Помощь в учёбе, очень быстро...
Работаем вместе до победы

Развитие метода рентгеновской флуоресценции в области полного внешнего отражения для характеризации многокомпонентных наноструктур

Диссертация: Развитие метода рентгеновской флуоресценции в области полного внешнего отражения для характеризации многокомпонентных наноструктур
ДиссертацияПомощь в написанииУзнать стоимостьмоей работы

Комплекс методик, в основе которых лежит процесс рассеяния (и дифракции) электромагнитного излучения, длины волн которого сравнимы с размером изучаемых объектов (Я.~0.1−100А), т. е. излучения от вакуумного ультрафиолета до жесткого рентгеновского. Для этих методик актуальным становится использование специализированных источников синхротронного излучения (СИ). Такое свойство СИ, как высокая… Читать ещё >

Содержание

  • 1. Литературный обзор. Общие положения
    • 1. 1. Рентгеновское отражение и характеристическое флуоресцентное излучение в области полного внешнего отражения
      • 1. 1. 1. Взаимодействие рентгеновского излучения со слоистыми средами
      • 1. 1. 2. Характеристическое флуоресцентное излучение
      • 1. 1. 3. Рентено-флуоресцентный анализ
    • 1. 2. Структурно-чувствительная рентгеновская спектроскопия
    • 1. 3. Численное моделирование рентгеновского отражения и выхода флуоресценции
  • 2. Использование рентгено-флуоресцентного анализа для изучения влияния условий формирования (рН субфазы) пленок Ленгмюра-Блоджетт на их элементный состав
    • 2. 1. Введение
    • 2. 2. Экспериментальные результаты исследования ЛБ пленок методом рентгено-флуоресцентного анализа
      • 2. 2. 1. Образцы
      • 2. 2. 2. Постановка экспериментального исследования пленок Ленгмюра-Блоджетт с помощью рентгено-флуоресцентного анализа в ПВО
      • 2. 2. 3. Экспериментальные результаты и обсуждение
    • 2. 3. Выводы
  • 3. Использование метода рентгеновской флуоресценции в области ПВО для исследования короткопериодных рентгеновских зеркал. 62 3.1. Обзор литературы. Короткопериодные рентгеновские зеркала
    • 3. 2. Экспериментальные исследования коротко-периодных МС методом рентгеновской флуоресценции в области ПВО
      • 3. 2. 1. Образцы
      • 3. 2. 2. Постановка экспериментальных измерений
      • 3. 2. 3. Результаты и обсуждение исследований многослойных структур Ti/N
    • 3. 3. Выводы
  • 4. Развитие метода рентгеновской флуоресценции в области ПВО для изучения ленгмюровских монослоев на поверхности жидкой субфазы
    • 4. 1. Введение. Обзор’литературы
  • Белковые монослои на твердых подложках
  • Исследования распределения атомов в жидкости с помощью метода рентгеновской флуоресценции в области ПВО
  • Анализ угловых зависимостей выхода флуоресценции от органических монослоев на поверхности жидкости
    • 4. 2. Эксперименты по регистрации угловых зависимостей выхода флуоресценции от атомов, входящих в состав органических монослоев на поверхности жидкости
      • 4. 2. 1. Объекты исследования
      • 4. 2. 2. Постановка эксперимента
      • 4. 2. 3. Регистрация рентгеновского отражения и выхода флуоресценции от органических монослоев на поверхности жидкости и обсуждение результатов
    • 4. 3. Выводы

    5. Аппаратурно-методические разработки для реализации метода рентгеновской флуоресценции в области ПВО на лабораторных источниках и источниках синхротронного излучения. 5.1. Рентгеновский спектрометр, оснащенный ленгмюровской ванной, для исследования жидких образцов.

    5.1.1. Обзор литературы. Лабораторные рентгеновские спектрометры для исследования жидких образцов и границы раздела жидкость/воздух.

    5.1.2. Лабораторный рентгеновский спектрометр для жидких образцов.

    5.1.3. Апробация спектрометра. 13 2 Калибровка спектрометра. 132 Регистрация рентгеновского отражения и выхода флуоресценции от тестового образца.

    5.2. Проект экспериментальной станции «Ленгмюр» для Курчатовского Центра синхротронного излучения и нанотехнологий.

    5.2.1. Обзор литературы. Конструктивные особенности некоторых синхротронных станций, предназначенных для исследования жидких образцов.

    5.2.2. Проект синхротронной станции «Ленгмюр».

    5.3. Разработка метода наклона пучка синхротронного излучения в области ПВО к поверхности горизонтально расположенного образца.

    5.3.1. Отклонение пучка двумя зеркалами.

    5.3.2. Отклонение пучка двумя многослойными структурами.

    5.3.3. Определение линейных размеров блока управления рентгеновским пучком.

    5.4. Выводы 166 Основные результаты и

    выводы диссертации 167 Основные публикации результатов диссертации 170

    Список используемых сокращений 173

    Список цитируемой литературы

Развитие метода рентгеновской флуоресценции в области полного внешнего отражения для характеризации многокомпонентных наноструктур (реферат, курсовая, диплом, контрольная)

Актуальность работы.

В последнее время внимание во всем мире направлено на развитие нанотехнологий: комплекса методов и приемов контролируемого создания и модификации нанообъектов и материалов на их основе с заранее заданными свойствами. Существующие и разрабатываемые на настоящий момент нанообъекты крайне разнообразны. К ним относятся различные полупроводниковые и металлические многослойные и поверхностные структуры, используемые, в частности, как основа твердотельной наноэлектроники (сверхрешетки, квантовые точки и нити, квантовые контакты), органические наноматериалы и слоистые наноструктуры (например, пленки Ленгмюра-Блоджетт) — являющиеся основой молекулярной органической наноэлектроники, используемые для конструирования моделей клеточных биомембран (молекулярная архитектура), применяемые для создания различных газовых, хемои биосенсоров.

В настоящее время приняты следующие определения: «Нанотехнология» — совокупность методов и приемов, обеспечивающих возможность контролируемым образом создавать и модифицировать объекты, ^ включающие компоненты с размерами менее 100 нм, имеющие принципиально новые качества, обусловленные их размерами и позволяющие осуществлять их интеграцию в полноценно функционирующие системы большого масштаба. Отличие нанотехнологий от традиционных заключается в возможности создания материалов или систем сборкой в атомно-молекулярном масштабе (в том числе с использованием явления самоорганизации). «Наноматериалы» — материалы, содержащие структурные элементы геометрические размеры которых хотя бы в одном измерении не превышают 100 нм и благодаря этому обладающие качественно новыми свойствами, функциональными и эксплуатационными характеристиками.

Естественно, развитие нанотехнологий требует создания адекватных методов диагностики, благодаря которым будет возможно получать информацию о структуре и составе нанообъектов и систем на их основе.

На настоящий момент к базовым методам нанодиагностики относят:

— микроскопию: зондовую, электронную высокого разрешения;

V* - методики, связанные с рассеянием частиц с длинами волн нанометрового диапазона (тепловых нейтронов (А.~1−10А));

— комплекс методик, в основе которых лежит процесс рассеяния (и дифракции) электромагнитного излучения, длины волн которого сравнимы с размером изучаемых объектов (Я.~0.1−100А), т. е. излучения от вакуумного ультрафиолета до жесткого рентгеновского. Для этих методик актуальным становится использование специализированных источников синхротронного излучения (СИ). Такое свойство СИ, как высокая яркость позволяет проводить исследования в условиях незначительного количества рассеивающего материала и, следовательно, малой интенсивности полезного сигнала: создавать микрои нанопучки достаточной интенсивности, которыми можно исследовать отдельные нанообъектыработать с поверхностью и приповерхностным слоем.

Для получения структурной информации о нанообъектах возможно использование различных поверхностно-чувствительных рентгеновских методов, однако, для диагностики многокомпонентных наноматериалов * целесообразным является привлечение методов, дающих спектральноселективную информацию. Такую возможность предоставляют, например, методы, связанные с регистрацией вторичных характеристических излучений от атомов, составляющих исследуемый образец, возбужденных при фотоэлектрическом поглощении падающих рентгеновских квантов.

На протяжении последних трех десятилетий развивается метод «структурно-чувствительной спектроскопии» сочетающий регистрацию угловых зависимостей рентгеновского отражения и выхода вторичного излучения в условиях формирования сложного нелинейного распределения волнового поля — в угловых диапазонах брэгговской дифракции и области полного внешнего отражения (ПВО), который дает спектрально-селективную структурную информацию о границе раздела и позволяет определять ^ структурное положение атомов различных химических элементов с ангстремной или нанометровой точностью.

