и слоёв разработать функциональную схему экспериментальной измерительной установки и методику проведения измерений. Выбрать конкретные технические решения отдельных узлов экспериментальной установки.

Сконструировать и создать установку на основе магнитооптических эффектов Керра и Фарадея для измерения локальных магнитных характеристик.

Разработать алгоритмы и подходы для аппаратно-программной реализация измерений, а также обработки и хранения информации в экспериментальной измерительной установке.

Для определения возможностей автоматизированного комплекса провести исследование образцов реальных ионно-синтезированных наноструктурированных ферромагнитных слоёв. Определить метрологические характеристики разработанной и созданной установки.

Научная новизна работы:

Впервые предложена методика исследования, позволяющая одновременно получать кривые намагничивания и изучать распределение локальных магнитных свойств по поверхности, путём совместного прецизионного перемещения образца с азимутальным вращением.

Разработан и создан оригинальный универсальный автоматизированный магнитополяриметрический измерительный комплекс на базе промышленного эллипсометра ЛЭФ-ЗМ-1, позволяющий изучать магнитные характеристики тонких плёнок и поверхностей.

Впервые предложен способ представления распределения локальных магнитных свойств по поверхности в виде топограмм азимутальных зависимостей параметров кривых намагничивания.

Впервые, с использованием созданного магнитополяриметрического комплекса, обнаружен разброс направлений осей магнитной анизотропии в образцах кремния, имплантированных ионами железа во внешнем магнитном поле.

Практическая значимость работы.

Создан автоматизированный комплекс для исследования магнитных характеристик ферромагнитных материалов. Оптическая схема установки позволяет проводить МО-измерения в геометриях эффекта Керра и эффекта Фарадея. Конструкция магнитополяриметра и оригинальные программные алгоритмы позволяют исследовать анизотропию локальных магнитных свойств поверхностей и тонких плёнок. Результаты исследований представляются в виде топограмм азимутальных зависимостей параметров кривых намагничивания, отличающихся информативностью и наглядностью.

Разработанный и. созданный прибор перспективен для проведения научных исследований тонкоплёночных наноструктурированных материалов, а также для оперативного контроля однородности синтезированных плёнок.

Реализация результатов работыРезультаты диссертационной работы внедрены в практику научно-исследовательской деятельности КФТИ КазНЦ РАН, что подтверждено соответствующим актом.

Достоверность полученных результатов определяется теоретическим обоснованием на основе использования известных положений фундаментальных наук, повторяемостью результатов измерений, их сопоставимостью с данными, полученными с помощью других методов, опубликованными в научной литературе.

На защиту выносится:

• Методика исследования распределения локальных магнитных свойств с одновременным получением кривых намагничивания по поверхности, основанная на сканировании оптического луча при азимутальном вращении образца.

• Универсальный автоматизированный магнитополяриметрический измерительный комплекс, созданный на базе промышленного эллипсометра ЛЭФ-ЗМ-1 и позволяющий изучать магнитные характеристики тонких плёнок и поверхностей.

• Блок управления током электромагнита, обеспечивающий автоматическое переключение направления и стабилизацию тока.

• Способ представления результатов исследований в виде топограмм азимутальных зависимостей параметров кривых намагничивания.

Личный вклад соискателя.

Автор разработал алгоритмы и создал программное обеспечение, осуществляющее управление системами комплекса, процессом исследования, предварительную и окончательную обработку результатов измерений, разработал электрические принципиальные схемы и изготовил блок управления током электромагнита, сконструировал автоматизированные приводы и гониометр устройства позиционирования образца, осуществил сопряжение измерительного комплекса с компьютером.

При непосредственном участи автора разработаны функциональная и блок-схемы автоматизированного магнитополяриметрического комплекса, разработана методика исследования распределения локальных магнитных свойств по поверхности и предложен способ представления результатов исследований в виде топограмм азимутальных зависимостей параметров кривых намагничивания.

