Атомно-силовая микроскопия кристаллов и пленок со сложной морфологией поверхности
Разработана комплексная методика исследования электрически неоднородной поверхности на примере сегнетоэлектрического кристалла триглицинсульфата. Обоснован и апробирован комплекс методов мультимодовой АСМ для получения высококонтрастных изображений доменов в статике и динамике, измерения локальных электрических характеристик полярной поверхности и параметров доменной структуры. Впервые получены… Читать ещё >
Содержание
- АТОМНО-СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ КАК МЕТОД ИССЛЕДОВАНИЯ ПОВЕРХНОСТИ С ВЫСОКИМ ПРОСТРАНСТВЕННЫМ РАЗРЕШЕНИЕМ. ОБЗОР ЛИТЕРАТУРЫ
- 1. 1. Характеристика и области применения атомно-силовой микроскопии
- 1. 2. Принцип действия и основные режимы работы атомно-силового микроскопа в воздушной среде
- 1. 3. Модификации АСМ для изучения электрически неоднородных поверхностей
- 1. 4. АСМ как источник новой информации при решении традиционных задач кристаллографии и физики кристаллов
- 1. 4. 1. Исследование in situ и ex situ морфологии поверхности кристаллов
- 1. 4. 2. Изучение поверхности сегнетоэлектрических кристаллов
- 2. 1. Артефакты изображений, их классификация и методы устранения
- 2. 1. 1. Инструментальные артефакты
- 2. 1. 2. Артефакты режима
- 2. 1. 3. Артефакты состояния
- 2. 2. Разработка метрологического комплекса для обеспечения АСМизмерений в воздушной среде
- 2. 2. 1. Состав и основные технические характеристики метрологического комплекса для АСМ. климата. у и
- 2. 2. 3. Устранение артефактов, вызванных наличием статического заряда на поверхности
- 2. 3. Разработка стандартных структур для калибровки пьезосканера атомно-силового микроскопа по высоте
- 2. 3. 1. Тестовые структуры для калибровки микроскопа
- 2. 3. 2. Поиск новых тестовых структур на основе слоистых кристаллов
ГЛАВА 3. РАЗВИТИЕ МЕТОДИЧЕСКИХ ОСНОВ ОЦЕНКИ ШЕРОХОВАТОСТИ И ЛОКАЛЬНОЙ СТРУКТУРЫ ПОВЕРХНОСТИ КРИСТАЛЛОВ И ПЛЕНОК В АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ114 3.1 Система параметров для анализа шероховатости и микрорельефа поверхности в АСМ.
3.1.1. Метрические параметры.
3.1.2 Фрактальные параметры.
3.2. Методика расчета характеристик поверхности материалов по данным измерения атомно-силового микроскопа.
3.2.1 Характеристики шероховатости поверхности.
Иерархическая шероховатость.
3.2.2. Определение пространственных параметров поверхности материалов по данным измерений трансформант Фурье в атомно-силовой микроскопии
3.2.3 Определение параметров нанорельефа поверхности пленок с различной степенью кристалличности на примере диоксида титана.
3.3.Комплексная методика исследования статистических свойств рельефа наноструктурированных поверхностей диэлектрических материалов с использованием функции спектральной плотности мощности.
3.3.1 Исследование статистических свойств рельефа наноструктурированных поверхностей диэлектрических материалов с использованием функции спектральной плотности мощности.
3.3.2 Влияние статического заряда поверхности на параметры шероховатости
ГЛАВА 4. ИССЛЕДОВАНИЕ ЭЛЕКТРИЧЕСКИ НЕОДНОРОДНОЙ ПОВЕРХНОСТИ НА ПРИМЕРЕ КЛАССИЧЕСКОГО СЕГНЕТОЭЛЕКТРИЧЕСКОГО КРИСТАЛЛА ТРИГЛИЦИНСУЛЬФАТА
4.1. Методики подготовки и исследования образцов.
4.1.1. Структура кристалла TGS.
4.1.2. Получение и подготовка образцов.
4.1.3. Методики АСМ-исследования образцов.
4.2. Мультимодовая микроскопия сегнетоэлектрических доменов.