Большой вклад в разработку структурно-чувствительной спектроскопии был внесен российскими учеными. Представляемая работа является продолжением разработок, которые многие годы проводились в Институте кристаллографии имени А. В. Шубникова РАН и в лаборатории рентгеновской оптики и синхротронного излучения, в частности.

Поскольку данная работа связана с исследованиями в области полного внешнего отражения рентгеновского излучения, в дальнейшем рассматриваться будет только область ПВО.

Традиционный спектрально-селективный метод, реализуемый в условиях полного внешнего отражения — рентгено-флуоресцентный анализ, позволяет определить композиционный состав образца в ПВО, т. е. понять что находится в образце.

Логическим продолжением этого метода является метод рентгеновской флуоресценции в области ПВО, соединивший регистрацию угловых зависимостей интенсивности выхода флуоресценции и рентгеновского отражения при изменении угла падения излучения на образец и позволяющий определять местоположение атомов в приповерхностном слое в направлении нормали относительно границы раздела.

Особая привлекательность структурно-чувствительной спектроскопии, применяемой в области ПВО, заключается в том что возможно формирование волнового поля стоячая рентгеновская волна (СРВ)/эванесцентная волна на границе раздела любых гладких поверхностей, в том числе и на поверхности жидкости. Поэтому метод рентгеновской флуоресценции в условиях ПВО является перспективным для исследования различных планарных многокомпонентных нанообъектов, изучение которых представляет большой научный и практический интерес — это нанометровые монои многослойные пленки на твердых подложках, как органической, так и неорганической природы, а также органические монослои на поверхности жидкости.

Проведение исследований жидких образцов, в том числе органических монослоев на поверхности жидкости, требует развития методики рентгеновской флуоресценции в области полного внешнего отражения в применении к таким объектам и разработки соответствующей аппаратуры для постановки экспериментов, как в лабораторных условиях, так и на источниках синхротронного излучения.

В мире на специализированных источниках синхротронного излучения существуют единичные станции, на которых возможно проведение подобных работ.

Основной целью ' работы являлось развитие методической и экспериментальной базы ' неразрушающего спектрально-селективного поверхностно-чувствительного метода рентгеновской флуоресценции в области полного внешнего отражения для характеризации многокомпонентных наноструктур.

В соответствие с поставленной целью в работе решались задачи:

• Использование рентгено-флуоресцентного анализа для определения состава пленок Ленгмюра-Блоджетт (ЛБ-пленок) — моделей химических сенсоровс целью определения наличия в пленках ионов металлов, «захваченных» из жидкой субфазы при их формировании.

• Разработка метода качественной характеризации короткопериодных многослойных рентгеновских зеркал при отработке режимов их получения с помощью регистрации угловых зависимостей характеристической рентгеновской флуоресценции от каждого из элементов, наносимых в процессе формирования структуры.

• Развитие метода регистрации угловых зависимостей выхода флуоресценции в области ПВО для характеризации органических монослоев на поверхности жидкости.

• Аппаратурно-методические разработки для исследования «жидких» образцов с помощью метода рентгеновской флуоресценции в области полного внешнего отражения на лабораторных источниках и источниках синхротронного излучения.

Научная новизна полученных результатов заключается в следующем:

• Впервые проведенное комплексное исследование ЛБ-пленок, на основе сочетания результатов рентгено-флуоресцентного анализа в ПВО (давших 8 прямую информацию о наличии в пленках атомов металлов) с опосредованной информацией о составе органических монослоев, полученной из изотерм сжатия, позволило однозначно определить влияние рН субфазы на элементный состав ЛБ-пленок, являющихся прототипами химических сенсоров.

• Впервые продемонстрирована возможность получения информации о дискретности короткопериодных многослойных рентгеновских зеркал с малым числом периодов (неотожженных и подвергнутых термическому отжигу) на основе регистрации угловых зависимостей выхода флуоресценции от каждого из элементов, наносимых в процессе формирования структуры.

• Впервые на станции Troika II (линия ID 10 В, ESRF, Франция) реализованы измерения характеристического флуоресцентного излучения от ленгмюровских монослоев. Получены экспериментальные угловые зависимости выхода флуоресценции от атомов, входящих в состав молекул органического монослоя, находящегося на поверхности жидкости.

• Проведены аппаратурно-методические разработки, включающие:

— создание лабораторного спектрометра, оснащенного ленгмюровской ванной и позволяющего проводить рентгеновские и рентгено-флуоресцентные измерения жидких образцов (находящихся в ленгмюровской ванне) и горизонтально расположенных твердотельных образцов в области ПВО;

— разработку метода управления монохроматизированным пучком синхротронного излучения в угловых диапазонах вблизи области ПВО, с использованием различных рентгенооптических элементов. создание проекта экспериментальной станции, оснащенной ленгмюровской ванной для исследования жидких образцов для Курчатовского Центра синхротронного излучения и нанотехнологий (КЦСИиНт).

Практическая значимость.

Развитие метода рентгеновской флуоресценции в области ПВО, позволившее получить при характеризации неорганических и органических наноструктур спектрально-селективную информацию различного уровня, и в особенности — проведенные исследования ленгмюровских монослоев на поверхности жидкости, открывают путь возможности изучения биологических объектов в условиях, приближенных к физиологическим.

Создаиие специализированной экспериментальной базы для исследования жидких образцов, в том числе, органических монослоев на поверхности жидкости, существенно расширяют возможности нанодиагностики разнообразных наносистем. Разработка уникального метода наклона синхротронного пучка к горизонтали позволяет проводить исследования жидкости при неподвижном образце, что существенно упрощает схему эксперимента.

На защиту выносятся:

1. Экспериментальные результаты рентгено-флуоресцентного анализа ЛБ-пленок на твердых подложках в условиях полного внешнего отражения рентгеновских лучей, позволившие впрямую определить состав органических пленок — моделей селективных химических сенсоров, -в зависимости от рН субфазы.

2. Методика качественного неразрушающе го контроля коротко-периодных многослойных рентгеновских зеркал, основывающаяся на регистрации в области ПВО угловых зависимостей рентгеновской флуоресценции от каждого из элементов, наносимых в процессе формирования структуры, и позволяющая судить о дискретности слоев, составляющих образец.

3. Впервые зарегистрированные с применением синхротронного излучения (на станции Troika II, линия ID 10 В, ESRF, Франция) экспериментальные угловые зависимости рентгеновской флуоресценции, модулированные сложным распределением электромагнитного поля в области ПВОСРВ/эванесцентная волна, от модельных органических монослоев на поверхности жидкости, что позволяет определить структурную организацию монослоя на поверхности жидкости.

4. Аппаратурно-методические разработки для исследования «жидких образцов» методом рентгеновской флуоресценции в области ПВО на лабораторных источниках и источниках синхротронного излучения.

— лабораторный рентгеновский спектрометр, оснащенный ленгмюровской ванной;

— проект экспериментальной станции «Ленгмюр» для Курчатовского центра синхротронного излучения и нанотехнологий;

— метод наклона пучка синхротронного излучения к неподвижной ленгмюровской ванне с использованием различных рентгенооптических элементов.

Личный вклад автора.

Автором проведены эксперименты по рентгено-флуоресцентному анализу в области ПВО пленок Ленгмюра-Блоджетт (прототипов химических сенсоров) в условиях крайне малой интенсивности полезного флуоресцентного сигнала.

Автор участвовала в разработке метода качественного неразрушающего контроля многослойных коротко-периодных структур и проводила экспериментальные исследования коротко-периодных рентгеновских зеркал методом рентгеновской флуоресценции в области ПВО.

С ее непосредственным участием шла постановка экспериментов по регистрации угловых зависимостей рентгеновской флуоресценции от монослоев на поверхности жидкой субфазы, впервые проведенных на источнике синхротронного излучения (станции Troika II, ID 10 В, ESRF, Франция). Она принимала активное участие в анализе полученных экспериментальных данных.

Автором проведен глубокий анализ экспериментального оборудования, используемого для исследования молекулярных монослоев на поверхности жидкости, как действующих в ряде синхротронных центров мира экспериментальных станций, так и лабораторных спектрометров. На основе этого, при активном участии автора, были проведены работы по разработке лабораторного рентгеновского спектрометра с вертикальной плоскостью рассеяния и проекта экспериментальной станции «Ленгмюр» в КЦСИиНТ, оснащенных ленгмюровской ванной и предназначенных для исследования жидких образцов. Автор также принимала участие в разработке метода наклона пучка синхротронного излучения к горизонтали, вела расчет параметров блока управления пучком. Автором предложена оригинальная схема компенсации испарения жидкой субфазы.