Апробация работы. Основные положения диссертационной работы докладывались и обсуждались на:

• Конференции молодых ученых КФТИ КазНЦ РАН, 13−14 апреля 2010 г.

• 17th International Conference on Ion Beam modifications of materials. Montreal, August 22 — 27, 2010.

• Международной Научно-технической конференции и молодежной школе-семинаре «Нанотехнологии — 2010», Дивноморское, Россия, 19−24 сентября 2010 г.

• III Всероссийской конференции «Физические и физико-химические основы ионной имплантации», Нижний Новгород, 26−29 октября 2010 г.

• Итоговой научной конференции КФТИ КазНЦ РАН за 2010 год, Казань, 5 февраля 2011 г.

• EMRS 2011 Spring meeting Symposium В «Ion Beam Synthesis and Modification of Nanostructured Materials and Surfaces». Nice, France, May 9- 13,2011.

Публикации. По теме диссертации опубликовано 6 печатных работ, из них 5 статей в журналах, входящих в «Перечень журналов ВАК», и 1 публикация в материалах международной конференции.

Соответствие диссертации научной специальности. Диссертация соответствует специальности 05.11.13 — Приборы и методы контроля природной среды, веществ, материалов и изделий и относится к следующим областям исследования:

1) Методика исследования, позволяющая одновременно получать кривые намагничивания и изучать распределение локальных магнитных свойств по поверхности, соответствует п. 1 «Научное обоснование новых и усовершенствование существующих методов аналитического и неразрушающего контроля природной среды, веществ, материалов и изделий» Паспорта специальности.

2) Конструирование и создание установки для измерения локальных магнитных характеристик, а также исследование реальных ионно-синтезированных наноструктурированных ферромагнитных слоев соответствует п. 3 «Разработка, внедрение и испытание приборов и систем контроля природной среды, веществ, материалов и изделий, имеющих лучшие характеристики по сравнению с прототипами» Паспорта специальности. 3) Разработка алгоритмов и подходов для аппаратно-программной реализации измерений, обработки и хранения информации в автоматизированной измерительной установке, а также способ представления распределения локальных магнитных свойств по поверхности в виде топограмм азимутальных зависимостей параметров кривых намагничивания соответствуют п. 6 «Разработка алгоритмического и программно-технического обеспечения процессов обработки информативных сигналов и представление результатов в приборах и средствах контроля, автоматизация приборов контроля» Паспорта специальности.

Структура и объём диссертации. Диссертация состоит из введения, пяти глав, заключения, списка цитируемой литературы и приложения. Общий объём диссертации — 118 страниц, включая 50 рисунков и 2 таблицы. Библиографический список содержит 98 наименований.

Основные результаты и выводы:

1. Впервые предложена и реализована методика исследования, позволяющая одновременно получать кривые намагничивания и изучать распределение локальных магнитных свойств по поверхности, путём совместного прецизионного перемещения образца с азимутальным вращением.

2. Создан автоматизированный магнитополяриметрический измерительный комплекс на базе промышленного эллипсометра ЛЭФ-ЗМ-1, позволяющий изучать магнитные характеристики тонких плёнок и поверхностей. Созданный магнитополяриметр имеет резерв для улучшения разрешающей способности за счёт усовершенствования системы фокусировки.

3. Разработан и изготовлен блок управления током электромагнита, обеспечивающий автоматическое переключение направления и стабилизацию тока.

4. Впервые предложен и реализован способ представления распределения локальных магнитных свойств по поверхности в виде топограмм азимутальных зависимостей параметров кривых намагничивания.

5. Определены и проанализированы метрологические характеристики разработанного прибора.

6. С использованием созданного магнитополяриметрического комплекса изучено влияние внешних магнитных и механических полей на образование анизотропных магнитных плёнок при ионно-лучевом синтезе. При этом впервые обнаружена дисперсия направлений осей анизотропии в образцах кремния, имплантированных ионами железа во внешнем магнитном поле.