4.2.1. Трудности АСМ-исследования сегнетоэлектриков и пути их преодоления
4.2.2. АСМ в контактном режиме.
4.2.3. АСМ в прерывисто-контактном режиме.
4.2.4. Особенности АСМ-изображений сегнетоэлектрических доменов в состаренных кристаллах TGS в контактном и прерывисто-контактном режимах.
4.2.5. Электрические модификации АСМ (микроскопия Кельвина, электростатическая силовая микроскопия, микроскопия пъезоотклика, сканирующая резистивная микроскопия).
4.3. Морфология поверхности естественного скола кристалла по данным контактного и прерывисто-контактного режимов АСМ.
4.3.1. Тонкая структура полярной поверхности скола кристаллов.
4.3.2. Изучение воздействия зондирующего острия на поверхность в контактном режиме.
4.3.3. Изучение ударного воздействия на поверхность в прерывисто-контактном режиме.
4.3.4. Влияние воздействий окружающей среды.
4.4. Строение и свойства кристаллов TGS с различной степенью дефектности
4.4.1. Методики характеризации кристаллов
4.4.2. Тонкая структура полярной поверхности кристаллов с примесями внедрения и замещения.
4.4.3. Влияние микроволнового воздействия.
4.5. Преимущества использования методов мультимодовой АСМ.
Список литературы
- Binnig G., Rohrer H., Gerber Ch., Weibel E. Surface Studies by Scanning Tunneling Microscopy // Phys. Rev. Lett. — 1982. — V.49. — P.57−61.
- Binnig G., Quate C.F., Gerber Ch. Atomic Force Microscope // Phys. Rev. Lett. -1986. V.56. — P.930−933.
- Meyer E., Heinzelmann H. Scanning force microscopy // Scanning tunneling microscopy. V2. Ed. Wiesendanger R., Guntherodt H.-J. Berlin-Heidelberg: SpringerVerlag. 1992. -P.99−149.
- Magonov S.N. Surface Analysis with STM and AFM: experimental and theoretical aspects of image analysis / S.N.Magonov, M.- H. Whangbo. WeinHeim- New York- Basel- Cambridge- Tokyo: VHC. 1996. 318 p.
- Bai Ch. Scanning Tunneling Microscopy and its Application / Ch. Bai. Shanghai. Springer. 1992.-P.95.
- Быков B.A. Приборы и методы сканирующей зондовой микроскопии для исследования и модификации поверхностей: дис. док. тех. наук. Москва, 2000.- 393 с.
- Бухараев А.А., Овчинников Д. В., Бухараева А. А., Диагностика поверхности с помощью сканирующей силовой микроскопии (обзор) // Заводская лаборатория.- 1997. № 5. — С.10 — 27.
- Сканирующая зондовая микроскопия биополимеров / Под ред. И. В. Яминского Москва: Научный мир, 1997. 88 с.
- Jandt K.D. Atomic force microscopy of biomaterials and interfaces // Surface Sci. -2001. V.491. -P.303−332.
- Giessible F.J. Atomic force microscopy in ultrahigh vacuum // Jpn. J. Appl. Phys.- 1994. V. 33(1), № 6B. — P. 3726−3734.
- Sugawara Y., Ueyama H., Uchihashi T. et al. True atomic resolution imaging with noncontact atomic force microscopy // Applied Surface Sci. 1997. — V. 113/114.- P. 364−370.
- Giessibl F.J. Advances in atomic force microscopy 11 Reviews of modern physics. -2003.-V. 5.-P. 949−983.
- Арутюнов П.А., Толстихина A.Jl. Атомно-силовая микроскопия в задачах проектирования приборов микро- и наноэлектроники (Обзор). 4.1,2 // Микроэлектроника. 1999. Т.28, № 6. — С.405−414- 2000. — Т. 29. № 1. — С.13−22.
- Володин А.П. Новое в сканирующей микроскопии (обзор материалов международной конференции STM'97) // Приборы и техника эксперимента. -1998. № 6. — С.3−42.
- Saenz J J, Garcia N., Grutter R., Meyer E., Heinzelmann H., Wiesendanger R., Rosenthaler L., Hidber H.R., Guntherodt H.-J. Observation of magnetic forces by atomic force microscope // J.Appl.Phys. 1987. — V. 62. — P. 4293^1295.
