Помощь в учёбе, очень быстро...
Работаем вместе до победы

Разработка и исследование автоматизированных методов спектрального экспресс-анализа на основе виртуальных эталонов

Диссертация: Разработка и исследование автоматизированных методов спектрального экспресс-анализа на основе виртуальных эталонов
ДиссертацияПомощь в написанииУзнать стоимостьмоей работы

Определенные успехи достигнуты в направлении построения моделей, отображающих зависимость измеряемых параметров спектрального излучения от количественного содержания элементов. Среди них можно выделить такие направления, как построение моделей на основе оптимальных и адекватных регрессионных градуировочных характеристик, использование статистических методов для повышения точности выполняемых… Читать ещё >

Содержание

  • Глава 1. Методы обработки измерительной информации в спектральном анализе
    • 1. 1. Сущность атомно-эмиссионного спектрального анализа
      • 1. 1. 1. Интенсивность спектрального излучения и ее зависимость от содержания элементов
      • 1. 1. 2. Методы определения относительной интенсивности излучения
    • 1. 2. Способы практического определения количественного состава элементов
      • 1. 2. 1. Фотографический метод регистрации излучения
      • 1. 2. 2. Фотоэлектрический метод регистрации излучения
      • 1. 2. 3. Аналитический метод определения концентрации с использованием одного стандартного образца
    • 1. 3. Определение погрешностей в спектральном анализе
      • 1. 3. 1. Фотографический метод исследований
      • 1. 3. 2. Фотоэлектрический метод исследований
    • 1. 4. Методы совершенствования количественных анализов
      • 1. 4. 1. Фотографические методы анализа
      • 1. 4. 2. Фотоэлектрические методы анализа
    • 1. 5. Выводы
  • Глава 2. Особенности аналитических систем анализа с виртуальными эталонами и условия их создания
    • 2. 1. Перспективы применения виртуальных эталонов
    • 2. 2. Исследование особенностей предлагаемых методов
      • 2. 2. 1. Метод изолированного контрольного эталона
      • 2. 2. 2. Сущность метода расчетного эталона
    • 2. 3. Условия создания систем анализа с расчетными параметрами эталонов
      • 2. 3. 1. Разработка метода многопараметровых функциональных зависимостей
    • 2. 4. Основные требования к методическому и программному обеспечению
    • 2. 5. Выводы
  • Глава.
    • 3. Разработка и исследование методик расчетов оптимальных параметров виртуальных эталонов для исследуемых образцов
      • 3. 1. Постановка задачи
        • 3. 1. 1. Исходные уравнения модели
      • 3. 2. Принцип автоматического корректирования и определение параметров элементов виртуального эталона
      • 3. 3. Структурная схема и алгоритм анализа
        • 3. 3. 1. Построение структурной схемы и методика выполнения анализов
        • 3. 3. 2. Вывод основного уравнения эталона для ветвей
        • 3. 3. 3. Пример построения градуировочной функции для элемента стандартного образца
        • 3. 3. 4. Алгоритм анализов и пример расчета массовых долей элементов
        • 3. 3. 5. Пример определения массовой доли элемента
      • 3. 4. Экспериментальная проверка
      • 3. 5. Выводы
  • Глава 4. Разработка способов дальнейшего повышения эффективности анализов с использованием стандартных образцов и виртуальных эталонов
    • 4. 1. Постановка задачи
    • 4. 2. Сущность метода стандартного образца (контрольного эталона)
    • 4. 3. Разработка метода внутреннего стандарта (виртуального эталона)
      • 4. 3. 1. Пример практического расчета параметров виртуального эталона
    • 4. 4. Экспериментальная проверка предложенного способа
    • 4. 5. Определение марок неизвестных материалов
      • 4. 5. 1. Выбор способа обработки информации
      • 4. 5. 2. Алгоритм и программное обеспечение
    • 4. 6. Разработка принципов практического использования систем входного контроля на основе виртуальных эталонов
      • 4. 6. 1. Метод последовательных приближений
      • 4. 6. 2. Метод одного виртуального эталона
    • 4. 7. Выводы
  • Глава 5. Разработка, исследование и оптимизация методик и программного обеспечения для виртуального эталона
    • 5. 1. Определение состава контролируемых объектов
      • 5. 1. 1. Метод расчетной матрицы
      • 5. 1. 2. Оценка приближенного результата анализа
      • 5. 1. 3. Корректирование полученного результата
      • 5. 1. 4. Пример определения конечных результатов
    • 5. 2. Методика определения задающего параметра
    • 5. 3. Разработка методического обеспечения
      • 5. 3. 1. Конечный результат анализа
      • 5. 3. 2. Пример определения конечных результатов
    • 5. 4. Градуирование систем обработки результатов измерений
    • 5. 5. Программный порядок проведения анализов
    • 5. 6. Дальнейшее повышение точности с использованием двух стандартных образцов
      • 5. 6. 1. Построение алгоритма для фотоэлектрического анализа
    • 5. 7. Выводы
  • Глава 6. Разработка комплексного фотоэлектрического анализатора на основе фотодиодных линеек
    • 6. 1. Традиционный способ использования линеек
    • 6. 2. Общие принципы работы рассматриваемого анализатора
      • 6. 2. 1. Введение
      • 6. 2. 2. Конструкция
      • 6. 2. 3. Многофазный тактовый генератор
      • 6. 2. 4. Блок управления
      • 6. 2. 5. Функционирование устройства
      • 6. 2. 6. Программное обеспечение
    • 6. 3. Физические основы работы фотодиодных преобразователей
      • 6. 3. 1. Особенности анализатора
      • 6. 3. 2. Порядок проведения анализов
    • 6. 4. Определение параметров виртуальных эталонов на стадии градуирования системы
      • 6. 4. 1. Сущность предлагаемого способа градуирования
      • 6. 4. 2. Порядок определения коэффициентов К
    • 6. 5. Программное обеспечение для градуирования
      • 6. 5. 1. Структура и состав базы данных
      • 6. 5. 2. Формирование групп материалов
      • 6. 5. 3. Стирание групп материалов
      • 6. 5. 4. Создание анализируемых марок сплавов
      • 6. 5. 5. Стирание анализируемых марок сплавов
      • 6. 5. 6. Режим поиска
    • 6. 6. Экспериментальная проверка
    • 6. 7. Выводы

