Помощь в учёбе, очень быстро...
Работаем вместе до победы

Контрольные вопросы и задания

РефератПомощь в написанииУзнать стоимостьмоей работы

Боуэн, А. К. Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография / А. К. Боуэн, Б. К. Таннер. — СПб.: Наука, 2002. Суворов, Э. В. Методы исследования структуры и состава материалов / Э. В. Суворов. — М.: Издательский дом МИСИС, 2011. Иверонова, В. И. Теория рассеяния рентгеновских лучей / В. И. Иверонова, Г. П. Ревкевич. — М.: МГУ, 1978. Как трактуется понятие «разрешение»? Приведите… Читать ещё >

Контрольные вопросы и задания (реферат, курсовая, диплом, контрольная)

1. Поясните устройство и принцип работы двухкристального спектрометра. В чем состоит принципиальное различие схем спектрометров п — п и п + п?

2. Какую информацию может дать анализ формы дифракционных линий? Как связаны ширина линий и размеры зерен? Как проявляются деформации на дифракционной картине?

3. Что такое рентгеновская дифракционная топография (микроскопия)?

4. В чем заключается метод Берга — Баретта? Какова область применения этого метода?

5. В чем заключается метод Фудживары? Какова область применения данного метода?

6. В чем заключается метод Ланга?

7. Что положено в основу метода Бормана?

8. Как трактуется понятие «разрешение»? Приведите примеры применения топографических методов.

9. Приведите классификацию типов контраста.

10. Каков физический смысл понятия «комбинированное искажение»?

11. Каковы основные механизмы образования рентгеновского контраста?

12. В чем состоят сновные особенности и каковы области применения двухкристальной топографии?

13 Какое избражение называется прямым?

14. Объясните физический смысл маятникового эффекта.

15. В чем заключается эффект каналирования?

16. Приведите уравнения Токаги — Топена. Для чего они используются?

Рекомендуемая литература

1. Боуэн, А. К. Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография / А. К. Боуэн, Б. К. Таннер. — СПб.: Наука, 2002.

2. Илюшин, А. С. Дифракционный структурный анализ: учеб, пособие: в 2 ч. / А. С. Илюшин, А. П. Орешко; Моек. гос. ун-т им. М. В. Ломоносова, физ. фак. — М.: Издательский дом «Крепостновъ», 2013.

3. Иверонова, В. И. Теория рассеяния рентгеновских лучей / В. И. Иверонова, Г. П. Ревкевич. — М.: МГУ, 1978.

4. Суворов, Э. В. Методы исследования структуры и состава материалов / Э. В. Суворов. — М.: Издательский дом МИСИС, 2011.

5. Уманский, Я. С. Рентгенография металлов / Я. С. Уманский. — М.: Металлургия, 1967.

6. Пинскер, 3. Г. Рентгеновская кристаллооптика / 3. Г. Пинскер. — М.: Наука, 1982.

7. Дифракционные и микроскопические методы в материаловедении: сб. ст. / под ред. С. Амелинкса [и др.]; пер. с англ. А. М. Глезера [и др.]. — М.: Металлургия, 1984.

8. Инденбом, В. Л. Проблема изображения в рентгеновской оптике / В. Л. Инденбом, Ф. Н. Чуковский // УФН. — 1972. — Т. 107. — № 2. — С. 229— 2265.

9. Суворов Э. В. Дифракционное изображение дефектов в рентгеновской топографии (в рентгеновской микроскопии) / Э. В. Суворов, И. А. Смирнова // УФН. — 2015. — Т. 185. — № 9. —С. 897—915.

10. Borrmatin, G. Uber Extinktionsdiagramme der Rontgenstrahlen von Quarz // Z. Phys. — 1941. — Vol. 42. — P. 157—162.

Показать весь текст
Заполнить форму текущей работой