- Martin Y., Abraham D. W, Wickramasinghe H.K. High Resolution Capacitance Imaging and Potentiometry by Force Microscopy // Appl.Phys.Lett. 1988. — V. 52(13).-P.l 103−1110.
- Stern J.E., Terris B.D., Mamin H.J., Rugar D. Deposition and imaging of localized charge on insulator surfaces using a force microscope // Appl.Phys.Lett. -1988.-V. 53. -P.2717−2719.
- Terris B.D., Stern J.E., Rugar D., Mamin H.J. Contact electrification using force microscopy // Phys.Rev.B. 1989. — V. 63(24). — P. 2669−2672.
- Сорокина К. Л., Толстихина А. Л. Модификация атомно-силовой микроскопии для изучения электрических свойств кристаллов и пленок. Обзор. // Кристаллография. -2004. -Т. 49, № 3. С. 541−565.
- Scanning Probe Microscopy / Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale Ed. S. Kalinin, A. Gruverman. Springer, 2007, XL 980 p.
- Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials Scanning Probe Microscopy Approach Series: NanoScience and Technology. Ed. A. Gruverman Springer, 2004, XIV. 282 p.
- Soergel E. Piezoresponse force microscopy (PFM) // J. Phys.D.: Appl.Phys. -2011. V. 44. — P464003 (1−17).
- Roadmap of scanning probe microscopy nanoscience and technology. / Ed. S. Morrita. Springer. 2007. XVIII. -202 p.
- Nonnenmacher M., Wickramasinghe H.K. Scanning probe microscopy of thermal conductivity and subsurface properties // Appl. Phys. Lett. 1992. — V. 61(2). — P. 168 170.
- Majumdar A., Carrejo J.P., Lai J. Thermal imaging using the atomic force microscope // Appl. Phys. Lett. 1993. — V. 62, № 20. — P. 2501−2503.
- Cretin В., Gomes S., Trannoy N., Vairac P. Scanning Thermal Microscopy / Microscale and Nanoscale Heat Transfer. Topics in Applied Physics V. 107. SpringerVerlag Berlin Heidelberg, 2007. — P.181−238.
- Cannaerts M., Seynaeve E., Rens G., Volodin A., Van Haesendonck C. Implementation and optimization of a scanning Joule expansion microscope for the study of small conducting gold wires // Appl. Surface Sei. 2000. — V. 157. — P.308−313.
- Wickramasinghe H.K. Progress in scanning probe microscopy // Acta mater. -2000.-V. 48. P.347−358.
- Green N.H., Allen S., Davies M.C., Roberts C.J., Saul J.B. Tendier S.J.B., Williams Ph.M. Force sensing and mapping by atomic force microscopy // Trends in analytical chemistry. 2002. -V. 21, №.1. — P.64−73.
- Salmeron M. Scanning polarization force microscopy. A technique for studies of wetting phenomena at nanometer scale // Oil & Gas Science and Technology. 2001. -V. 56, № l.-p. 63−75.
- Андреюк Д., Быков В. Сканирующая зондовая микроскопия: современные тенденции // Наноиндустрия. 2011. — Т. 27, № 3. — С. 36−39.
- Арутюнов П.А., Толстихина A.JI. Атомно-силовой микроскоп -универсальное средство измерения физических величин в мезоскопическом диапазоне длин // Датчики. 2000. — № 4. — С.39−48.
- Martin Y., Williams С.С., Wickramasinghe Н.К. Atomic force microscope-force mapping and profiling on a sub 100-A scale // J. Appl. Phys. 1987. V. 61. — P.4723−4729.
- Миронов B.JI. Основы сканирующей зондовой микроскопии. Российская академия наук, Институт физики микроструктур г. Нижний Новгород, 2004 г. -110 с.
- Albrecht T.R., Akamine S., Carver Т.Е., Quate C.F. Microfabrication of cantilever styli for the atomic force microscope // J. Vac. Sci. Technol.A. 1990. -V.8.-P. 3386−3396.