Разработка и исследование автоматизированных методов спектрального экспресс-анализа на основе виртуальных эталонов (реферат, курсовая, диплом, контрольная)

Эффективность внедрения методов количественного анализа и контроля качества материалов и изделий определяется их надежностью, простотой и экономической целесообразностью использования. При этом, основным требованием, предъявляемым к создаваемым устройствам и системам, является достаточно высокий уровень предлагаемых разработок. В частности, это означает, что внедряемые системы должны обладать прогнозируемой точностью определения контролируемых параметров в широком диапазоне их изменения. Сам процесс анализов при этом должен быть максимально автоматизирован.

Существующие на мировом рынке высокие требования к качеству продукции в дальнейшем будут только возрастать. Отсюда следует важность проведения работ по дальнейшему совершенствованию методов анализа и контроля качества исходных материалов и готовых изделий во всех отраслях промышленного производства. В этом направлении актуальным является дальнейшее развитие методов, направленных на повышение эффективности использования информационно-поисковых систем в области распознавания образов контролируемых объектов.

Особое место среди других методов количественного анализа состава и свойств различных объектов исследования занимает атомно-эмиссионный спектральный анализ. Это обусловлено высокой чувствительностью и быстродействием метода, его простотой в обслуживании и возможностью выполнения контроля непосредственно в процессе изготовления материалов и изделий в едином технологическом цикле промышленного производства.

Обладая перечисленными особенностями, метод находит широкое применение не только в различных отраслях промышленности, но и в таких областях знаний, как геология, астрономия, медицина и т. д.

Определенные достижения в атомно-эмиссионном методе анализа, как одного из направлений диагностики материалов, должны способствовать решению вопросов экологических проблем с точки зрения оперативного и качественного определения количественного состава окружающей атмосферы и сточных вод, а также исследованию объектов космического пространства. Все возрастающее значение приобретают вопросы повышения эффективности входного контроля состава материалов и их физических свойств.

Успешное решение этих задач определяется наличием следующих факторов:

1 .Совершенствованием способов обработки информации на входе измерительно-информационной системы с целью более эффективного выделения сигнала, несущего информацию об интересующих параметрах объекта.

2.Повышением эффективности обработки сигнала на выходе измерительного преобразователя за счет внедрения вычислительных средств на основе моделирования процессов преобразования спектрального излучения в контролируемые параметры.

3.Разработкой принципиально новых методик анализа, способствующих расширению области применения атомно-эмиссионных методов.

4.Разработкой высокопроизводительных автоматизированных систем на основе программных средств для персональных компьютеров.