7. Разработанный и созданный прибор перспективен для проведения научных исследований тонкоплёночных наноструктурированных материалов, а также для оперативного контроля однородности синтезированных плёнок.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

Показать весь текст

Список литературы

  1. Togami Y. Magneto-Optic Disk Storage // IEEE Trans. Magn. 1982. V. MAG-18. No. 6. P. 1233−1237.
  2. Zutic L, Fabian J., Sarma Das S. Spintronics: Fundamentals and applications // Reviews of modern physics, 2004. V. 76. P. 323−410.
  3. Gregg J. F., Dennis C., Petej I., Jouguelet E. Spin electronics a review // J. Phys. D: Appl. Phys. 2002. V. 35. P. R121-R155.
  4. Grunberg P. Layered Magnetic Structures: History, Highlights, Applications // Phys. Today. 2001. V. 54. P. 31−37.
  5. Simonds J. L. Magnetoelectronics today and tomorrow // Phys. Today. 1995. V. 48. P. 26−32.
  6. Prinz G. A. Magnetoelectronics. // Science. 1998. V.282. P. 1660−1663.
  7. А. В., Грановский А. Б. Гигантское магнитосопротивление // Природа. 1995. № 8. С. 72−79.
  8. Tsymbal E.Y., Pettifor D.G. Perspectives of Giant Magnetoresistance (review) // Solid State Physics. 2001. Vol. 56. P. l 13−237.
  9. Ф.А. Размерные эффекты и магнитные свойства аморфных наноструктур на основе полупроводников и металлов / Автореф. дис. на соиск. учён, степени доктора физ.-мат. наук. М.: 2011 (УРАН Физический институт им. П. Н. Лебедева РАН).
  10. Магнитные измерения и приборы: сб. науч. тр. / Владимир, политехи, ин-т- отв. ред. Ю. Н. Маслов и др. Владимир: Владимир. ПТИ, 1982. — 96 с.
  11. Методы и устройства магнитных измерений и контроля: межвуз. темат. сб. науч. тр. / Омский политехи, ин-т — редкол.: Ю. В. Селезнев (отв. ред.) и др. Омск: ОмПИ, 1987. — 71 с.
  12. Г. С., Нурмухамедов Г. М., Золотарев В. П. Установка для измерения магнитных характеристик ферромагнетика на микроучастках поверхности размером ~ 1 мкм" // ПТЭ. № 4. 1964. С. 171−175.
  13. A. Hubert, R. Schafer. Magnetic Domains. Springer-Verlag, BerlinHeidelberg. 1998.-686 p.
  14. Nistor С., Beach G. S. D. and Erskine J. L. Versatile magneto-optic Kerr effect Polarimeter for studies of domain-wall dynamics in magnetic nanostructures //Rev. Sei. Instrum. 2006. V. 77. A. 103 901, P. l-11
  15. Allwood D.A., Xiong Gang, Cooke M.D. and Cowburn R.P. Magneto-optical Kerr effect analysis of magnetic nanostructures // J. Phys. D: Appl. Phys. 2003. V. 36. PII. P.2175−2182.
  16. B.A. Тонкие ферромагнитные плёнки в радиотехнических цепях. М.: «Сов. Радио», 1974. — 160 с.
  17. Unguris J. Scanning Electron Microscopy with Polarization Analysis (SEMPA) and its Applications. // Magnetic Imaging and its Applications to Materials. 2000. P. 167−303.
  18. Kirschner J. Polarized Electrons at Surfaces, Springer, Berlin 1985.
  19. Scheinfein M.R., Unguris J., ICelley M.H., Pierce D.T. and Celotta R.J. // Rev. Sei. Instrum. 1990. V.61. P.2501−2526.
  20. A.A., Овчинников Д. В., Бухараева A.A. Диагностика поверхности с помощью сканирующей силовой микроскопии (обзор). // Заводская лаборатория. 1997. № 5. С.10−27.