- Wolter O., Bayer Th., Greschner J. Micromachined silicon sensors for scanning force microscopy // J. Vac. Sci. Technol.B. 1991. — V. 9. — P.1353 — 1357.
- Yacoot A., Koenders L. Aspects of scanning force microscope probes and their effects on dimensional measurement // J. Phys. D: Appl. Phys. 2008. — V. 41. -P. 103 001 (46pp),
- Арутюнов П.А., Толстихина A.JI. Конструктивные и электрофизические характеристики датчиков силы в атомно-силовой микроскопии // Микроэлектроника. 1998. — Т. 27, № 4. — С. 304 — 316.
- Weisenhorn A.L., Hansma Р.К., Albrecht T.R., Quate C.F. Forces in atomic force microscopy in air and water // Appl.Phys.Lett. 1989. — V.54 (26). — P. 2651 — 2663.
- Grigg D.A., Russell P.E., Griffith J.E. Tip-sample forces in scanning probe microscopy in air and vacuum // J. Vac. Sci. Technol.A. 1992. — V.10, № 4. — P. 680 -683.
- Garcia R., San Paulo A. Attractive and repulsive tip-sample nmteraction regimes in tapping-mode atomic force microscopy // Phys.Rev. B. 1999. — V. 60. — P. 4961 -4966.
- Garcia, R., Perez R. Dinamic atomic force microscopy methods // Surface Science Reports. 2002. — V. 47. — P. 197 — 301.
- Mate C.M., McClelland G.M., Erlandsson R., Chiang S. Atomic-scale friction of a tungsten tip on a graphite surface // Phys.Rev.Lett. 1987. — V.59. — P. 1942 — 1945.
- Overneyand R., Meyer E. Tribological investigation using friction force microscopy // MRS BULLETIN/MAY -1993. P. 26−34.
- Gnecco E, Bennewitz R, Gyalog T., Meyer E. Friction experiments on the nanometre scale // J. Phys.: Condens. Matter. 2001. — V. 13. — R619 — R642.
- Tamayo J., Garcia R. Deformation, Contact Time, and Phase Contrast in Tapping Mode Scanning Force Microscopy // Langmuir. 1996. — V. 12. — P. 4430 — 4435.
- Magonov S.N., Elings V., Whangbo M.-H. Phase imaging and stiffness in tapping-mode atomic force microscopy // Surface Sci. 1997. — V. 375. — L385 — L391.
- Basnar B., Friedbacher G., Brunner H., Valiant T., Mayer U., Hoffmann H. Analytical evaluation of tapping mode atomic force microscopy for chemical imaging of surfaces // Appl. Surf. Sci. 2001. — V. 71. — P. 213 — 225.
- Martinez N.F., Garcia R. Measuring phase shifts and energy dissipation with amplitude modulation atomic force microscopy // Nanotechnology. 2006. -V. 17. -S167 -SI 72.
- Berquand A., Mazeran P.-E., Laval J.-M. Influence of volume and surface properties on phase contrast in tapping mode atomic force microscopy // Surface Sci. -2003.-V. 523.-P. 125−130.
- Reiss G., Vancea J., Wittmann H., Zweck J., Hoffmann H. Determination of nanometer structures and surface roughness of polished Si wafers by scanning tunneling microscopy // J.Appl.Phys. 1990. — V .67, № 3. — P. 1156 — 1159.
- Bustamante C., Keller D. Scanning Force Microscopy in Biology // Physics Today. 1995. — V. 48, № 12. — P. 32 — 38.
- Арутюнов П.А., Толстихина A.JI. Сканирующая зондовая микроскопия (туннельная и силовая) в задачах метрологии наноэлектроники // Микроэлектроника. 1997. — Т.26, № 6. — С. 426 — 439.
- Sheiko S.S., Moller М., Reuvekamp Е.М.С.М., Zandbergen H.W. Evaluation of the probing profile of scanning force microscopy // Ultramicroscopy. 1994. — V. 53. -P. 371 -380.
- Бухараев A.A. Исследование с помощью туннельной и атомно-силовой микроскопии поверхностей, модифицированных ионными и лазерными пучками // УФН. 1996. — Т.166, № 2. — С.210 — 213.