Указанные направления работ взаимосвязаны между собой и развитие одного из них в той или иной мере способствует качественному обновлению и совершенствованию остальных. Так, разработка и создание качественно новых и прогрессивных методик способствует совершенствованию математического обеспечения, что в свою очередь, приводит к изменениям схемных решений преобразования входных сигналов, созданию новых автоматизированных устройств, отслеживающих данные преобразован. Все это вместе взятое приводит к созданию принципиально нового измерительно-вычислительного комплекса, решающего поставленную задачу.

То есть любая задача количественного анализа является многоцелевой и требует комплексного подхода к ее решению.

Развитие первого направления связано с модернизацией используемых источников излучения [6,76,77] и стабилизацией плазмы по объему [20,32,78]. Второе направление предусматривает разработку новых методов преобразования на стадии обработки результатов измерений [9,47,79]. В третьем направлении решаются задачи методического и математического обеспечения выполняемых измерений и анализов [80−84]. Пятое направление связано с разработкой различных автоматизированных систем количественного анализа [41,48,85].

Четвертое направление работ связано с разработкой принципиально новых подходов к решению задач спектрального анализа на основе создания моделей и методик, позволяющих повысить эффективность и качество выполняемых исследований не только в традиционных областях использования спектральных методов аналитического контроля.

Определенные успехи достигнуты в направлении построения моделей, отображающих зависимость измеряемых параметров спектрального излучения от количественного содержания элементов. Среди них можно выделить такие направления, как построение моделей на основе оптимальных и адекватных регрессионных градуировочных характеристик [61,65], использование статистических методов для повышения точности выполняемых исследований [62,86], оптимизация количества используемых стандартных образцов [25,87] и ряд других исследований.

Целью данной диссертационной работы является:

1. Разработка методов и средств распознавания образов контролируемых объектов путем использования эталонов с расчетными параметрами — виртуальных эталонов.

2. Создание принципиально новых способов входного экспресс контроля на основе определения процентных содержаний элементов в неизвестных материалах и средах.

3. Разработка методик и алгоритмов повышения точности и достоверности получаемых результатов в системах аналитического контроля на основе виртуальных эталонов.

4. Расширение сферы практического использования за счет создания методик формирования параметров виртуальных эталонов на начальных стадиях математической обработки исходных данных исследуемой пробы.

Разработанные алгоритмы, программное обеспечение и устройства должны обеспечивать высокую экономическую эффективность от практического внедрения используемых способов спектрального анализа.

Для достижения поставленной цели необходимо:

— провести анализ существующих атомно-эмиссионных методов, определить их возможность, способы реализации и область использования;

— определить исходную модель, отражающую зависимость количественного содержания элементов от интенсивности излучения спектральных линий;

— исследовать основные признаки энергетического соответствия элементов исследуемых проб и стандартных образцов;

— провести исследования с целью определения вида многопараметровых зависимостей, отражающих общие закономерности изменения измеряемых параметров и процентного содержания элементов в исследуемых объектах независимо от их типа и определяемого элемента;

— определить структурные схемы и алгоритмы количественных анализов для всех элементов и проб, позволяющие определять основные параметры элементов расчетных стандартных образцов (виртуальных эталонов) индивидуально для каждого элемента контролируемой пробы;

— разработать измерительно-вычислительное устройство на базе проведенных исследований, позволяющий проводить производственный экспресс-анализ путем использования стандартного образца и виртуального эталона во всем диапазоне анализов.

Научные положения, выносимые на защиту:

1. Разработка методов использования многопараметровых зависимостей, отражающих общие закономерности изменения интенсивности спектрального излучения от количественного содержания элементов для любых проб и элементов в аналитических системах «безэталонного» анализа.

2. Разработка нового способа автоматического корректирования параметров эталонов, позволяющего расчетным путем в автоматическом режиме определять параметры виртуальных эталонов по исходным данным параметров спектральных излучений элементов исследуемых проб.

3. Разработка методик и алгоритмов для принципиально новых структурных схем количественных анализов на основе систем распознавания образов контролируемых объектов.

4. Разработка алгоритма и программного обеспечения для автоматизированного экспресс-анализа любых материалов и сред.

Основные результаты теоретических и экспериментальных исследований, приведенных в работе, можно сформулировать следующим образом:

Дальнейшее совершенствование методов спектрального анализа, направленное на повышение качества контроля материалов и готовых изделий, требует создания новых экономически эффективных средств практического экспресс анализа на основе внедрения автоматизированных систем, которые обеспечивали бы 100% контроль на заданную точность и достоверность получаемых результатов при минимальном использовании стандартных образцов и виртуальных эталонов.