  21. Martin Y., Wickramasinghe H.K. Magnetic Imaging by «Force Microscopy» with 1000 A Resolution // Appl.Phys.Lett. 1987. V.50. No.20. P.1455−1457.
  22. Grutter P., Mamin H.J., Rugar D. Magnetic Force Microscopy (MFM): Scanning Tunneling Microscopy. II. // Eds. R. Weisendanger and H.-J. Guntherodt. -Berlin Springer Verlag. 1992. P.153−207.
  23. А.П., Марчевский М. В., Хайкин М. С. Магнитосиловой сканирующий микроскоп. //ПТЭ. 1991. № 2. С.165−171.
  24. Rugar D., Mamin Н., Guethner P., Lambert S., Stern J., McFadyen I., Yogi T. Magnetic force microscopy: General principles and application to longitudinal recording media //J. Appl. Phys. 1990. V.68(3). P. 1169−1183.
  25. Persch G., Strecker H. Applications of magnetic force microscopy in magnetic storage device manufacturing // Ultramicroscopy. 1992. V.42−44. P. 12 691 274.
  26. Gomez R.D., Mayergoyz I.D. and Burke E.R. Magnetic Imaging in the Presence of an External Field: Erasure Process of Thin-Film Recording Medium // IEEE Transactions on Magnetics. 1995. V.31. P.3346−3348.
  27. Barnes J. R., O’Shea S. J., Welland M. E., Kim J. Y., Evetts J. E., and Somekh R. E. Magnetic force microscopy of Co-Pd multilayers // J. Appl. Phys. 1994. V.76. P.2974−2980.
  28. Proksch R., Foss S., Dahlberg E. D., Prinz G. Magnetic fine structure of domain walls in iron films observed with a magnetic force microscope // J. Appl. Phys. 1994. V.75. No.10. P.5776−5778.
  29. Ziiger O., Rugar D. First images from a magnetic resonance force microscope. // Appl. Phys. Lett. 1993. V.63. P.2496−2498.
  30. Ziiger O. and Rugar D. Magnetic resonance detection and imaging using force microscope techniques. // J. Appl. Phys. 1994. V.75. P.6211−6216.
  31. O., Hoen S. Т., Yannoni C. S. and Rugar D. Three-dimensional imaging with a nuclear magnetic resonance force microscope. // J. Appl. Phys. 1996. V.79. P.1881—1884.
  32. Moreland J. Micromechanical instruments for ferromagnetic measurements. // J.Phys. D. 2003. V.36. No.5. R39.
  33. В.Л., Ермолаева О. Л., Фраерман А. А. Влияние поля зонда магнитно-силового микроскопа на распределение намагниченности висследуемых образцах / // Известия РАН, серия физическая. 2008. Т.72. № 11. С.1558−1561.
  34. Mironov V.L., Gribkov В.А., Nikitushkin D.S., Gusev S.A., Gaponov S.V., Shubin A.B., Zhdan P.A., Binns C. Magnetic force microscopy of low-coercivity ferromagnetic nanodiscs // IEEE Transactions on magnetics. 2008. V. 44. No. 10. P.2296−2298.
  35. Demokritov S., Tsymbal E. Light scattering from spin waves in thin films and layered systems // J. Phys. Condens. Matter. 1994. V.6. P.7145−7188.
  36. Carlotti G. and Gubbiotti G., Magnetic properties of layered nanostructures studied by Brillouin light scattering and surface magneti-optic Ken-effect. //J. Phys. C. 2002. V.14.1.35. P. 8199−8233
  37. Carlotti G. and Gubbiotti G., Brillouin scattering and magnetic excitation in layered structures. // La Rivista del Nuovo Cimento. 1999. V.22.1.12. P. 1−60.