Апробация работы.

Основные результаты диссертации докладывались на I — IV национальных конференциях по применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов (РСНЭ) Москва 1997, 1999, 2001, 2003; рабочем совещании «Рентгеновская оптика -99» — XVIII международном съезде кристаллографов (UlCr XVIIIth General Assembly and International Congress of Crystallography, Glasgow, UK (1999)) и XX европейском съезде кристаллографов (20th European Crystallographic Meeting, Krakow, Poland (2001)). Surface Science 2000: Self-Organization at Interfaces and in Thin Films, ESRF Grenoble, France (2000). XIX международном съезде кристаллографов (UlCr XlXth General Assembly and International Congress of Crystallography, Geneva, Switzerland (2002)). VIII и IX конференции по рентгено-флуоресцентному анализу в условиях полного внешнего отражения (TXRF2000 — 8th Conference on Total Reflection X-ray Fluorescence Analysis and Related Methods Vienna, Austria (2000), TXRF2002 — 9th Conference on TXRF and Related Methods, Madeira, Portugal (2002)). XII международной конференции по малоугловому рассеянию (Xllth International Conference on mall-Angle Scattering, Venice, Italy (2002)). XXI европейском съезде кристаллографов (21st European Crystallographic Meeting, Durban, South Africa (2003)).

Публикации.

По материалам диссертации 7 печатных работ опубликовано в периодических журналах, 9 работ опубликовано в трудах российских и международных конференций, в том числе, в виде тезисов.

ОСНОВНЫЕ РЕЗУЛЬТАТЫ И ВЫВОДЫ ДИССЕРТАЦИИ.

1. Определение состава ЛБ-пленок дицетилциклена (моделей химических сенсоров) в зависимости от рН субфазы реализовано на лабораторном источнике с помощью рентгено-флуоресцентного анализа. Это позволило напрямую подтвердить косвенные данные об инверсии селективности связывания монослоем дицетилциклена ионов меди и никеля при изменении рН субфазы в диапазоне 4.2 — 5.2.

2. Предложен качественный метод неразрушающего контроля коротко-периодных рентгеновских зеркал, позволяющий работать с малым количеством периодов на начальной стадии нанесения многослойной структуры. Метод основан на регистрации угловых зависимостей характеристической рентгеновской флуоресценции от двух элементов, составляющих период многослойной структуры. Анализ экспериментальных данных по исследованию многослойных структур Ti/Ni (d = 15 А, 30 периодов) как неотожженных, так и подвергнутых термическому отжигу, позволил сделать заключение о дискретности слоев материалов, составляющих период. Независимое подтверждение дискретности слоев было получено методом просвечивающей электронной микроскопии.

3. Впервые на станции Troika-II (ID 10 В, ESRF, Франция) реализованы измерения характеристического рентгеновского флуоресцентного излучения от ленгмюровского монослоя на поверхности жидкости. Полученные экспериментальные угловые зависимости выхода флуоресценции от атомов, входящих в состав молекул различных органических монослоев (фталоцианинов, циклолинейного полиорганосилоксана, фосфолипида), позволили определить их структурную организацию на поверхности жидкости.

• Экспериментально продемонстрированы возможности флуоресценции в области ПВО для определения местоположения ионов внутри органического монослоя.

• Получены спектры характеристического флуоресцентного излучения от ленгмюровских монослоев на поверхности жидкости и угловые.

167 зависимости выхода флуоресценции от определенных ионов, модулированные. волновым полем в области ПВО.

• Показано, что в условиях экспериментов для исследованных монослоев фталоцианинов определенное в них местоположение ионов металлов (Fe, Си, Sn) соответствует положению макроциклов перпендикулярно поверхности жидкости.

• Для полиорганосилоксанов полученная величина расстояния ионов Si до границ раздела пленка/жидкость соответствует полимерным кольцам, лежащим «плашмя» на поверхности жидкости.

4. Разработан, прокалиброван и апробирован лабораторный спектрометр, оснащенный ленгмюровской ванной, для исследования с помощью рентгеновской флуоресценции в области ПВО жидких образцов, различных слоев на поверхности жидкости, границ раздела жидкость/газ и т. п.- проведены тестовые эксперименты по исследованию распределения ионов Мп в водном растворе ацетата марганца.

5. Предложен проект экспериментальной станции, оснащенной ленгмюровской ванной, для исследования жидких образцов на источнике Курчатовского центра синхротронного излучения и нанотехнологий.

6. Разработан метод наклона пучка на горизонтальный образец с помощью двух рентгенооптических элементов (зеркал и/или градиентных многослойных структур), позволяющий не перемещать ленгмюровскую ванну в процессе эксперимента. Рабочий угловой диапазон при управлении пучком с помощью двух зеркал составит: 0−54 мрад (при энергии Е = 2 кэВ) и 0 — 2.9 мрад при (Е = 38 кэВ) — при использовании градиентных многослойных структур диапазон может быть увеличен в несколько раз.

Автор выражает глубокую благодарность и признательность за внимание и всяческую поддержку заведующему лаборатории РО и СИ, директору Института кристаллографии РАН чл.-корр. РАН М. В. Ковальчуку.

Сердечная благодарность и искренняя признательность научному руководителю д.ф.-м.н. С. Й. Желудевой, за ее доброжелательное внимание и незаурядное терпение.

Огромная признательность коллегам, благодаря которым была завершена эта работа: Сотрудникам лаборатории РО и СИ, и особенно, к.ф.-м.н. Н. Н. Новиковой, к.ф.-м.н. В. В. Лидеру. Коллективу СКВ ИК РАН во главе с Ю. Н. Шилиным и персонально В. Шишкову и В. И. Вологину. А также: д.х.н. Н. Д. Степиной, к.ф.-м.н. О. В. Коновалову к.ф.-м.н. Л. Г. Янусовой, чл.-корр. РАН профессору Н. А. Киселеву к.ф.-м.н. В. В. Роддатису.

ОСНОВНЫЕ ПУБЛИКАЦИИ РЕЗУЛЬТАТОВ ДИССЕРТАЦИИ.

1. С. И. Желудева,' Н. Н. Новикова, Е. Ю. Терещенко, Ю. Н. Шилин, В. А. Шишков, И. В. Мягков. Рентгеновский спектрометр для исследования слоев на поверхности жидкости с использованием характеристического флуоресцентного излучения. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 7 (2001), 35 — 39.

2. N.N. Novikova, S.I. Zheludeva, O.V. Konovalov, M.V. Kovalchuk, N.D. Stepina, I.V. Myagkov, Yu.K. Godovsky, N.N. Makarova, E.Yu. Tereschenko and L.G. Yanusova. Total reflection X-ray fluorescence study of Langmuir monolayers on water surface. // J. Appl. Crys. 36 (2003) 727 — 731.

3. С. И. Желудева, Н. Н. Новикова, O.B. Коновалов, М. В. Ковальчук, Н. Д. Степина, Э. А. Юрьева, И. В, Мягков, Ю. К. Годовский, Н. Н. Макарова, A.M. Рубцов, О. Д. Лопина, А. И. Ерко, А. Л. Толстихина, Р. В. Гайнутдинов, В. В. Лидер, Е. Ю. Терещенко, Л. Г. Янусова. Возможности рентгеновской флуоресценции в области полного внешнего отражения для исследования ленгмюровских монослоев на поверхности жидкости и твердой подложке. // Кристаллография. 48 (6) (2003) S30 — S42.

4. S.I. Zheludeva, N.N. Novikova, O.V. Konovalov, M.V. Kovalchuk, N.D. Stepina, E.Yu. Tereschenko. // Langmuir monolayers on water surface investigated by X-ray total reflection fluorescence. // Mat. Sci. Eng. С 23 (2003)567−570.

5. В. В. Лидер, Е. Ю. Терещенко, С. И. Желудева, В. И. Вологин, Ю. Н. Шилин, В. А. Шишков. // Блок управления пространственным положением рентгеновского пучка экспериментальной синхротронной станции «Ленгмюр». // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 7 (2004) 5 — 14 .

6. Е. Ю. Терещенко, В. В. Лидер, С. И. Желудева, В. И. Вологин, Ю. Н. Шилин, В. А. Шишков. Проект экспериментальной станции «Ленгмюр» для Курчатовского Центра Синхротронного Излучения. // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 7 (2004) 15−23.