Одним из необходимых условий, способствующих повышению качества проводимых анализов, является требование учета взаимодействия внешней среды и анализируемой системы на стадии математической обработки результатов измерений.

Следствием выполнения этих условий явилась разработка следующих основных принципов:

— энергетической совместимости отдельных элементов материала пробы и контрольного эталона,.

— энергетической совместимости в целом материала исследуемой пробы и реального (виртуального) контрольного эталона.

Первый принцип положен в основу вычисления процентных содержаний отдельных элементов и расчета параметров виртуальных эталонов, второй — в основу определения марок неизвестных материалов.

Исходя из изложенного, в работе получены следующие основные результаты:

1. Разработан и предложен способ автоматического корректирования параметров расчетного (виртуального) контрольного эталона, отражающего физико-механические свойства исследуемой пробы. Способ положен в основу создания новых методик «безэталонного» выполнения количественных экспресс анализов материалов и сред.

2. Предложен принципиально новый способ промышленного экспресс анализа содержания элементов в материалах, жидких и газообразных средах без использования стандартных образцов.

3. Разработана структурная схема количественного анализа методом минимального расчетного контрольного эталона, предусматривающая разделение всего диапазона спектрального анализа на, а отдельные узлы и ветви, характеризуемые линейной зависимостью интенсивности спектрального излучения 10 и процентного содержания элементов С, в пределах которой А10/АС=соп$ 1.

4. Определена методика построения градуировочных уравнений ветвей структурной схемы «безэталонного» анализа, позволяющая вычислять искомые значения процентного содержания элементов по измеренным входным параметрам спектрального излучения.

5. Разработаны алгоритмы и программные средства для количественных спектральных анализов с использованием виртуальных эталонов.

6. Предложены алгоритм и программное обеспечение для персональных компьютеров, позволяющие определять количественное содержание элементов неизвестных образцов.

7. Разработаны принципы построения схем входного контроля на основе использовании как одного виртуального эталона, так и системы реального и виртуального эталонов.

8. Предложены методика, алгоритмы и программное обеспечение, положенные в основу построения автоматизированных систем количественного анализа материалов, жидких и газообразных сред, включая окружающую среду.

9. Предложена методика и разработана программа расчета текущих погрешностей результатов анализов при использовании виртуальных эталонов.

10. Разработано промышленное автоматизированное устройство, позволяющее осуществлять контроль количественного состава элементов двумя независимыми способами:

— путем использования градуировочных графиков для виртуальных эталонов;

— аналитическим определением содержания элементов с помощью стандартного образца и виртуального эталона.

Измерительно-вычислительное устройство комплексного анализа внедрено на промышленном предприятии г. Омска.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

.