- Villarrubia J.S. Algoritms for scanned probe microscope image simulation, surface reconstruction and tip estimation // J. Res. Natl. Inst. Stand. Technol. 1997. -V.102, № 4. — P. 425−454.
- Арутюнов П.А. Теория и применение алгоритмических измерений. Москва: Энергоатомиздат. 1991. С. 61.
- Bliihm Н., Wadas A., Wiesendanger R., Meyer К.-Р., Szczesniak L. Electrostatic force microscopy on ferroelectric crystals in gas atmosphere // Phys.Rev.B. 1997. — V. 55(1).-P.4−7.
- Sarid D. Scanning Force Microscopy with Applications to Electric, Magnetic and Atomic Forces. Oxford University Press. New York, 1994. — 264 p.
- Muller F., Muller A.D., Hietschold M., Kammer S. Detecting electrical forces in noncontact atomic force microscopy // Meas.Sci.Technol. 1998. — V.9. — P. 734 — 738.
- Baikie I., Peterman U., Lagel B. UHV-compatible spectroscopic scanning Kelvin probe for surface analysis // Surf.Sci. 1999. — V.433 — 435. — P. 249 — 253.
- Kalinin S. Scanning probe microscopy. Springer, 2007. Vols. 1, 2.
- Jungk Т., Hoffmann A., Soergel E. New insights into ferroelectric domain imaging with piezoresponce force microscopy. P.209 226. / In Springer Series in
- Materials Science. Ferroelectric Crystals for Photonic Applications. Ed. P.Ferraro., P. De Natale, S. Grilli Springer, 2009. — 422 p.
- Tikhomirov O., Labardi M., Allegrini M. Scanning Probe Microscopy Applied to Ferroelectric Materials. P.217 259. / In Ed. Bhushan В., Fuchs H. NanoScience and Technolohy. Applied Scanning Probe Methods III. Characterization. — Springer, 2006. -378 p.
- Анкудинов A.B., Титков A.H. Атомно-силовая микроскопия поляризационных доменов в сегнетоэлектрических пленках // ФТТ. 2005. — Т.47, вып.б.-С. 1110−1117.
- Shafai С., Thomson D.J., Simard-Normandin М., Mattiussi G., Scanion P.J. Delineation of semiconductors doping by scanning resistance microscopy // Appl.Phys.Lett. 1994. — V. 64 (3). — P. 342 — 344.
- Мешков Г. Б. Совмещенная атомно-силовая и сканирующая резистивная микроскопия полимерных и неорганических материалов : Дисс.. канд. физ.-мат. наук. М. 2007. 105 с.
- Симагина JI.B., Гайнутдинов Р. В., Степина Н. Д., Сорокина К. Л., Толстихина А. Л., Стрельцов А. В. Структура и электрические свойства наноструктурированных пленок полианилина // Наноматериалы и наноструктуры. -2010. Т.1, № 2. — С. 51−54.
- Леммлейн Г. Г. Морфология и генезис кристаллов. Москва: Наука, 1973. -328 с.
- Ковальчук М.В., Толстихина А. Л. Атомно-силовая микроскопия в исследовании морфологии поверхности кристаллов и пленок / Физика кристаллизации. К 100-летию Г. Г. Леммлейна. Сб. серии «Проблемы кристаллографии». Москва: Наука, 2002. С. 317 — 350.
- Лэнд Т.А., Де Йорео Дж. Дж, Мартин Т. Л. Атомно-силовая микроскопия холмиков роста и динамики ступеней на гранях {100} и {101} кристаллов KDP // Кристаллография. 1999. — Т. 44, № 4. — С. 704 — 716.
- Shangfeng Y., Genbo S., Jing T., Bingwei M., Jianmin W., Zhengdong L. Surface topography of rapidly grown KH2PO4 crystals with additives: ex situ investigation by atomic force microscopy // J. Cryst. Growth. 1999. — V. 203. — P. 425 — 433.
- Thomas T.N., Land T.A., Martin T., Casey W.H., DeYoreo J.J. AFM investigation of step kinetics and hillock morphology of the {100} face of KDP // J. Cryst. Growth. 2004. — V. 260. — P. 566 — 579.