7. М.А. Kalinina, V.V. A’rslanov, S.I. Zheludeva and E. Yu. Tereschenko. // Inversion of selective binding of transition metal ions by Langmuir.

170 monolayers of amphiphilic cyclen. // Thin Solid Films. 472 (1−2) (2005) 232−237.

8. H.H. Новикова, С. И. Желудева, Е. Ю. Терещенко. Возможности характеризации многослойных структур при регистрации флуоресцентного излучения в области ПВО рентгеновских лучей. Сборник тезисов РСНЭ — 97. (1997) с. 289.

9. Н.Н. Новикова', С. И. Желудева, Е. Ю. Терещенко, Использование флуоресцентного излучения в области ПВО для характеризации многослойных структур. Сборник докладов Национальной конференции РСНЭ-97. т. 2 (1998) с. 224.

10. С. И. Желудева, Н. Н. Новикова, Е. Ю. Терещенко, Н. Н. Салащенко. Возможность характеризации малопериодных многослойных структур в области полного внешнего отражения. Материалы рабочего совещания «Рентгеновская оптика — 99». (1999) 86 — 92.

11. С. И. Желудева, М. В. Ковальчук, И. В. Мягков, Э. А. Юрьева, Ю. Н. Шилин, Н. Н. Новикова, Е. Ю. Терещенко, А. Б. Аршинов. Возможности изучения белково-липидных пленок на поверхности жидкости с помощью характеристической флуоресценции в области полного внешнего отражения рентгеновских лучей. Тезисы докладов РСНЭ-1999. (1999) с. 193.

12. С. И. Желудева, Н. Н. Новикова, Е. Ю. Терещенко, В. В. Роддатис, Н. Н. Салащенко. Определение параметров многослойных структур Ti/Ni в области полного внешнего отражения рентгеновских лучей. Тезисы докладов РСНЭ-1999. (1999) с. 249.

13.S.I. Zheludeva, N.N. Novikova, E.Yu. Tereschenko, N.N. Salaschenko. Total reflection X-ray and fluorescence for small d-space multilayer characterization. XVIIIth International Congress and General Assembly UlCr, Glasgow (1999), Abstracts, p.52.

14.С. И. Желудева, Н. Н. Новикова, Е. Ю. Терещенко, Ю. Н. Шилин, В. А. Шишков, И. В. Мягков. Рентгеновский спектрометр для исследования слоев на поверхности жидкости с использованием характеристического флуоресцентного излучения. Тезисы докладов РСНЭ-2001. (2001) с. 281.

15. S.I. Zheludeva, N.N. Novikova, E.Yu. Tereschenko, I.V. Myagkov, Yu.N. Shilin. X^ray spectrometer for total reflection XRSW fluorescence study of organic layers' on water surface. Book of abstracts 20th European Crystallographic Meeting, Krakow (2001), p. 316.

16.Е. Ю. Терещенко, B.B. Лидер, С. И. Желудева, В. В. Вологин, Ю. Н. Шилин, В. В. Шишков. Проект станции «Ленгмюр» на источнике синхротронного излучения КИСИ. Тезисы докладов РСНЭ — 2003. (2003) с. 528.

ИСПОЛЬЗУЕМЫЕ В ТЕКСТЕ СОКРАЩЕНИЯ.

СИ — синхротронное излучение.

ПВО — полное внешнее отражение рентгеновских лучей СРВ — стоячая рентгеновская волна.

ЛБ-пленки — органические пленки, создаваемые с использованием технологии.

Ленгмюра — Бло’джетт КЦСИиНт — Курчатовский центр синхротронного излучения и нанотехнологий РФА — рентгено-флуоресцентный анализ.

XRF — обычная схема рентгено-флуоресцентного анализа (угол падения излучения на образец и расположение детектора произвольные) TXRF (GIXRF) — схема рентгено-флуоресцентного анализа в условиях полного внешнего отражения рентгеновских лучей (излучение падает на образец под скользящим углом, детектор расположен по нормали к поверхности образца).

ПАВ — поверхностно-активные вещества.

DCC — дицетилциклен, Ы, Ы-дицетил-1,4,7,10-тетраазациклододекана MP — мягкое рентгеновское излучение VUF — ультрафиолетовое излучение.

EUF или XUF — экстремальное ультрафиолетовое излучение МС — многослойные структуры.

KMC — короткопериодные многослойные структуры (период меньше 20 А) SSD — твердотельный энергоразрешающий детектор, применяемый для регистрации флуоресцентного излучения Рс — фталоцианин.