Показать весь текст

Список литературы

  1. А.Н., Шрейдер Е. Я. Вакуумная спектроскопия и ее применение. -М.: Наука, 1976, 342 с.
  2. В.В. и др. Современное состояние промышленного спектрального анализа в металлургии и геологии СССР. //Заводская лаборатория, 1962 N2, с. 32−36.
  3. В.Р., Петров JI.JI. Спектральный анализ элементов примесей в горных породах. -М: Наука, 1972, 342 с.
  4. В. Б. Недлер В.В. Проблемы и перспективы спектрального анализа. //Заводская лаборатория, 1984, N10, с. 18−23.
  5. В.М., Петрова A.A., Соловьев A.A. Состояние и перспективы развития оптического спектрального метода анализа неорганических газов. (Обзор). //Заводская лаборатория, 1984, N2.
  6. ДженкинсГ., Ватт JI. Спектральный анализ и его приложения. -М: Мир, 1971,291 с.
  7. A.c. СССР 1 017 982, кл. МКИ G 01 N21/65. Способ определения концентрации нефтепродуктов в сточных водах. /Ощепков C.JI. и др. //Открытия и изобретения, 1982, N18.
  8. A.c. СССР 1 092 391, кл. МКИ G 01 N21/67. Способ эмиссионного спектрального анализа порошковых материалов. /Огнев В.Р., Шевченко В. П., Огнева Э. Я. //Открытия и изобретения, 1982, N18.
  9. В.В., Белянин В. Б. Современное состояние и перспективы развития спектрального анализа. / В кн. Новые методы спектрального анализа. Новосибирск: Наука, 1983, с. 6 11.
  10. А.Н. Техника и практика спектроскопии. -М.: Наука, 1976, 392 с.
  11. И.М., Прокофьев В. К. Спектральные приборы и техника спектроскопии. Изд. 2-е. -JL: Машиностроение, 1967, 324 с.
  12. В.К. Фотографические методы количественного спектрального анализа металлов и сплавов. -М.: Гостехиздат, 1961.
  13. Р.В. Оптика и атомная физика. -М.: 1966, 552 с.
  14. Ю.А. Спектрально-эмиссионный метод определения водорода в металлах с фотоэлектрической регистрацией спектра. -JL: ЛДНТП 1971, с. 16.
  15. В.К. Фотоэлектрические методы количественного спектрального анализа металлов и сплавов. -М.: Гостехиздат, 1951.
  16. И.М., Михайловский Ю. Е. Фотографические и фотоэлектр-ческие спектральные приборы и техника эмиссионного спектрального анализа. -JL: Машиностроение, 1981, 247 с.
  17. А.Н., Островская Г. В., Островский Ю. И. Техника и практика спектроскопии. -М.: Наука, 1972, 375 с.
  18. А.Н. Основы спектрального аналализа.-М.: Наука, 1965,322 с.
  19. Таблицы спектральных линий. /Зайдель А.Н. и др. -М: Наука, 1969, 782 с.
  20. A.A., Бажулин П. А., Королев Ф. А., Левшин Л. В., Прокофьев В. К., Стриганов А. Р. Методы спектрального анализа. -М.: Изд-во МГУ 1962.
  21. Фишман И. С. Методы количественного спектрального анализа. Казань, Изд-во Казанского университета, 1961,179 с.
  22. А.Н., Островская Г. В., Островский Ю. И. Техника и практика спектроскопии. -М.: Наука, 1976, 392 с.
  23. И.В. Оптические спектральные приборы. Учебное пособие для ВУЗов.-М.: Машиностроение, 1984,240 с.
  24. Современные методы химико-аналитического контроля в машиностроении. -М.: МДНТП, 1981, 157 с.
  25. Стандартные образцы для спектрального анализа сталей и сплавов. Справочное пособие. -М.: ВИАМ, 1984, 85 с.
  26. Стандартные образцы для химического и спектрального анализа материалов черной металлургии.//Заводская лаборатория, 1987, N4, с. 86 88.
  27. А.Б., Шубина C.B. Промышленные методы спектрального анализа. -М.: Металлургия, 1965,224 с.
  28. А.Н., Калитевский Н. И., Липис Л. С., Чайка М. П. Эмиссионный спектральный анализ атомных материалов. -М.: Физматгиз, 1960.
  29. Я.Д. Физические основы спектрального анализа. -М.: Наука, 1980,158 с.
  30. А.К. Основы количественного спектрального анализа руд и минералов. -М.: Недра, 1978.
  31. Н.В., Рюхин В. В., Горбунов С. А. Эмиссионный спектральный анализ. -Л.: Машиностроение, 1971, 214 с.
  32. Т. и др. Эмиссионный спектральный анализ. -М.: Мир, 1982.
  33. А.Г. Методы расчета в количественном спектральном анализе. -Л.: Недра, 1977, 108 с.
  34. К.И. Исследование возможности повышения чувствительности эмиссионного спектрального анализа при фотографической регистрации спектров. :Автореф. канд. дис., Минск, 1965.