  38. Дж. Принципы действия и применение СКВИД // ТИИЭР. 1989. Т. 77. № 8. С. 96−100.
  39. А. Эффект Джозефсона: Физика и применения/ А. Бароне, Патерно Дж.: Hep. с англ. М.: Мир. 1984. — 640 с.
  40. J. R., Ketchen M. В., Tsuei С. С., Sun J. Z., Gallagher W. J., Yu-Jahnes Lock See Gupta A., Stawiasz K. G., Wind S. J. Design and applications of a scanning SQUID microscope // IBM J. Res. Dev. 1995. V.39. P. 655−668.
  41. Soohoo R.F. A microwave magnetic microscope // J. Appl. Phys. 1962. V.33. P.1276−1278.
  42. .А., Изотов A.B., Лексиков A.A. Сканирующий спектрометр ферромагнитного резонанса для диагностики тонких магнитных плёнок. // Заводская лаборатория. Диагностики материалов. 2001. Т.67. № 9. С.24−33.
  43. А. Л., Саланский Н. М. Установка по исследованию локальных статических и импульсных характеристик тонких плёнок // ПТЭ. 1967. № 4. С. 252−253.
  44. Mahadevan Ramesh, R. W. Crowell, and Subrata Dey. A small spot Kerr photometer system // Rev. Sei. Instrum. 1993. V.64. A.1931- doi: 10.1063/1.1 143 978 (6 pages).
  45. Bader S.D. SMOKE // J. Magn. Magn. Mater. 1991. V. 100. P.440−454.
  46. Bemacki B.E., Mansuripur M. Characterization of magneto-optical recording media in terms of domain boundary jaggedness // J. Appl. Phys. 1991. V. 69. P. 4960−4962.
  47. Shen J. X., ICirby R. D., Wierman K., Shan Z. S., Sellmyer D. J. Magnetization reversal and defects in Co/Pt multilayers // J. Appl. Phys. 1993. V. 73. P. 6418−6420.
  48. А.Б., Диатропов Д. Б. Простая магнитооптическая установка//ПТЭ. 1970. № 6. С. 177−179.
  49. Arnold C.S., et al. Magnetic susceptibility measurements of ultrathin films using the surface magneto-optic Kerr effect: Optimization of the signal-to-noise ratio // Rev. Sei. Instrum. 1997. V.68(ll). P.4212−4216.
  50. Minden H. T. Transverse Kerr magneto-optic measurements with a rotating analyzer ellipsometer// Rev. Sei. Instrum. 1992. V.63 1.6 P.3290−3292.
  51. Trudel S., Wolf G., Schulthei? H., Hamrle J., Hillebrands В., Kubota Т., Ando Y. Note: Probing quadratic magneto-optical Kerr effects with a dual-beam system // Rev. Sei. Instrum. 2010. V. 81. A. 26 105 (3 pages)
  52. Dillon J. F., Gyorgy E. M., Hellman F., Walker L. R., Fulton R. C. Use of the longitudinal magneto-optical Kerr effect to study nonmagnetic/magnetic bilayers // J. of Appl. Phys. 1988. V.64.1.10. P.6098 6100.
  53. Muller G. A. Doctoral thesis. Gottingen, 2003.
  54. P. Q. J. Nederpel and J. W. D. Martens. Magneto-optical ellipsometer // Rev. Sci. Instrum. 1985. V. 56. A. 687 (4 pages).
  55. Minden, H.T. Sensitive Method for the Measurement of the Kerr Magneto-Optic Effect, Rev. Sci. Instrum. 1992. V.63(2). P. 1798−1804.
  56. Jordan S. M., Whiting J. S. S. Detecting two components of magnetization in magnetic layer structures by use of a photoelastic modulator // Rev. Sci. Instrum. 2009. V.67.1.12 P. 4286 4289.
  57. В.А., Попов В. И., Горохов В. А. Перпендикулярная анизотропия никелевых и железоникелевых тонких плёнок // ФММ. 1969. Т. 27. № 4. С. 606−609.