- Ester G.R., Halfenny P.J. Observation of two-dimensional nucleation on the {010} face of potassium hydrogen phtalate (KAP) crystals using ex situ atomic force microscopy // J.Cryst. Growth. 1998. — V. 187. — P. 111 — 118.
- Rashkovich L.N., Shustin O.A., Chernevich T.G. Atomic force microscopy of KH2PO4 crystallization in moist media // J.Cryst. Growth. 1999. — V. 206. — P. 252 -254.
- Ester G.R., Price R., Halfpenny P.J. An atomic force microscopic investigation of surface degradation of potassium hydrogen phtalate (KAP) crystals caused by removal from solution // J.Cryst.Growth. 1997. — V. 182. — P. 95 — 102.
- Liang Y., Baer D.R. Anisotropic dissolution at the CaC03 (1014) water interface // Surface Sci. — 1997. — V. 373. — P. 275 — 287.
- Demianets L.N., Pouchko S.V., Gaynutdinov R.V. Fe203 single crystals: hydrothermal growth, crystal chemistry ang growth morphology // J. Cryst. Growth. -2003. V. 259. — P. 9165 — 9178.
- Sangwal K., Sanz F., Servat J., Gorostiza P. Nature of multilayer steps on the {100} cleavage planes of MgO single crystals // Surface Sci. 1997. — V. 383. — P. 78 -87.
- Sangwal K., Sanz F., Gorostiza P. Study of the surface morphology of the (100) cleavage planes of MgO single crystals by atomic force microscopy // Surface Sci. -1999.-V. 424.-P. 139−144.
- Sangwal K., Sanz F., Gorostiza P. In situ study of the recovery of nanoindentation deformation of the (100) face of MgO crystals by atomic force microscopy // Surface Sci. 1999. — V. 442. — P. 161 — 178.
- Kerssemakers J. Concepts of interactions in local probe microscopy. Netherlands: Groningen University, 1997. 164 p.
- Campbell P.A., Sinnamon L.J., Thompson C.E., Walmsley D.G. Atomic force microscopy evidence for K+ domains on freshly cleaved mica // Surface Sci Lett. -1998. V. 410. — L.768 — L.772.
- Cui N.-Y., Brown N.M.D., McKinley A. An exploratory study of the topogtaphy of Cdl2 single crystal using AFM // Appl. Surface Sci. 1999. — V. 152. — P. 266 — 270.
- Stauble-Pumpin B., Ilge B., Matijasevic V.C., Scholte P.M.L.O., Steinfort A.J., Tuinstra F. Atomic force microscopy study of (001) SrTi03 // Surface Sci. 1996. — V. 369.-P. 313−320.
- Sekiguchi S., Fujimoto M., Nomura M., Sung-Baek Chu., Tanaka J., Nishihara T., Kang M.-.G., Park H.-H. Atomic force observation of SrTi03 polar surface // Solid State Ionics. 1998. — V. 108. — P. 73 — 79.
- Heffelfinger J.R., Carter B.C. Mechanisms of surface faceting and coarsening // Surface Sci. 1997. — V. 389. — P. 188 -200.
- Heffelfinger J.R., Bench M.V., Carter C.B. Steps and the structure of the (0001) a-alumina surface // Surface Sci.Lett. 1997. — V. 370. — L168 — L172.
- Luthi R., Haefke H., Meuer K.-P., Meyer E., Howald L., Guntherodt H.-J., Surface and domain structures of ferroelectric crystals studied with scanning force microscopy // J. Appl. Phys. 1993. — V.74. — P.7461 — 7471.
- Bae M.-K., Horiuchi T., Hara K., Ishibashi Y., Matsushice K. Direct observation of domain structures in Triglicine Sulfate by atomic force microscope // Jpn. J. AppLPhys. 1994. -V. 33. — P. 1390 — 1395.
- Haefke H., Luthi R., Meyer K.-P., Gunterodt H.-J. Static and dynamic structures of ferroelectric domains studied with scanning force microscopy // Ferroelectrics. -1994.-V. 151.-P. 143−149.
- Hara K., Bae M.-K., Okabe H. AFM observations of TGS ciystal surface in microscopic and semi-microscopic levels // Ferroelectrics. 1995. — V. 170. — P. 101 -109.