  35. Д.П. О постр оении характеристических кривых фотопластинок по спектральным линиям железа. //Заводская лаборатория, 1983, N 9, с. 45 -46.
  36. Ф.Г., Лякишева В. И. Сопоставление возможностей экспрессивных фотографических методов спектрального анализа сплавов. //Заводская лаборатория, 1985, N3, с. 84 85.
  37. B.C., Янковский A.A. Практическое руководство по спектральному анализу. Минск: Изд-во Акад. наук БССР, 1960, 232 с.
  38. C.JI. Введение в спектральный анализ. -M., JI.: ОГИЗ, 1946.
  39. С.А. и др. Состояние и перспективы развития отечественных оптических квантометров. //Заводская лаборатория, 1982, N2, с.40−42.
  40. Н.В., Киреев А. Д. Квантометрический анализ металлов и сплавов. Новосибирск: Наука, 1986, 124 с.
  41. С.А., Подмошенская C.B., Трилесник И. И. Фотоэлектрическая система с ЭВМ для эмиссионного спектрального анализа. //Материалы семинара по спектральному анализу. -J1.: ЛДНТП, 1985, с. 18 22.
  42. А.П., Голяс Ю. Е. Персональные ЭВМ в заводской лаборатории (возможности и перспективы). //Заводская лаборатория, 1988, N 5, с. 95−99.
  43. ГОСТ 16 363–70. Спектральный анализ. Методы оценки точности измерений. Изд-во стандартов, 1970.
  44. Т. Оценка точности результатов измерений. -М.: Энергоатомиз-дат, 1988, 88 с.
  45. Метрологическое обеспечение контроля состава м материалов.: Справочник/Ю.Д. Плинера. -М.: Металлургия, 1982, 168 с.
  46. Т., Мика И., Гегеуш Э. Эмиссионный спектральный анализ. Пер. с англ. -М.: Мир, 1982, Т.2, 159 с.
  47. Автоматизированная система эмиссионного спектрального анализа. /Иванова Т.И. //Реферативный журнал «Автоматикаа», 1988, N5, с. 3 27, реф. 5А 458.
  48. Н.С., Перелыгин С. Ф., Казанцева Т. И. Автоматизированная система обработки фотографических спектров. Тез. докл. на 111 региональной конференции «Аналитика Сибири-90», Иркутск, 1990, с. 278.
  49. Г. В. //Уральская конференция «Применение математических методов и ЭВМ при обработке информации на геологоразведочных работах».: Тез. докл., Свердловск, 1982, с. 16 17.
  50. Д.Н., Емельянова И. В. Определение положения спектральных линий при автоматизированной расшифровке спектрограмм. //Журнал прикладной спектроскопии,'Т.52, N2, 1990, с. 183 187.
  51. Taylor B.L., Birks F.T.//Analyst. 1972, V. 97, N1158, P. 681 690.
  52. Ю.Х., Беличев С 4. ОМ., Цапов И. В., Злажев Р. К. Автоматизированная система обработки спектрограмм при спектральном анализе. //Заводская лаборатория, 1987, N8, с. 30 32.
  53. В.И., Романова В. Д., Старцев Г. П., Трилесник И. И. // Оп-тикомеханическая промышленность. 1978, N11, с. 65 70.
  54. Crosse Р., Harbecke В., Heinz В. et. al. //Applied Physics A.-1986, V. 39, p. 257.
  55. Е.Г. и др. Модернизация фотоэлектрической установки металлургического производства.//Заводская лаборатория, 1986, N6, с. 87 89.
  56. Кох К.Х., Вюнш X. //Черные металлы. 1982, N10, с. 3 7.
  57. Квантометр Polyyac Е600. //Рекламный проспект фирмы Rank Precion Industries (Англия), 1969.
  58. Ким A.A., Катакова Б. А. Из опыта освоения спектрометра «Поливак Е970». //Заводская лаборатория, 1987, N12, с. 85 87.
  59. Т.А., Сакалис О. М. Спектральный анализ сталей с использованием автоматизированной системы «Поливак Е-970». //Заводская лаборатория, 1986, N11, с. 86 88.
  60. A.B., Емельянов А. И., Мандрыгин В. В. /Приборы и системы управления. 1983, N11, с. 13 -15.
  61. H.A., Игнатова Н. И., Мельников В.И.//Заводская лаборатория, 1985, Т.51, N4, с. 20.
  62. H.A., Игнатова Н. И. //Журнал прикладной спектроскопии, 1986, Т.44, вып. 2, с. 336.
  63. H.A. Совершенствование методов атомно-эмиссионного спектрального анализа металлов и сплавов с помощью ЭВМ. //Заводская лаборатория, N8, 1991, с. 22.
  64. И.И., Малыхина JI.A. Алгоритм использования спектральной информации при аттестации стандартных образцов состава сплавов. // Заводская лаборатория, 1989, N2, с. 34 35.