Показать весь текст

Список литературы

  1. М. Борн, Э. Вольф. «Основы оптики». М.: Наука. 1973.
  2. L.G. Parratt // Surface study of solids by total reflection of X-rays. / Phys. Rev.95 (2) (1954) 359−369.
  3. P. Джеймс. «Оптические принципы дифракции рентгеновских лучей» М.: ИЛ, 1950, 572 с.
  4. Д.К. Боуэн, Б. К. Таннер // Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография, пер. с англ. // СПб.: «Наука» 2002. 274 с.
  5. Рентгено-флуоресцентный анализ. Применение в заводских лабораториях. Сб. научных трудов. Перевод с нем. М: «Металлургия», 1985. 254 с.
  6. Н.Н. Новикова. // Стоячие рентгеновские волны в многослойных синтетических микроструктурах и молекулярных пленках Ленгмюра-Блоджетг. // Канд. Диссертация. 1990.
  7. М. Brunei// Rayons X resents et surfaces./ J. Phys. IV. 6 (1996) C4−321 C4−340.
  8. R.S. Becker, I.A. Golovchenko, I.R. Patel.// X-ray evanescence-wave adsorptionand emission. // Phys. Rev. Lett. 50 (1983) 153 156.
  9. M.J. Bedzyk, G.M. Bommarito, M. Caffrey, T.L. Penner// Diffuse-double layer atmembrane-aqueous interface measured with X-ray standing wave.// Science 248 (1990) 52−56.
  10. M.J. Bedzyk, G.M. Bommarito, J.S. Shildkraut// X-ray standing waves at a reflecting mirror surface. // Phys.Rev.Lett. 62 (1989) 1376−1380
  11. С.И. Желудева // Метод длиннопериодических стоячих рентгеновских волн для характеризации слоистых наноструктур. // Докторск. диссертация ИК РАН, Москва, 1995.
  12. P.L. Cowan, S. Brennan, Terrence Jach, M.J. Bedzyk, G. Materlik.// Observations of the diffraction of evanescence X-rays at a crystals surface.// Phys.Rev.Lett. 57 (1?) (1986) 2399−2402.
  13. J. Zegenhagen // Surface structure determination with X-ray standing waves.// Surf. Sci. Reports 18 (1993) 199 271.
  14. A. Iida // Thin-Film and Surface characterization by XRS and XPS. // Adv. X-ray. Anal. 35 (1992) 795 800.
  15. A.V. Andreev, A.G. Michette, A. Renwick// Reflectivity and roughness of X-ray multilayer mirrors. Specular reflection and angular spectrum of scattered radiation./J. Modern Optics 35 (10) (1988) 1667 1687.
  16. H. Kiessig // Ann. Physik. 10 (1931) 715 769.
  17. A. Segmuller// Observation of X-ray interference on thin films of amorphous silicon. // Thin Solid Films 18 (1973) 287 294.
  18. R. Zhang, R. Itri, M. Caffrey // Membrane structure characterization using variable-period X-ray standing waves. // Bioph.J. 74 (1998) 1924 1936.
  19. D.K.G. de Boer // Glancing-incidence X-ray fluorescence of layered materials. / Phys. Rev. В 44 (1991) 498 511.
  20. L. Nevot, P. Croce.// Caracterisation des surfaces par reflexion rasante de rayon X. Application a l’etude du polissage de quelques verres silicates.// Revue Phys. Appl. 15 (1980) 761- 779.
  21. Б.М. Яворский, Ю. А. Селезнев. Справочное руководство по физике для поступающих в ВУЗы и для самообразования. М.: Наука. 1989. с. 410
  22. Современная кристаллография. Под ред. Б. К. Вайнштейна. М.: Наука. Том 3. с. 279.
  23. G. Materlik, T.Wrobleski. // X-ray diffraction and inelastic scattering. // Synchrotron Radiation sources and their applications: Proceedings of the thirtieth Scottish universities' Summer School in physics, Aberdeen. (1985) 194 236.
  24. П. Прингсгейм. Флуоресценция и фосфоресценция. Пер. с англ. М. 1951.
  25. М.В. Ковальчук, В.Г. Кон// Рентгеновские стоячие волны новый метод исследования структуры кристаллов. // УФН 149 (1) (1986) 69 — 103.
  26. К. Stoev, К. Sakurai // Recent theoretical models in grazing incidence x-ray reflectometry. / The Rigaku J. 14 (2) (1997) 22 37.
  27. R. Klockenkamper, A. von Bohlen.// Total-reflection X-ray fluorescence moving towards nanoanalysis: a survey. // Spectrochim. Acta Part B. 56 (2001) 2005−2018.
  28. L.S. Tarasova, A.F. Kudryashova, A.A. Ulyanov, V.B. Baryshev, K.V. Zolotarev // Particularities of rare element distribution in high-aluminium basalts from mare and highland regions of the Moon (based on SR-XFA data). / NIM A448 (2000) 376−383.
  29. H. Schwenke, P.A. Beaven. J. Knoth, E. Jantzen. // A wavelength-dispersive arrangment for wafer analysis with total reflection X-ray spectrometry using synchrotron radiation. // Spectrochim. Acta. B58 (2003) 2039 2048.
  30. S. Pahlke, L. Fabry, L. Kotz, C. Mantler, T. Ehmann // Determination of ultra trace contamination on silicon wafer surfaces using total-reflection X-ray fluorescence TXRF «state-of-the-art». // Spectrochim. Acta. B56 (2001) 2261 -2274.
  31. A. Nutsch, V. Erdmann, G. Zielonka, L. Pfitzner, H. Ryssel // Trace analysis for 300 mm wafers and processes with total reflection X-ray fluorescence. // Spectrochim. Acta. B56 (2001) 2301 2306.
  32. M.J. Anjos, R.T. Lopes, E.F.O. de Jesus, S. Moreira, R.C. Barroso, C.R.F. Castro. // Trace elements determination in red and white wines using total-reflection X-ray fluorescence. // Specrochim. Acta. B58 (2003) 2227 2232.
  33. M. Textor, M. Amstutz. // Surface analysis of thin films and interfaces in commercial aluminium products. // Analytica Chimica Acta. 297 (1994) 15−26.
  34. C. Streli, P. Kregsamer, P. Wobrauschek, H. Gatterbauer, P. Pianetta, S. Pahlke, L. Fabry, L. Palmetshofer, M. Schmeling// Low Z total reflection X-ray fluorescence analysis challenges and answers. / Specrochim. Acta. B54 (1999) 1433 — 1441.
  35. H. Brauer, A. Wagner, J. Boman, D.V. Binh // Use the TXRF in search of a biomonitor for environmental pollution in Vietnam. // Spectrochim. Acta B56 (2001)2147−2155.
  36. H. Miesbauer, G. Kock, L. Fureder // Determination of trace elements in macrozoobentthos samples by TRXF analysis. / Spectrochim. Acta B56 (2001) 2203−2207.
  37. Gy. Zaray, A. Varga, F. Fodor, E. Cseh. // Micoanalytical investigation of xylem sap of cucumber by total reflection X-ray fluorescence spectrometry. // Microchemic. J. 55 (1997) 64 71.
  38. A.C. John, T.A.J. Kuhlbusch, H. Fissan, K.-G. Schmidt // Size fractioned sampling and chemical analysis by total-reflection X-ray fluorescence spectrometry of PMx in ambient air and emissions. / Spectrochim. Acta B56 (2001)2137−2146.
  39. M. Schmeling // Total-reflection X-ray fluorescence a tool to obtain information about different air masses and air pollution. / Spectrochim. Acta B56 (2001) 2127−2136.
  40. P. Freimann, D. Schmidt. // Application of total reflection X-ray analysis for determination of trace metals in the North Sea. // Spectrochim. Acta B44 (1989) 505 -510.
  41. M. Mages, S. Woelfl, M. Ovari, W.V.Tumpling jun. // The use of a portable total reflection X-ray fluorescence spectrometer for field investigation. // Spectrochim. Acta. B58 (2003) 2129−2138.
  42. H. Miesbauer // Multielement determination in sediments, pore water and river water of Upper Austrian revers by total reflection X-ray fluorescence. / Spectrochim. Acta B52 (1997) 1003 1007.
  43. A.C.M. Costa, M.J. Anjos, S. Moreira, R.T. Lopes, E.F.O. de Jesus // Analysis af mineral water from Brazil using total reflection X-ray fluorescence by synchrotron radiation. // Spectrochin. Acta. B58 (2003) 2199 2204.
  44. A. Kuczumow, M. Claes, M. Schomeling, R. Van Grieken, S. de Gendt // Quantification problems in light element determination by grazing emission X-ray fluorescence. / J. Anal. At. Spectrom. 15 (2000) 415−421.
  45. C. Streli // TXRF analysis of light elements. / Spectrochim. Acta B52 (1997) 281 -293.
  46. M. Mertens, C. Rittermeyer, B.O. Kolbesen. // Evaluation of the protein concentration in enzymes via determination of sulfur by total reflection X-ray luorescence spectrometry limitations of the method. // Spectrochim. Acta. B56 (2001) 2157−2164.
  47. H.J. Sanchez // Detection limit calculation for the total reflection techniques of X-ray fluorescence analysis. / Spectrochimica Acta Part B. 56 (2001) 2027−2036.