- Ohgami J., Sugawara Y., Morita S., Nakamura E., Ozaki T. Growth of a two-dimensional nucleus on a cleaved (010) surface of (NH2CH2COOH)3 H2S04 // J. Phys. Soc. of Japan. 1997. — V.66, №.9. — P. 2747 — 2750.
- Ohgami J., Sugawara Y., Morita S., Nakamura E., Ozaki T. Time evolution of surface topography around a domain wall in ferroelectric (NH2CH2COOH)3 H2S04 // Jpn.J.Appl.Phys. 1996. — V. 35, Part 1, № 9B. — P. 5174 — 5177.
- Bluhm H., Meyer K.-P., Wiesendanger R. Topographical structure ohe domain boundary on the triglycine sulfate (010) surface // Ferroelectrics. 1997. — V. 200. -P.327 -341.
- Bluhm H., Wiesendanger R., Meyer K.-P. Surface structure of ferroelectric domains on the triglycine sulfate (010) surface // J.Vac.Sci.Technol.B. 1996. -V.14. -P. 1180−1183.
- Bluhm H., Schwarz U.D., Wiesendanger R. Origin of the ferroelectric domain contrast observed in lateral force microscopy // Phys. Rev.B. 1998. — V. 57, № 1. — P. 161−169.
- Eng L.M., Fousek J., Gunter P. Ferroelectric domains and domain boundaries observed by scanning force microscopy // Ferroelectrics. 1997. — V. 191. № 14. — P. 211−218.
- Eng L.M., Abplanalp M., Gunter P. Ferroelectric domain switching in triglycine sulfate and barium titanate bulk single crystals by scanning force microscopy // Appl.Phys. 1998. — V. A66. — S679-S683.
- Likodimos V., Labardi M., Allegrini M., Kinetics of ferroelectric domains investigated by scanning force microscopy // Phys.Rev. 2000. — V. 61. — P. 14 440 -14 447.
- Likodimos V., Labardi M., Allegrini M. Force-microscopy contrast mechanisms in ferroelectric domain imaging // Phys.Rev.B. 2000. -V. 66, № 21. — P. 14 390 -14 398.
- Eng L.M., Friedrich M., Fousek J., Gunter P. Deconvolution of topographic and ferroelectric contrast by noncontact and friction force microscopy // J. Vac. Sci. Technol.B. 1996. — V. 14, № 2. — P. 1191 — 1196.
- Eng L.M., Friedrich M., Fousek J., Gunter P. Scanning force microscopy of ferroelectric crystals // Ferroelectrics. 1996. — V. 186. — P. 49 — 52.
- Tsunekawa S., Fukuda T., Ozaki T., Yoneda Y., Terauchi H. Atomic force and scanning electron microscopic observations of surface and domain structures of BaTi03 films and bulk crystals // Appl.Phys.Lett. 1997. — V. 71, № 11. — P. 1486 — 1488.
- Takashige M., Hamazaki S.-I., Fukurai N., Shimizu F., Kojima S. Atomic force microscope observation of ferroeletrics: Barium Titanate and Rochelle Salt // Jpn.J.Appl.Phys. 1996. — V. 35, Part 1, № 9B. — P. 5181 — 5184.
- Abplanalp M., Eng L.M., Gunter P. Mapping the domain distrubution at ferroelectric surface by scanning force microscopy // Appl.Phys. 1998. — V. A66. — P. S231-S234.1. V’i * i
- Wang Y.G., Dec J., Kleemann W. Study on surface and domain structures of РЬТЮз crystals by atomic force microscopy // J. Appl. Phys. 1998. — V. 84, № 12. — P. 6795 — 6799.
- Ltithi R., Haefke H., Griitter P., Giintherodt H.-J., Szczesniak L., Meyer K.P. Surface and domain structures of ferroelectric GASH crystals studied by scanning force microscopy // Surface Sci. Lett. 1993. — V. 285. — L498 — L502.
- Gruverman A., Kolosov 0., Hatano J., Takahashi K., Tokumoto H. Domain structure and polarization reversal in ferroelectrics studied by atomic force microscopy //J. Vac. Sci. TechnoLB. 1995. — V.13, № 3. — P. 1095 — 1099.