  65. В.Н., Косенко ob В.А., Джураев В. Б. Система автоматизированной обработки результатов спектрального анализа проб металлов. //Заводская лаборатория, 1985, N2, с. 22 24.
  66. Л.П., Шеверда Б. А. Оптимизация параметров градуировочных функций для квантометров фирмы ARL. //Заводская лаборатория, 1988, N 2, с. 40.
  67. Диагностика состава материалов рентгенодифракционными и спектральными методами. /М.С. Нахмансон, В. Г. Фекличев, -Л.: Машиностроение, 1990,357 с.
  68. ГОСТ 7727–81. Спектральный анализ. Метод трех эталонов. Изд-во стандартов, 1981.
  69. A.A., Мосичев В. И., Шушканов В. М. Пакет прикладных программ для автоматических расчетов атомно-эмиссионном спектральном анализе. -Л.: Общество «Знание», ЛДНТП, 1990, 32 с.
  70. Ю.М. Автоматизированная обработка результатов атомно-эмиссионного спектрального анализа. //Заводская лаборатория, N 9, 1988, с. 47 48.
  71. .П., Марон И. А. Основы вычислительной математики. -М.: Наука, 1966, 664 с.
  72. И.И., Цейтман М. С. ДАН СССР, 137, N2/295, с. 161.
  73. .Ф., Казаков Н. С., Кузнецов В. П. Пути повышения достоверности и точности анализа эмиссионной спектроскопии. -М.: ЦНИИИ и ТЭИ, 1989, 53 с.
  74. Е.Ф., Сычева С. В., Моисеева В. В. Оценка воспроизводимости спектрального анализа проволоки различного диаметра в зависимости от способа подготовки проб. //Заводская лаборатория, 1989, N1 с. 103 104.
  75. Применение спектральнго анализа в народном хозяйстве и научных исследованиях. /Янковский. Минск, 1967.
  76. Устройство спектрального анализа: положительное решение о выдаче патента РФ N4855490/25 от 20.05.91 /А.И. Одинец, Б. Ф. Никитенко, В. Кузнецов, A.A. Кузнецов.
  77. A.A. Математические методы и ЭВМ в химии. М.: Наука, 1989,354 с.
  78. В.В. Применение математической статистики при анализе вещества. -М.: Наука, 1960.
  79. Ю.В., Кузнецов В. П., Корнев К. П., Никитенко Б. Ф. Метод определения процентного содержания элементов при фотографическом спектральном анализе. //Изв. вузов СССР, Приборостроение, 199. 67 70.
  80. Способ определения массовых долей элементов в материалах и сплавах. /Н.С. Казаков, Б. Ф. Никитенко, В. П. Кузнецов, A.A. Кузнецов. //Передовой производственный опыт, 1991, N1.
  81. Патент 1 828 696, Россия, МКИ (З), G01 N 21/67. Способ определения содержания массовых долей элементов в материалах и сплавах. /Б.Ф. Никитенко, А. И. Одинец, Н. С. Казаков, В. П. Кузнецов, A.A. Кузнецов. Билл., N5, 1995.
  82. C.B. Математическое обеспечение автоматизированныхсистем аналитического контроля. /Дисс. кандидата техн. наук. -М.: 1986
  83. Н.М., Саенко O.A., Слепченко Н. И. Спектральное определение титана в лигатуре алюминий-титан с применением стандартных образцов предприятия. //Заводская лаборатория, 1989, N4, с. 103 104.
  84. A.A. Разработка и исследование способов диагностики материалов в атомно-эмиссионном экспресс-анализе. /Дисс. кандидата техн. наук. Омск, 1995.
  85. В.И., Введение в экспериментальную спектроскопию. -М.: Наука 1979, 420 с.
  86. Ю.М. Фотоэлектрические методы спектрального анализа металлов и сплавов. -М.: Металлургия, 1984, 225 с.
  87. А.Е. Методы спектрального анализа. -JL: Машиностроение, 1975,330 с.
  88. А.П., Замараев В. П., Бердичевский Г. В. Автоматизированный экспресс-контроль состава материалов в черной металлургии. -М.: Металлургия, 1985,104 с.
  89. В.И. и др. Автоматизация аналитического контроля в металлургии. //Заводская лаборатория, 1982, N2, с. 37 40.
  90. М.И., Ковалева Т. М. Спектрографический метод определения химического состава алюминиевых сплавов. //Заводская лаборатория, 1985, N И, с. 93.
  91. М.А. Феноменологические уравнения связи в рентгеноспек-тральном анализе. //Заводская лаборатория, 1973, 39, N9, с. 1081.
  92. Ю.И., Забродин А. Н. Теоретический выбор формы уравнения связи при PC, А пульповых продуктов цветной металлургии. /В сб.: Автоматизация горно-обогатительных процессов цветной металлургии.-М. ВНИКИ, «Цветметавтоматика», 1981, с. 40 47.