  58. Lambeck М. Magnetooptical Investigations on Thin Ferromagnetic Films // IEEE Trans. Mag. 1968. Vol. MAG-4. Nol. P. 51−54:• 60. Кринчик Г. С. Метод экспериментального исследования доменных границ в ферромагнетиках // ФММ. 1956. Т. 3. С. 349−350.
  59. Schmidt F., Rave W. and Hubert A. Enhancement of magneto- optical domain observation by digital image processing // IEEE. Trans. Magn. 1985. V. MAG-21. P. 1596−1598
  60. Wedding J.B., Li M., and Wang G.-C. Magnetization Reversal of a Thin Polyciystalline Co Film Measured by MOKE Technique and Field-Dependent Magnetic Force Microscopy. // J. Mag. Mag. Mater. 1999. V. 204. P. 79−89.
  61. Nahrwold G., Scholtyssek J. M., Motl-Ziegler S., Albrecht O., Merkt U., Meier G. Structural, magnetic, and transport properties of Permalloy for spintronic experiments // J. Appl. Phys. 2010.. V. 108. A. 13 907- doi:10.1063/1.3 431 384 (6 pages).
  62. Gupta R, Han K.-H., Lieb К. P., Muller G. A., Schaafl P. Influence of ion implantation on the magnetic properties of thin FeCo films Zhang 1 // J. Appl. Phys. 2005. V. 97. A. 73 911- doi: 10.1063/1.1 875 737 (7 pages).
  63. D., Tibus S., Rettner С. Т., Thomson Т., Terris B. D., Schrefl Т., Albrecht M. Magnetic strip patterns induced by focused ion beam irradiation // J. Appl. Phys. 2008. V.103.1. 63 915- DOI: 10.1063/1.2 894 587 (6 pages).
  64. A.B. Оптические свойства металлов. М.: Физматгиз, 1961.-464 с.
  65. С.В., Соколов A.B. О магнитооптических явлениях в ферромагнетиках. // ЖЭТФ. 1949. Т. 19. № 8. С.703−708.
  66. Argyres Р. N. Theory of Faraday and Kerr effects in ferromagnetics // Phys. Rev. 1955. V.97. No.2. P.334−345.
  67. M.M., Глаголев С. Ф., Горбунов И. П. Магнитооптические методы и средства определения магнитных характеристик материалов. Л.: Энергия. Ленингр. отд-ние, 1980. — 128 с.
  68. В.Г. Тонкие магнитные плёнки. // Соросовский образовательный журнал. 1997. № 1. С. 107−114.
  69. С.В., Дивин А. Г., Жилкин В. М., Пономарев С. В., Свириденко А. Д. Автоматизация измерений, контроля и испытаний: Учебное пособие. Тамбов: Издательство ТГТУ, 2007. — 116 с.
  70. Qui Z. Q. and Bader S. D. Surface magneto-optic Kerr effect // Rev. Sei. Instrum. 2000. V. 71. P. 1243−1255.
  71. С.Ф. Разработка и исследование образцового автоматизированного магнитополяриметра Керра / Автореф. дис. на соиск. учён, степени канд. техн. наук. Л.: 1977 (ВНИИМ им. Д.И. Менделеева).
  72. R. С. New calcules for the treatment of optical systems. I-VIII // J. Opt. Soc. Amer. 1941. V. 31. No.7. P.488−493.- 1948. V.38. No.8. P.671−685.- 1956. V.46. No.2. P.126−131.
  73. Green A., Thomas B. A simple hysteresis loop plotter using transverse Kerr-effect. // J. Sci. Instrum. 1966. V.43. No.6. P.399−400.
  74. Carey R., Isaac E., Thomas B. The transverse Kerr-effect in Cobalt thin films and its application to a simple hysteresis loop plotter. // J. Brit, of Appl. Phys. 1968. V.l. pt. D. No.7. P.945−948.