  48. A. Kubala-Kukus, D. Banas, J. Braziewicz, U. Majewska, S. Mrowczynski, M. Pajek // Determination of concentration distribution of trace elements near the detection limit. // Spectrochim. Acta. B56 (2001) 2037 2044.
  49. Y.Yoneda, T. Horiuchy // Optical flats for use in X-ray spectrochemical microanalysis. / Rev. Sci. Instrum. 42 (1971) 1069- 1070.
  50. K. Baur, S. Brennan, B. Burrow, D. Werho, P. Pianetta // Laboratory and synchrotron radiation total reflection X-ray fluorescence: new perspectives in detection limits and data analysis. / Spectrochim. Acta B56 (2001) 2049 2056.
  51. R. Klockenkamper, H.W. Becker, H. Bubert, H. Jenett, A. von Bohlen // Depth profiles of a shallow implanted layer in a Si wafer determined by different methods of thin-layer analysis. / Specrochim. Acta B57 (2002) 1593 1599.
  52. D. Von Czarnowski, E. Denkhaus, K. Lemke. // Determination of trace element distribution in cancerous and normal human tissues by total reflection X-ray fluorescence analysis. // Spectrochim. Acta. B52 (1997) 1047 1052.
  53. L.M. Marko, P.E. Jimenez, E.A. Hernandez, C.A. Rojas, E.D. Greaves // Determination of Zn/Cu ration and oligoelements in serum samples by TXRF spectrometry for cancer diagnosis. / Spectrochim. Acta B56 (2001) 2195 2201.
  54. E.A. Hernandez-Caraballo, L.M. Marco-Parra. // Direct analysis of blood serum by total reflection X: ray fluorescence spectrometry and application of an artificial neural network approach for cancer diagnosis.// Spectrochim. Acta. B58 (2003) 2205−2213.
  55. M.J. Bedzyk // New trends in x-ray standing waves. / NIM A266 (1988) 679−683.
  56. P. Trucano. // Use the dynamical effects on x-ray fluorescence to determine the polarity of GaP single crystals. / Phys. Rev. В 13 (6) (1976) 2524 -2531.
  57. M.J. Bedzyk, G. Materlik, M.V. Kovalchuk // X-ray standing — wave -modulated electron emission near absorption edges in centrosymmetric and noncentrosymmetric crystals. / Phys. Rev. В 30(5) (1984) 2453 — 2461.
  58. M.J. Bedzyk, A. Kazimirov, D.L. Marasco, T.-L. Lee, C.M. Foster, G.-R. Bai, P.F. Lyman, D.T. Keane // Probing the polarity of ferroelectric thin films with x-ray standing waves. / Phys. Rev. В 61 (12) (2000) R7873 R7876.
  59. S.I. Zheludeva, M.V. Kovalchuk, N.N. Novikova, A.N. Sosphenov // X-ray characterization of ultra-thin films. / J. Phys. D: Appl. Phys. 26 (1993) A206 A209.
  60. S.I. Zheludeva, S. Lagomarsino, N.N. Novikova, M.V. Kovalchuk, F. Scarinci // X-ray standing waves in Bragg diffraction and in total reflection region using Langmuir-Blodgett multilayers. / Thin Solid Films 193 (1991) 395 400.
  61. P. Fenter, F. Schreiber, L. Berman, G. Scoles, P. Eisenberger, M.J. Bedzyk// On the structure an evolution of the buried S/Au interface in self-assembled monolayers: X-ray standing wave results./ Surf. Sci. 412−413 (1998) 213−235.
  62. G. Sherb, A. Kazimirov, J. Zegenhagen, T.L. Lee, M.J. Bedzyk, H. Noguchi, K. Uosaki // In situ x-ray standing-wave analysis of electrodeposited Cu monolayers on GaAs (001). / Phys. Rev. В 58 (16) (1998) 10 800 10 805.
  63. S. Warren, A. Reitzle, A. Kazimirov, J.C. Ziegler, O. Bunk, L.X. Cao, F.U. Renner, D.M. Kolb, M.J. Bedzyk, J. Zegenhagen //A structure study of the electroless deposition of Au on Si (111):H. / Surf. Sci. 496 (2002) 287 298.
  64. M.J. Bedzyk, D.H. Bilderback, G.M. Bommarito, M. Caffrey, J. S. Schildkraut.//X-ray standing waves: a molecular yardstick for biological membranes. // Science 241 (1988) 1788- 1791.
  65. J. Wang, M.J. Bedzyk, T.L. Penner, M. Caffrey// Structural studies of membranes and surface layers up to 1000 A thick using X-ray standing waves.// Letter to Nature 354 (1991) 377 380.
  66. A. Iida. // Surface and near-surface X-ray spectroscopy. // Adv. in X-ray Anal. 34 (2001)23−39.
  67. A. Pranger, H. Schenke // Total reflection XRS. / Adv. in X-ray Anal. 35 (1992) 899−901.
  68. Y. Yoneda // Critical angles of X-ray scattering in total reflection. / Phys. Lett. 76A (2) (1980) 152- 154.
  69. J.M. Bloch, W.B. Yun, X. Yang, M. Ramanathan, P.A. Montano, C. Capasso// Adsorption of counterions to a stearate monolayer spread at the water-air interface: a synchrotron X-ray study. // Phys.Rev.Lett. 61 (26) (1988) 2941 -2944.
  70. W. Yun, J.M. Bloch // X-ray near total external fluorescence method: experiments and analysis. / J. Appl. Phys. 68 (4) (1990) 1421 1428.
  71. D. K.G. de Boer, A. J. G. Leenaers, R.M. Wolf // X-ray reflectometry from sample with rough interfaces: an oxidic- multilayer study. / J. Phys. D: Appl. Phys. 27 (1995) A227 A230.
  72. S.I. Zheludeva, M. Kovalchuk, N. Novikova. // Total reflection X-ray fluorescence study of organic nanostructures. // Spectrochim. Acta B56 (2001) 2019−2026.
  73. A.Iida, K. Sakurai, A. Yoshinada, Y. Gohshi// Grazing incidence X-ray fluorescence analysis. / NIM A246 (1986) 736 738.
  74. M.Brunei, B. Gilles // Grazing incidence X-ray fluorescence. / Colloque de Physique CI. (10) 50 (1989) C7−85 C7−96.
  75. J. Wang, M.J. Bedzyk, M. Caffrey// Resonance-enhanced X-rays in thin films: a structural probe for membranes and surface layers./ Science 258 (1992) 775−778.
  76. J. Wang, C.J.A. Wallace, I. Clark-Lewis, M. Caffrey.// Structure characterization of membrane bound and surface absorbes protein. / J.Mol.Biol. 237 (1994) 1 4.
  77. P.Croce, L. Nevot, B. Pardo // Contribution a l’etude des couches minces par reflexion speculaire de rayons X. // Nouv. Rev. d’Optique Appl. 3 (1972) 37−50.
  78. J.H. Underwood, T.W. Barbee// // Appl. Opt. 20 (1981) 3027 3034.
  79. M. Brunei // Fluorescence X en incidence rasante: application an trace des profiles d’implantation./ Acta Cryst. A42 (1986) 304 309.
  80. H. Wagenfeld // Normal and anomalous photoelectric absorption of X-rays in crystals.// Phys. Rev. 144 (1966) 216−219.
  81. A. M. Афанасьев, В. Г. Кон // Внешний фотоэффект при дифракции рентгеновских лучей в кристаллах с нарушенным поверхностным слоем. // ЖЭТФ 74(1978) 300−313.
  82. B.N. Dev, A. Das, S. Dev, D.W. Schubert, M. Stamm, G. Materlik // Resonance enhancement of X-rays in layered materials: Application to surface enrichment in polymer blend. / Phys. Rev. B61 (12) (2000) 8462 8468.
  83. М.А. Калинина, В. В. Арсланов, С. 3. Вацадзе // Ион-чувствительные монослои и пленки Ленгмюра Блоджетт дифильного циклена: селективность и регенерация. // Коллоид, журн. 65 (2) (2003) 201 -210.
  84. М.А. Калинина, В. В. Арсланов, Л. А. Царькова, В. Д. Должникова, А. А. Рахнянская // Монослои и пленки Ленгмюра-Блоджетт алкилзамещенных тетраазакарунов, содержащие ионы и наночастицы металлов. // Коллоид, журн. 63 (3) (2001) 344 349.
  85. М.А. Калинина, В. В. Арсланов // Кинетика комплексообразования в монослоях дифильного дицетилциклена на поверхности водных растворов хлорида меди (II). // Коллоид, журн. 64 (1) (2002) 56 62.
  86. М.А. Калинина, В. В. Арсланов, JI.A. Царькова, А. А. Рахнянская. // Монослои Ленгмюра из алкилированных тетраазацикленов на поверхности воды. // Коллоид, журн. 62 (2000) 610−615.
  87. Л.М. Блинов.// Лэнгмюровские пленки. // УФН 155 (3) (1988) 443 480.
  88. Ю.М. Львов, Л. А. Фейгин. // Ленгмюровские пленки получение, структура, некоторые применения. // Кристаллография 32 (3) (1987) 800−815.
  89. М. A. Kalinina, V.V. Arslanov, S.I. Zeludeva, E. Yu. Tereschenko. // Inversion of selective binding of transition metal ions by Langmuir monolayers of amphiphilic cyclen. // Thin Solid Films 472 (1−2) (2005) 232 237.
  90. М.А. Калинина. // Селективное комплексообразование в монослоях и пленках Ленгмюра-Блоджетт дифильного циклена. Структурные и зарядовые эффекты. // Автореферат диссертации на соискание степени к.х.н. М.: 2002. 24 стр.