  93. Ш. И. и др. Использование рассеянного первичного излучения при РСА методом теоретических поправок. //Заводская лаборатория, 1984, 50, N11, с. 20−23.
  94. .Д., Карамышев Н. И., Плотников Р. Н., Вершинин A.C. Учет изменения эффективной длины волны в рентгеноспектральном анализе способом теоретических поправок. //Заводская лаборатория, 1985.
  95. В.А., Сорокин И. В. Использование метода фундаментальных параметров при РСА. //Заводская лаборатория, 1984, Т.50, N4, с. 24.
  96. Mantler M. LAMA III-a computer program for quantitative XRFA of bulk specimens and thin film layers. //Advances in X-ray analysis, 1984, v. 27, p. 433−440.
  97. H.B., Голубев A.A., Мосичев В. И. О возможностях повышения точности метода фундаментальных параметров. //Заводская лаборатория, 1991, N 11, с. 51 55.
  98. Ю.И., Павлинский Г. В., Ревенко А. Г. Программа расчета ин-тенсивностей аналитических линий рентгеновского спектра флуоресценции. //Заводская лаборатория, 1977, 43, N4, с. 433 -436.
  99. В.П., Гуничева Т. Н., Пискунова Л. Ф. Рентгено-флуоресцентный силикатный анализ. -Новосибирск: Наука, 1984.
  100. А.Н. Погрешности измерения физических величин. -Л.: Наука, 1985,431 с.
  101. .Ф., Казаков Н. С., Кузнецов A.A. Повышение эффективности атомно-эмиссионного экспресс анализа. //Передовой производственный опыт, 1991, N1.
  102. Н.С., Никитенко Б. Ф., Кузнецов В. П., Кузнецов A.A. Способ определения массовой доли химических элементов в материалах и сплавах. //Передовой производственный опыт, 1991, N4.
  103. .Ф., Казаков Н. С., Кузнецов A.A. Разработка и использование автоматизированных измерительных систем в спектральном анализе. -М.: НТЦ «Информтехника», 1990, 80 с.
  104. И.В., Вешкурцев Ю. М. Метод подбора оптимальных интервалов количественного содержания элементов в спектральном анализе. // Дефектоскопия, У О РАН, N, 1998, с.
  105. Ч. Голографическая интерферометрия. -М.: МИР, 1982, 504 с.
  106. A.c. СССР 1 826 359, кл. В 23 Q 15/00 //G 01 W 3 /58. Способ определения износа инструмента./Пякилля И.В., Скворцов В. М. 1992.
  107. K.M. Ферромагнетики. -M.-JL: ГЭИ, 1957, 419 с.
  108. Автоматизация фотографического спектрального анализа. /Никитенко Б.Ф., Казаков Н. С., Кузнецов A.A. //Тезисы докладов на 3-ей Региональной конференции «Аналитика Сибири-90», Иркутск, 1990.
  109. М. Физика оптических явлений. -М.: Энергия, 1967, 374 с.
  110. Born М. Z. Physik, 1926,37, 863.
  111. BornM. Z. Physik, 1926,36, 803.
  112. И.В., Никитенко Б. Ф., Кузнецов А.А.Принцип построения систем автоматического корректирования в атомно-эмиссионном анализе.
  113. Ю.М., Пякилля И. В., Казаков Н. С. Алгоритм количественного спектрального с автоматической коррекцией стандартных образцов. //Дефектоскопия, УО РАН, N, 1998, с.
  114. .Ф., Казаков Н. С. Информационно-измерительные системы в атомно-эмиссионном спектральном анализе, ч.1, (Автоматизированный метод контрольного эталона для всего диапазона анализа), -Дефектоскопия, N 10, 1998, с. 64 88.
  115. .Ф., Казаков Н. С. Информационно-измерительные системы в атомно-эмиссионном спектральном анализе, ч.2, (Автоматизированный метод контрольного эталона для всего диапазона анализа), -Дефектоскопия, N11, 1998, с. 58 78.
  116. .Ф., Казаков Н. С. Информационно-измерительные системы в атомно-эмиссионном спектральном анализе, часть 3. //Дефектоскопия, N12, 1998, с. 28 57.
  117. Ю. П. Методы анализа и интерпретации эксперимента, — М.: Изд-воМГУ. 1990.
  118. Ю. П. Возможность. Элементы теории и применения. — М.: Изд-во Эдиториал УРСС, 2000.
  119. П. /Заводская лаборатория, 1996, т. 62, № 10, с. 63 -65.
  120. П. /Заводская лаборатория, 1998, т. 64, № 3, с. 73 80.
  121. М.Н., Зажогин А. П. и др. Применение атомно-эмиссионного спектрометра «ЭМАС-200Д» в многоэлементном анализе металлов и сплавов. /Заводская лаборатория. Диагностика материалов, 1999, т. 65, № 4, с. 24 26.
  122. А.Е., Воробейчик В. М. Справочная книга по эмиссионному спектральному анализу, М.: Машиностроение, 1982, — 450 с.
Заполнить форму текущей работой

Пора сдавать?