  75. В., Невзоров В. Изделия L-CARD: отечественные платы АЦП/ЦАП с сигнальным процессором // Электроника НТБ. 1999. № 3. С. 32−33.
  76. Прикладная лазерная медицина. Под ред. Х. П. Берлиена, Г. И. Мюллера. М.: Интерэкспорт, 2007. — 365 с.
  77. У. Лазерная технология и анализ материалов. Пер. с англ. -М.: Мир, 1986.-504 с.
  78. С.Г. Электричество. Учебное пособие для студентов университетов. -М.: Наука, гл. ред. физ. мат. лит., 1970. 668 с.
  79. В.В., Ваксенбург В.Я, Дьяконов В. П. и др. Схемотехника устройств на мощных полевых транзисторах: Справочник — М.:"Радио и связь", 1994.-280 с.
  80. IR2110. Datasheet. // Официальный сайт International Rectifier. URL: http://www.irf.com/product-info/datasheets/data/ir2110.pdf (дата обращения: 12.04.2011).
  81. Photovoltaic Isolator. Datasheet. // Официальный сайт International Rectifier. URL: http://www.irf.com/product-info/datasheets/data/pvin.pdf (дата обращения: 12.04.2011).
  82. У., Шенк К. Полупроводниковая схемотехника. М.: Мир, 1982.-512 с.
  83. Suits J.C. Magneto-optical rotation and ellipticity measurements with a spinning analyzer. // Rev. Sci. Instrum. 1971. V.42. P.19−22.
  84. Scholtens, D. J., Kleibeuker, J. F., Kommandeur, J. Apparatus for the Measurement of Magneto-Optical Rotation and Ellipticity // Rev. Sci. Instrum. 1973. V.44. P.153−157.
  85. H.C., Сырова H.H. Установка для измерения эффекта Фарадея в ТМП. // В сб.: Аппаратура и методы исследования тонких магнитных пленок, Красноярск. 1982. С.137−141.
  86. Stoffel A. A mechanical modulator for use with precision ellipsometer. //Appl. Opt. 1967. V.6. No.6. P.1279l-1280.
  87. A.B. Одновременное измерение оптических и магнитооптических параметров. // Оптика и спектроскопия. 1970. Т.28. № 2. С.369−374.
  88. Э. Дисциплина программирования. — М.: Мир, 1978. 276с.
  89. Тревис Дж. Lab VIEW для всех. Пер. с англ. Клушин Н. А., М.: ДМК Пресс, ПриборКомплект, 2005. -544 с.
  90. Измерения в промышленности. Справ, изд. В 3 кн. Кн. 1. Теоретические основы. Пер. с нем./ Под ред. Профоса П. М.: Металлургия, 1990.- 492 с. /стр.212.
  91. . Ф., Гущин В. JL, Иванов С. А., Тарасов A. JI. Метод измерения размеров фокусных пятен рентгеновских трубок // Электронная техника. Сер. 4. 1979. Вып. 6. С.56—58.
  92. Gumarov G.G., Petukhov V.Yu., Zhikharev V.A., Valeev V.F., Khaibullin R.I. Investigation of Magnetic Anisotropy of Silicide Films Ion-beam Synthesized in External Magnetic Field. // Nucl. r Instr. and Meth. in Phys. Res. B. 2009. V.267. P.1600−1603.
  93. В.А. Магнитная структура тонких магнитных пленок и ФМР//ЖЭТФ. 1968. Т.54. Вып. 1.С.303−311.jL
  94. Ymry Y. Random field instability of the ordered state of continuous symmetry // Phys. Rev. Letters. 1975. V.35. No.21. P.1399−1401.
  95. A.B. Исследование восприимчивости и магнитных неоднородностей тонких плёнок методом ферромагнитного резонанса / Дисс. на соиск. уч. степ. канд. физ.-мат. наук
  96. Д.К., Ясонов П. Г. Коэрцитивный спектрометр / // Патент РФ на полезную модель. 2009. № 81 805, Бюл. № 9.
Заполнить форму текущей работой

Пора сдавать?