  91. Н.Н. Салащенко // Исследования в области многослойной рентгеновской оптики в институте физики микроструктур. // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 1 (1999) 50 60.
  92. С.В. Бобашев, Д. М. Симановский, А. А. Сорокин, Л. А. Шмаенок // Приборы для диагностики плазмы на многослойных зеркалах. //183
  93. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 1 (1999) 14- 18.
  94. ИЗ. И. А. Житник, С. В. Кузин, В. А. Слемзин // Многослойная и кристаллическая рентгеновская оптика для солнечной рентгеновской астрономии. // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 1 (1999) 19 27.
  95. А.В. Виноградов, И. В. Кожевников. // Оптика MP диапазона: состояние и проблемы. // Рентгеновская оптика. Труды физического института им. П. Н. Лебедева, т. 196. М.: Наука. 1989. 4 17.
  96. А.Д. Ахсахалян, Е. Б. Клюенков, В. А. Муравьев, Н. Н. Салащенко // Оптимизация многослойных рентгеновских зеркал в системах параболических цилиндров. // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 1 (2003) 86 93.
  97. А. А. Фраерман, Ю. А. Вайнер, С. В. Митенин, Н. Н. Салащенко, Е. А. Шамов // Определение параметров коротко-периодных многослойных рентгеновских зеркал. .// Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 12 (1997) 57−61.
  98. S.S. Andreev, M.S. Bibishkin, N.I. Chkhalo, E.B. Kluenkov, K.A. Prokhorov, N.N. Salashchenko, M.V. Zorina, F. Schafers, L.A. Shmaenok. // Short-period multilayer X-ray mirrors // J. Synchrotron Rad. 10 (5) (2003) 358−360. '
  99. С.В. Митенин, А. А. Фраерман, Н. Н. Салащенко // Определение параметров многослойных зеркал со сверхмалыми периодами и исследование их термостабильности. // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 1 (1999) 159- 161.
  100. V.V. Martynov, Yu.A. Platonov, A. Kazimirov, D.H. Bilderback // High selective X-ray multilayers. // Proc. SPIE 5195 (2003) 46 53.
  101. В.И. Ерофеев, H.B. Коваленко, Н. И. Чернов, Н. И. Чхало, С. В. Мытниченко. // Оптика многослойных рентгеновских решеток применительно к синхротронному излучению. // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 1 (1999) 124- 129.
  102. Н.Н. Салащенко, Ю. Я. Платонов, С. Ю. Зуев. // Многослойная оптика мягкого рентгеновского диапазона. // Поверхность. Физика, химия, механика. 10 (1995) 5 20.
  103. S.S. Andreev, H.-Ch. Mertins, Yu.Ya. Platonov,, N.N. Salashchenko, F. Schaefers, E.A. Shamov, L.A. Shmaenok. // Multilayer dispertion optics for X-ray radiation. // NIM A 44 (2000) 133- 141.
  104. N.V. Andronova, V.G. Kohn, A.I. Chechin.// Multilayers mirrors as synchrotron radiation monochromators. //NIM A 359 (1995) 131 134.
  105. S. Braun, H. Mai, M. Moss, R. Scholz, A. Leson // Mo/Si multilayers with a different barrier layers for application as extreme ultraviolet mirrors. // Jpn.J.Appl.Phys. 41 (2002) 4074−4081.
  106. S.S. Andreev, N.N. Salashchenko, L.A. Suslov, A.N. Yablonsky, S.Yu. Zuev. // Stress reduction of Mo/Si multilayers structures. //NIM A 470 (2001) 162 167.
  107. E. Louis, H.-J. Voorma, N.B. Koster, F. Bijkerk, Y.Y. Platonov, S.Y. Zuev, S.S. Andreev, E.A. Shamov, N.N. Salashchenko // Multilayer coated reflective optics for extreme UV lithography. // Microelectronic Engineering 27 (1995) 235−238.
  108. Н.Н. Колачевский, М. М. Митропольский, А. С. Пирожков, Е. Н. Рагозин // Исследование многослойных зеркал и их применение в спектроскопии высокого разрешения. // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 1 (1999) 140- 145.
  109. К.А. Прохоров, С. С. Андреев, Н. Н. Салащенко, С. Ю. Зуев // Коротко-периодные рентгеновские зеркала на основе Ti для «водного окна». // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 1 (1999) 166−169.
  110. N.N. Salashchenko, S.S. Andreev, Yu.Ya. Platonov, S.Yu. Zuev, A.I. Chumakov.// Multilayer optics for X-ray and EUV radiation. // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 3−4(1996)21−42.
  111. С.Ю. Зуев, Е. Б. Клюенков, К. А. Прохоров, Н. Н. Салащенко // Многослойные дисперсионные элементы на основе В4С для спектральной области А. = 6.7 8 нм. // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 1 (2002) 32 — 35.
  112. N.N. Salashchenko, A. A. Fraerman, S.V. Mitenin К. A. Prokhorov, Е.А. Shamov. // Short-period X-ray multilayers based on Cr/Sc, W/Sc. // NIM A 405(1998)292−296.
  113. F. Schafers, M. Martin, D. Abramsohn, A. Gaupp, H.-Ch. Mertins, N.N. Salashchenko // Cr/Sc nanolayers for the water window: improved performance. // NIM A 467−468 (2001) 349−353.
  114. N.N. Salashchenko, E.A. Shamov. // Short-period X-ray multilayers based on Cr/Sc. // Optics Comm. 134 (1997) 7- 10.
  115. A.D. Akhsahalyan, A.A. Fraerman, yu.Ya. Platonov, N.N. Salashchenko.// Determination of layered synthetic microstructure parameters. // Thin Solid Films 203(1991)317−326.
  116. Ю.Я. Платонов, Н. И. Полушкин, H.H. Салащенко, А. А. Фраерман. // Рентгенооптические исследования характеристик многослойных структур. //ЖТФ 57 (11) (1987) 2192 2199.
  117. С.И. Желудева, Н. Н. Новикова, Е. Ю. Терещенко, Н. Н. Салащенко. // Возможность характеризации малопериодных многослойных структур в области полного внешнего отражения. // Материалы рабочего совещания-«Рентгеновская оптика 99». (1999) 86 — 92.
  118. S.J. Singer, G.L. Nicolson // The fluid mosaic model of the structure of cell membranes. // Science. 175 (1972) 720 731.
  119. C.B. Гринштейн, O.A. Кост. // Структурно-функциональные особенности мембранных белков. //Успехи биологических наук УБН 41 (2001) 77 104.
  120. Э. Рис, М. Стернберг // Введение в молекулярную биологию. От клеток к атомам. // пер. с англ. М.: «Мир». 2002. 142 с.
  121. В9. W.H. Koppenol, Е. Margoliash // The asymmetric Distribution of Charges on the surface of horse cytochrome с. II J. Biol. Chem. 257 (1982) 4426 4437.
  122. J.M. Bloch, M. Sansone, F. Rondelez, D.G. Peiffer, P. Pincus, M.W. Kim, P. M Eisenberger// Concentration profile of a dissolved polymer near the air187liquid interface: X-ray fluorescence study.// Phys.Rev.Lett. 54 (10) (1985) 1039- 1042.
  123. J.M. Bloch, W. Yun// Condensation of monovalent and divalent metal ions on a Langmuir monolayer.// Phys.Rev. A. 41 (2) (1990) 844 862.
  124. A. Iida, K. Sakurai, Y. Gohshi // Near-surface analysis of semiconductor using grazing incidence X-ray fluorescence. // Adv. X-ray Anal. 31 (1988) 487 493.
  125. J. Daillant, L. Bosio, J.J. Benattar, C. Blot.// Interaction of cations with a fatty-acid monolayer a grazing-incidence X-ray-fluorescence and reflectivity study.// Langmuir 7 (4) (1991) 611 -614.
  126. J. M. Bloch, P. Eisenberger // A novel Z-axis diffractometer for X-ray diffraction and fluorescence study. //NIM B31 (1988) 468 474.
  127. S.I. Zheludeva, N.N. Novikova, O.V. Konovalov, M.V. Kovalchuk, N.D. Stepina, E.Yu. Tereschenko. // Langmuir monolayers on water surface investigated by X-ray total reflection fluorescence. // Mat. Sci. Eng. C23 (2003) 567−570.
  128. З.И. Казанцева, H.B. Лаврик, A.B. Набок, Б. А. Нестеренко и др. // Электропроводность пленок Ленгмюра-Блоджетг четырехзамещенных фталоцнанинов ванаднла и меди. // Поверхность. Физика, химия, механика. 8 (1991) 87−92.
  129. W. R. Barger, A.W. Snow, Н. Wohltjen, N.L. Jarvis // Derivatives of phthalocyanine prepared for deposition as thin films by the Langmuir Blodgett technique. // Thin Solid Films 133 (1985) 197 — 206.
  130. C. Granito, J.N. Wilde, M.C. Petty, S. Houghton, P.J. Iredale // Toluene vapour sensing using copper and nickel phthalocyanine Langmuir Blodgett films. // Thin Solid Films 284 — 285 (1996) 98- 101.