- Kolosov O., Gruverman A., Hatano J., Takahashi K., Tokumoto H. Nanoscale visualization and control of ferroelectric domains by atomic force microscopy // Phys.Rev.Lett. 1995. — V. 74. № 21. — P. 4309 — 4312.
- Bluhm H., Wadas A., Wiesendanger R., Rochko A., Aust J.A., Nam D. Imaging of domain-invertad gratings in LiNb03 by electrostatic force microscopy // Appl.Phys.Lett. 1997. — V. 71, № 1. — P. 146 — 148.
- Tsunekawa S., Ichikawa J., Nagata H., Fukuda T. Observation of ferroelectric microdomains in LiNb03 crystals by electrostatic force microscopy // Appl. Surf. Sci. -1999.-V. 137.-P. 61−70.
- Saurenbach F., Terris B.D. Imaging of ferroelectric domain walls by force microscopy // Appl.Phys.Lett. 1990. — V. 56 (17). — P. 1703 — 1705.
- Franke K., Weihnacht M. Evalution of electrically polar substances by electric scanning force microscopy. Part 1: Measurement signals due Maxwell stress // Ferroelectr. Lett. Sect. 1995. — V. 19. — P. 25 — 33.
- Hong J. W., Park Sang-il, Khim Z. G. Measurement of hardness, surface potential, and charge distribution with dynamic contact mode electrostatic force microscope // Rev. Sci. Instrum. 1999. — V. 70, Iss.3. — P. 1735 — 1740.
- Hong J.W., Kahng D.S., Shin J.C., Kim H.J., Khim Z.G. Detection and control of ferroelectric domains by an electrostatic force microscope // J. Vac. Sci. Technol. В -1998. V. 16, № 6. — P. 2942 — 2946.
- Eng L.M., Guntherodt J.H., Rosenman G., Scliar A., Oron M., Katz M., Eger D. Nondestructive imaging and characterization of ferroelectric domains of periodically poled crystals // J. Appl. Phys. 1998. — V. 83. — P. 5973.
- Группа компаний НТ-МДТ: АСМ-зонды, сканирующие зондовые микроскопы Электронный ресурс. / NT-MDT Co., Zelenograd, Moscow, Russia -Режим доступа: www.ntmdt.ru
- West P., A guide to AFM image artifacts Электронный ресурс. / West P., Starostina N. Pacific Nanotechnology, Inc. 12p. Режим доступа http://www.pacificnanotech.com/afm-artifacts.html
- Ricci D., Braga P. C. Recognizing and avoiding Artifacts in AFM Imaging. / In Atomic force microscopy: biomedical methods and applications. Series: Methods in Molecular Biology. 2003. — V. 242. — P. 25 — 37.
- ASTM E2382 04 Guide to Scanner and Tip Related Artifacts in Scanning Tunneling Microscopy and Atomic Force Microscopy Электронный ресурс. / Режим доступа: http://www.astm.org/Standards
- Paredes J.I., Martinez-Alonso A., Tascon J.M.D. Adhesion artefacts in atomic force microscopy imaging // J. of Microscopy. 2000. — V. 200. Pt.2. — P. 109 — 113.
- Van Noort S.J.T., Van der Werf K.O., De Grooth B.G., Van Hulst N.F., Greve J. Height anomalies in tapping mode atomic force microscopy in air caused by adhesion // Ultramicroscopy. 1997. — V. 69. — P. 117 — 127.
- Leninhan T.G., Malshe A.P., Brown W.D., Schaper L.W. Artifacts in SPM measurements of thin films and coatings // Thin Solid Films. 1995. — V. 270. — P. 356 -361.
- Neves B.R.A., Leonard D.N., Salmon M.E., Russel P.E., Troughton E.B. Observation of topography inversion in atomic force microscopy of self-assembly monolayers // Nanotechnology. 1999. — V. 10. — P. 399 — 404.
- Velegol S.B., Pardi Sh., Li X., Velegol D., Logan B.E. AFM Imaging artifacts due to bacterial cell height and AFM tip geometry // Langmuir. 2003. — V. 19. — P. 851 -857.u