  131. M. Fujiki, H. Tabei, T. Kurihara. // In-plane dichroisms of phthalocyanine Langmuir-Blodgett films. // Langmuir 4 (1988) 1123 1128.
  132. M.V. Martines-Diaz, A. Ruaudel-Teixier, T. Torres // Functionalized. phthlocyaninato-polysiloxanes in a Langmuir Blodgett supramolecular architecture. // Thin Solid Films. 284 — 285 (1996) 284 — 288.
  133. А.И. Бузин, E. Sautter, Ю. К. Годовский, Н. Н. Макарова, W. Pechhold. // Влияние молекулярной массы на формирование дискретных ленгмюровских монослоев циклолинейных полиорганосилоксанов. // Высокомолек. соед. А 40 (5) (1998) 782 787.
  134. J. Fang, М. Dennin, С.М. Knobler, Yu.K. Godovsky, N.N. Makarova, H. Yokoyama. // Structures of collapsed polysiloxane monolayers investigated by scanning force microscope. //J. Phys. Chem. В 101 (16) (1997) 3147 3154.
  135. R.M. Richardson, S.J. Roser. // X-ray reflectivity from insoluble monolayers spread on aqueous subphases. // Liquid Crystals. 2 (6) (1987) 797 814.
  136. H. Mohwald. // Surfactant layers at water surfaces. // Rep. Prog. Phys. 56 (1993) 653 -685. .
  137. J. Daillant, J.J. Benattar, L. Bosio. // X-ray reflectivity study of monolayers of amphiphilics at the air-water interface. // J. Phys.: Condens. Matter 2 (1990) SA405 SA410.
  138. O. Konovalov // ID10B Troika II. A flexible high-brilliance beamline for diffraction and reflectivity from liquid and solid interfaces. // Beamline Reviews ESRF, November 6/7 2001.
  139. N.N. Makarova, Yu. K. Godovsky. // Liquid-crystalline cyclochain organosilicon compound. // Prog. Polym. Sci. 22 (1997) 1001 1052.
  140. A.I. Buzin, E. Sautter, Yu.K. Godovsky, N.N. Makarova, W. Pecchold. // Influence of molecular weight on stepwise collapse of Langmuir monolayers of cyclolinear polyorganosiloxanes. // Colloid Polym. Sci. 276 (1998) 1078 1087.
  141. Synchrotron Radiation News, 12 (2) (1999) 2 58.
  142. P. S. Pershan, J. Als-Nielsen. // X-ray reflectivity from the surface of a liquid crystal: surface structure and absolute value of critical fluctuations. // Phys. Rev. Lett. 52 (9) (1984) 759−762.
  143. H. Yamaoka, H. Matsuoka, K. Kago, H. Endo, J. Eckelt. // Monolayer X-ray reflectometry at the air-water interface. // Chem. Phys. Lett. 295 (3) (1998) 245−248.
  144. M. Schalke, P. Kriiger, M. Weygand, M. Losche. // Submolecular organization of DMPA in surface monolayers: beyond the two-layer model. // Biochim. Biophys. Acta 1464 (2000) 113 126.
  145. K.Y.C. Lee, J. Majewski, T.L. Kuhl, P.B. Howes, K. Kjaer, M.M. Lipp, A.J. Waring, J.A. Zasadzinnski, G.S. Smith.// Synchrotron X-ray study of lung surfactant-specific protein SP-B in lipid monolayers. // Biophysical J. 81 (1) (2001) 572−585.
  146. J. Daillant, L. Bosio, J.J. Benattar.// X-ray reflectivity study of the liquid-expanded liquid-condensed phase transition.//Europhys. Lett. 12 (8) (1990) 715−720.
  147. J. Als-Nielsen, F. Christensen and P. S.Pershan// Smectic-A Order at the Surface of a Nematic Liquid Crystal: Synchrotron X-ray Diffraction.//Phys.Rev.Lett. 48 (16) (1982) 1107- 1110.
  148. S.A.W. Verclas, P-.B. Howes, K. Kjaer, A. Wurlitzer, M. Weygand, G. Buldt, N.A. Dencher, M. Losche:// X-ray diffraction from a single layer of a purple membrane at the air/water interface.// J.Mol.Biol. 287 (5) (1999) 837 843.
  149. J.F. Legrand, A. Renault, O. Konovalov, E. Chevigny, J. Als-Nielsen,
  150. G. Grubel, B. Berge.// X-ray grazing-incidence studies of the 2D crystallization of monolayers of 1 alcohols at the air-water-interface.//Thin Solid Films. 248 (1) (1994)95−99.
  151. P. S. Pershan.// Effects of thermal roughness on X-ray studies of liquid surfaces.// Coll. Surf. A: Physicochem. Eng. Asp. 171 (2000) 149 157.
  152. G.J. Simpson, K.L. Rowlen.// Evaluation of molecular-scale roughness at liquid interfaces.// Chem. Phys. Lett. 309 (1−2) (1999) 117 122.
  153. H. Tostmann, E. DiMasi, O.G. Shpyrko, P. S. Pershan, B.M. Ocko, M. Deutsch.// Microscopic structure of the wetting film at the surface of liquid Ga-Bi alloys.//Phys.Rev.Lett. 84 (19) (2000) 4385−4388.
  154. R. Rietz, W. Rettig, G. Brezesinski, W.G. Bouwman, K. Kjaer, H. Mohwald. // Monolayer behavior of chiral compounds at the air/water interface: 4-hexadecyloxy-butane-1,2-diol. //Thin Solid Films. 285 (1996) 211 215.
  155. G. Brezesinski, F. Bringezu, G. Weidemann, P.B. Howes, K. Kjaer,
  156. H. Mohwald.// Influence of head group methylation on the phase behavior of lipid monolayers.// Thin Solid Films. 329 (1998) 256 261.
  157. D.W. Breiby, E.J. Samuelsen, O. Konovalov, B. Struth.// Self-organization in nanoscopic poly (alkylthiophene) films on water.// Synth. Met. 135 (1−3) (2003) 363−364.
  158. K.M. Maloney, M. Grandbois, D.W. Grainger, C. Salesse, K.A. Lewis, M.F. Roberts.// Phospholipase A (2) domain formation in hydrolyzed asymmetric phospholipids monolayers at the air/water interface. //Biochim. et Biophys. Acta. 1235 (2) (1995) 395−405.
  159. U. Dahmen-Levison, G. Brezesinski, H. Mohvald// Specific adsorption of PLA (2) at monolayers.// Thin Solid Films. 329 (1998) 616 620.
  160. L. Bosio, J.J. Benattar, F. Riehtord 11 X-ray reflectivity of a Langmuir monolayer on water.// Revue Phys. Appl. 22 (1987) 775 778.
  161. L. Bosio, R. Cortes, G. Folcher, M. Oumezine. // Dispositif d’etude des surfaces solides ou liquids par reflexion speculaire des rayons X. // Revue Phys. Appl. 20 (1985)437−443.
  162. J. Daillant, L. Bosio, J.J. Benattar, J. Meunier. // Capillary waves and bending elasticity of monolayers on water studied by X-ray reflectivity as a function of surface pressure. // Europhys. Lett. 8 (5) (1989) 453 458.
  163. J.J. Benattar, J. Daillant, O. Belorgey, L. Bosio. // Langmuir monolayers and Newton black films: two-dimensional systems investigated by X-ray reflectivity. //Physica A 172(1991)225−241.
  164. M. Wulff, J. Als-Nielsen// X-ray beam sheet deflection for liquid surface spectrometry.//Rev. Sci. Instrum. 63 (1) (1992) 1134 1137.
  165. J. Als-Nielsen, P. S. Pershan// Synchrotron X-ray diffraction study of liquid surfaces. // NIM 208 (1983) 545 548.
  166. S.K. Sinha//Surface structure reflectometry with X-rays.// Surface Science 1 (1996)645−652.
  167. C.-J. Yu, A.G. Richter, A. Datta, M.K. Durbin, P. Dutta// Observation of molecular layering in thin liquid films using X-ray reflectivity.// Phys.Rev.Lett. 82 (11) (1999) 2326−2329.
  168. C.A. Helm, H. Mohwald, K. Kjaer, J. Als-Nielsen. // Phospholipid monolayer density distribution perpendicular to the water surface. A synchrotron X-ray reflectivity study. // Eur.Lett. 4 (6) (1987) 697 703.
  169. T. Matsushita, H-O. Hashizume. // Handbook on Synchrotron Radiation. V.l. ed. E.E. Koch. North-Holland Publishing Company. 1983. «Monochromator for Synchrotron Radiation», P. 261.
  170. М.В. Ковальчук, Э. К. Ковьев, З. Г. Пинскер. // Рентгеновский трехкристальныый спектрометр и прецизионное определение Adhkt. II Кристаллография. 20 (1) (1975) 142 148.
  171. З.Г. Пинскер. Рентгеновская кристаллооптика. М: «Наука» 1982. 392с.
  172. М.В. Ковальчук, В. В. Лидер, Ю. Н. Шилин, С. И. Желудева, В. А. Шишков. // Двухкристальный монохроматор для синхротронного излучения. // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 12(1999) 95- 100.
  173. W. В. Yun, J.M. Bloch// Langmuir trough dedicated for X-ray study of monolayer systems. // Rev.Sci.Instrum. 60 (2) (1989) 214−218.
  174. G. Hildebrandt, H. Bradaczek // Rigaku Journal. 2000.V. 17. N. 1. P. 13
  175. Ch. Morawe, P. Pecci, J.C. Peffen, E. Ziegler.// Design and perfomance of graded multilayers as focusing elements for X-ray optics. // Rev. Sci. Instrum. 70 (8) (1999) 3227−3232.221. http://www.asp.anl.gov./xfd/techbulletins/tb47/tb47−2-3.pdf.
Заполнить форму текущей работой

Пора сдавать?